JPH07144815A - Tabテープ移動用スプロケットの偏心影響の補正方法 - Google Patents

Tabテープ移動用スプロケットの偏心影響の補正方法

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JPH07144815A
JPH07144815A JP31604193A JP31604193A JPH07144815A JP H07144815 A JPH07144815 A JP H07144815A JP 31604193 A JP31604193 A JP 31604193A JP 31604193 A JP31604193 A JP 31604193A JP H07144815 A JPH07144815 A JP H07144815A
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tab
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行康 高野
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裕之 牧下
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 スプロケット1・2を回転させ、TABテー
プ3をピッチ送りする装置において、インデックスタイ
ムが短く、位置補正精度の高い方法を提供する。 【構成】 準備段階では、スプロケット2の回転開始位
置での基準撮像データと、TABをピッチ送りしたとき
の各読取撮像データを比較し、回転開始位置からのTA
Bの偏位値を制御部20に送出する。制御部20は回転
開始位置からの経過がスプロケット2の回転角度と前記
偏位値との関係式として格納する。稼動動段階では、ス
プロケット2の回転開始位置からの回転角度が制御部に
送出され、制御部は前記関係式からTABの補正量を算
出し、スプロケット1とスプロケット2を偏位分回転制
御する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、TAB(テープ・オ
ートメイデッド・ボンディング)用オートハンドラにお
いて、TAB移動用スプロケットが回転してTABテー
プを搬送する場合に、前記スプロケットの回転軸が偏心
していることにより、TABテープのピッチ送り量がば
らつく影響を補正する方法についてのものである。
【0002】
【従来の技術】TAB用オートハンドラは、リール状に
巻かれたTABテープを自動的に測定位置まで逐次搬送
し、ICテスタのテスト結果に基づいて自動的に選別す
る装置である。なお、TABと電極の精密位置決め機構
については、実開昭64-34576号公報、実開平1-163335号
公報、実願平2-106251号明細書などに記載されている。
【0003】次に、従来技術によるTABテープ用オー
トハンドラの構成を図5により説明する。図5の1と2
はスプロケット、3はTABテープ、4は画像処理用の
カメラ、6はプローブカード、9はテープクランプ、1
0はプッシャ、11は供給リール、12と13はテンシ
ョンプーリ、14は収容リール、15はICテスタのテ
ストヘッド、16はアタッチメントユニットである。
【0004】TABテープ3はスプロケット1・2が同
期して回転することによりTABのピッチ分送られ、供
給リール11からテンションプーリ12、スプロケット
1・2、テンションプーリ13、収容リール14の順に
移動する。
【0005】位置決めされたTABテープ3は、プッシ
ャ10とテープクランプ9によりコンタクト位置まで下
降し、プローブカード6のコンタクトに押し付けられ
る。TABテープ3がコンタクトに押し付けられた状態
で、テスタ側にテストスタート要求信号を送り、ICテ
スタのテストが開始される。テスト後、テスタから送信
された結果がオープン不良(TABのテストパッドとプ
ローブカード6の針が位置ずれ等により接触していな
い。)であった場合、この位置でカメラ4による画像デ
ータが取り込まれ、TABテープ3の位置の補正量を算
出する。画像データ取り込み後、テープクランプ9、プ
ッシャ10を上昇させ、補正後再下降し、プローブカー
ド6にTABテープ3を押し付け、再度テスタ側にテス
トスタート要求信号を送る。テスト後、テスト終了信号
によりテープクランプ9、プッシャ10が上昇し、スプ
ロケット1・2が回転して次のTABまでTABテープ
3は送られる。
【0006】図5では、スプロケット1・2が反時計方
向に同期して回転することにより、TABテープ3は図
5の左側から右側に送られていく。図5では、TABテ
ープ3に無理な力が加わらないようにしているので、プ
ッシャ10が降下前にはTABテープ3はたわんでい
る。TABテープ3のたわみをとって測定するため、図
5では、スプロケット2の回転を停止し、スプロケット
1を時計方向に逆回転する。
【0007】前述のTABテープ測定時のたわみ取り機
構は、この出願人が実願平1-131293号で開示している。
このたわみ取り機構を装置に採用することにより、TA
Bのテストパッドとプローブカード6のプローブは±60
μmの位置合せ精度が確保される。スプロケット1を進
行方向と逆方向に移動してTABを位置決めする処理
を、この明細書では、バックテンション処理と呼び、補
正量をバックテンション量と呼ぶこととする。図5にお
いて、TABを±60μmの位置合わせ精度より高い精度
で位置合わせするためには、図6に示されるアライメン
ト機能が必要となる。
【0008】次に、TABテープ3の位置決め手段を図
6により説明する。図6アは位置補正機構の構成図であ
る。図6のスプロケット1・2、テープクランプ9、プ
ッシャ10は一体となってXYステージ7上に配置され
る。
【0009】図6イはTABテープ3のパターン図であ
り、パターン図の一隅に基準マーク3Aがある。中央部
にはICチップ3Bが実装され、ICチップ3Bの両側
にはICチップとパターンで接続するテストパッド3C
が配置される。TABテープ3には図6イのパターン図
が等間隔で連続して形成される。図6イのパターン図の
単位をTABと呼ぶこととする。
【0010】図6では、TABを次の手順で位置補正す
る。最初に、テープクランプ9とプッシャ10をコンタ
クト位置まで下降させる。次に、カメラ4を移動してT
ABテープ3のテストパッド1Cとプローブカード6の
プローブ6Aとの接触状態をカメラ4で確認する。次
に、テープクランプ9、プッシャ10を上昇させる。次
に、プローブ6Aの接触端がテストパッド3Cの中央に
位置するようプローブカード6を微小移動またはスプロ
ケット1・2を微少回転し、位置補正する。
【0011】次に、カメラ4で基準マーク3Aを撮像
し、撮像データを装置に記憶する。この撮像データがT
ABテープ3とプローブカード6が接触する位置の基準
となる。装置が稼動するときは、カメラ4で基準マーク
3Aを撮像し、基準となる撮像データと比較する。次
に、前記比較値から補正値を演算し、XYステージ7を
移動してTABのテストパッド3Cとプローブ6Aを位
置合わする。図6ではアライメント機能を採用している
ので±10μm以内の高精度で位置合わせできる。なお、
図5と図6は実願平3−14672号明細書に記載の図2・3
と技術的に同じものである。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】次に、図5のスプロケ
ット1・2の回転中心が偏心していることによる影響を
図7と図8により説明する。図7のAはスプロケット2
を円板とした場合の中心、Nはスプロケット2の回転中
心であり、eは偏心量である。図7では、説明を容易に
するため、中心Aと回転中心Nが同一鉛直線上にあり、
回転開始するものとする。また、図7では、スプロケッ
ト2が1回転してTABを4回測定するものとする。
【0013】図7アの状態では、TABは正規の位置で
測定される。図7アの状態からスプロケット2が90度回
転すると、図7イの状態になる。図7イでは、TABテ
ープ3は偏心量e分だけ正規の測定位置より進行する。
図7イの状態からスプロケット2が更に90度回転する
と、図7ウの状態になる。図7ウでは、TABテープ3
は正規の位置で測定される。図7ウの状態からスプロケ
ット2が90度回転すると、図7エの状態になる。図7エ
では、TABテープ3は偏心量e分だけ正規の測定位置
より後退する。図7エの状態からスプロケット2が90度
回転すると、図7アの状態に戻る。
【0014】図8はスプロケット2の回転角度とTAB
テープ3の送り方向の偏位の関係を示したものである。
図8の横軸はスプロケット2の回転角度、縦軸はTAB
テープ3の偏位量Δxを示している。図8に示される偏
位量Δxとは、この発明では、スプロケット2が偏心が
無い場合に対するTABテープ3の正規の測定位置から
の進行量または後退量をいう。すなわち、スプロケット
2が真の中心Aで回転する場合は、TABテープ3はス
プロケット2の回転角に比例して移動するが、スプロケ
ット2が回転中心Nで回転する場合はTABテープ3は
図8に示されるように正弦波的に移動する。
【0015】図8アは、図7に示されるスプロケット2
の回転開始位置における回転角度と偏位量を示したもの
である。図8アでは、正弦波の山の頂点PU と正弦波の
谷の底点PD の中間点PO で、基準となるTABが位置
合わせされるので、スプロケットが1回転中にTABが
幾つ存在しても、TABとプローブの位置ずれの最大値
はスプロケット2の偏心値e=Δxである。一方、スプ
ロケット2の回転開始位置によっては、図8イに示され
るように、正弦波の山の頂点PU で、基準となるTAB
が位置合わせされるので、スプロケット2が1回転中の
TABとプローブの位置ずれの最大値は2Δxとなる可
能性がある。
【0016】図5の装置ではスプロケットの偏心を完全
に回避することは困難である。しかも、図5の装置でス
プロケットが1回転する間に、図8イにパターンが複数
位置合わせされるので、スプロケットの回転開始位置と
スプロケットが1回転中のTAB数の組み合わせでは位
置合わせの偏位が最大になる可能性がある。
【0017】図5の装置において、偏心量eは実測値で
は40μmであった。また、スプロケット2のピッチ円直
径が75mm、歯数は50、TABテープ3が10歯分ピッチ送
りされたのとき、TABの最大偏位量Δxは実測値では
±60μmであった。このようなスプロケットの偏心の影
響を排除するため、図6アでは、TABを画像認識して
TABの偏位を補正している。図6アの装置ではスプロ
ケット1・2は歯車減速器つきパルスモータが連結さ
れ、TABを±10μm単位で微小補正することが可能で
ある。
【0018】しかし、TABを画像認識し、XYステー
ジを移動して位置補正し、TABを測定するのには処理
時間を多く要し、インデックタイムが長くなるという問
題がある。実機では、画像認識した場合、インデックタ
イムに3秒を要し、機械的にインデック送りする場合の
5割以上の時間を要する。
【0019】この発明は、第1のスプロケットと第2の
スプロケットを回転させ、TABテープをピッチ送りし
て測定する場合に、TABテープのパターン上の基準マ
ークを撮像するカメラと、カメラに接続される画像処理
装置と、第2のスプロケットの回転開始位置を検出する
検出手段をあらかじめ備えている。
【0020】準備段階では、第2のスプロケットの回転
開始位置での基準マークをカメラで撮像し、第2のスプ
ロケットが1回転する間に、順次、基準マークをカメラ
で撮像し、前記各撮像データを各読取値として回転開始
位置での基準値と比較して各偏位値を画像処理装置で算
出し、前記各偏位値を撮像順に第1のメモリに格納し、
第1のメモリから前記各偏位値を読み込み、第2のスプ
ロケットの回転角度と前記偏位値と関係式を演算手段で
演算し、前記演算式を第2のメモリに格納する。
【0021】この発明の装置が稼動するときは、CPU
は第2のスプロケットの回転開始位置からの回転角度を
算出し、第2のメモリから前記関係式を読み込み、回転
角度を代入してTABの偏位値を算出し、前記TABの
偏位値に見合う分、第1のスプロケットと第2のスプロ
ケットを回転させてTABを前後進行させてから測定す
る。この発明は、前述の方法により、インデックスタイ
ムが短く、TABの位置補正精度の高いTABテープ移
動用スプロケットの偏心影響の補正方法を提供すること
を目的とする。
【0022】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、スプロケット1とスプロケット2を回
転させ、TABテープ3をピッチ送りして測定するTA
B用オートハンドラにおいて、TABテープ3のパター
ン上の基準マーク3Aを撮像するカメラ4と、カメラ4
に接続される画像処理装置5と、スプロケット2の回転
開始位置を検出する検出手段8とを備え、制御部20は
メモリ21と演算手段22とメモリ23とCPU24で
構成され、スプロケット2の回転開始位置でTABテー
プ3のパターン上の基準マーク3Aをカメラ4で撮像
し、回転開始位置での基準マーク3Aの前記撮像データ
を基準値として画像処理装置5に登録し、スプロケット
2が1回転する間に、順次、基準マーク3Aをカメラ4
で撮像し、前記各撮像データを各読取値として前記基準
値と比較して各偏位値を画像処理装置5で算出し、前記
各偏位値を基準マーク3Aの撮像順にメモリ21に格納
し、メモリ21から前記各偏位値を読み込み、スプロケ
ット2の回転角度と前記偏位値と関係式を演算手段22
で演算し、前記演算式をメモリ23に格納し、TAB用
オートハンドラが稼動するときは、CPU24はスプロ
ケット2の回転開始位置からの回転角度を算出し、メモ
リ23から前記関係式を読み込み、回転角度を代入して
TABの偏位値を算出し、前記TABの偏位値に見合う
分、スプロケット1とスプロケット2を回転させてTA
Bを進行方向あるいは後退方向に微小走行させてから測
定する。
【0023】
【作用】前述の構成によれば、スプロケット1とスプロ
ケット2が回転することにより、TABテープ3をピッ
チ送りする。カメラ4はTABテープ3のパターン上の
基準マーク3Aを撮像する。画像処理装置5はカメラ4
に接続される。制御部20はメモリ21と演算手段22
とメモリ23とCPU24で構成される。
【0024】準備段階では、スプロケット2の回転開始
位置でTABテープ3のパターン上の基準マーク3Aを
カメラ4で撮像し、回転開始位置での基準マーク3Aの
前記撮像データを基準値として画像処理装置5に登録
し、スプロケット2が1回転する間に、順次、基準マー
ク3Aをカメラ4で撮像し、前記各撮像データを各読取
値として前記基準値と比較して各偏位値を画像処理装置
5で算出し、前記各偏位値を基準マーク3Aの撮像順に
メモリ21に格納し、メモリ21から前記各偏位値を読
み込み、スプロケット2の回転角度と前記偏位値と関係
式を演算手段22で演算し、前記演算式をメモリ23に
格納する。
【0025】TAB用オートハンドラが稼動するとき
は、CPU24はスプロケット2の回転開始位置からの
回転角度を算出し、メモリ23から前記関係式を読み込
み、回転角度を代入してTABの偏位値を算出し、前記
TABの偏位値に見合う分、スプロケット1とスプロケ
ット2を回転させてTABを進行方向あるいは後退方向
に微小走行させてから測定する。
【0026】すなわち、この発明では、第1のスプロケ
ットと第2のスプロケットを回転させ、TABテープを
ピッチ送りして測定する場合に、TABテープのパター
ン上の基準マークを撮像するカメラと、カメラに接続さ
れる画像処理装置と、第2のスプロケットの回転開始位
置を検出する検出手段をあらかじめ備えている。
【0027】準備段階では、第2のスプロケットの回転
開始位置での基準撮像データと、TABをピッチ送りし
たときの各読取撮像データが比較され、回転開始位置か
らのTABの偏位値が制御部に送出される。制御部では
回転開始位置からの経過が第2のスプロケットの回転角
度と前記偏位値との関係式として格納される。
【0028】稼動段階では、第2のスプロケットの回転
開始位置からの回転角度が制御部に送出されると、制御
部は前記関係式からTABの補正量を算出し、第1のス
プロケットと第2のスプロケットを偏位分回転制御す
る。このように画像処理でTABを位置補正することが
ないので、インデックスタイムが短く、しかも位置補正
精度の高いTABの搬送が可能となる。
【0029】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の実施例につ
いて説明する。図1はこの発明によるTAB用オートハ
ンドラのブロック構成図であり、図5または図6に示し
た従来例に対応する部分には同一の符号を付している。
図1の1Aと2Aはモータ、1Bと2Bはモータ駆動回
路、8は検出手段である。また、20は制御部であり、
制御部20はメモリ21と演算手段22とメモリ23と
CPU24で構成される。
【0030】図1のモータ1A・2Aは、例えば、パル
スモータであり、歯車減速器を仲介してスプロケット1
・2にそれぞれ連結される。モータ駆動回路1B・2B
はモータ1A・2Aにそれぞれ接続され、CPU24の
指令がモータ駆動回路1B・2Bに送出され、モータ駆
動回路1B・2Bはモータ1A・2Aを回転制御する。
検出手段8と画像処理装置5はCPU24に接続され
る。制御部20内では、メモリ21と演算手段22とメ
モリ23はCPU24にそれぞれ接続される。図1にお
けるCPU24は制御部20外に信号を入出力するとも
に制御部20外の機器を指令制御する。また、制御部2
0内にあっては、メモリの読み込みまたは書き込みおよ
び入出力を統括制御する。
【0031】次に、検出手段8の構成を図2により説明
する。図2は図1におけるスプロケット2の近傍の要部
拡大斜視図である。図2では、スプロケット2の半径面
には、スプロケット2の歯単位で検出される微小な検出
穴2Cが形成される。検出手段8はセンサ8Aと検出回
路8Bで構成され、センサ8Aは検出穴2Cの軸の延長
線上に配置される。センサ8Aは、例えば光ファイバ反
射式センサであり、スプロケット2の回転開始位置を歯
単位で検出する。検出回路8BはCPU24に接続さ
れ、検出穴2Cの有無の信号をCPU24に送出する。
【0032】図2のモータ2Aは歯車減速器つきのパル
スモータであり、スプロケット2の取付軸と反対の軸に
は回転検出板2Dが取り付けられる。回転検出板2Dの
半径方向には微細なスリット2Eが切り欠かれ、回転検
出板2Dの半径方向を囲う形で回転検出手段2Fが配置
される。回転検出手段2Fは投光器と受光器が一対にな
った光検出ユニットであり、回転検出板2Dの回転位置
を検出する。すなわち、図2ではスプロケット2の歯数
に対応した歯車減速器が組み込まれており、回転検出板
2Dが1回転すると、スプロケット2は1歯分回転す
る。また、実施例では、パルスモータに1パルス付与す
るとTABテープ3を10μm単位で走行制御することが
可能である。さらに、スプロケット1の構成について
は、検出穴2Cと検出手段8が組み込まれていない点を
除き、スプロケット2と機能は同じであるので、説明を
省略する。
【0033】次に、この発明の動作を準備段階での動作
と、装置が稼動中の動作に分けて説明する。図3は準備
段階での動作手順を示すフローチャートである。
【0034】図3のステップ101では、スプロケット
1・2を同期して回転し、検出手段8が検出穴2Cを検
出するまでTABテープ3を走行するようCPU24は
指令する。なお、TABテープ3は装置にあらかじめ装
着されているものとし、検出穴2Cを検出したときがス
プロケット2の回転開始位置となり、スプロケット2は
回転を停止する。ステップ102では、スプロケット1
を時計方向に逆回転する。すなわち、従来技術に示され
たバックテンション処理を行う。
【0035】ステップ103では、テープクランプ9と
プッシャ10を下げ、スプロケット2が回転開始位置に
あるときの基準マーク3Aをカメラ4で撮像し、このと
きの撮像データを基準値として画像処理装置5に登録す
る。ステップ104では、スプロケット1をバックテン
ション量分戻す。
【0036】ステップ105では、スプロケット1・2
を同期して回転し、TABテープ3の1TAB分をピッ
チ分搬送する。ステップ106では、スプロケット1を
バックテンション処理する。
【0037】ステップ107では、TABをピッチ分搬
送後の基準マーク3Aをカメラ4で撮像し、このときの
撮像データを読取値として画像処理装置5に送出し、画
像処理位置5は読取値として前記基準値と比較して偏位
値を算出する。
【0038】ステップ108では、CPU24は画像処
理装置5で求められた偏位値をメモリ21に格納する。
ステップ109では、スプロケット1をバックテンショ
ン量戻す。
【0039】ステップ110では、スプロケット2が回
転開始位置から1回転したかを検出手段8で確認する。
ステップ110でスプロケット2が回転開始位置から1
回転していないときはスッテプ105の前段に戻り、1
回転終了時はステップ111に進む。
【0040】ステップ111では、CPU24はメモリ
21に格納されている各偏位値を読み込み、前記偏位値
を演算手段22に送出する。
【0041】演算手段22には、あらかじめ、従来技術
の図8に示されスプロケット2の回転角度とTABテー
プ3の送り方向の偏位の関係を表す疑似的な関係式Y=
a×sin(X+b)が設定されている。ちなみに、前
記関係式のYはTABの偏位量であり、Xはスプロケッ
ト2の回転開始位置からの回転角度である。
【0042】ステップ111では前述の関係式に前記偏
位値が代入され、定数a・bの値が算出される。ステッ
プ112ではCPU24はステップ111で算出された
定数a、bの値をメモリ23に格納し、一連の動作を終
了する。
【0043】次に、この発明による装置が稼動中の動作
を図4のフローチャートにより説明する。図4のステッ
プ201では、スプロケット2の回転開始位置からの回
転角度XをCPU24は算出する。
【0044】ステップ202では、メモリ23に格納さ
れている定数a・bを読み込み、スプロケット2の回転
角度Xと定数a・bを演算手段22に送出し、演算手段
22は回転角度XにおけるTABの偏位量Yを求める。
【0045】ステップ203では、ステップ202で求
められたTABの偏位量Y分をスプロケット1・2が同
期して回転するようCPU24はモータ駆動回路1B・
2Bに指令する。
【0046】ステップ204では、スプロケット2をバ
ックテンション処理し、一連の動作を終了する。このよ
うに、この発明はTABを順次補正しながら測定してい
く。
【0047】
【発明の効果】この発明は、第1のスプロケットと第2
のスプロケットを回転させ、TABテープをピッチ送り
して測定する場合に、TABテープのパターン上の基準
マークを撮像するカメラと、カメラに接続される画像処
理装置と、第2のスプロケットの回転開始位置を検出す
る検出手段をあらかじめ備えている。
【0048】準備段階では、第2のスプロケットの回転
開始位置での基準撮像データと、TABをピッチ送りし
たときの各読取撮像データが比較され、回転開始位置か
らのTABの偏位値が制御部に送出される。制御部では
回転開始位置からの経過が第2のスプロケットの回転角
度と前記偏位値との関係式として格納される。
【0049】稼動段階では、第2のスプロケットの回転
開始位置からの回転角度が制御部に送出されると、制御
部は前記関係式からTABの補正量を算出し、第1のス
プロケットと第2のスプロケットを偏位分回転制御す
る。このように、この発明は画像処理でTABを位置補
正することがないので、インデックスタイムが短く、し
かも位置補正精度の高いTABの搬送が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明によるTAB用オートハンドラのブロ
ック構成図である。
【図2】図1におけるスプロケット2の近傍の要部拡大
斜視図である。
【図3】この発明による準備段階での動作手順を示すフ
ローチャートである。
【図4】この発明による装置が稼動中の動作を示すフロ
ーチャートである。
【図5】従来技術によるTABテープ用オートハンドラ
の構成図である。
【図6】図5におけるTABテープ3の位置決め手段の
説明図である。
【図7】スプロケットの偏心影響の説明図である。
【図8】スプロケットの回転角度とTABテープの送り
方向の偏位の関係図である。
【符号の説明】
1 スプロケット 2 スプロケット 2C 検出穴 3 TABテープ 3A 基準マーク 4 カメラ 5 画像処理装置 8 検出手段 8A センサ 8B 検出回路 20 制御部 21 メモリ 22 演算手段 23 メモリ 24 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // B65H 43/00 9037−3F

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 第1のスプロケット(1) と第2のスプロ
    ケット(2) を回転させ、TABテープ(3) をピッチ送り
    して測定するTAB用オートハンドラにおいて、 TABテープ(3) のパターン上の基準マーク(3A)を撮像
    するカメラ(4) と、 カメラ(4) に接続される画像処理装置(5) と、 第2のスプロケット(2) の回転開始位置を検出する検出
    手段(8) とを備え、 制御部(20)は第1のメモリ(21)と演算手段(22)と第2の
    メモリ(23)とCPU(24)で構成され、 第2のスプロケット(2) の回転開始位置でTABテープ
    (3) のパターン上の基準マーク(3A)をカメラ(4) で撮像
    し、 回転開始位置での基準マーク(3A)の前記撮像データを基
    準値として画像処理装置(5) に登録し、 第2のスプロケット(2) が1回転する間に、順次、基準
    マーク(3A)をカメラ(4) で撮像し、 前記各撮像データを各読取値として前記基準値と比較し
    て各偏位値を画像処理装置(5) で算出し、 前記各偏位値を基準マーク(3A)の撮像順に第1のメモリ
    (21)に格納し、 第1のメモリ(21)から前記各偏位値を読み込み、第2の
    スプロケット(2) の回転角度と前記偏位値と関係式を演
    算手段(22)で演算し、 前記演算式を第2のメモリ(23)に格納し、 TAB用オートハンドラが稼動するときは、CPU(24)
    は第2のスプロケット(2) の回転開始位置からの回転角
    度を算出し、第2のメモリ(23)から前記関係式を読み込
    み、回転角度を代入してTABの偏位値を算出し、前記
    TABの偏位値に見合う分、第1のスプロケット(1) と
    第2のスプロケット(2) を回転させてTABを進行方向
    あるいは後退方向に微小走行させてから測定することを
    特徴とするTABテープ移動用スプロケットの偏心影響
    の補正方法。
  2. 【請求項2】 TABの偏位量をYとし、第2のスプロ
    ケット(2) の回転開始位置からの回転角度をXとし、第
    2のスプロケット(2) の回転角度と前記偏位値と関係式
    をY=a×(X+b)とし、演算手段(22)で定数aおよ
    び定数bを算出し、定数aおよび定数bの値を第2のメ
    モリ(23)に格納することを特徴とする請求項1記載のT
    ABテープ移動用スプロケットの偏心影響の補正方法。
  3. 【請求項3】 第2のスプロケット(2) の半径面には微
    小検出穴(2C)が形成され、検出手段(8) は光ファイバ反
    射式センサ(8A)と検出回路(8B)とで構成され、センサ(8
    A)は第2のスプロケット(2) の回転開始位置を第2のス
    プロケット(2) の歯単位で微小検出穴(2C)を検出するこ
    とを特徴とする請求項1記載の第2のスプロケットおよ
    び検出手段。
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