JPH0718272U - 電気テストプローブの除塵装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 テスト時に発生する塵埃を発生時点で基板上
から取り除く。 【構成】 電気テストプローブ１を、バレル１ａの部分
で検査器のテストポイント位置決め治具２に固定し、検
査器に備えられた測定回路に配線８を介して電気的に接
続する。電気テストプローブ１の脇には、除塵ノズル５
をバレル１ａと並列にして位置決め治具２に固定する。
除塵ノズル５の一端は、電気テストプローブ１のチップ
４が電子回路基板１１のテストポイント９に押しつけら
れたとき（測定中）に、テストポイント９に接しないよ
うにして、かつチップ４に向かって近接するように位置
し、開口している。一方、除塵ノズル５の他端は、テス
トポイント位置決め治具２に設けたチャンバー６内に開
口している。チャンバー６は排気口７を介してブロア等
の排気装置（図示省略）に連通接続され、一定流量にて
排気することができるようになっている。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、電気テストプローブの除塵装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

近年、電子回路基板に部品を半田付けすることにより組み立てを行う工程にお いて、半田付けに用いられるフラックスの洗浄工程を省略する傾向がある。この ため、洗浄工程を省略された電子回路基板の半田付け部には、多くの場合、半田 表面を覆うようにフラックスが残る。

【０００３】 組み立てた電子回路基板の電気的動作確認または使用された部品の良不良確認 においては、前記半田付け部の表面に電気テスト用プローブが当たるように組み 立てた検査器により信号を送信し、検査する。しかしながら、上記のような洗浄 工程を省略した半田付け部においては、覆っているフラックスに阻害されてしま い、電気的導通が得られず、正確な検査ができない場合がある。従来、このよう な問題点を解決するために、特開平３−２５１７６９号公報に開示されるように 、より安定した電気的導通を得られる電気テストプローブが提案されている。

【０００４】 この電気テストプローブは、図１０に示すようなもので、プランジャー２２は 、バレル２１の軸線方向に伸びて、バレル２１の開口端部２６から延出しており 、先端にはテストポイントと接触するチップ２４が形成されている。また、プラ ンジャー２２は、ばね２３の圧力によってバレル２１内に支持されており、ばね ２３はプランジャー２２とバレル２１とが相対的に移動したとき、付勢されるよ うになっている。そして、プランジャー２２は、移動するときチップ２４ととも に回転する。チップ２４の先端には、チップ２４の外周に沿った円形のブレード エッヂの内側に、少なくとももう１つのブレードエッヂが設けられている。

【０００５】 上記構成の電気テストプローブは、バレル２１部分にて検査器に固定され、チ ップ２４の先端が電子回路基板のテストポイントに押さえつけられることで、電 気的に導通を得るものである。テストポイントにチップ２４を押さえつける際に 、プランジャー２２は、バレル２１に対して相対的に移動し、ばね２３により付 勢される。また、プランジャー２２のバレル２１の開口端部２６から延出した部 分に外周軸線に沿って設けられた螺旋形状部２５と、プランジャー２２の断面形 状に開口したバレル２１の開口端部２６とにより、プランジャー２２自体が回転 し、端部に設けられたチップ２４を回転させる。電子回路基板のテストポイント に押さえつけられたチップ２４が回転することで、テストポイントの表面にある 酸化膜や表面の汚染を取り除いて、金属面を出し、確実に電気的な導通が得られ る。この電気テストプローブは、テストポイントとチップ２４間に介在する絶縁 性の物質を自ら破壊し、導通を得る効果を持つ点で大いに有効である。特に、電 子回路基板組立ての洗浄工程の省略による、検査器とテストポイントの間の導通 不良の問題解決に役立っている。

【０００６】

【考案が解決しようとする課題】

しかしながら、上記従来の電気テストプローブの使用にあたり、テストポイン トを覆っているフラックスを破壊し、導通を積極的に得る際に発生する塵埃は、 検査器を汚染するのみならず、電子回路基板上に設けられた電気的接点の接触を 阻害したり、基板精密機構部品・光学部品等と同一筐体に組み込まれる基板に至 っては、他部品の機能を低下させる要因となっていた。

【０００７】 本考案は、テスト時に発生する塵埃を発生時点で基板上から取り除くことがで きる電気テストプローブの除塵装置を提供することを目的とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】

上記課題を解決するために、本考案は、テストポイントにチップを押し当て、 テストポイント上の導通を阻害する皮膜を破壊することにより電気的導通を得て 信号の授受を可能とする電気テストプローブを電子回路基板の決められたテスト ポイントにチップがあたるように位置決め治具に固定し、電子回路基板と位置決 め治具を相対的に動かして、検査を行う電子回路基板検査装置に用いられる電気 テストプローブの除塵装置を、一端が測定中のチップ近傍にてチップに向けて開 口した除塵ノズルと、この除塵ノズルの他端が連通接続され、除塵ノズルの断面 積より大きな断面積の大気流路を有するチャンバーと、このチャンバーの排気口 を介してチャンバーに連通接続された排気装置とを具備して構成した。

【０００９】 図１および図２は、それぞれ本考案に係る電気テストプローブの除塵装置を備 えた検査器を示す概念図である。図１において、電気テストプローブ１は、バレ ル１ａの部分で検査器のテストポイント位置決め治具２に固定され、検査器に備 えられた測定回路に配線８を介して電気的に接続されている。この電気テストプ ローブ１の脇には、除塵ノズル５がバレル１ａと並列にして位置決め治具２に固 定されている。除塵ノズル５の一端は、電気テストプローブ１のチップ４が電子 回路基板１１のテストポイント９に押しつけられたとき（測定中）に、テストポ イント９に接しないようにして、かつチップ４に向かって近接するように位置し 、開口されている。一方、除塵ノズル５の他端は、テストポイント位置決め治具 ２に設けたチャンバー６内に開口している。チャンバー６は排気口７を介してブ ロア等の排気装置（図示省略）に連通接続され、一定流量にて排気することがで きるようになっている。

【００１０】

【作用】

図１に示す状態から図２に示すように、電気テストプローブ１のチップ４をテ ストポイント９に押しつけると、その過程において、チップ４は回転し、テスト ポイント９の表面を覆うフラックス１０を破壊して、電気的に導通を得ることが できる。チャンバー６内には、排気装置により排気口７から排気されるのと同量 の大気が除塵ノズル５を介して吸気される。 チャンバー６内の大気流路の断面積に比べて、除塵ノズル５の断面積が十分に 小さいとき、流速は高められ、吸引力が発生する。吸引された塵埃は、除塵ノズ ル５を通ってチャンバー６内に到達するが、流速が低くなるためにチャンバー６ 内に堆積する。

【００１１】

【実施例１】 （構成） 図３は、本実施例の除塵装置を備えた検査器を示す概略構成図である。図３に おいて、電気テストプローブ１は、バレル１ａの部分で検査器のテストポイント 位置決め治具２を貫通し、固定されている。テストポイント位置決め治具２は、 内部に空洞を持った箱状形状に形成され、一箇所に排気口７が開けられ、箱内を チャンバー６として用い、ブロア等の排気装置（図示省略）にて排気されるよう になっている。電気テストプローブ１は、検査器に備えられた測定回路に配線８ を介して電気的に接続されている。この電気テストプローブ１の近傍には、除塵 ノズル５が併設されている。この除塵ノズル５の一端は、電気テストプローブ１ のチップ４がテストポイント９に押しつけられたときにテストポイント９に接し ないようにして、かつチップ４に向かって近接するように開口され、他端はテス トポイント位置決め治具２のチャンバー６内に開口して固定されている。

【００１２】 （作用） 図３において、排気口７からは、テストポイント位置決め治具２内のチャンバ ー６を排気する。チャンバー６内には、排気口７から排気されるのと同量の大気 が除塵ノズル５を介して吸気される。チャンバー６内の大気流路の断面積に比べ て、除塵ノズル５の断面積が十分に小さいとき、流速は高められ、吸引力が発生 する。電気テストプローブ１のチップ４をテストポイント９に押しつけると、そ の過程においてチップ４は回転し、テストポイント９の表面を覆うフラックス１ ０を破壊し、電気的に導通が得られる。このとき、チップ４の周囲に破壊された フラックス１０は塵埃として発生する。チップ４に近接した開口部を持つ除塵ノ ズル５は、発生した塵埃を吸引する。吸引された塵埃は除塵ノズル５を介し、チ ャンバー６内に到達するが、ここでは流速が低くなるため、チャンバー６内に堆 積する。

【００１３】 （効果） テスト時に発生する塵埃を発生時点で電子回路基板１１上から取り除くことが できる。また、テストポイント位置決め治具２を箱状に形成し、チャンバー６と して用いることで、除塵ノズル５の設置箇所を自由に選定できるようになり、か つ排気のための配管も簡略化できる。

【００１４】

【実施例２】 （構成） 図４、図５および図６は、それぞれ本実施例の除塵装置を備えた検査器を示す 概略構成図、要部断面図および要部斜視図である。図４において、電気テストプ ローブ１は、実施例１と同様に、バレル１ａの部分で検査器のテストポイント位 置決め治具２を貫通し、固定されている。また、テストポイント位置決め治具２ は、内部に空洞を持った箱状形状に形成され、一箇所には排気口７が開けられ、 箱内をチャンバー６として用い、ブロア等の排気装置にて排気される点も実施例 １と同様である。除塵ノズル５は、図５に示すように、中間付近で上部管５ａ， 下部管５ｂに分割構成されている。下部管５ｂは上部管５ａ内をスライドし、除 塵ノズル５全体としては伸縮可能な状態となっている。 また、図５および図６に示すように、除塵ノズル５の先端には、電気テストプ ローブ１のチップ４の上面にまで延在する連動板１２が取り付けられている。こ の連動板１２は、チップ４の上面を摺動可能であり、除塵ノズル５には固定され ている。

【００１５】 （作用） チップ４をテストポイント９に対して押さえつけると、プランジャー３はバレ ル１ａに対して相対的に押し上げられる。すると、チップ４の上面に係合された 連動板１２は、除塵ノズル５の下部管５ｂを押し上げる。したがって、チップ４ の上下動に連動して、除塵ノズル５の下部管５ｂの開口端も上下する。

【００１６】 （効果） 本実施例でもテスト時に発生する塵埃を発生時点で電子回路基板１１上から取 り除くことができる。また特に、電気テストプローブ１のチップ４と除塵ノズル ５の先端との相対位置が一定に保たれることで、除塵効率を電子回路基板１１の 個体差なく、高く保つことができる。

【００１７】

【実施例３】 （構成） 図７、図８および図９は、それぞれ本実施例の除塵装置を備えた検査器を示す 概略構成図、要部断面図である。図７において、除塵ノズル５は、電気テストプ ローブ１をその管内に囲繞しており、テストポイント位置決め治具２に、一端が チャンバー６内に開口するように固定されている。また、除塵ノズル５は、図８ および図９に示すように、実施例２と同様にして中間部で上部管５ａおよび下部 管５ｂに分割構成され、かつ下部管５ｂは上部管５ａ内をスライドし、除塵ノズ ル５全体として伸縮するようにできている。除塵ノズル５の開口部は、電気テス トプローブ１のチップ４の下端（テストポイント９と接する面の位置）よりやや 上部において、ピン１３により、チップ４の上面に引っかけられ、チップ４の上 下動に連動するようになっている。なお、ピン１３はチップ４の上面を摺動し、 回転を妨げないようになっている。

【００１８】 （作用） チップ４がテストポイント９に押し当てられている間、チップ４の外周と除塵 ノズル５の開口部の空隙から大気は吸引される。チップ４の上下動に連動して除 塵ノズル５の開口部も上下動するため、上記空隙は一定に保たれ、吸引力は一定 に保持される。吸引された塵埃は電気テストプローブ１と除塵ノズル５との間を 上がり、チャンバー６内に堆積する。

【００１９】 （効果） 本実施例でもテスト時に発生する塵埃を発生時点で電子回路基板１１上から取 り除くことができる。また、チップ４の全周において吸引がなされるため、チッ プ４自体の影響で吸引できない陰の部分がない。また、電気テストプローブ１と 除塵ノズル５とを一体化でき、除塵ノズル５の配置位置の自由度を増し、かつ小 さくできる。

【００２０】

【考案の効果】

以上のように、本考案の電気テストプローブの除塵装置によれば、電気的導通 を得るためにテストポイント上にあるフラックスの被覆を積極的に破壊する検査 器において、破壊した被膜の塵埃を吸引、除去し、遊離、飛散した塵埃による電 気接点あるいは同一筐体内に組まれる機構部品、光学部品等への悪影響を避ける ことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の除塵装置を示す概念図である。

【図２】本考案の除塵装置を示す概念図である。

【図３】本考案の実施例１の除塵装置を備えた検査器を
示す概略構成図である。

【図４】本考案の実施例２の除塵装置を備えた検査器を
示す概略構成図である。

【図５】同実施例２の除塵装置を示す要部断面図であ
る。

【図６】同実施例２の除塵装置を示す要部斜視図であ
る。

【図７】本考案の実施例３の除塵装置を備えた検査器を
示す概略構成図である。

【図８】同実施例３の除塵装置を示す要部断面図であ
る。

【図９】同実施例３の除塵装置を示す要部断面図であ
る。

【図１０】電気テストプローブを示す断面図である。

【符号の説明】

１ 電気テストプローブ １ａ バレル ２ テストポイント位置決め治具 ３ プランジャー ４ チップ ５ 除塵ノズル ６ チャンバー ７ 排気口 ９ テストポイント １１ 電子回路基板

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 テストポイントにチップを押し当て、テ
   ストポイント上の導通を阻害する皮膜を破壊することに
   より電気的導通を得て信号の授受を可能とする電気テス
   トプローブを電子回路基板の決められたテストポイント
   にチップがあたるように位置決め治具に固定し、電子回
   路基板と位置決め治具を相対的に動かして、検査を行う
   電子回路基板検査装置に用いられる除塵装置であって、
   一端が測定中のチップ近傍にてチップに向けて開口した
   除塵ノズルと、この除塵ノズルの他端が連通接続され、
   除塵ノズルの断面積より大きな断面積の大気流路を有す
   るチャンバーと、このチャンバーの排気口を介してチャ
   ンバーに連通接続された排気装置とを備えたことを特徴
   とする電気テストプローブの除塵装置。