JPH07151530A - ワーク表面の平滑度検査方法 - Google Patents
ワーク表面の平滑度検査方法Info
- Publication number
- JPH07151530A JPH07151530A JP5296922A JP29692293A JPH07151530A JP H07151530 A JPH07151530 A JP H07151530A JP 5296922 A JP5296922 A JP 5296922A JP 29692293 A JP29692293 A JP 29692293A JP H07151530 A JPH07151530 A JP H07151530A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ワーク表面Ａに向けて検出光を照射する投光
手段１と、ワーク表面Ａからの反射光を受光する撮像手
段２とを備える光学式検査装置を用いて、ワーク表面Ａ
の平滑度を精度良く検査できるようにする。 【構成】 反射光が撮像手段２の入光部２２の端部に向
けて収束するように光学式検査装置を配置する。ワーク
表面Ａの凹凸が微小であっても、この凹凸からの反射光
Ｒｃは入光部２２に入射されなくなり、撮像手段２の画
像の本来明部となる領域に暗部が現われる。かくて、画
像データに基づいてワーク表面Ａの平滑度を精度良く検
査できる。
手段１と、ワーク表面Ａからの反射光を受光する撮像手
段２とを備える光学式検査装置を用いて、ワーク表面Ａ
の平滑度を精度良く検査できるようにする。 【構成】 反射光が撮像手段２の入光部２２の端部に向
けて収束するように光学式検査装置を配置する。ワーク
表面Ａの凹凸が微小であっても、この凹凸からの反射光
Ｒｃは入光部２２に入射されなくなり、撮像手段２の画
像の本来明部となる領域に暗部が現われる。かくて、画
像データに基づいてワーク表面Ａの平滑度を精度良く検
査できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ワークの塗装面等のワ
ーク表面の平滑度を検査する方法に関する。
ーク表面の平滑度を検査する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ワークの塗装面にごみの付着等に
よる凸部が存在するか否かを検査する方法として、実開
平５−１４９０２号公報により、図３に示す如く、ワー
ク表面Ａに向けて検出光を照射する投光手段１と、ワー
ク表面Ａからの反射光を受光する撮像手段２とを備える
光学式検査装置を用い、撮像手段２に結像される反射光
の画像データに基づいてワーク表面Ａの凸部Ｂを検出す
るものが知られている。
よる凸部が存在するか否かを検査する方法として、実開
平５−１４９０２号公報により、図３に示す如く、ワー
ク表面Ａに向けて検出光を照射する投光手段１と、ワー
ク表面Ａからの反射光を受光する撮像手段２とを備える
光学式検査装置を用い、撮像手段２に結像される反射光
の画像データに基づいてワーク表面Ａの凸部Ｂを検出す
るものが知られている。
【０００３】このもので投光手段１は、光源１０と光源
１０からの光をワーク表面Ａに向けて照射するフレネル
レンズ等の集光光学系１１とで構成されており、集光光
学系１１による検出光の集光作用により反射光を撮像手
段２に向けて収束させ、撮像手段２により反射光を受光
可能なワーク表面Ａの有効検査範囲を拡大し得るように
している。
１０からの光をワーク表面Ａに向けて照射するフレネル
レンズ等の集光光学系１１とで構成されており、集光光
学系１１による検出光の集光作用により反射光を撮像手
段２に向けて収束させ、撮像手段２により反射光を受光
可能なワーク表面Ａの有効検査範囲を拡大し得るように
している。
【０００４】また、撮像手段２はＣＣＤカメラで構成さ
れており、反射光が撮像手段２のレンズから成る入光部
２０の中央部に向けて収束するように光学式検査装置を
配置して検査を行っている。
れており、反射光が撮像手段２のレンズから成る入光部
２０の中央部に向けて収束するように光学式検査装置を
配置して検査を行っている。
【０００５】ここで、ワーク表面Ａに凸部Ｂが有ると、
凸部Ｂからの反射光Ｒｂは入光部２０に入射されず、撮
像手段２の画像の凸部Ｂに対応する部分は暗部となり、
この暗部から凸部Ｂの存在を検出できる。
凸部Ｂからの反射光Ｒｂは入光部２０に入射されず、撮
像手段２の画像の凸部Ｂに対応する部分は暗部となり、
この暗部から凸部Ｂの存在を検出できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】然し、上記従来の検査
方法では、ワーク表面Ａの凸部Ｂが或る程度以上の大き
さにならないと、凸部Ｂからの反射光が撮像手段２の入
光部２０に入射され、画像の凸部Ｂに対応する部分に反
射光が結像されてこの部分が暗部ならなくなる。従っ
て、ワーク表面に塗装むらによるうねり等の微小な凹凸
を生じても、撮像手段の画像に凹凸に対応する暗部は現
われず、ワーク表面の平滑度を精度良く検査することは
困難である。本発明は、以上の点に鑑み、上記した光学
式検査装置を用いてワーク表面の平滑度を精度良く検査
できるようにした方法を提供することをその目的として
いる。
方法では、ワーク表面Ａの凸部Ｂが或る程度以上の大き
さにならないと、凸部Ｂからの反射光が撮像手段２の入
光部２０に入射され、画像の凸部Ｂに対応する部分に反
射光が結像されてこの部分が暗部ならなくなる。従っ
て、ワーク表面に塗装むらによるうねり等の微小な凹凸
を生じても、撮像手段の画像に凹凸に対応する暗部は現
われず、ワーク表面の平滑度を精度良く検査することは
困難である。本発明は、以上の点に鑑み、上記した光学
式検査装置を用いてワーク表面の平滑度を精度良く検査
できるようにした方法を提供することをその目的として
いる。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成すべく、
本発明は、ワーク表面に向けて検出光を照射する投光手
段と、ワーク表面からの反射光を受光する撮像手段とを
備え、投光手段に反射光が撮像手段に向けて収束するよ
うに検出光を集光する集光光学系を組込んで成る光学式
検査装置を用いてワーク表面の平滑度を検査する方法に
おいて、反射光が撮像手段の入光部の端部に向けて収束
するように光学式検査装置を配置し、この状態で撮像手
段に結像される反射光の画像データに基づいて検査を行
うことを特徴とする。
本発明は、ワーク表面に向けて検出光を照射する投光手
段と、ワーク表面からの反射光を受光する撮像手段とを
備え、投光手段に反射光が撮像手段に向けて収束するよ
うに検出光を集光する集光光学系を組込んで成る光学式
検査装置を用いてワーク表面の平滑度を検査する方法に
おいて、反射光が撮像手段の入光部の端部に向けて収束
するように光学式検査装置を配置し、この状態で撮像手
段に結像される反射光の画像データに基づいて検査を行
うことを特徴とする。
【０００８】
【作用】ワーク表面の凹凸が微小であっても、この凹凸
からの反射光は平坦なワーク表面からの反射光が収束す
る撮像手段の入光部の端部領域から外れて入光部に入射
されなくなり、撮像手段の画像の本来明部となる領域に
暗部が現われる。かくて、撮像手段の画像データに基づ
いてワーク表面の平滑度を精度良く検査できる。
からの反射光は平坦なワーク表面からの反射光が収束す
る撮像手段の入光部の端部領域から外れて入光部に入射
されなくなり、撮像手段の画像の本来明部となる領域に
暗部が現われる。かくて、撮像手段の画像データに基づ
いてワーク表面の平滑度を精度良く検査できる。
【０００９】
【実施例】図１は光学式検査装置を用いてワーク表面Ａ
の平滑度を検査する状態を示している。この検査装置の
基本構成は図３に示した検査装置と同一であり、同一の
部材には図３で用いた符号と同一の符号を付してその説
明を省略する。
の平滑度を検査する状態を示している。この検査装置の
基本構成は図３に示した検査装置と同一であり、同一の
部材には図３で用いた符号と同一の符号を付してその説
明を省略する。
【００１０】この光学式検査装置は図示しないロボット
の動作端に投光手段１と撮像手段２との相対位置関係が
一定に保たれるように搭載されており、ワーク表面Ａの
塗装不良（ごみ等による凸部）の検査に際しては、ワー
ク表面Ａからの反射光が図３に示す如く撮像手段２の入
光部２０の中央部に収束するように検査装置をワークに
対し位置決めし、ワーク表面Ａの平滑度の検査に際して
は、反射光が図１に示す如く入光部２２の端部に収束す
るように検査装置を図３の状態から傾むける。
の動作端に投光手段１と撮像手段２との相対位置関係が
一定に保たれるように搭載されており、ワーク表面Ａの
塗装不良（ごみ等による凸部）の検査に際しては、ワー
ク表面Ａからの反射光が図３に示す如く撮像手段２の入
光部２０の中央部に収束するように検査装置をワークに
対し位置決めし、ワーク表面Ａの平滑度の検査に際して
は、反射光が図１に示す如く入光部２２の端部に収束す
るように検査装置を図３の状態から傾むける。
【００１１】これによれば、ワーク表面Ａに存在する凹
凸のうち入光部２０の前記端部側に位置する凹凸部Ｃか
らの反射光ＲＣは凹凸部Ｃが微小であっても入光部２２
に入射されなくなり、一方、入光部２２の前記端部から
離れた側に位置する凹凸部Ｄからの反射光Ｒｄは通常の
反射光の入射領域外の部分に入射され、撮像手段２の画
像の通常の反射光の結像領域外の部分に反射光Ｒｄが結
像される。
凸のうち入光部２０の前記端部側に位置する凹凸部Ｃか
らの反射光ＲＣは凹凸部Ｃが微小であっても入光部２２
に入射されなくなり、一方、入光部２２の前記端部から
離れた側に位置する凹凸部Ｄからの反射光Ｒｄは通常の
反射光の入射領域外の部分に入射され、撮像手段２の画
像の通常の反射光の結像領域外の部分に反射光Ｒｄが結
像される。
【００１２】従って、ワーク表面Ａが平滑であれば、撮
像手段２の画像には、図２(a)に示す如く、検出光の照
射区域に対応する明部領域と非照射区域に対応する暗部
領域とが明瞭に現われるが、ワーク表面Ａの面粗度が悪
いと、図２(b)に示す如く、凹凸部Ｃからの反射光Ｒｃ
が入光部２２に入射されないことに起因して暗部が明部
領域内に散在し、また、凹凸部Ｄからの反射光Ｒｄの結
像に起因して暗部領域に明部が散在した画像になる。
像手段２の画像には、図２(a)に示す如く、検出光の照
射区域に対応する明部領域と非照射区域に対応する暗部
領域とが明瞭に現われるが、ワーク表面Ａの面粗度が悪
いと、図２(b)に示す如く、凹凸部Ｃからの反射光Ｒｃ
が入光部２２に入射されないことに起因して暗部が明部
領域内に散在し、また、凹凸部Ｄからの反射光Ｒｄの結
像に起因して暗部領域に明部が散在した画像になる。
【００１３】かくて、撮像手段２の画像に複数のウイン
ドＷを設定して、明部１００％或いは暗部１００％のウ
インドＷの数を計測するといった画像処理を行うことに
より、ワーク表面Ａの平滑度を定量的に検査できるよう
になり、塗装面の肌品質の管理に大いに役立つ。
ドＷを設定して、明部１００％或いは暗部１００％のウ
インドＷの数を計測するといった画像処理を行うことに
より、ワーク表面Ａの平滑度を定量的に検査できるよう
になり、塗装面の肌品質の管理に大いに役立つ。
【００１４】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、ワーク表面の微小な凹凸も検出でき、ワーク
表面の平滑度を光学的に精度良く検査できる。
によれば、ワーク表面の微小な凹凸も検出でき、ワーク
表面の平滑度を光学的に精度良く検査できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明によるワーク表面の平滑度の検査状況
を示す図
を示す図
【図２】 (a)ワーク表面が平滑である場合の画像を示
す図、(b)ワーク表面の面粗度が悪い場合の画像を示す
図
す図、(b)ワーク表面の面粗度が悪い場合の画像を示す
図
【図３】 ワーク表面の通常の検査状況を示す図
１ 投光手段 ２ 撮像手段 ２０ 入光部 Ａ ワーク表面
Claims (1)
- 【請求項１】 ワーク表面に向けて検出光を照射する投
光手段と、ワーク表面からの反射光を受光する撮像手段
とを備え、投光手段に反射光が撮像手段に向けて収束す
るように検出光を集光する集光光学系を組込んで成る光
学式検査装置を用いてワーク表面の平滑度を検査する方
法において、反射光が撮像手段の入光部の端部に向けて
収束するように光学式検査装置を配置し、この状態で撮
像手段に結像される反射光の画像データに基づいて検査
を行うことを特徴とするワーク表面の平滑度検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29692293A JP3213866B2 (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ワーク表面の平滑度検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29692293A JP3213866B2 (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ワーク表面の平滑度検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07151530A true JPH07151530A (ja) | 1995-06-16 |
| JP3213866B2 JP3213866B2 (ja) | 2001-10-02 |
Family
ID=17839918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29692293A Expired - Fee Related JP3213866B2 (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | ワーク表面の平滑度検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3213866B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104848808A (zh) * | 2015-06-03 | 2015-08-19 | 湖南大学 | 一种表面粗糙度检测方法和设备 |
-
1993
- 1993-11-26 JP JP29692293A patent/JP3213866B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104848808A (zh) * | 2015-06-03 | 2015-08-19 | 湖南大学 | 一种表面粗糙度检测方法和设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3213866B2 (ja) | 2001-10-02 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080727 Year of fee payment: 7 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090727 Year of fee payment: 8 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |