JPH07128625A - 液晶表示基板の製造方法 - Google Patents

液晶表示基板の製造方法

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JPH07128625A
JPH07128625A JP27798493A JP27798493A JPH07128625A JP H07128625 A JPH07128625 A JP H07128625A JP 27798493 A JP27798493 A JP 27798493A JP 27798493 A JP27798493 A JP 27798493A JP H07128625 A JPH07128625 A JP H07128625A
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JP
Japan
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liquid crystal
protective film
signal line
crystal display
display substrate
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JP27798493A
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English (en)
Inventor
Susumu Niwa
進 丹羽
Hideaki Taniguchi
秀明 谷口
Norio Tsukii
教男 月井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 配線層等の液晶汚染による表示欠陥を防止す
る。 【構成】 液晶を介在させて互いに対向する透明基板の
うちの一方の透明基板の該液晶側の面に、少なくとも、
画素電極とこれら画素電極に電圧印加を行うための配線
層が形成されている液晶表示基板において、該配線層に
電圧を印加して所定の画素電極の電圧の印加有無を検査
する工程と、この検査の結果によって該配線層の適当な
個所の断線を行う工程と、前記画素電極および配線層を
被覆する保護膜を形成する工程とからなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示基板の製造方
法に係り、特に、液晶基板の配線層等の欠陥修繕を行う
工程を含む液晶表示基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】いわゆるアクティブ・マトリックス方式
の液晶表示基板は、その一方の透明ガラス基板の液晶側
の面にマトリックス状に形成された各画素電極のそれぞ
れに対応して薄膜トランジスタ(スイッチング素子)が
設けられ、これら薄膜トランジスタと画素電極とが画素
の一構成要素となっている。
【0003】さらに、多数のゲート信号線(走査信号
線)とドレイン信号線(映像信号線)とがそれぞれ前記
画素を間にして配置させるようにして縦横に交差(層間
絶縁膜を介して交差)して配置されている。
【0004】すなわち、所定のゲート信号線に電圧を印
加することにより対応する薄膜トランジスタがON状態
となり、ドレイン信号線から入力される信号電圧が該薄
膜トランジスタを介して画素電極に印加されるようにな
っている。
【0005】そして、このような画素電極、薄膜トラン
ジスタ、および各信号線が形成された透明基板の表面に
は保護膜が形成され、この保護膜によって信号線等の液
晶による汚染を防止できるようになっている。
【0006】ところで、このように形成された透明基板
は、薄膜トランジスタが所定通りに動作するか、あるい
は信号線同士の短絡等が無いか等を検査するようになっ
ている。
【0007】そして、この検査によって不都合な個所が
あると、それに対応する画素は始めからなかった(無効
化)ものとして、該画素にのみ電圧を印加させるための
信号線をたとえばレーザ光線等を用いて断線させてしま
うといういわゆるトリミングを行っている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、該透明
基板を上述したトリミングを行うことによって良品と
し、液晶を介して他の透明基板と対向させて組み立てた
場合に、無効化された画素の周辺における画素にも表示
欠陥が発生してしまうという問題が指摘されるに到っ
た。
【0009】この原因を追及した結果、次のことが判明
した。
【0010】すなわち、保護膜の表面からレーザ光線を
照射し該保護膜下にある信号線を切断するため、保護膜
の切断個所を通して該信号線の切断面が露呈されること
になる。
【0011】このため、液晶は保護膜の該切断個所を通
して信号線の切断面に接触することになって信号線のい
わゆる液晶汚染が発生し、これが近傍の画素における信
号線(配線層)に派生するようになる。
【0012】それ故、本発明は、このような事情に基づ
いてなされたものであり、その目的は、配線層等の液晶
汚染による表示欠陥を防止した液晶表示基板の製造方法
を提供することにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明は、基本的には、液晶を介在させて互
いに対向する透明基板のうちの一方の透明基板の該液晶
側の面に、少なくとも、画素電極とこれら画素電極に電
圧印加を行うための配線層が形成されている液晶表示基
板において、該配線層に電圧を印加して所定の画素電極
の電圧の印加有無を検査する工程と、この検査の結果に
よって該配線層の適当な個所の断線(トリミング)を行
う工程と、前記画素電極および配線層を被覆する保護膜
を形成する工程とからなることを特徴とするものであ
る。
【0014】
【作用】このように構成した液晶表示基板の製造方法に
よれば、いわゆるトリミングを行った後に、保護膜を形
成するようにしている。
【0015】この場合、検査前の透明基板において、既
に保護膜が形成されていても、あるいは形成されていな
くてもよいことはもちろんである。
【0016】たとえば既に保護膜が形成されている場合
には、該トリミングによって該保護膜から露呈された配
線層の切断面は、その後に形成される新たな保護膜によ
って完全に被われることになる。
【0017】このため、液晶を介して他の透明基板と対
向させて組み立てた後においても、前記配線層の切断面
は新たな保護膜によって接触してしまうことがなくなる
ことから、配線層のいわゆる液晶汚染を防止することが
できるようになる。
【0018】また、検査前の透明基板において保護膜を
形成していない場合においても、同様の理由から、トリ
ミング後に形成した保護膜によって配線層のいわゆる液
晶汚染を防止することができるようになる。
【0019】
【実施例】図3は、本発明による製造方法が適用される
液晶表示基板の構成図で、液晶を介して対向配置される
ものうちの一方の透明ガラス基板の液晶側の面を示す平
面図である。同図はマトリックス状に配置された各画素
電極のうちの一の画素電極とその近傍の構成を示した平
面図である。
【0020】同図において、透明ガラス基板1の主表面
に、図中x方向に延在するゲート信号線2があり、この
ゲート信号線2は図中y方向に複数個互いに平行になっ
て並設されている。
【0021】一方、図中y方向に延在するドレイン信号
線3があり、このドレイン信号線3は図中x方向に複数
個互いに平行になって並設されている。これらドレイン
信号線3は少なくともゲート信号線2との間に形成され
た層間絶縁膜(図示せず)によって互いに絶縁されて交
差するようになっている。
【0022】ゲート信号線2とドレイン信号線3とで囲
まれる矩形の領域内には画素電極4が形成されている。
この画素電極4は透明導電層から構成されているもの
で、その一部はゲート信号線2上に形成されている薄膜
トランジスタ(TFT)の部分にまで延在されてソース
電極4Aを構成している。
【0023】該薄膜トランジスタ(TFT)は、ゲート
信号線2の表面に前記層間絶縁膜と同工程で形成したゲ
ート絶縁膜およびたとえばa(アモルファス)−Siか
らなる半導体層5が順次形成されて構成されているもの
であり、該半導体層5上の前記ソース電極4Aと対向配
置されて形成されているドレイン電極4Bはドレイン信
号線3と一体に形成されている。
【0024】また、画素電極4の他の部分は隣接する他
方のゲート信号線2の一部に到るまで延在し前記層間絶
縁膜と同工程で形成される誘電体膜を介して重畳され
て、この重畳領域においてコデンサCaddを形成して
いる。
【0025】なお、このように構成されたガラス基板1
の表面には画素電極4の周辺部を残した中央部に孔開け
がなされた保護膜(図示せず)がたとえばシリコン窒化
膜等で形成されている。
【0026】図2は、図3における薄膜トランジスタ
(TFT)とその近傍を示した拡大図であり、そのI−
I線における断面図を図1に示している。
【0027】図1において、透明ガラス基板1があり、
この透明ガラス基板1の表面にゲート電極2Aが形成さ
れている。このゲート電極2Aはゲート信号線2と一体
になって形成されているものである。
【0028】そして、このゲート電極2Aを被って透明
ガラス基板1の全域には層間絶縁膜10が形成されてい
る。この層間絶縁膜10は前記ゲート電極2A上の領域
においては特にゲート絶縁膜10Aとしての機能を有す
るものである。
【0029】また、該層間絶縁膜10の表面における薄
膜トランジスタ(TFT)の形成領域にはたとえばa
(アモルファス)−Siからなる半導体層5が形成され
ている。なお、この半導体層5は前述したゲート絶縁膜
10Aの上面に位置付けられて形成されることになる。
【0030】ここで、該ゲート絶縁膜10Aには、その
形成の際においてゲート電極2Aの表面にたまたま不純
物が存在していたため、所定の絶縁耐圧を有さない状態
で形成され(図中、符号10Qで示す)、この結果、ゲ
ート絶縁膜10Aの上層に形成された半導体層5とゲー
ト電極2Aとの間で電気的短絡が生じる個所が存在する
ようになっていると仮定する。
【0031】該半導体層5の表面には対向配置されたソ
ース電極4Aとドレイン電極4Bが形成されている。
【0032】このうち、ソース電極4Aは、たとえば透
明導電層から構成され、画素電極4と一体となって形成
されるようになっている。また、ドレイン電極4Bはド
レイン信号線3と一体となって形成されるようになって
いる。
【0033】さらに、このように加工された透明ガラス
基板1の表面の全域には保護膜12(この実施例では第
1保護膜と称する)がシリコン窒化膜によって形成され
ている。
【0034】そして、通常、ここまで構成した透明ガラ
ス基板1を対象として、ゲート信号線3、ドレイン信号
線3に電圧を印加して所定の画素電極4に所定の電圧が
印加されるか否かが検査される。
【0035】この場合、上述した仮定の通り、該画素電
極4に対応する薄膜トランジスタ(TFT)は、そのゲ
ート電極2Aと半導体層5とが電気的短絡を生ぜしめ該
画素電極4には適切な時期に所定の電圧が印加されるこ
とがないことから、この画素に関しては欠陥として判断
されることになる。
【0036】そこで、該ドレイン電極4Bをドレイン信
号線3から切り離して該画素電極4に信号電圧が印加で
きないようにすることによって、該画素は始めからなか
った(無効化)ものとする。
【0037】この作業はいわゆるトリミングと称され、
図2に示すように、ドレイン信号線3とドレイン電極4
Bとの間の配線部分(図中、符号Pで示す)をたとえば
レーザ光線で断線させるようにしている。
【0038】この場合、図1に示すように、保護膜12
の表面からレーザ光を照射することから、該保護膜12
に切断部が形成され、この切断部を通してドレイン電極
4Bの切断面4b(あるいはドレイン信号線3の切断面
3a)が露呈されることになる。
【0039】それ故、本実施例では、特に、該ドレイン
電極4Bの切断面4b(あるいはドレイン信号線3の切
断面3a)の露呈を防止する意味で、前記第1保護膜1
2の表面の全域に第2保護膜14を積層させて形成する
ようになっている。なお、この第2保護膜14は選択的
に形成してもよいことはいうまでもない。
【0040】このように構成した液晶表示基板の製造方
法によれば、いわゆるトリミングを行った後に、第2保
護膜14を形成するようにしている。
【0041】したがって、該トリミングによって予め形
成されている第1保護膜12から露呈されたドレイン電
極4Bの切断面4b(あるいはドレイン信号線3の切断
面3a)、その後に形成される新たな第2保護膜14に
よって完全に被われることになる。
【0042】このため、液晶を介して他の透明基板と対
向させて組み立てた後においても、前記ドレイン電極4
B等の切断面は新たな第2保護膜14によって接触して
しまうことがなくなることから、配線層のいわゆる液晶
汚染を防止することができるようになる。
【0043】上述した実施例によれば、透明ガラス基板
の表面に保護膜(第1保護膜12)を形成した後に検査
を行い、この検査の結果によっていわゆるトリミグを行
い、その後さらに保護膜(第2保護膜14)を再び形成
するようにしている。
【0044】しかし、これに限定されることはなく、検
査前においては保護膜(第1保護膜2に相当する)を形
成することなく該検査を行い、トリミグを行った後に始
めて該保護膜(第2保護膜14に相当する)を形成する
ようにしても同様の効果を奏することはいうまでもな
い。
【0045】また、上述した実施例では、薄膜トランジ
スタ(TFT)の欠陥によるトリミングを説明したもの
である。しかし、これに限定されることはないことはい
うまでもない。
【0046】たとえば、図4に示すように、ゲート信号
線2とドレイン信号線3との交差部における層間絶縁膜
の欠陥(図中、Nで示す)によって発生するゲート信号
線2とドレイン信号線3との電気的短絡を回避する目的
で、該ゲート信号線2にドレイン信号線3にまたがるよ
うな形状の孔2Aを予め形成しておき、図中に示す個所
Nにおいて該短絡が生じている場合には該短絡の近傍個
所ごとゲート信号線2から分離させるようにしてトリミ
ングがなされることがある(図中、Mの個所にて切
断)。この場合にも本発明が適用できることはいうまで
もない。
【0047】
【発明の効果】以上説明したことから明らかなように、
本発明による液晶表示基板の製造方法によれば、配線層
等の液晶汚染による表示欠陥を防止することができるよ
うになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による液晶表示基板の製造方法の一実施
例を示す断面図である。
【図2】本発明による製造方法が適用される液晶表示基
板の要部平面図である。
【図3】本発明による製造方法が適用される液晶表示基
板の一画素近傍における平面図である。
【図4】本発明による製造方法が適用される他の実施例
を示す説明図である。
【符号の説明】
4 画素電極 2 ゲート信号線 3 ドレイン信号線 12 第1保護膜 14 第2保護膜

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 液晶を介在させて互いに対向する透明基
    板のうちの一方の透明基板の該液晶側の面に、少なくと
    も、画素電極とこれら画素電極に電圧印加を行うための
    配線層が形成されている液晶表示基板において、該配線
    層に電圧を印加して所定の画素電極の電圧の印加有無を
    検査する工程と、この検査の結果によって該配線層の適
    当な個所の切断を行う工程と、前記画素電極および配線
    層を被覆する保護膜を形成する工程とからなることを特
    徴とする液晶表示基板の製造方法。
JP27798493A 1993-11-08 1993-11-08 液晶表示基板の製造方法 Pending JPH07128625A (ja)

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JP27798493A JPH07128625A (ja) 1993-11-08 1993-11-08 液晶表示基板の製造方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001147649A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Fujitsu Ltd 表示装置及びその欠陥修復方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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