JPH07181517A - アクティブマトリックス型液晶表示装置 - Google Patents

アクティブマトリックス型液晶表示装置

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JPH07181517A
JPH07181517A JP32441293A JP32441293A JPH07181517A JP H07181517 A JPH07181517 A JP H07181517A JP 32441293 A JP32441293 A JP 32441293A JP 32441293 A JP32441293 A JP 32441293A JP H07181517 A JPH07181517 A JP H07181517A
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JP32441293A
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Michiya Kobayashi
道哉 小林
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 TFTの光リーク電流を抑えて、表示画像の
コントラスト低下やクロストークの発生などの表示性能
低下を解消し、表示性能に優れた液晶表示装置を提供す
る。 【構成】 本発明のアクティブマトリックス型液晶表示
装置は、透明絶縁性基板である石英基板1の上面とTF
T4の活性層10との間の層に、前記のTFT4のチャ
ネル領域7およびこのチャネル領域7とソース領域9お
よびドレイン領域8とのジャンクション領域への入射を
遮る領域に形成された遮光膜2を具備することを特徴と
している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は画素部スイッチング素子
として半導体活性層を有するアクティブマトリックス型
液晶表示装置に関する。
【0002】
【従来の技術】アクティブマトリックス型液晶表示装置
は、画像表示の高速応答性や表示品位の向上を図り、ま
た高精細化、多画素化を実現できる表示デバイスとして
注目されている。
【0003】このアクティブマトリックス型液晶表示装
置の表示画素部ごとに設けられそのスイッチングを行な
うスイッチング素子としては、a−Si(非晶質シリコ
ン)またはp−Si(多結晶シリコン)のような半導体
を活性層に用いた薄膜トランジスタ(以下、TFTと略
称)が一般的に用いられている。
【0004】a−SiによるTFTは、安価なガラス基
板上に大面積にわたってスイッチング素子を形成するこ
とが比較的容易であるため、例えばOA用ディスプレイ
装置や壁掛テレビといった大型の画面を有する液晶表示
装置に好適であると考えられている。一方、p−Siに
よるTFTは、活性層中のキャリアの移動度が数10〜20
0 cm2 /Vsと大きく、TFTのサイズを小さく形成し
ても液晶表示装置の画素の駆動が十分可能で、かつ液晶
駆動回路として従来は表示パネルの周囲に別の専用IC
などで構成していた周辺駆動回路もTFTアレイ基板上
に一体に形成できるため、プロジェクションテレビ用の
液晶パネルやビデオカメラのビューファインダー用の液
晶パネルといった、小型・高精細が要求される液晶表示
装置に好適であると考えられている。
【0005】ここで、このような従来のアクティブマト
リックス型液晶表示装置の構造の概要を図3に示す。上
述したようなa−Siなどの活性層を有するTFTが画
素部スイッチング素子として形成され、これによって電
圧印加がスイッチングされる画素電極、およびこの画素
電極に映像信号を供給する信号線および各TFTを走査
的にスイッチングさせる走査パルスを供給する走査線と
が形成されたアレイ基板301と、いわゆるブラックマ
トリックスと呼ばれる遮光層およびカラー表示を行なう
場合にはカラーフィルターが形成され、前述のアレイ基
板301上の画素電極と対向するように形成された対向
電極とを備えた対向基板302とを、対向配置し、その
間隙に液晶材料(図示省略)を封入して液晶表示パネル
303が形成されている。言うまでもなくこの液晶表示
パネルの間隙部分の周囲は封着材(図示省略)で封止さ
れている。そしてこの液晶表示パネル303の外向きの
面両面にそれぞれ偏光板304、305が貼設されてい
る。そして一般には光源306を対向基板302の側に
配置し、この光源306から供給される光源光を前記の
液晶表示パネル303に透過させて光を変調し画像を表
示する。
【0006】図4は、そのようなアクティブマトリック
ス型液晶表示装置に用いられるアレイ基板の表示画素領
域一画素分の部分を示す図である。図4(a)はその平
面図であり、また(b)は(a)におけるA−B断面図
である。
【0007】TFT401は、ソース領域402ドレイ
ン領域403チャネル領域404を有するp−Siから
なる活性層405と、ゲート絶縁膜406と、低抵抗化
されたp−Siからなるゲート電極407とからその主
要部が構成されている。ソース領域402、ドレイン領
域403はn型ドーパントであるP(燐)が打ち込まれ
て低抵抗化されて形成されている。そしてドレイン領域
403は層間絶縁膜408に穿設されたコンタクトホー
ルを通してCr・Alからなる信号配線409に接続さ
れている。またゲート電極407は走査配線410と一
体に形成されている。またソース領域402は、層間絶
縁膜408に穿設されたコンタクトホールを通してIT
Oからなる画素電極411と接続されている。さらにこ
のソース領域402は蓄積容量412の下部電極として
用いられており、蓄積容量412の誘電体層としてはゲ
ート絶縁膜406が、また上部電極413としてはゲー
ト電極407を形成するものと同じ膜材料を用いて形成
されている。
【0008】このような構造の従来のアクティブマトリ
ックス型液晶表示装置に、そのTFTが形成された側の
面から光が入射すると、この光がまず直接的にTFT4
01の活性層405に入射した場合、特にTFT405
のチャネル領域404や、そのチャネル領域404とソ
ース領域402、ドレイン領域403とのジャンクショ
ン部分近傍で光リーク電流が発生する。この光リーク電
流に起因して、TFTがオフとなるべき動作条件下でも
電流が流れてしまい、その結果TFTが誤動作すること
になり、液晶表示装置としての適正な表示が妨げられる
という問題がある。
【0009】そこで従来は、このような光リーク電流の
解消のため、対向基板側にいわゆるブラックマトリック
スと呼ばれる遮光膜501(図4中においては図示の簡
潔化を図るためにこの遮光膜501は斜線を付して示し
てある)を形成し、特にTFT405に対して光が入射
することを防ぐようにしていた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ような従来の液晶表示装置では、TFTの図中上方から
照射される入射光に対しては前記のブラックマトリック
スによって入射を防ぐことが可能であるが、例えばガラ
ス基板414の外部と接触する界面近傍で反射する光
が、TFTの図4(b)中下側から照射されることを防
ぐことは困難である。すなわち、図4(b)に示すよう
に、TFT本体に対して斜め方向から入射してくる光
が、そのTFT401が形成されている基板であるガラ
ス基板414の外部との境界面で反射してTFT401
の下側から活性層404のジャンクション部分に照射さ
れる。
【0011】上述のようなTFT401へのガラス基板
414界面での反射光の照射の問題は、一般にプロジェ
クション方式の液晶表示装置のように光源光の光量が大
きい場合に特に顕著なものとなる。一般にプロジェクシ
ョン方式の液晶表示装置に用いられる光量は液晶表示パ
ネルに入射される時点で約1,000,000 Lx以上である。
上述したようにTFT401への直接入射光については
対向基板側などに設けられたブラックマトリックス(遮
光膜501)によって遮光することができるが、しかし
前記の間接的な反射光や迷光については、例えば外部が
空気である場合、ガラス基板414の界面近傍での反射
率が4 〜 5%程度であるため、数万Lxの光がTFT4
01に照射されることになる。その結果、TFT401
の光リーク電流が許容値以上に大きくなって、液晶表示
パネルの動作に対して外乱的影響を与え、表示画像のコ
ントラストの低下やクロストークの増大などの表示性能
成果をもたらすという問題がある。
【0012】本発明は、このような問題を解決するため
に成されたもので、その目的は、ガラス基板の界面や、
液晶表示パネルを通過した光の偏光板界面等による反射
によって間接的にTFTに入射される光に起因したTF
Tの光リーク電流を抑えて、表示画像のコントラスト低
下やクロストークの発生などの表示性能低下を解消し、
表示性能に優れた液晶表示装置を提供することにある。
【0013】特に本発明はプロジェクション方式の液晶
表示装置など光源光の光量の大きい液晶表示装置に対し
て好適な技術である。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明のアクティブマトリックス型液晶表示装置
は、 画素を形成する画素電極と該画素電極への電圧印
加をスイッチングする画素部スイッチング素子として半
導体からなる活性層を有するコプラナ型の薄膜トランジ
スタ素子とを透明絶縁性基板上に備え、前記画素電極と
対向電極との間に封入挟持される液晶層とを有するアク
ティブマトリックス型液晶表示装置において、前記透明
絶縁性基板上面と前記薄膜トランジスタ素子の活性層と
の間の層に、前記薄膜トランジスタ素子側から入射され
前記透明絶縁性基板の界面で反射して前記活性層のチャ
ネル領域、および該チャネル領域とソース領域およびド
レイン領域との接合へ入射する光を遮る領域に形成され
た遮光膜を具備することを特徴としている。
【0015】また、上記のアクティブマトリックス型液
晶表示装置において、前記透明絶縁性基板の前記薄膜ト
ランジスタ素子の形成された側の面から入射して前記透
明性絶縁性基板の界面で反射し前記活性層へと入射しよ
うとする光を遮る大きさに、前記遮光膜の外形が形成さ
れていることを特徴としている。
【0016】また、上記のアクティブマトリックス型液
晶表示装置において、前記遮光膜が、前記チャネル領域
の透明性絶縁基板上面に対する法線方向の投射外形に加
えてその周囲に前記遮光膜と前記活性層との間の距離の
tan 45°倍の幅を加えた外形寸法以下の大きさに形成さ
れたことを特徴としている。
【0017】
【作用】従来の液晶表示装置においては、主に対向基板
側にブラックマトリックス(遮光膜)を形成していたの
で、TFTが形成されたガラス基板の外部との界面で光
源からの光が反射あるいは迷光し、この光がTFTの下
側から照射されてTFTに光リーク電流が発生してい
た。そこで、この下側からの反射光を遮光するために、
TFTとガラス基板との間にすわなちTFTが形成され
たガラス基板の上面に遮光膜を形成していた。しかしこ
の遮光膜は一般にCrなどの光遮蔽性の高い材料である
金属材料膜が用いられているので、この遮光膜の表面が
光を反射させてしまい、光の照射角度によってはむしろ
従来よりもさらに強く反射光がTFTに照射されてしま
う。
【0018】そこで、本発明においては、遮光膜をTF
Tの下層に、TFTの少なくともチャネル領域およびそ
の両脇のジャンクション領域近傍を覆うような形状に形
成することで、遮光膜自体での入射光の反射による迷光
の入射を防ぐとともに、ガラス基板の外部との界面等で
の入射光の反射光がTFTに照射されることを防ぐこと
ができる。
【0019】この遮光膜の形状(外形)としては、TF
Tの活性層のうち特に光リーク電流が発生する確率の高
いチャネル領域両端のドレイン領域およびソース領域と
のジャンクション部分を覆うように形成すればよい。具
体的な遮光膜の寸法(面積)は、この遮光膜とTFTの
活性層との垂直距離および光源から入射される光源光の
主方向と液晶表示パネルとのなす角との諸条件を考慮し
て最適値を決めればよい。特に、液晶表示装置にガラス
基板のような一般的な透明絶縁性基板を用いる場合で
は、その透明絶縁性基板界面での光反射の臨界角が44°
以上なので、チャネル領域の透明性絶縁基板上面に対す
る法線方向の投射外形に加えてその周囲に遮光膜と活性
層との間の距離のtan 45°倍の幅を加えた寸法以下の大
きさに外形寸法を形成すればよい。
【0020】
【実施例】以下、本発明に係る液晶表示装置の一実施例
を図面に基づいて詳細に説明する。 図1は本発明に係
る液晶表示装置の特に一画素部分の構造を示す図であ
る。図1(a)はその平面図、(b)はそのA−B断面
図である。
【0021】石英基板1上に厚さ300 nmのCrからな
る遮光膜2が形成されている。この遮光膜2を含んで石
英基板1の上面を覆うように第1の層間絶縁層3が形成
されている。この第1の層間絶縁層3の厚さは約1 μm
とした。そしてこの第1の層間絶縁層3の上にTFT4
が形成されている。またさらにこのTFT4に接続され
る画素電極5と、蓄積容量6とが形成されている。
【0022】TFT4は、第1のp−Siで形成されチ
ャネル領域7、ドレイン領域8、ソース領域9を備えた
活性層10と、そのチャネル領域7の上をゲート絶縁層
11を介して覆うように形成されたゲート電極12と、
ドレイン領域8に接続されるドレイン電極13とソース
領域9に接続されるソース電極14とからその主要部が
構成されている。そしてこのTFT4を含む基板上面を
覆うように第2の層間絶縁層15が形成されている。こ
こで、ゲート絶縁層11は、活性層10の表面を熱酸化
して得た熱酸化膜から形成されている。またゲート電極
12は不純物をドープされ低抵抗化されたp−Siを用
いて形成されており、ゲート配線すなわち走査配線16
と一体形成されている。そしてドレイン電極13は信号
配線17と一体形成されている。このドレイン電極13
は、第2の層間絶縁層15に穿設されたコンタクトホー
ルを通してCr・Alの2層構造からなる接続電極とし
て形成されている。またソース電極14は画素電極5と
一体形成されている。そして活性層10のドレイン領域
8とソース領域9は、いずれもn型のドーパントである
P(燐)が打ち込まれて低抵抗化されている。そして第
2の層間絶縁層15は、前述の第1の層間絶縁層3と同
様の材料であるSiO2 を用いて形成されている。
【0023】また、TFT4のソース領域9は蓄積容量
6の下部電極18と一体形成されている。そしてこの蓄
積容量6はゲート電極12と同様のp−Siから形成さ
れた上部電極19と前記の下部電極18とでゲート絶縁
層11と同じ材料から形成された誘電体層20を挟持し
て蓄積容量として形成されている。そして上部電極19
は蓄積容量線21と一体形成されている。
【0024】ここで、TFT4のチャネル領域7は、チ
ャネル幅 3μm、チャネル長 6μmに形成されている。
また遮光膜2は、同図1中に示すようにTFT4のチャ
ネル領域7を含んでさらにその大きさよりも縦方向およ
び横方向ともに 0.5μmずつはみ出すように大きく形成
されている。つまりその大きさは4 ×7 μmで、その形
状はチャネル領域7を覆うとともにチャネル領域7より
も若干大きい外形に形成されている。また本実施例では
遮光膜2とTFT4との垂直方向(積層方向)の距離
を、約 1μmとした。このような遮光膜2とTFT4と
の垂直方向距離と遮光膜2のチャネル領域7に対する
(外形寸法)はみ出し量との関係は、液晶表示パネルに
対して入射する光源光の主方向のパネルに対してのなす
角に対応して適宜設定することが好ましい。
【0025】すなわち、一例を挙げるならば、光源光の
主方向と液晶表示パネルの平面とが垂直に配置される液
晶表示装置の場合、液晶表示パネル内を通過する光の伝
搬方向は、間接入射光も含めるとその方向分布が石英基
板1に対して法線方向とのなす角が約30°以内に収ま
る。従って、前記の遮光膜2のはみ出し量としては、T
FT4と遮光膜2との垂直方向距離×tan30°程度に
設定することが好ましい。ただしこれ以外、例えば光源
の光出射の主方向が液晶表示パネルの平面に対して垂直
でない場合などには適用されない。そのような場合に
は、光源光の主方向と液晶表示パネルの平面とのなす角
に対応して適宜に遮光膜2のはみ出し量すなわち遮光膜
2のチャネル領域7に対する寸法の余裕およびチャネル
領域7と遮光膜2との形状の相対的位置関係を変更すれ
ばよい。このとき、特に注意すべきは、石英基板1の外
部との界面で光が反射してきたときに、その光を遮光膜
2で遮光することができ、かつ遮光膜2によって少なく
ともチャネル領域7の領域には反射させることがないよ
うな寸法および形状に、遮光膜2を形成することが必要
である。
【0026】あるいは、光学系および光源等の性質上極
めて直進性に優れた光源光を用いる場合などでは、遮光
膜2の外形寸法(はみ出し量)としては殆どはみ出し量
を 0にして遮光膜2とチャネル領域7とが同じ形状でチ
ャネル領域7の石英基板1上面に対する投影面積分に当
たる寸法に遮光膜2を形成してもよい。また、広く一般
的に、理論上はTFTアレイ基板として用いるガラス基
板の全反射角θは44°以下であるので、前記のはみ出し
量を決定するtanθに代入すべきθの値としてはこの
ようなθの値を採用すればよい。
【0027】このような本発明に係る液晶表示装置を、
プロジェクション方式の液晶表示装置として用いて、光
源光に 100万Lxの光源を用いて画像投影を行なった。
その結果、表示画像のコントラスト比は150:1 にまでも
向上した。これは、従来の液晶表示装置の場合でTFT
アレイ基板側に遮光膜を設けない場合での表示画像のコ
ントラスト比が20:1、またTFTの下部に画素領域を除
いてほぼ全領域をあたって遮光膜を形成した場合でもコ
ントラスト比が40対1 程度だったのに比べて、本発明は
150 対1 となり、飛躍的に向上させることができた。ま
た、従来の液晶表示装置ではクロストーク等が発生し表
示品位が低下したが、本発明に係る液晶表示装置におい
てはそのような表示品位の低下は全く見られなかった。
このような結果から、本発明によって、TFTの光リー
ク電流が減少し、表示画像のコントラスト比が飛躍的に
向上するとともに表示品位の低下を解消して、良好な表
示品位の画像を実現することが可能となった。
【0028】次に、上述のような本発明に係る液晶表示
装置の製造方法の概要を、主にその画素領域を中心とし
て説明する。
【0029】石英基板1上にCrをスパッタ法により成
膜し、これをエッチング等によりパターニングして遮光
膜2を形成する。
【0030】続いて減圧CVD法および常圧CVD法に
よりSiO2 を、遮光膜2を含めて石英基板1の上面ほ
ぼ全面を覆うように成膜し、これを第1の層間絶縁層3
とする。
【0031】続いて減圧CVD法により、アンドープの
第1のp−Siを成膜、これをパターニングして、TF
T4の活性層10および蓄積容量6の下部電極18を形
成する。
【0032】そしてこの活性層10および下部電極18
の表面を熱酸化処理してTFT4のゲート絶縁層11お
よび蓄積容量6の誘電体層20を形成する。このときゲ
ート絶縁層11および誘電体層20の膜厚は約50nmと
した。
【0033】そしてPをドープした第2のp−Siを減
圧CVD法で成膜、これをパターニングして、ゲート電
極12および上部電極19を形成する。
【0034】そしてイオン注入法により、p型MOS−
TFTとする場合にはB(ホウ素)を、あるいはn型M
OS−TFTを形成する場合にはP(燐)を注入して、
TFT4のドレイン領域8およびソース領域9を形成す
る。
【0035】そして、減圧CVD法により、基板面上ほ
ぼ全面を覆うようにSiO2 を成膜し、これを第2の層
間絶縁層15とする。なお、この工程はドレイン領域8
およびソース領域9に前記の工程でドープした不純物の
活性化をも兼ねている。
【0036】続いて、スパッタ法によりITO膜を成膜
後これをパターニングして、画素電極5を形成する。こ
のときこの画素電極5の一端はソース電極14としてソ
ース領域9に接続されるように形成する。
【0037】さらに、スパッタ法によりCr、Alの順
に成膜しこれをパターニングして、第2の層間絶縁層1
5を形成後に穿設しておいたコンタクトホールを通して
ドレイン領域8に接続するようにドレイン電極13を形
成する。
【0038】以上の実施例においては、遮光膜2の形状
をTFT4のチャネル領域7を含んで縦横ともにチャネ
ル領域7よりも大きな寸法のものとしたが、この遮光膜
2の形状および寸法は、第1の層間絶縁層3の膜厚や石
英基板1の板厚および光り反射の臨界角などに対応し
て、反射光の角度分布が小さい場合(光源光の直進性が
高い場合)など、TFT4の活性層10の垂直投射形状
に形成してもよい場合もある。
【0039】さらに、以上の実施例のようにTFT4の
活性層10が蓄積容量6の下部電極18としても一体形
成されている場合には、TFT4の領域のみならず蓄積
容量6の領域においてもTFT4と同様に石英基板1の
外部との界面で反射した入射光が下部電極18に入射し
て来ることになり、この下部電極18で光励起電流が発
生し、これが引いては蓄積容量6やTFT4の外乱とな
ることがある。そこでこのような場合には、TFT4の
活性層10および蓄積容量6の下部電極18を含めた領
域をその下側から覆って遮光するような形状に遮光膜2
を形成してもよい。このような場合の遮光膜2を用いた
本発明に係る液晶表示装置の一例を図2に示す。図2
(a)はその一画素部分の平面図、(b)はそのA−B
間断面図である。なお図2においては、説明の簡潔化の
ために、図1と同じ部位には同一の符号を付して示して
いる。
【0040】このような形状に遮光膜2を形成する場合
の製造方法としては、例えば以下に示す製造工程を採る
ことができる。
【0041】すなわち石英基板1上にCrをスパッタ法
により約 300nm成膜した後、TFT4の活性層10お
よび蓄積容量6の下部電極18の両者を含めてその下側
から覆うような形状にパターニングして遮光膜2を形成
する。そして遮光膜2を含めて石英基板1上ほぼ全面を
覆うようにSiO2 を成膜してこれを第1の層間絶縁層
3とする。引き続きアンドープの第1のp−Siを成膜
しこれをパターニングして活性層10および下部電極1
8を一体形成する。
【0042】このような形状に遮光膜2を形成すること
によっても、TFT4のチャネル領域7のジャンクショ
ン部分での光リーク電流の発生を効果的に抑制して、コ
ントラスト150 対1 以上で、かつクロストークの発生し
ない良好な表示品位の画像表示を実現することが可能と
なった。
【0043】なお、以上の実施例においては、TFT4
に対して入射されてくる光源からの直接入射光の遮光を
行なう遮光膜については図示および詳細な説明は省略し
たが、これは例えば従来から一般的に用いられてきたよ
うな対向基板側に設けられるブラックマトリックスを用
いるようにしてもよい。あるいは、例えばゲート電極1
2の上にチャネル領域7を覆うような形に遮光膜を形成
しこれをブラックマトリックスとして用いることもでき
る。あるいは、対向基板側のブラックマトリックスと、
ゲート電極12上などを覆うブラックマトリックスと
を、併用してもよい。これらの場合においても、遮光膜
2は石英基板1の界面での光の反射光のTFT4への侵
入を効果的に防いで、光リーク電流を抑制することがで
きる。
【0044】また、以上の実施例においては、遮光膜2
の形成材料としては、従来からブラックマトリックスと
して一般的に用いられてきたCrを用いる場合を一例と
して挙げたが、遮光膜2の形成材料としてはこれのみに
は限定されない。また、遮光膜2の形成材料のみならず
第1の層間絶縁層3や活性層10、あるいは第2の層間
絶縁層15等の各部位の形成材料を種々変更することが
可能であることは言うまでもない。
【0045】
【発明の効果】以上、詳細な説明で明示したように、本
発明によれば、ガラス基板の界面や液晶表示パネルを通
過した光の偏光板界面等による反射で間接的に入射され
てくる光に起因したTFTの光リーク電流を解消して表
示画像のコントラスト低下やクロストーク等の表示性能
成果を解消し、表示性能に優れた液晶表示装置を提供す
ることができる。
【0046】さらに、本発明に係る技術と比べて、例え
ば石英基板上に第1の層間絶縁層を介してTFTの下に
画素領域を除いてほぼ全面を覆うような形で遮光膜を例
えばCrを用いて形成した場合では、走査配線とこの遮
光膜とそれらに挟持された第1の層間絶縁層との間でい
わゆるゲート配線容量が(走査配線容量)が増大して走
査パルスの遅延あるいは鈍りに起因したTFTの動作機
能の低下さらには表示特性の低下が発生していたが、本
発明の技術においてはそのような走査配線と遮光膜との
間で第1の層間絶縁層を介して走査配線容量が形成され
ることはないので、上記のような走査パルスの遅延や鈍
りなどの問題は発生せず、さらに良好な表示画像を得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る液晶表示装置の構造を、その一画
素部分を中心として示す図。
【図2】本発明に係る液晶表示装置の構造を、その一画
素部分を中心として示す図。
【図3】従来の投射型液晶表示装置の表示パネル部分と
光源との配置構造を示す図。
【図4】従来の液晶表示装置の構造を、その一画素部分
を中心として示す図。
【符号の説明】
1………石英基板 2………遮光膜 3………第1の層間絶縁層 4………TFT 5………画素電極 6………蓄積容量 7………チャネル領域 8………ドレイン領域 9………ソース領域 10………活性層 11………ゲート絶縁層 12………ゲート電極 13………ドレイン電極 14………ソース電極 15………第2の層間絶縁層 16………走査配線 17………信号配線 18………下部電極 19………上部電極 20………誘電体層 21………蓄積容量線

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 画素を形成する画素電極と該画素電極へ
    の電圧印加をスイッチングする画素部スイッチング素子
    として半導体からなる活性層を有するコプラナ型の薄膜
    トランジスタ素子とを透明絶縁性基板上に備え、前記画
    素電極と対向電極との間に封入挟持される液晶層とを有
    するアクティブマトリックス型液晶表示装置において、 前記透明絶縁性基板上面と前記薄膜トランジスタ素子の
    活性層との間の層に、前記薄膜トランジスタ素子側から
    入射され前記透明絶縁性基板の界面で反射して前記活性
    層のチャネル領域、および該チャネル領域とソース領域
    およびドレイン領域との接合へ入射する光を遮る領域に
    形成された遮光膜を具備することを特徴とするアクティ
    ブマトリックス型液晶表示装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のアクティブマトリックス
    型液晶表示装置において、 前記透明絶縁性基板の前記薄膜トランジスタ素子の形成
    された側の面から入射して前記透明性絶縁性基板の界面
    で反射し前記活性層へと入射しようとする光を遮る大き
    さに、前記遮光膜の外形が形成されていることを特徴と
    するアクティブマトリックス型液晶表示装置。
  3. 【請求項3】 請求項1乃至2記載のアクティブマトリ
    ックス型液晶表示装置において、 前記遮光膜が、前記チャネル領域の透明性絶縁基板上面
    に対する法線方向の投射外形に加えてその周囲に前記遮
    光膜と前記活性層との間の距離のtan 45°倍の幅を加え
    た外形以下の大きさに形成されていることを特徴とする
    アクティブマトリックス型液晶表示装置。
JP32441293A 1993-12-22 1993-12-22 アクティブマトリックス型液晶表示装置 Withdrawn JPH07181517A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6600534B1 (en) 1997-12-24 2003-07-29 Sharp Kabushiki Kaisha Reflective liquid crystal display device
CN100374938C (zh) * 2002-03-08 2008-03-12 株式会社半导体能源研究所 液晶显示器件
JP2012252361A (ja) * 2012-08-29 2012-12-20 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置

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