JPH07191076A - 印刷配線板試験装置 - Google Patents

印刷配線板試験装置

Info

Publication number
JPH07191076A
JPH07191076A JP5329179A JP32917993A JPH07191076A JP H07191076 A JPH07191076 A JP H07191076A JP 5329179 A JP5329179 A JP 5329179A JP 32917993 A JP32917993 A JP 32917993A JP H07191076 A JPH07191076 A JP H07191076A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed wiring
board
wiring board
probe
probe pins
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP5329179A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuhiko Sugane
光彦 菅根
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP5329179A priority Critical patent/JPH07191076A/ja
Publication of JPH07191076A publication Critical patent/JPH07191076A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 印刷配線板に形成した回路の導通検査をする
印刷配線板試験装置に関し、検査所要時間が短く、且つ
スルーホールの導通検査を簡単に実施するできることを
目的とする。 【構成】 所定の格子間隔でプローブピン20が植設して
なる試験台本体30と、試験台本体30の開口面にセットす
る印刷配線板1と、頭部が下方を指向するよう所定の格
子間隔でプローブピン20が絶縁板41に植設してなる上プ
ローブ盤40と、試験台本体30及び上プローブ盤40のそれ
ぞれのプローブピン20に導線を介して接続するリレー配
列盤61及び制御部を有する試験機本体60とを備え、試験
台本体30は、プローブピン20の頭部が開口面にセットし
た印刷配線板1の裏面に当接するものであり、上プロー
ブ盤40は、試験台本体30の上方に上下動自在に装着され
てそれぞれのプローブピン20の頭部が印刷配線板1の表
面に当接する構成とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、印刷配線板に形成した
回路の導通検査をする印刷配線板試験装置に関する。
【0002】ホトリソグラフィ手法により所望の回路パ
ターンを形成した印刷配線板は、搭載部品を実装する前
に、それらの回路の導通検査を行なうことが多い。
【0003】
【従来の技術】図4は従来の印刷配線板試験装置の試験
台の図で、(A) は断面図、(B) はプローブピンの詳細図
である。
【0004】図において、1は、形成された回路の導通
検査を行なう多層の印刷配線板であって、例えば裏面に
搭載部品のリードを半田付けするパッド4とパッド4か
ら導出したパターン6が形成され、表面には、パッド2
とパッド2から導出したパターン5が形成されている。
そしてパターン5の端末とパターン6の端末とをスルー
ホール3で接続している。
【0005】試験台10の本体部は上方が開口した浅い箱
形の筐体11である。この筐体11の中段に開口面に並行し
て絶縁仕切板12を気密に設け、絶縁仕切板12に所定の格
子間隔(例えば2.54mm) でプローブピン20を配置し貫設
させ植設させている。
【0006】13は、筐体11の開口内に水平に挿入され
る、外形が角形の支持枠板である。支持枠板13の上面に
弾性ある枠形ゴム板14を貼着し、その枠形ゴム板14の外
周部の下面を、筐体11の側壁の上端面に貼着すること
で、支持枠板13は、筐体11の開口面に水平に且つ上下動
可能に保持されている。
【0007】一方、絶縁仕切板12または筐体11の側壁に
吸気口15を設け、その吸気口15を真空ポンプ(図示省
略)に接続している。プローブピン20は、ニードル21を
上下動自在に収容する外筒22と、外筒22内に挿入され底
部に着座し、ニードル21の下端面を支持する圧縮コイル
ばねと、外筒22を保持すべく絶縁仕切板12に貫設された
保持外筒体23とから構成されている。
【0008】ニードル21は、良導電性金属(例えば金メ
ッキされた燐青銅)よりなり、軸部が外筒22に遊挿さ
れ、頭部の周縁に冠状に突起を設け、印刷配線板1が降
下すると圧縮コイルばねの弾力により、その突起が印刷
配線板1の裏面に形成された所定の導体部分(図ではス
ルーホール3)に食い込むようにしている。
【0009】保持外筒体23は、合成樹脂よりなる絶縁仕
切板12に、所定の格子間隔(ピッチは例えば2.54mm)で
配置され、開口が上方を向き絶縁仕切板12を真直に貫設
すようにインサート成形されている。
【0010】また、絶縁仕切板12の下方に突出したそれ
ぞれのプローブピン20の下端部(保持外筒体23の下端
部)に、試験機本体(図示省略)に接続する導線の端末
をラッピングし、それぞれのプローブピン20を、試験機
本体に収容したリレー配列盤の対応するリレーの接点に
接続している。
【0011】上述のように構成された試験台10の支持枠
板13上に印刷配線板1をセットし、真空ポンプ(図示省
略) を駆動して絶縁仕切板12の上部空間を真空にして、
印刷配線板1を試験台10に吸着させ降下して、印刷配線
板1の裏面の格子の総ての交点をプローブピン20の頭部
に押圧接触させている。
【0012】このことにより印刷配線板1の裏面に形成
されたパッド又はスルーホールと、対応するプローブピ
ン20とが接触し接続する。したがって、印刷配線板1の
所定の導体部分(パッド及びスルーホール)のすべてが
プローブピン20を介して試験機本体のリレー配列盤の対
応するリレーの接点に接続されて試験回路が構成され
る。
【0013】従来は上述のように、印刷配線板1を試験
台10に吸着させた後に、選択した一対のリレーを駆動し
て、プローブピン20が接触した導体部部分間の回路(パ
ターン)の断線をチェックし、接続する導体部分を次々
に切り換えることで、総ての回路を検査している。
【0014】裏面の回路のチェックが終了すると、表面
を下側にして印刷配線板1を試験台10にセットし、印刷
配線板1の表面の回路の検査を実施している。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】ところで上述の印刷配
線板試験装置は、裏面の回路を検査した後に、印刷配線
板を裏返して表面の回路を検査するものであるから、印
刷配線板を裏返するという段取り時間に時間を要すると
いう問題点があった。
【0016】また、スルーホールの表裏のランドに同時
にプローブピンを当接することが出来ないので、スルー
ホールの導通検査ができないという問題点があった。本
発明はこのような点に鑑みて創作されたもので、検査の
所要時間が短く、且つスルーホールの導通検査を簡単に
実施するできる印刷配線板試験装置を提供することを目
的としている。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明は、図1に例示したように、上方が開口した
箱形の筐体31の中段に設けた絶縁仕切板32に、所定の格
子間隔でプローブピン20が植設してなる試験台本体30
と、試験台本体30の開口面にセットする印刷配線板1
と、頭部が下方を指向するように所定の格子間隔でプロ
ーブピン20が絶縁板41に植設してなる上プローブ盤40
と、印刷配線板1の導通検査を実施すべき回路が記録さ
れてなるメモリ62を収容し、試験台本体30のプローブピ
ン数と上プローブ盤40のプローブピン数の和に等しい数
量のリレーが配列したリレー配列盤61、及び制御部を有
する試験機本体60とを備えたものとする。
【0018】そして、試験台本体30は、それぞれのプロ
ーブピン20の頭部が、開口面にセットした印刷配線板1
の裏面に当接するものであり、上プローブ盤40は、試験
台本体30の上方に上下動自在に装着されて、それぞれの
プローブピン20の頭部が印刷配線板1の表面に当接する
ものとする。
【0019】さらに、リレー配列盤61は、それぞれのリ
レーの一方の接点側が導線を介して試験台本体30及び上
プローブ盤40のそれぞれのプローブピン20に接続され、
他方の接点側が試験機本体60に内装したセンサに接続さ
れるものとする。
【0020】制御部はメモリ62に指定された回路を順次
引出し、リレー配列盤61を駆動するものとする。或い
は、メモリ62が、検査すべきそれぞれの回路の始端と終
端とを、記録したものである構成とする。
【0021】
【作用】本発明は、試験台本体に印刷配線板をセットし
押下することで、印刷配線板の裏面に形成したパッド及
びスルーホールの総てが、試験台本体に配列したプロー
ブピンに接触して試験機本体に接続する。
【0022】また、上プローブ盤を押下することで、印
刷配線板の表面に形成したパッド及びスルーホールの総
てが、上プローブ盤に配設したプローブピンに接触し
て、試験機本体に接続する。
【0023】したがって、印刷配線板を裏返しすること
なく、印刷配線板の表裏の両面に形成した回路の導通検
査を実施できる。一方、検査すべきそれぞれの回路の始
端と終端とをメモリに記録してあるので、例えば図3に
図示したように始端が裏面に形成されたパッド4であ
り、終端が表面に形成されたパッドである場合には、始
端のパッド4−裏面のパターン6−スルーホール3−表
面のパターン5−終端のパッド2という、一連の回路の
導通検査を極めて短時間に実施てきる。
【0024】したがって、特別にスルーホールの導通検
査等を行なう必要がない。
【0025】
【実施例】以下図を参照しながら、本発明を具体的に説
明する。なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示
す。
【0026】図1は本発明の構成図、図2は本発明の試
験台の断面図、図3は本発明の作用を説明する図であ
る。本発明に係わる印刷配線板試験装置は、図1に例示
したように、検査すべき印刷配線板1を開口面にセット
する試験台本体30、及び試験台本体30上に上下動自在に
装着する上プローブ盤40とからなる試験台50と、投入し
たメモリ62に指定された回路の導通を順次検査する試験
機本体60と、試験台本体30上にセットした印刷配線板1
に押下運動を付与する真空ポンプ55とを備えたものであ
る。
【0027】印刷配線板1には例えば、図3に図示した
ように裏面に搭載部品のリードを半田付けするパッド4
とパッド4から導出したパターン6が形成され、表面に
は、パッド2とパッド2から導出したパターン5が形成
されている。
【0028】そして表面のパターン5の端末と裏面のパ
ターン6の端末とを、スルーホール3で接続している。
詳細を図2に図示したように、試験台本体30は、上方が
開口した浅い箱形の筐体31の中段に、開口面に並行して
絶縁仕切板32を気密に設け、絶縁仕切板32に所定の格子
間隔(例えば2.54mm) でプローブピン20を配置し貫設さ
せ植設させている。
【0029】プローブピン20の構造は、図4を参照して
前述した通りであるので、改めて説明しない。33は、筐
体31の開口内に水平に挿入される、外形が角形の支持枠
板である。そして、支持枠板33の上面に弾性ある枠形ゴ
ム板34を貼着し、その枠形ゴム板34の外周部の下面を、
筐体11の側壁の上端面に貼着することで、支持枠板33
は、筐体31の開口面に水平に且つ上下動可能に保持され
ている。
【0030】なお、支持枠板33の内側の縁部の上部に、
小さい枠形のゴム板を貼着し、このゴム板上に印刷配線
板1をセットするようにしている。一方、絶縁仕切板32
に吸気口35を設け、その吸気口35を試験台50の外に設置
した真空ポンプ55の吸入口に接続し、絶縁仕切板32, 筐
体31の側壁及び印刷配線板1とで構成する空間を減圧す
るようにしている。
【0031】また、筐体31の4隅の枠形ゴム板34を外し
た位置に、それぞれ直立するガイドバー39を配設してあ
る。上述のようにな試験台本体30の支持枠板33上に印刷
配線板1をセットし、真空ポンプ55を駆動すると、絶縁
仕切板32の上部空間が減圧されるので、枠形ゴム板34が
内側に撓み印刷配線板1が降下して、印刷配線板1の裏
面の格子の総ての交点(選択した交点にパッド,スルー
ホール等が形成されている)がプローブピン20の頭部に
押圧する。
【0032】上プローブ盤40は、4隅のそれぞれにガイ
ドバー39に嵌合するガイド孔42を揺する角板状の絶縁板
41と、頭部が下方を指向するように所定の格子間隔(例
えば2.54mm) で絶縁板41に貫通するよう植設させたプロ
ーブピン20とで構成されている。
【0033】ガイドバー39を案内にして上プローブ盤40
を真下の方向に降下させると、プローブピン20のそれそ
れの頭部が、印刷配線板1の表面の格子の総ての交点
(選択した交点にパッド,スルーホール等が形成されて
いる)を押圧する。
【0034】図1に図示したように、試験機本体60は、
試験台本体30のプローブピン20の本数と上プローブ盤40
のプローブピン20の本数の和に等しい数量のリレーが配
列したリレー配列盤61と、制御部とを備えている。
【0035】リレー配列盤61に配列したそれぞれのリレ
ーは、一方の接点側が導線を介して試験台本体30及び上
プローブ盤40のそれぞれのプローブピン20に接続され、
他方の接点側が試験機本体60に内装したセンサに接続さ
れている。
【0036】メモリ62は、印刷配線板1の導通検査を実
施すべき回路の総てを、順番に記録させたものであっ
て、検査すべきそれぞれの回路の始端(パッド,スルー
ホール等)と終端(パッド,スルーホール等)とを印刷
配線板1のX・Y座標で記録させてある。
【0037】この始端と終端は、印刷配線板の回路設計
に使用するCADシステムのデータから抽出することが
望ましい。なんとなれば、CADシステムのデータから
ならば、正確であり且つその抽出速度が速いからであ
る。
【0038】上述のように構成された印刷配線板試験装
置は、下記のようにして使用するものである。先ず、試
験台本体30に印刷配線板1をセットし、真空ポンプ55を
駆動して、印刷配線板1を吸引し、印刷配線板1の裏面
の格子の総ての交点(選択した交点にパッド,スルーホ
ール等が形成されている)をプローブピン20の頭部に接
触させる。
【0039】次に上プローブ盤40を降下して、印刷配線
板1の表面の格子の総ての交点(選択した交点にパッ
ド,スルーホール等が形成されている)にプローブピン
20の頭部を接触させる。
【0040】次に試験機本体60の起動スイッチをオンと
する。このことにより制御部がメモリ62から検査すべき
最初の回路の始端パッドと終端パッドとを読み取り、そ
のX・Y座標に相当するリレー配列盤61の2つのリレー
を駆動してその接点をオンとする。
【0041】リレーがオンになると、電源−始端に対応
するリレーの接点−導線−プローブピン20−始端−パタ
ーン(及びスルーホール)−終端−他のプローブピン20
−導線−終端に対応するリレーの接点−センサ−電源と
いう試験回路が接続される。
【0042】よって、その回路の導通の良否がセンサに
より検出される。導通不良の場合は、不良回路として試
験機本体60に繋がるプリンタからプリントアウトする。
【0043】最初の回路の検査が終わると、次の回路を
制御部が読み取り、対応するリレーを駆動して次の回路
の始端パッドと終端パッド間の導通検査を行い、次々に
リレを切り換えて、総ての回路の導通検査を終了するも
のである。
【0044】なお、図3に図示したように、印刷配線板
1の裏面にパッド4とパッド4から導出したパターン6
が形成され、印刷配線板1の表面にパッド2とパッド2
から導出したパターン5が形成され、パターン5の端末
とパターン6の端末とがスルーホール3で接続されてい
る場合には、検査すべき回路の始端パッドとはパッド4
を指し、終端パッドとはパッド2を指すものである。
【0045】したがって、パッド4−パターン6−スル
ーホール3−パターン5−パッド2の一連の回路の導通
検査を極めて短時間に実施てきる。実施例においては真
空ボンプを用いて印刷配線板を吸引して、印刷配線板の
裏面の格子の総ての交点を試験台本体のプローブピンに
接触させているが、真空ポンプを使用することなく、上
プローブ盤を降下して、印刷配線板の表面の格子の総て
の交点をプローブピンの頭部に接触させるとともに、上
プローブ盤の重量により、印刷配線板を押し下げて、印
刷配線板の裏面の格子の総ての交点を試験台本体のプロ
ーブピンに接触させても良い。
【0046】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、印刷配線
板試験装置の試験台を、試験台本体と上プローブ盤とか
らなるものにしたことにより、印刷配線板を裏返しする
ことなく、印刷配線板の表裏の両面にそれぞれ形成した
回路、及び表面側パターンと裏面側パターンとがスルー
ホールを介して接続されてなる回路の導通検査を、短時
間に実施できるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の構成図である。
【図2】本発明の試験台の断面図である。
【図3】本発明の作用を説明する図である。
【図4】従来の試験台の図で、(A) は断面図、(B) はプ
ローブピンの詳細図である。
【符号の説明】
1 印刷配線板 2,4
パッド 3 スルーホール 5,6
パターン 10,50 試験台 11,31 筐
体 12,32 絶縁仕切板 13,33 支
持枠板 14,34 枠形ゴム板 20 プロー
ブピン 21 ニードル 22 外筒 23 保持外筒体 39 ガイド
バー 40 上プローブ盤 41 絶縁板 55 真空ポンプ 60 試験機
本体 61 リレー配列盤 62 メモリ

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上方が開口した箱形の筐体(31)の中段に
    設けた絶縁仕切板(32)に、所定の格子間隔でプローブピ
    ン(20)が植設してなる試験台本体(30)と、 該試験台本体(30)の開口面にセットする印刷配線板(1)
    と、 頭部が下方を指向するよう所定の格子間隔でプローブピ
    ン(20)が、絶縁板(41)に植設してなる上プローブ盤(40)
    と、 該印刷配線板(1) の導通検査を実施すべき回路が記録さ
    れてなるメモリ(62)を収容し、該試験台本体(30)のプロ
    ーブピン数と該上プローブ盤(40)のプローブピン数の和
    に等しい数量のリレーが配列したリレー配列盤(61)、
    及び制御部を有する試験機本体(60)とを備え、 該試験台本体(30)は、開口面にセットした該印刷配線板
    (1) の裏面にそれぞれの該プローブピン(20)の頭部が当
    接するものであり、 該上プローブ盤(40)は、該試験台本体(30)の上方に上下
    動自在に装着されて、該印刷配線板(1) の表面にそれぞ
    れの該プローブピン(20)の頭部が当接するものであり、 該リレー配列盤(61)は、それぞれのリレーの一方の接点
    側を、導線を介して該試験台本体(30)及び上プローブ盤
    (40)のそれぞれのプローブピン(20)に接続し、他方の接
    点側を該試験機本体60に内装したセンサに接続するもの
    であり、 該制御部は、該メモリ(62)に指定された回路を順次引出
    して、該リレー配列盤(61) を駆動するものであること
    を特徴とする印刷配線板試験装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のメモリ(62)が、検査すべ
    きそれぞれの回路の始端と終端とを、記録したものであ
    ることを特徴とする印刷配線板試験装置。
JP5329179A 1993-12-27 1993-12-27 印刷配線板試験装置 Withdrawn JPH07191076A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5329179A JPH07191076A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 印刷配線板試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5329179A JPH07191076A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 印刷配線板試験装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH07191076A true JPH07191076A (ja) 1995-07-28

Family

ID=18218538

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5329179A Withdrawn JPH07191076A (ja) 1993-12-27 1993-12-27 印刷配線板試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH07191076A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008008773A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nidec-Read Corp 基板検査方法及び基板検査装置
WO2013155256A1 (en) * 2012-04-13 2013-10-17 Formfactor, Inc. Wiring substrate with filled vias to accommodate custom terminals
CN112595950A (zh) * 2020-10-10 2021-04-02 永诺电气有限公司 电力仪表电路板检测装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008008773A (ja) * 2006-06-29 2008-01-17 Nidec-Read Corp 基板検査方法及び基板検査装置
WO2013155256A1 (en) * 2012-04-13 2013-10-17 Formfactor, Inc. Wiring substrate with filled vias to accommodate custom terminals
US9523715B2 (en) 2012-04-13 2016-12-20 Formfactor, Inc. Wiring substrate with filled vias to accommodate custom terminals
CN112595950A (zh) * 2020-10-10 2021-04-02 永诺电气有限公司 电力仪表电路板检测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5633598A (en) Translator fixture with module for expanding test points
JPS63304180A (ja) 印刷回路板テスト装置
US5945838A (en) Apparatus for testing circuit boards
GB2108774A (en) Electrical interface arrangements
US5570033A (en) Spring probe BGA (ball grid array) contactor with device stop and method therefor
JPH07191076A (ja) 印刷配線板試験装置
US4573756A (en) Electrical interface arrangements
KR102451715B1 (ko) Atm용 pcb 기능검사장치
JP2940601B2 (ja) 印刷配線板テスタ用のトランスレータ固定装置
CN113109696B (zh) 一种pcb板导电孔性能测试方法
EP0989409A1 (en) Scan test machine for densely spaced test sites
US5898314A (en) Translator fixture with force applying blind pins
JP2003043068A (ja) 重複使用可能なテストジグ
JP3968141B2 (ja) マルチテスト用治具とマルチテスター
WO1995023341A1 (en) Translator fixture with module for expanding test points
CN219105065U (zh) 一种lcr器件老化测试一体化设备
CN216979236U (zh) 一种自适应式电路板检测装置
JPH0731185Y2 (ja) プロービィング装置
KR200298536Y1 (ko) 반도체소자의테스트장치
JPH05126891A (ja) プリント板の試験方法
KR20230067178A (ko) 검사장치
JPS62190474A (ja) プリント基板の検査装置
KR20130136039A (ko) 회로기판 기능검사장치
KR19980015039A (ko) 가압 도전성 고무판을 이용한 반도체 칩 패키지의 전기적 특성 검사 방법
JPH06267629A (ja) Icテスト装置

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20010306