JPH07113574B2 - 計数はかり - Google Patents
計数はかりInfo
- Publication number
- JPH07113574B2 JPH07113574B2 JP62251779A JP25177987A JPH07113574B2 JP H07113574 B2 JPH07113574 B2 JP H07113574B2 JP 62251779 A JP62251779 A JP 62251779A JP 25177987 A JP25177987 A JP 25177987A JP H07113574 B2 JPH07113574 B2 JP H07113574B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coefficient
- probability
- counting
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- measured
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Indicating Measured Values (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ 本発明は、被測定物品の単重で、未知個数の被測定物品
重量を除すことによってその個数を算出して表示する、
計数はかりに関する。
重量を除すことによってその個数を算出して表示する、
計数はかりに関する。
＜従来の技術とその問題点＞ 計数はかりは、一般に、まず既知個数Ｎの被測定物品の
重量を測定して、その結果をＮで除して単重を求めた
後、未知個数の被測定物品の重量を、求めた単重で除し
てその個数を推定するが、被測定物品には個々の重量ば
らつきがある関係上、そのばらつきに起因する計数誤差
（カウンティングエラー）の発生は避けられない。
重量を測定して、その結果をＮで除して単重を求めた
後、未知個数の被測定物品の重量を、求めた単重で除し
てその個数を推定するが、被測定物品には個々の重量ば
らつきがある関係上、そのばらつきに起因する計数誤差
（カウンティングエラー）の発生は避けられない。
従来の計数はかりにおいては、計数結果の正確さという
点に関して、確率論的に明確な取り扱いは殆んどなされ
ておらず、上述した計数誤差が何個のものが確率いくら
で生じるとか、計数結果が確率いくらで正しい等につい
て、定量的に使用者に報知する機能を有しているものは
ない。
点に関して、確率論的に明確な取り扱いは殆んどなされ
ておらず、上述した計数誤差が何個のものが確率いくら
で生じるとか、計数結果が確率いくらで正しい等につい
て、定量的に使用者に報知する機能を有しているものは
ない。
使用者側としても、計数はかりには被測定物品の重量ば
らつきに起因して多少の計数誤差の生じることは承知し
て使用するのが通例であるが、物品のばらつき等と計数
誤差の確率を定量的に把握していないのが実状である。
らつきに起因して多少の計数誤差の生じることは承知し
て使用するのが通例であるが、物品のばらつき等と計数
誤差の確率を定量的に把握していないのが実状である。
＜問題点を解決するための手段＞ 本発明の目的は、計数結果についてその正確さを定量的
に報知することのできる計数はかりを提供することにあ
り、その構成を第１図に示す基本概念図を参照しつつ説
明すると、本発明は、既知個数Ｎの被測定物品を荷重検
出部ａに負荷したときの荷重検出値から被測定物品の単
重μを算出する単重算出手段ｂと、未知個数の被測定物
品を荷重検出部ａに負荷したときの荷重検出値を荷重μ
で除してその個数Ｋを算出する個数算出手段ｃと、その
算出された個数を表示する個数表示手段ｄを備えたはか
りにおいて、被測定物品の変動係数CVを設定する変動係
数設定手段ｅと、その設定された変動係数CVと既知個数
Ｎおよび上記の算出個数Ｋを用いて、その算出個数Ｋが
ｉ個（ｉは整数）の計数誤差を持つ確率Piをそれぞれ算
出する計数誤差確率算出手段ｆと、その算出された確率
Piに係る情報を表示、印字もしくは外部に出力し得る報
知手段ｇを備えたことによって、特徴づけられる。
に報知することのできる計数はかりを提供することにあ
り、その構成を第１図に示す基本概念図を参照しつつ説
明すると、本発明は、既知個数Ｎの被測定物品を荷重検
出部ａに負荷したときの荷重検出値から被測定物品の単
重μを算出する単重算出手段ｂと、未知個数の被測定物
品を荷重検出部ａに負荷したときの荷重検出値を荷重μ
で除してその個数Ｋを算出する個数算出手段ｃと、その
算出された個数を表示する個数表示手段ｄを備えたはか
りにおいて、被測定物品の変動係数CVを設定する変動係
数設定手段ｅと、その設定された変動係数CVと既知個数
Ｎおよび上記の算出個数Ｋを用いて、その算出個数Ｋが
ｉ個（ｉは整数）の計数誤差を持つ確率Piをそれぞれ算
出する計数誤差確率算出手段ｆと、その算出された確率
Piに係る情報を表示、印字もしくは外部に出力し得る報
知手段ｇを備えたことによって、特徴づけられる。
＜作用＞ 算出された個数Ｋがｉ個の計数誤差を持つ確率Piは、そ
の分布が正規分布と見做せるから、 ただし、 によって求めることができる。つまり、計数過程で得ら
れるＮおよびＫのほか、被測定物品の変動係数CVを設定
することにより、確率Piを算出でき、得られた結果に基
づく情報は計数結果Ｋの正確さを定量的に表わす情報と
なり得る。
の分布が正規分布と見做せるから、 ただし、 によって求めることができる。つまり、計数過程で得ら
れるＮおよびＫのほか、被測定物品の変動係数CVを設定
することにより、確率Piを算出でき、得られた結果に基
づく情報は計数結果Ｋの正確さを定量的に表わす情報と
なり得る。
＜実施例＞ 本発明の実施例を、以下、図面に基づいて説明する。
第２図は本発明実施例のシステム構成を示すブロック図
である。
である。
荷重検出部１は皿1aに係合する荷重センサおよびＡ−Ｄ
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
変換器等を内蔵しており、皿1a上の荷重に対応するデジ
タルデータを出力することができる。
荷重検出部１からのデータは、CPU21、ROM22およびRAM2
3を主体とするマイクロコンピュータシステム２に刻々
と採り込まれる。このマイクロコンピュータシステム２
には、後述する変動係数CVや許容誤差確率ε等を入力す
るためのキーボード24が接続されているとともに、試料
個数をデジタル表示するための個数表示器３と、後述す
る誤差情報を表示するための誤差情報表示器４が接続さ
れている。
3を主体とするマイクロコンピュータシステム２に刻々
と採り込まれる。このマイクロコンピュータシステム２
には、後述する変動係数CVや許容誤差確率ε等を入力す
るためのキーボード24が接続されているとともに、試料
個数をデジタル表示するための個数表示器３と、後述す
る誤差情報を表示するための誤差情報表示器４が接続さ
れている。
第３図はROM22に書き込まれたプログラムの内容を示す
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ作用を述
べる。
フローチャートで、以下、この図を参照しつつ作用を述
べる。
測定に先立って、測定すべき試料の個々の重量の変動係
数CVと、許容誤差確率εをキーボード24から入力する。
数CVと、許容誤差確率εをキーボード24から入力する。
変動係数CVは、試料を適当なｎ個だけ抜き取ってその個
々の重量wiの標準偏差σと平均重量μから、 によって別途算出し、キーボード24から入力するか、あ
るいは、ROM22内のプログラムにこの変動係数CVや算出
するルーチンを備えておき、例えば試料を１個づつ皿1a
上に載せていって都度その重量データをRAM23内に格納
し、上述の（３）式をCPU21によって演算するよう構成
してもよい。
々の重量wiの標準偏差σと平均重量μから、 によって別途算出し、キーボード24から入力するか、あ
るいは、ROM22内のプログラムにこの変動係数CVや算出
するルーチンを備えておき、例えば試料を１個づつ皿1a
上に載せていって都度その重量データをRAM23内に格納
し、上述の（３）式をCPU21によって演算するよう構成
してもよい。
許容誤差確率εは、確率ε未満で計数誤差が生じても許
容する限度値で、０〜0.05の範囲で、要求される測定の
精度に応じて任意の数値を設定することができる。
容する限度値で、０〜0.05の範囲で、要求される測定の
精度に応じて任意の数値を設定することができる。
以上の初期設定を終了すると、次に、試料をあらかじめ
設定されたＮ個だけ皿1a上の載せる。その動作を終了し
たことを例えばキーボード24から入力する等により、そ
の状態での皿1a上の重量ｗをＮで除して試料の単重μが
算出され、RAM23内に格納される。
設定されたＮ個だけ皿1a上の載せる。その動作を終了し
たことを例えばキーボード24から入力する等により、そ
の状態での皿1a上の重量ｗをＮで除して試料の単重μが
算出され、RAM23内に格納される。
以後、未知個数の試料を載せると、その重量ｗを単重μ
で除して適当な丸め処理を施すことによって皿1a上の試
料個数Ｋが求められて個数表示器３に表示される。
で除して適当な丸め処理を施すことによって皿1a上の試
料個数Ｋが求められて個数表示器３に表示される。
次に、算出された個数Ｋについての計数誤差確率Piの算
出ルーチンに入る。このルーチンでは、前記した
（１），（２）式を用いて、ｉ＝１、つまり計数誤差１
個が生じる確率P1から順次ｉを１づつ増加させて各Piを
算出してゆくとともに、その算出ごとにPiを許容誤差確
率εと比較し、ε未満のPiが得られると、その時点のｉ
よりも１少ない数Ｉを誤差情報表示器４に表示する。
出ルーチンに入る。このルーチンでは、前記した
（１），（２）式を用いて、ｉ＝１、つまり計数誤差１
個が生じる確率P1から順次ｉを１づつ増加させて各Piを
算出してゆくとともに、その算出ごとにPiを許容誤差確
率εと比較し、ε未満のPiが得られると、その時点のｉ
よりも１少ない数Ｉを誤差情報表示器４に表示する。
ここで、計数誤差の確率分布は正規分布であるから、P0
＞P1＞P2…と見做せる。従って、あるｉの時点でPi＜ε
となれば、それより大きいｉについてPi≧εとなること
はない。故に、誤差情報表示器４に表示される数値Ｉ
は、許容誤差確率ε以上の確率で発生している最大の計
数誤差を表わすことになり、この表示から使用者は、算
出された個数Ｋは確率εを基準として最大±Ｉ個の計数
誤差を有している可能性があることを知ることができ
る。もちろん、P1＜εであればＩ＝０となるが、このこ
とは、確率ε以上では計数誤差が無い旨を表わすことに
なる。
＞P1＞P2…と見做せる。従って、あるｉの時点でPi＜ε
となれば、それより大きいｉについてPi≧εとなること
はない。故に、誤差情報表示器４に表示される数値Ｉ
は、許容誤差確率ε以上の確率で発生している最大の計
数誤差を表わすことになり、この表示から使用者は、算
出された個数Ｋは確率εを基準として最大±Ｉ個の計数
誤差を有している可能性があることを知ることができ
る。もちろん、P1＜εであればＩ＝０となるが、このこ
とは、確率ε以上では計数誤差が無い旨を表わすことに
なる。
誤差情報表示器４に表示する内容は、以上の例に限ら
ず、単に計数誤差の有無を表示するよう構成してもよ
い。この場合、例えば第３図フローチャートでＫを表示
した後、ｉ＝０についての確率、つまり計算誤差０個の
確率P0を算出する。この場合、（１）式は特に、 となる。そして、算出されたP0が、設定されているεに
対して下記の（５）式を満足していれば、ε以上の確率
では±１個の計数誤差も無いと見做せるから、計数誤差
無しの旨を表示し、（５）式を満足していなければ計数
誤差有りの旨を表示すればよい。
ず、単に計数誤差の有無を表示するよう構成してもよ
い。この場合、例えば第３図フローチャートでＫを表示
した後、ｉ＝０についての確率、つまり計算誤差０個の
確率P0を算出する。この場合、（１）式は特に、 となる。そして、算出されたP0が、設定されているεに
対して下記の（５）式を満足していれば、ε以上の確率
では±１個の計数誤差も無いと見做せるから、計数誤差
無しの旨を表示し、（５）式を満足していなければ計数
誤差有りの旨を表示すればよい。
P0＞１−２ε …（５） 以上の各例では、許容誤差確率εを設定してそのεを基
準として誤差情報を得る例を示したが、εを設定せず
に、ｉ＝0,1,2…についての各確率Piを算出し、これら
を誤差情報として表示してもよい。
準として誤差情報を得る例を示したが、εを設定せず
に、ｉ＝0,1,2…についての各確率Piを算出し、これら
を誤差情報として表示してもよい。
なお、誤差情報を報知する手段としては、表示のほか、
印字や外部機器への転送等、他の手段を採用し得ること
は勿論で、これらを併用してもよい。
印字や外部機器への転送等、他の手段を採用し得ること
は勿論で、これらを併用してもよい。
また、変動係数CVについては、実用的にはあまり厳密に
推定できる量ではないから、あらかじめＭ個の離散的な
係数CV1,CV2,CV3…CVM（０＜CV1＜CV2…＜CVM）を設定
しておき、入力された変動係数CVをこれらと比較し、 CVj-1＜CV≦CVj もしくは ０＜CV≦CV1 または CVM＜CV であるときに、CVjもしくはCV1またはCVMをもってこ試
料の変動係数とし、（１），（２）式を算出しても、充
分正しい確率Piを得ることができる。更には、変動係数
CVを入力せずに、あらかじめ試料の単重の大きさに応じ
て段階的に複数の変動係数を設定しておき、算出された
単重μの大きさに基づいて該当する係数をピックアップ
し、これを変動係数CVとしてもよい。
推定できる量ではないから、あらかじめＭ個の離散的な
係数CV1,CV2,CV3…CVM（０＜CV1＜CV2…＜CVM）を設定
しておき、入力された変動係数CVをこれらと比較し、 CVj-1＜CV≦CVj もしくは ０＜CV≦CV1 または CVM＜CV であるときに、CVjもしくはCV1またはCVMをもってこ試
料の変動係数とし、（１），（２）式を算出しても、充
分正しい確率Piを得ることができる。更には、変動係数
CVを入力せずに、あらかじめ試料の単重の大きさに応じ
て段階的に複数の変動係数を設定しておき、算出された
単重μの大きさに基づいて該当する係数をピックアップ
し、これを変動係数CVとしてもよい。
更にまた、既知個数Ｎはあらかじめ設定しておくほか、
適当な個数を使用者が計数して更1a上に載せ、その計数
値を既知個数Ｎとしてキーボード24から入力してもよ
い。この場合、このＮの値も前述した変動係数CVと同
様、離散的なあらかじめ設定された複数の値のいずれか
で代表させて（１），（２）式の演算に供することがで
きる。この手法は、Ｋについても同様に適用できる。そ
して、N,K,CVのそれぞれを離散的な既設定値で代表させ
る際、εも例えば0.005,0.0005,0.00005および0.000005
の４つの値等で代表させ、P0は0.99,0.999,0.9999およ
び0.99999の４つの値等で代表させて、P0と、Ｐ±１,P
±２,P±３がそれぞれどのクラスに該当するかを表示す
るよう構成してもよい。表示の例として、 0.999≦P0＜0.9999 の場合にはP III、つまり個数Ｋは３ナインの精密度を
保証するとか、 0.0005≦P2＜0.005 の場合にはE2 II、つまり２個の計数誤差がクラスIIで
存在する等の旨の表示を行うことができる。
適当な個数を使用者が計数して更1a上に載せ、その計数
値を既知個数Ｎとしてキーボード24から入力してもよ
い。この場合、このＮの値も前述した変動係数CVと同
様、離散的なあらかじめ設定された複数の値のいずれか
で代表させて（１），（２）式の演算に供することがで
きる。この手法は、Ｋについても同様に適用できる。そ
して、N,K,CVのそれぞれを離散的な既設定値で代表させ
る際、εも例えば0.005,0.0005,0.00005および0.000005
の４つの値等で代表させ、P0は0.99,0.999,0.9999およ
び0.99999の４つの値等で代表させて、P0と、Ｐ±１,P
±２,P±３がそれぞれどのクラスに該当するかを表示す
るよう構成してもよい。表示の例として、 0.999≦P0＜0.9999 の場合にはP III、つまり個数Ｋは３ナインの精密度を
保証するとか、 0.0005≦P2＜0.005 の場合にはE2 II、つまり２個の計数誤差がクラスIIで
存在する等の旨の表示を行うことができる。
なお、確率Piの計算において、得られた計数値ｋがｉ個
の計数誤差を持つ場合には実際にはＫ−ｉ個のものが誤
ってＫ個と表示されているのであるから、（１）式にお
けるβの計算は（２）式ではなく、 とするべきである。もちろんこのときには、 Pi≠Ｐ−ｉ（ｉ≠０） となるが、±ｉの対称性を保存しておいた方が表示等に
際して何かと都合がよいので、Ｋ−ｉをＫで代用して、
つまり（２）式を用いてβを算出することが望ましく、
実用的には充分である。ただし、厳密な確率Piを必要と
する場合には、βは（６）式で算出する必要がある。
の計数誤差を持つ場合には実際にはＫ−ｉ個のものが誤
ってＫ個と表示されているのであるから、（１）式にお
けるβの計算は（２）式ではなく、 とするべきである。もちろんこのときには、 Pi≠Ｐ−ｉ（ｉ≠０） となるが、±ｉの対称性を保存しておいた方が表示等に
際して何かと都合がよいので、Ｋ−ｉをＫで代用して、
つまり（２）式を用いてβを算出することが望ましく、
実用的には充分である。ただし、厳密な確率Piを必要と
する場合には、βは（６）式で算出する必要がある。
また、ハードウェアに関して、第２図に示す例では、計
数はかりに内蔵しているマイクロコンピュータシステム
２によって確率Piの計算等を行う場合について説明した
が、本発明はこの例に限定されることなく、マイクロコ
ンピュータシステム２に別途パーソナルコンピュータ等
を接続し、Piの計算等、適宜の部分をこれに分担させる
よう構成し得ることは云うまでもない。
数はかりに内蔵しているマイクロコンピュータシステム
２によって確率Piの計算等を行う場合について説明した
が、本発明はこの例に限定されることなく、マイクロコ
ンピュータシステム２に別途パーソナルコンピュータ等
を接続し、Piの計算等、適宜の部分をこれに分担させる
よう構成し得ることは云うまでもない。
＜発明の効果＞ 以上説明したように、本発明によれば、Ｎ個のサンプル
によって単重を求め、その単重を用いて未知個数の試料
の個数Ｋを推定して表示する際に、あらかじめ設定され
た被測定物品の重量の変動係数と、最初に載せられた既
知個数および未知個数の試料の推定結果Ｋを用いて、そ
の推定結果Ｋがｉ個（ｉは整数）の係数誤差を持つ確率
Piをそれぞれ算出し、その算出結果に基づいて、その表
示個数Ｋが正しい確率（P0）、あるいはｉ個の計数誤差
を持つ確率（Pi）、更には設定された許容誤差確率εに
基づく最大計数誤差（Ｉ）等の、誤差に関する定量的な
情報を併わせて報知することができるので、作用者は欲
する精度で正確かつ迅速な計数を行う場合の有効な判断
基準を得ることができる。
によって単重を求め、その単重を用いて未知個数の試料
の個数Ｋを推定して表示する際に、あらかじめ設定され
た被測定物品の重量の変動係数と、最初に載せられた既
知個数および未知個数の試料の推定結果Ｋを用いて、そ
の推定結果Ｋがｉ個（ｉは整数）の係数誤差を持つ確率
Piをそれぞれ算出し、その算出結果に基づいて、その表
示個数Ｋが正しい確率（P0）、あるいはｉ個の計数誤差
を持つ確率（Pi）、更には設定された許容誤差確率εに
基づく最大計数誤差（Ｉ）等の、誤差に関する定量的な
情報を併わせて報知することができるので、作用者は欲
する精度で正確かつ迅速な計数を行う場合の有効な判断
基準を得ることができる。
第１図は本発明の構成を示す基本概念図、 第２図は本発明実施例のシステム構成を示すブロック
図、 第３図はそのROM22に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチャートである。 １……荷重検出部 ２……マイクロコンピュータシステム 21……CPU 22……ROM 23……RAM 24……キーボード ３……個数表示器 ４……誤差情報表示器
図、 第３図はそのROM22に書き込まれたプログラムの内容を
示すフローチャートである。 １……荷重検出部 ２……マイクロコンピュータシステム 21……CPU 22……ROM 23……RAM 24……キーボード ３……個数表示器 ４……誤差情報表示器
Claims (6)
- 【請求項１】既知個数の被測定物品を荷重検出部に負荷
したときの荷重検出値から被測定物品の単重を算出する
単重算出手段と、未知個数の被測定物品を上記荷重検出
部に負荷したときの荷重検出値を上記単重で除してその
個数を算出する個数算出手段と、その算出された個数を
表示する個数表示手段を備えたはかりにおいて、被測定
物品の重量の変動係数を設定する変動係数設定手段と、
その設定された変動係数と上記既知個数および上記算出
された個数を用いて、上記算出された個数がｉ個（ｉは
整数）の計数誤差を持つ確率Piをそれぞれ算出する計数
誤差確率算出手段と、その算出された確率Piに係る情報
を表示、印字もしくは外部に出力し得る報知手段を備え
たことを特徴とする、計数はかり。 - 【請求項２】上記報知手段により報知される情報が、 あらかじめ設定された許容誤差確率ε（ε＞０）に対し
て、ｉ＝０を除く各確率Piについて、 Pi≧ε を満たすｉが存在するときにはその絶対値|i|の最大値
を、存在しないときにはその旨を、それぞれ表わす情報
であることを特徴とする、特許請求の範囲第１項記載の
計数はかり。 - 【請求項３】上記報知手段により報知される情報が、 あらかじめ設定された許容誤差確率ε（ε＞０）に対し
て、ｉ＝０についての確率P0が、 P0＞１−２ε を満足しているときには計数誤差無し、満足していない
ときには計数誤差有り、の旨を表わす情報であることを
特徴とする、特許請求の範囲第１項記載の計数はかり。 - 【請求項４】上記許容誤差確率εを、０＜ε≦0.05の範
囲で任意に設定し得るよう構成したことを特徴とする、
特許請求の範囲第２項または第３項記載の計数はかり。 - 【請求項５】上記変動係数設定手段は、 あらかじめ設定された有限複数個の係数CV1,CV2,…,CVM
（０＜CV1＜CV2…＜CVM）に対して、入力された被測定
物品の変動係数が CVj-1＜CV≦CVj もしくは ０＜CV≦CV1 または CVM＜CV である場合に、CVjもしくはCV1またはCVMをもって当該
物品の変動係数として設定するよう構成したことを特徴
とする、特許請求の範囲第１項，第２項，第３項または
第４項記載の計数はかり。 - 【請求項６】上記変動係数設定手段は、あらかじめ単重
の大きさに応じて段階的に設定されている複数の変動係
数から、上記単重算出手段により算出された単重に基づ
く係数を当該被測定物品の変動係数として採用するよう
構成したとを特徴とする、特許請求の範囲第１項，第２
項，第３項または第４項記載の計数はかり。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251779A JPH07113574B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 計数はかり |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62251779A JPH07113574B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 計数はかり |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0194223A JPH0194223A (ja) | 1989-04-12 |
| JPH07113574B2 true JPH07113574B2 (ja) | 1995-12-06 |
Family
ID=17227798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62251779A Expired - Fee Related JPH07113574B2 (ja) | 1987-10-06 | 1987-10-06 | 計数はかり |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07113574B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014219287A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 株式会社タニタ | 測定装置 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103033246B (zh) * | 2012-10-12 | 2014-11-12 | 浙江长兴众成电子有限公司 | 基于电子天平的硅片自动计片方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5725145A (en) * | 1980-07-23 | 1982-02-09 | Hitachi Ltd | Condenser mounting device for automotive ac generator |
| JPS5855821A (ja) * | 1981-09-30 | 1983-04-02 | Shimadzu Corp | 電子計数はかり |
| JPS61225619A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-07 | Shimadzu Corp | 電子計数はかり |
-
1987
- 1987-10-06 JP JP62251779A patent/JPH07113574B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014219287A (ja) * | 2013-05-08 | 2014-11-20 | 株式会社タニタ | 測定装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0194223A (ja) | 1989-04-12 |
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