JPH07135350A - 圧電アクチュエータアレーおよびその製造方法 - Google Patents
圧電アクチュエータアレーおよびその製造方法Info
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- JPH07135350A JPH07135350A JP9408294A JP9408294A JPH07135350A JP H07135350 A JPH07135350 A JP H07135350A JP 9408294 A JP9408294 A JP 9408294A JP 9408294 A JP9408294 A JP 9408294A JP H07135350 A JPH07135350 A JP H07135350A
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- H—ELECTRICITY
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- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N5/00—Details of television systems
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 分極化に必要なDC電圧が大幅に低減された
圧電アクチュエータアレーおよびその製造方法を提供す
ること。 【構成】 光投射システムに用いられるM×N個のアク
チュエータアレーであって、前記アクチュエータアレー
35各々は、一対の圧電物質層11M+1 と、前記一対の
圧電物質層の間に位置した第1の導電性金属層13
M と、前記一対の圧電物質層の外面に各々位置する一対
の第1および第2の外部電極層32,33とを含む構
成。
圧電アクチュエータアレーおよびその製造方法を提供す
ること。 【構成】 光投射システムに用いられるM×N個のアク
チュエータアレーであって、前記アクチュエータアレー
35各々は、一対の圧電物質層11M+1 と、前記一対の
圧電物質層の間に位置した第1の導電性金属層13
M と、前記一対の圧電物質層の外面に各々位置する一対
の第1および第2の外部電極層32,33とを含む構
成。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光投射システムに関する
もので、特にそれに用いられる圧電アクチュエータアレ
ーおよびそれを製造する方法に関するものである。
もので、特にそれに用いられる圧電アクチュエータアレ
ーおよびそれを製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】当分野で知られている多様なビデオディ
スプレーシステムの中、光投射システムは高品質の大画
面ディスプレーを提供し得るシステムということが知ら
れている。かかる光投射システムにおいて、ランプから
の光は、例えば、M×N個のミラーから構成されたアレ
ーを照明する。このM×N個のミラーアレーは同じ数、
即ち、M×N個のアクチュエータを含むアクチュエータ
アレー上に各々のミラーが各々のアクチュエータに結合
されるように設けられる。これらアクチュエータは印加
された電気信号によって変形される圧電物質またはエレ
クトロストリクティブ(electrostrictive)物質のような
エレクトロディスプレイシブ(electrodisplacive) 物質
から成っている。
スプレーシステムの中、光投射システムは高品質の大画
面ディスプレーを提供し得るシステムということが知ら
れている。かかる光投射システムにおいて、ランプから
の光は、例えば、M×N個のミラーから構成されたアレ
ーを照明する。このM×N個のミラーアレーは同じ数、
即ち、M×N個のアクチュエータを含むアクチュエータ
アレー上に各々のミラーが各々のアクチュエータに結合
されるように設けられる。これらアクチュエータは印加
された電気信号によって変形される圧電物質またはエレ
クトロストリクティブ(electrostrictive)物質のような
エレクトロディスプレイシブ(electrodisplacive) 物質
から成っている。
【0003】各々のミラーから反射された光は、バッフ
ル(baffle)の開口(aperture)へ入射される。各々のアク
チュエータに電気信号を印加することによって、各々の
ミラーの入射光束に対する相対的な位置が変化されて各
々のミラーから反射された光路が変更される。各々の反
射された光の経路が変わって、開口を通過する各々のミ
ラーから反射された光量が変わることにより光束の強さ
が変調される。開口を通過した変調された光は、投射レ
ンズのような光装置を通じて投射スクリーン上へ伝達さ
れて映像を表すことになる。
ル(baffle)の開口(aperture)へ入射される。各々のアク
チュエータに電気信号を印加することによって、各々の
ミラーの入射光束に対する相対的な位置が変化されて各
々のミラーから反射された光路が変更される。各々の反
射された光の経路が変わって、開口を通過する各々のミ
ラーから反射された光量が変わることにより光束の強さ
が変調される。開口を通過した変調された光は、投射レ
ンズのような光装置を通じて投射スクリーン上へ伝達さ
れて映像を表すことになる。
【0004】前述した光投射システムに用いられるM×
N個の圧電アクチュエータアレーを製造する方法は、本
出願人により出願されて係属中である発明の名称“アク
チュエータアレーおよびその製造方法”、出願番号“
”に記載されている。前記M×N個の圧電アクチ
ュエータはM+1層の圧電物質層およびM層の電極層を
含む分極化された多層構造体から製造され、前記圧電物
質層の各々は150 μmないし300 μm の厚さを有し、前
記電極層の各々は2層の圧電物質層間に位置する。
N個の圧電アクチュエータアレーを製造する方法は、本
出願人により出願されて係属中である発明の名称“アク
チュエータアレーおよびその製造方法”、出願番号“
”に記載されている。前記M×N個の圧電アクチ
ュエータはM+1層の圧電物質層およびM層の電極層を
含む分極化された多層構造体から製造され、前記圧電物
質層の各々は150 μmないし300 μm の厚さを有し、前
記電極層の各々は2層の圧電物質層間に位置する。
【0005】かかるアクチュエータアレーを構成するた
めに用いられる分極化された多層構造体は、通常、次の
ように製造される。まず、特定厚さを有するM+1層の
圧電物質層のスラリーをテープキャスチングして形成
し、各層の各々の一側面上に導電性物質をコーティング
し、コーティングされた圧電物質層をブロック化し、そ
のブロックを焼結して多層構造体を得た後、前記導電性
物質層に垂直な方向へ前記多層構造体にDC電圧を印加
して、前記圧電物質層を同一な方向へ分極化することに
より分極化された多層構造体を得ることである。
めに用いられる分極化された多層構造体は、通常、次の
ように製造される。まず、特定厚さを有するM+1層の
圧電物質層のスラリーをテープキャスチングして形成
し、各層の各々の一側面上に導電性物質をコーティング
し、コーティングされた圧電物質層をブロック化し、そ
のブロックを焼結して多層構造体を得た後、前記導電性
物質層に垂直な方向へ前記多層構造体にDC電圧を印加
して、前記圧電物質層を同一な方向へ分極化することに
より分極化された多層構造体を得ることである。
【0006】分極化された多層構造体を製造するにおい
て、最も重要な問題の一つは、多層構造体を分極化する
あいだ、それに高レベルのDC電圧を印加しなければな
らないことである。M+1層の圧電物質層から成る多層
構造体を分極化するために必要なDC電圧の大きさVT
は次の関係式により決定される。
て、最も重要な問題の一つは、多層構造体を分極化する
あいだ、それに高レベルのDC電圧を印加しなければな
らないことである。M+1層の圧電物質層から成る多層
構造体を分極化するために必要なDC電圧の大きさVT
は次の関係式により決定される。
【0007】VT ≧VP ×t×(M+1) ここで、VP は圧電セラミックスを分極化する臨界電界
として、通常、1.5V/μm ないし3.0V/ μm であり、t
は各層の厚さであり、(M+1)は層数である。したが
って、例えば、各層が150 μm の厚さを有する200 層の
圧電物質層から成る多層構造体を分極化するためには最
少45KVのDC電圧が必要になる。
として、通常、1.5V/μm ないし3.0V/ μm であり、t
は各層の厚さであり、(M+1)は層数である。したが
って、例えば、各層が150 μm の厚さを有する200 層の
圧電物質層から成る多層構造体を分極化するためには最
少45KVのDC電圧が必要になる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】かかる大きい電圧を多
層構造体へ印加する場合、電界の不均一な分布、即ち、
ポアーなどの不均一な箇所の周囲に電界が集中して、誘
電破壊が発生するか、アクチュエータの全体性能に影響
を及ぼす電気的特性が劣化するかしてしまう。印加され
た電圧が大きいほど、前述した問題が発生する可能性が
さらに大きくなる。
層構造体へ印加する場合、電界の不均一な分布、即ち、
ポアーなどの不均一な箇所の周囲に電界が集中して、誘
電破壊が発生するか、アクチュエータの全体性能に影響
を及ぼす電気的特性が劣化するかしてしまう。印加され
た電圧が大きいほど、前述した問題が発生する可能性が
さらに大きくなる。
【0009】したがって、本発明の目的は、分極化に必
要なDC電圧が大幅に低減された圧電アクチュエータア
レー及びその製造方法を提供することである。
要なDC電圧が大幅に低減された圧電アクチュエータア
レー及びその製造方法を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明の一つの特徴によれば、光投射システムに用
いられ、MおよびNが定数であるM×N個の圧電アクチ
ュエータアレーを製造する方法であって、上面、下面お
よび四つの側面、即ち、第1、第2、第3および第4の
側面を有する多層セラミックス構造体を形成するステッ
プと、平坦面を有する複合セラミックスウェーハを形成
するために、前記四つの側面中の一つと平行で第1の導
電性金属層に垂直である平面に沿って前記多層セラミッ
クス構造体をスライスするステップと、前記複合セラミ
ックスウェーハの前記平坦面の全面上にM+1個の均一
に離間された横方向へ同一な溝を形成するステップと、
前記M+1個の溝の第1および第2の側面上に第2の導
電性金属層である第1のM+1個の外部電極層および第
2のM+1個の外部電極層を各々形成して複合セラミッ
クス本体を形成するステップと、前記第1および第2の
外部電極層の間に同一な方向に位置した圧電物質を分極
化させるために、前記第1および第2の外部電極層の間
にDC電圧を印加して分極化された複合セラミックス本
体を準備するステップと、前記M×N個の圧電アクチュ
エータを得るために、前記分極化された複合セラミック
ス本体上にN−1個の均一に離間された縦方向切断部を
形成するステップとを含み、前記多層セラミックス構造
体の上面および下面、第1および第3の側面と第2およ
び第4の側面は互いに平行であり、M層の第1の導電性
金属層とM+1層の圧電物質層からなり、第1の導電性
金属層の各々は2層の圧電物質層間に位置し、前記圧電
物質は前記M層の第1の導電性金属層により均一に分離
され、前記溝の各々は第1の側面、第2の側面および下
面を有し、互いに平行に走行し、二つの隣接する第1の
導電性金属層から等間隔を保ち、上面を有するバリヤに
より互いに分離される圧電アクチュエータアレーの製造
方法により達成される。
に、本発明の一つの特徴によれば、光投射システムに用
いられ、MおよびNが定数であるM×N個の圧電アクチ
ュエータアレーを製造する方法であって、上面、下面お
よび四つの側面、即ち、第1、第2、第3および第4の
側面を有する多層セラミックス構造体を形成するステッ
プと、平坦面を有する複合セラミックスウェーハを形成
するために、前記四つの側面中の一つと平行で第1の導
電性金属層に垂直である平面に沿って前記多層セラミッ
クス構造体をスライスするステップと、前記複合セラミ
ックスウェーハの前記平坦面の全面上にM+1個の均一
に離間された横方向へ同一な溝を形成するステップと、
前記M+1個の溝の第1および第2の側面上に第2の導
電性金属層である第1のM+1個の外部電極層および第
2のM+1個の外部電極層を各々形成して複合セラミッ
クス本体を形成するステップと、前記第1および第2の
外部電極層の間に同一な方向に位置した圧電物質を分極
化させるために、前記第1および第2の外部電極層の間
にDC電圧を印加して分極化された複合セラミックス本
体を準備するステップと、前記M×N個の圧電アクチュ
エータを得るために、前記分極化された複合セラミック
ス本体上にN−1個の均一に離間された縦方向切断部を
形成するステップとを含み、前記多層セラミックス構造
体の上面および下面、第1および第3の側面と第2およ
び第4の側面は互いに平行であり、M層の第1の導電性
金属層とM+1層の圧電物質層からなり、第1の導電性
金属層の各々は2層の圧電物質層間に位置し、前記圧電
物質は前記M層の第1の導電性金属層により均一に分離
され、前記溝の各々は第1の側面、第2の側面および下
面を有し、互いに平行に走行し、二つの隣接する第1の
導電性金属層から等間隔を保ち、上面を有するバリヤに
より互いに分離される圧電アクチュエータアレーの製造
方法により達成される。
【0011】本発明の他の特徴によれば、M×N個の圧
電アクチュエータの各々が一対の圧電物質層と、前記一
対の圧電物質層間に位置した第1の導電性金属層と、そ
の各外面に設けられた第2の導電性金属である第1およ
び第2の外部電極層とを含むM×N個の圧電アクチュエ
ータが提供される。かかるアクチュエータアレーにおい
て、第1の導電性金属層は共通信号電極として機能し、
第1および第2の電極層は基準電極として機能する。
電アクチュエータの各々が一対の圧電物質層と、前記一
対の圧電物質層間に位置した第1の導電性金属層と、そ
の各外面に設けられた第2の導電性金属である第1およ
び第2の外部電極層とを含むM×N個の圧電アクチュエ
ータが提供される。かかるアクチュエータアレーにおい
て、第1の導電性金属層は共通信号電極として機能し、
第1および第2の電極層は基準電極として機能する。
【0012】
【実施例】本発明によれば、M×N個の圧電アクチュエ
ータを製造する方法は、M層の第1の導電性金属層13
M と、例えばリードジルコニウムチタネート(lead zirc
onium titanate,PZT) 層であるM+1層の圧電物質層1
1M+1 とを有する多層セラミックス構造体10を準備す
ることから始める。ここで、第1の導電性金属層13M
の各々は図1に示したように、二つの圧電物質層間に位
置される。第1の導電性金属層13M は白金(Pt)または
パラジウム(Pd)またはパラジウム/ 銀(Pd/Ag) から成
る。また、多層セラミックス構造体10は上面1、下面
2、第1,第2,第3および第4の各側面3,4,5,
6を有し、上面1および下面2、第1および第3の側面
3,5、第2および第4の側面4,6は互いに平行であ
る。図1に示した多層セラミックス構造体10は多層セ
ラミックスキャパシタを製造する公知の従来の方法を用
いて得られる。その後、前記四つの側面に平行で第1の
導電性金属層13M に垂直である平面に沿って多層セラ
ミックス構造体10をスライスすることによって、図2
(a)に示したように平坦面12を有する複合セラミッ
クスウェーハ15を形成する。ここで、圧電物質はM層
の第1の導電性金属層13M により均一に分離される。
その後、図2(b)に示したように、フォトレジストの
ような薄いポリマー層16で平坦面12を覆う。
ータを製造する方法は、M層の第1の導電性金属層13
M と、例えばリードジルコニウムチタネート(lead zirc
onium titanate,PZT) 層であるM+1層の圧電物質層1
1M+1 とを有する多層セラミックス構造体10を準備す
ることから始める。ここで、第1の導電性金属層13M
の各々は図1に示したように、二つの圧電物質層間に位
置される。第1の導電性金属層13M は白金(Pt)または
パラジウム(Pd)またはパラジウム/ 銀(Pd/Ag) から成
る。また、多層セラミックス構造体10は上面1、下面
2、第1,第2,第3および第4の各側面3,4,5,
6を有し、上面1および下面2、第1および第3の側面
3,5、第2および第4の側面4,6は互いに平行であ
る。図1に示した多層セラミックス構造体10は多層セ
ラミックスキャパシタを製造する公知の従来の方法を用
いて得られる。その後、前記四つの側面に平行で第1の
導電性金属層13M に垂直である平面に沿って多層セラ
ミックス構造体10をスライスすることによって、図2
(a)に示したように平坦面12を有する複合セラミッ
クスウェーハ15を形成する。ここで、圧電物質はM層
の第1の導電性金属層13M により均一に分離される。
その後、図2(b)に示したように、フォトレジストの
ような薄いポリマー層16で平坦面12を覆う。
【0013】その後、図3(a)および図3(b)に示
したように、同じ大きさで大略直角のエッジを有し、横
方向に均一に互いに平行に走行して離間されたM+1個
の溝20M+1 を、前記薄いポリマー層16で覆われた平
坦面12全体上に形成する。ここで、溝20M+1 の各々
は第1の側面21, 第2の側面22および下面23を有
することによって、溝型セラミックスウェーハ25を形
成することになる。また、溝20M+1 の各々は薄いポリ
マー層16で覆われた上面27を有するバリヤ26によ
り分離されて、二つの隣接する第1の導電性金属層13
M から等間隔を保つ。図3(a)は溝型セラミックスウ
ェーハ25の斜視図であり、図3(b)はその断面図で
ある。
したように、同じ大きさで大略直角のエッジを有し、横
方向に均一に互いに平行に走行して離間されたM+1個
の溝20M+1 を、前記薄いポリマー層16で覆われた平
坦面12全体上に形成する。ここで、溝20M+1 の各々
は第1の側面21, 第2の側面22および下面23を有
することによって、溝型セラミックスウェーハ25を形
成することになる。また、溝20M+1 の各々は薄いポリ
マー層16で覆われた上面27を有するバリヤ26によ
り分離されて、二つの隣接する第1の導電性金属層13
M から等間隔を保つ。図3(a)は溝型セラミックスウ
ェーハ25の斜視図であり、図3(b)はその断面図で
ある。
【0014】その後、図4(a)および図4(b)に示
したように、銀(Ag)またはアルミニウム(Al)から成る第
2の導電性金属層29を、図4(a)に示したように、
溝20M+1 の第1および第2の側面21,22および下
面23、バリヤ26の上面27上の薄いポリマー層16
を含む溝型セラミックスウェーハ25の全体上面上に沈
積する。次に、薄いポリマー層16上に形成された第2
の導電性金属層29を適切な溶媒、例えば、アセトンを
用いて溶解して除去し、下面上に形成された第2の導電
性金属層をその中間部に沿って、例えば、レーザを用い
て分離して第1および第2の外部電極層32,33を形
成する。すなわち、溝20M+1 の第1および第2の側面
21,22と下面23上に、溝20M+1 の下面23の中
間で分離され、銀(Ag)またはアルミニウム(Al)から成る
第1および第2の外部電極層32,33を有するセラミ
ックス本体30を形成する。図4(a)は第2の導電性
金属層29によりその上面が覆われた後の溝型セラミッ
クスウェーハ25の断面図であり、図4(b)はセラミ
ックス本体30の断面図であり、図5はその斜視図であ
る。
したように、銀(Ag)またはアルミニウム(Al)から成る第
2の導電性金属層29を、図4(a)に示したように、
溝20M+1 の第1および第2の側面21,22および下
面23、バリヤ26の上面27上の薄いポリマー層16
を含む溝型セラミックスウェーハ25の全体上面上に沈
積する。次に、薄いポリマー層16上に形成された第2
の導電性金属層29を適切な溶媒、例えば、アセトンを
用いて溶解して除去し、下面上に形成された第2の導電
性金属層をその中間部に沿って、例えば、レーザを用い
て分離して第1および第2の外部電極層32,33を形
成する。すなわち、溝20M+1 の第1および第2の側面
21,22と下面23上に、溝20M+1 の下面23の中
間で分離され、銀(Ag)またはアルミニウム(Al)から成る
第1および第2の外部電極層32,33を有するセラミ
ックス本体30を形成する。図4(a)は第2の導電性
金属層29によりその上面が覆われた後の溝型セラミッ
クスウェーハ25の断面図であり、図4(b)はセラミ
ックス本体30の断面図であり、図5はその斜視図であ
る。
【0015】なお、第2の導電性金属層29はスパッタ
リングまたは熱蒸着のような従来の技法を用いて得られ
る。
リングまたは熱蒸着のような従来の技法を用いて得られ
る。
【0016】その後、第1及び第2の外部電極層32,
33の間に位置する一対の圧電物質層をそれらの間にD
C電圧を印加することによって同一な方向へ分極化させ
る。この段階で必要なDC電圧はわずか2(M+1)の
DC電圧であって、これはM+1層の圧電材料層11
M+1 およびM層の第1の導電性金属層13M を有する多
層セラミックス構造体10を分極化させるに必要なもの
で、これによって電気的破壊および劣化の可能性が減少
することになる。
33の間に位置する一対の圧電物質層をそれらの間にD
C電圧を印加することによって同一な方向へ分極化させ
る。この段階で必要なDC電圧はわずか2(M+1)の
DC電圧であって、これはM+1層の圧電材料層11
M+1 およびM層の第1の導電性金属層13M を有する多
層セラミックス構造体10を分極化させるに必要なもの
で、これによって電気的破壊および劣化の可能性が減少
することになる。
【0017】その後、セラミックス本体30上にN−1
個の均一に離間された縦方向切断部34N-1 を形成する
ことによって、図6に示したようなM×N個の圧電アク
チュエータアレー35を形成する。
個の均一に離間された縦方向切断部34N-1 を形成する
ことによって、図6に示したようなM×N個の圧電アク
チュエータアレー35を形成する。
【0018】その後、第1の導電性金属層13M が共通
信号電極として機能し、第1及び第2の外部電極層3
2,33が各々基準電極として機能し、第1の導電性金
属層13M がドライバーに接続され、第1及び第2の外
部電極層32,33が共通接地電位( 図示せず) に接続
されるように、圧電アクチュエータアレー35を基板上
に装着する。
信号電極として機能し、第1及び第2の外部電極層3
2,33が各々基準電極として機能し、第1の導電性金
属層13M がドライバーに接続され、第1及び第2の外
部電極層32,33が共通接地電位( 図示せず) に接続
されるように、圧電アクチュエータアレー35を基板上
に装着する。
【0019】第1の導電性金属層13M と一対の外部電
極32,33間に電圧を印加する場合、それらの間に位
置した圧電物質は電圧の極性によって決定された方向へ
変形される。
極32,33間に電圧を印加する場合、それらの間に位
置した圧電物質は電圧の極性によって決定された方向へ
変形される。
【0020】光投射システムで図6に示した圧電アクチ
ュエータアレー35をアクチュエーチドミラーアレーと
して用いるためには、前記ミラーを共に付着しなければ
ならない。
ュエータアレー35をアクチュエーチドミラーアレーと
して用いるためには、前記ミラーを共に付着しなければ
ならない。
【0021】かかる圧電アクチュエータアレー35にミ
ラーを付着する方法は、本出願人により出願されて係属
中である米国特許第 号、発明の名称“ミラー
アレーおよびその製造方法”に記載されている。
ラーを付着する方法は、本出願人により出願されて係属
中である米国特許第 号、発明の名称“ミラー
アレーおよびその製造方法”に記載されている。
【0022】
【発明の効果】前述のように、本発明によれば、分極化
に必要なDC電圧が大幅に低減された圧電アクチュエー
タ及びその製造方法が提供される。
に必要なDC電圧が大幅に低減された圧電アクチュエー
タ及びその製造方法が提供される。
【図1】本発明に係るM×N個の圧電アクチュエータア
レーを製造するにあたって、最初に準備される多層セラ
ミックス構造体を示す斜視図である。
レーを製造するにあたって、最初に準備される多層セラ
ミックス構造体を示す斜視図である。
【図2】図2(a)は平坦面を有する複合セラミックス
ウェーハを示す斜視図であり、図2(b)は、図2
(a)で示された複合セラミックスウェーハにおいて、
前記平坦面を薄いポリマー層で覆った状態を示す斜視図
である。
ウェーハを示す斜視図であり、図2(b)は、図2
(a)で示された複合セラミックスウェーハにおいて、
前記平坦面を薄いポリマー層で覆った状態を示す斜視図
である。
【図3】図3(a)は、図2(b)で示された平坦面全
体上に溝が形成された状態を示す溝型セラミックスウェ
ーハの斜視図であり、図3(b)はその断面図である。
体上に溝が形成された状態を示す溝型セラミックスウェ
ーハの斜視図であり、図3(b)はその断面図である。
【図4】図4(a)は第2の導電性金属層により上面が
覆われた後の溝型セラミックスウェーハの断面図であ
り、図4(b)は図4(a)で示された溝型セラミック
スウェーハから形成されたセラミックス本体の断面図で
ある。
覆われた後の溝型セラミックスウェーハの断面図であ
り、図4(b)は図4(a)で示された溝型セラミック
スウェーハから形成されたセラミックス本体の断面図で
ある。
【図5】図4(b)で示されたセラミックス本体の斜視
図である。
図である。
【図6】本発明によって形成された、M×N個の圧電ア
クチュエータアレーを示した斜視図である。
クチュエータアレーを示した斜視図である。
10 多層セラミックス構造体 11M+1 圧電物質層 12 平坦面 13M 第1の導電性金属層 15 複合セラミックスウェーハ 16 薄いポリマー層 20M+1 溝 21,22 側面 23 下面 25 溝型セラミックスウェーハ 26 バリヤ 27 上面 29 第2の導電性金属層 30 セラミックス本体 32,33 外部電極層 34N-1 縦方向切断部 35 圧電アクチュエータアレー
Claims (11)
- 【請求項1】 光投射システムに用いるためのM×N個
の圧電アクチュエータアレーを製造する方法において、 (a) M層の第1の導電性金属層およびM+1層の圧電物
質層から成る多層セラミックス構造体を形成するステッ
プと、 (b) 平坦面を有する複合セラミックスウェーハを形成す
るために、前記第1の導電性金属層に垂直である平面に
沿って前記多層セラミックス構造体をスライスするステ
ップと、 (c) 前記複合セラミックスウェーハの前記平坦面の全面
上にM+1個の、均一に離間され横方向へ同じ溝を形成
するステップと、 (d) 前記M+1個の溝の第1および第2の側面上に第2
の導電性金属層から成るM+1層の第1の外部電極層お
よびM+1層の第2の外部電極層を各々形成することに
よって複合セラミックス本体を形成するステップと、 (e) 前記第1および第2の外部電極層間にDC電圧を印
加して、それらの間に位置した圧電物質を同一な方向へ
分極化させることによって分極化された複合セラミック
ス本体を準備するステップと、 (f) M×N個の圧電アクチュエータアレーを得るため
に、前記分極化された複合セラミックス本体上にN−1
個の均一に離間された縦方向切断部を形成するステップ
とを含み、 前記第1の導電性金属層の各々は、2層の圧電物質層の
間に位置し、前記圧電物質は前記M層の第1の導電性金
属層により均一に分離され、前記溝の各々は第1の側
面、第2の側面および下面を有し、互いに平行に走行
し、二つの隣接する第1の導電性金属層から等間隔を保
ち、上面を有するバリヤにより互いに分離される圧電ア
クチュエータアレーの製造方法。 - 【請求項2】 前記ステップ(a) の第1の導電性金属層
は白金またはパラジウムまたはパラジウム/銀から成る
請求項1記載の圧電アクチュエータアレーの製造方法。 - 【請求項3】 前記溝は前記ステップ(b) で前記平坦面
が薄いポリマー層から完全に覆われた後に、前記ステッ
プ(c) で形成される請求項1記載の圧電アクチュエータ
アレーの製造方法。 - 【請求項4】 前記ステップ(d) の第2の導電性金属層
は、アルミニウムまたは銀から成る請求項1記載の圧電
アクチュエータアレーの製造方法。 - 【請求項5】 前記ステップ(d) の第2の導電性金属層
は、前記ステップ(c) のバリヤの上面上に形成される請
求項4記載の圧電アクチュエータアレーの製造方法。 - 【請求項6】 前記バリヤの上面上に形成された第2の
導電性金属層は、前記薄いポリマー層を溶剤に溶解させ
ることによって除去される請求項5記載の圧電アクチュ
エータアレーの製造方法。 - 【請求項7】 前記溝の各々の下面上に形成された第2
の導電性金属層は、その中心部に沿って分離されて、第
1および第2の外部電極を形成する請求項6記載の圧電
アクチュエータアレーの製造方法。 - 【請求項8】 光投射システムに用いられるM×N個の
アクチュエータアレーにおいて、 前記アクチュエータアレー各々は、 一対の圧電物質層と、 前記一対の圧電物質層の間に位置した第1の導電性金属
層と、 前記一対の圧電物質層の外面に各々位置する一対の第1
および第2の外部電極層とを含むアクチュエータアレ
ー。 - 【請求項9】 前記第1の導電性金属層は、白金または
パラジウムまたはパラジウム/ 銀から成る請求項8記載
のアクチュエータアレー。 - 【請求項10】 前記第1および第2の外部電極は、ア
ルミニウムまたは銀から成る請求項8記載のアクチュエ
ータアレー。 - 【請求項11】 前記第1および第2の外部電極は、前
記溝の下面の中心部に沿って分離される請求項10記載
のアクチュエータアレー。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1993-7671 | 1993-05-04 | ||
KR1019930007671A KR970002997B1 (ko) | 1993-05-04 | 1993-05-04 | 투사형화상표시장치용 광로조절장치의 제조방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH07135350A true JPH07135350A (ja) | 1995-05-23 |
Family
ID=19354946
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9408294A Pending JPH07135350A (ja) | 1993-05-04 | 1994-05-06 | 圧電アクチュエータアレーおよびその製造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5758396A (ja) |
JP (1) | JPH07135350A (ja) |
KR (1) | KR970002997B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011029646A (ja) * | 1999-04-20 | 2011-02-10 | Seagate Technology Llc | 差動型pztアクチベータの電極パターンの形成 |
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---|---|---|---|---|
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JP3058143B2 (ja) * | 1998-02-12 | 2000-07-04 | 日本電気株式会社 | 圧電アクチュエータおよびその製造方法 |
US6266857B1 (en) * | 1998-02-17 | 2001-07-31 | Microsound Systems, Inc. | Method of producing a backing structure for an ultrasound transceiver |
US6161270A (en) * | 1999-01-29 | 2000-12-19 | Eastman Kodak Company | Making printheads using tapecasting |
US6254819B1 (en) * | 1999-07-16 | 2001-07-03 | Eastman Kodak Company | Forming channel members for ink jet printheads |
US6288477B1 (en) * | 1999-12-03 | 2001-09-11 | Atl Ultrasound | Composite ultrasonic transducer array operating in the K31 mode |
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JP2003165212A (ja) * | 2001-11-30 | 2003-06-10 | Brother Ind Ltd | インクジェットヘッド |
US6393681B1 (en) * | 2001-01-19 | 2002-05-28 | Magnecomp Corp. | PZT microactuator processing |
US6777856B2 (en) * | 2001-08-02 | 2004-08-17 | Kistler Holding Ag | Crystal element for piezo sensors |
JP4296738B2 (ja) * | 2001-11-30 | 2009-07-15 | ブラザー工業株式会社 | インクジェットヘッド |
KR100469804B1 (ko) * | 2002-01-24 | 2005-02-02 | 주성엔지니어링(주) | 임피던스 매칭용 세라믹 웨이퍼 |
JP3978345B2 (ja) * | 2002-02-06 | 2007-09-19 | 日本碍子株式会社 | 切断加工部品保持構造の形成方法および切断加工部品の製造方法 |
GB2390479A (en) * | 2002-06-06 | 2004-01-07 | Delphi Tech Inc | Poling method |
JP2007144992A (ja) * | 2005-10-28 | 2007-06-14 | Fujifilm Corp | 凹凸構造体とその製造方法、圧電素子、インクジェット式記録ヘッド、インクジェット式記録装置 |
CN103991288B (zh) * | 2014-05-23 | 2016-02-10 | 北京派和科技股份有限公司 | 压电喷墨头及包括该压电喷墨头的打印设备 |
EP3662971B1 (en) | 2015-09-14 | 2021-08-25 | University of Iowa Research Foundation | Controlled position electrode array |
EP4249042A3 (en) | 2017-02-14 | 2023-11-29 | Iotamotion, Inc. | Modular implant delivery and positioning system |
USD947485S1 (en) * | 2020-11-10 | 2022-03-29 | Marvin Minzer | Urn |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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FR2485858B1 (fr) * | 1980-06-25 | 1986-04-11 | Commissariat Energie Atomique | Procede de fabrication de transducteurs ultrasonores de formes complexes et application a l'obtention de transducteurs annulaires |
US5457863A (en) * | 1993-03-22 | 1995-10-17 | General Electric Company | Method of making a two dimensional ultrasonic transducer array |
US5359760A (en) * | 1993-04-16 | 1994-11-01 | The Curators Of The University Of Missouri On Behalf Of The University Of Missouri-Rolla | Method of manufacture of multiple-element piezoelectric transducer |
-
1993
- 1993-05-04 KR KR1019930007671A patent/KR970002997B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-05-04 US US08/239,173 patent/US5758396A/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-05-06 JP JP9408294A patent/JPH07135350A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2011029646A (ja) * | 1999-04-20 | 2011-02-10 | Seagate Technology Llc | 差動型pztアクチベータの電極パターンの形成 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR970002997B1 (ko) | 1997-03-13 |
US5758396A (en) | 1998-06-02 |
KR940027535A (ko) | 1994-12-10 |
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---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
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