JPH07112905B2 - 光学式スラブキヤツチヤ - Google Patents

光学式スラブキヤツチヤ

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JPH07112905B2
JPH07112905B2 JP61244303A JP24430386A JPH07112905B2 JP H07112905 B2 JPH07112905 B2 JP H07112905B2 JP 61244303 A JP61244303 A JP 61244303A JP 24430386 A JP24430386 A JP 24430386A JP H07112905 B2 JPH07112905 B2 JP H07112905B2
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ジョルジョ・ベルガミーニ
トンマーゾ・チプリアーニ
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ヌオボピニヨ−ネ・インヅストリエ・メツカニ−ケ・エ・フオンデリア・エセ・ピ・ア
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Publication date
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    • G01N33/36Textiles
    • G01N33/365Textiles filiform textiles, e.g. yarns
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    • B65CONVEYING; PACKING; STORING; HANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL
    • B65HHANDLING THIN OR FILAMENTARY MATERIAL, e.g. SHEETS, WEBS, CABLES
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    • B65H63/065Electronic slub detector using photo-electric sensing means, i.e. the defect signal is a variation of light energy
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    • B65H2701/00Handled material; Storage means
    • B65H2701/30Handled filamentary material
    • B65H2701/31Textiles threads or artificial strands of filaments

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光学式スラブキャッチャに関するもので、特に
ウインドウへの均一な照射、および光学測定ヘッドの汚
れ、熱ドリフトおよびエージングの有効な補償、並びに
周囲の光によって生ずる雑音の補償を与え、かつ信号の
正規化とそのハイブリットディジタル・アナログ処理を
採用することによつて、糸についての伝統的なチェック
のほか、実験室基準の糸特性を、糸の直径の平均値の百
分率のように平均面積偏差に等しくて“%VC"で表され
る直径の%変化係数、分光写真、または糸に生じている
不規則さのスペクトル分析、さらには糸に生ずる非常に
小さな周辺の不規則さ(モアレまたは木目模様)のよう
に、高い解像力および安定性によって決めることがで
き、したがってオープンエンド型の織機への適用に特有
な光学式スラブキャッチャに関する。
従来より、多少は縦に延びたスラブおよび/または直径
の減少のようなコーナーの代表的な糸の欠陥の検出に適
した多くの光学式スラブキャッチャが知られている。糸
の品質をより高めるための織工による熱心な要求が、開
端処理において、伝統的な織機の代表的なものより不完
全さが非常に低いレベルで発生される織技術上の連続的
な改良をもたらしており、そのために、より高感度なス
ラブキャッチャが要求されている。一方、開端におい
て、開端織りの代表的なものとして検出して排除しなけ
ればならない更なる欠陥がある。これらの中で最も代表
的で恐れているものはいわゆるモアレである。モアレは
局部的なスラブおよび直径の減少を生ぜしめて糸の品質
を著しく傷つけ、一定の距離で(周期的に)発生し、し
かも範囲が小さくてもやっかいな木目模様を生じてしま
うのである。
したがって、開端の代表的なこれら欠点の全てを検出す
るには、基本的に光検出器のウインドウを通る光をより
均一にし、熱妨害、汚れ、および劣化の有効な補償、並
びに外光に対する補償によって、現在の標準よりもかな
り高い測定の解像力、精度および安定度特性を有するス
ラブキャッチャが要求される。一方、モアレを取るに
は、信号をディジタル方法にて処理することによって、
モアレの検出だけでなく分光写真の検出、とりわけ織工
によって“%VC"として定義され、最も一義的な方法に
て糸の実際の品質、または不規則性の特徴を表す百分率
変化係数の検出を容易にさせる適当なディジタルフィル
タの装備も必要である。
従来のスラブキャッチャでは、ウインドウを通る測定光
を均一にするため、ウインドウの発光受光面の屈曲、光
ビームの均質ミラー上での反射、線および浮彫りを与え
ることによるミラーの反射の修正、および拡散フィルタ
または格子の挿入のような多種の手段および工夫が使用
されているが、これらはいずれも光ビームのエネルギを
減衰させて、信号対雑音比を悪くし、コーナーのスラブ
キャッチャには十分であっても、開端に要求される精
度、とりわけモアレおよび分光写真の決定のためのもの
ではない結果を与えている。
従来のスラブキャッチャの第2の欠点は、発光ダイオー
ドの放射光が温度によって変化することにより与えられ
る。
また受光素子も同じような欠点があるので、適当な部品
選択をし、両素子を同じ温度条件に置くことで成る補償
を得ることができる。
従来の幾何学的配置においては、しかし、送受光素子は
常に対向する側に設置されており、それらの距離のため
通電後の加熱過渡状態時に、あるいは外部放射のため、
2つの素子は温度が異なってしまい、相当の誤差を生ず
る結果となる。
このような誤差の範囲は、コーナーが要求する精度には
受け入れられるが、モアレの測定、ここでは高精度の測
定が必要な開端では、少しも受け入れることができな
い。
周囲光によって生ぜしめられる外部雑音を弱めあるいは
無くすことに関し、従来の手段では2つの問題、すなわ
ち、外部光によって生ぜしめられる雑音があるときはい
つも、ダイオードの適当でない使用のため、また信号が
非常に異なったレベルで到達する時に増幅回路が異なっ
た動的応答をするために、増幅器が飽和することと、直
径の測定信号に変動があることとの2つが解消されてい
ない。
現在の技術状況によれば、飽和現象を弱める手段はない
が、受光素子の前に置かれて発光素子が作動している赤
外線帯域とは異なったすべての波長を減衰させるような
フィルタを設置することはある。
市販品には、織機室に入ってくる直接または反射された
太陽光による閃光に耐え得る光学式スラブキャッチャは
ない。
集光されて増幅された信号は、いつも全体的な信号であ
るので、変調された信号に最適な第1増幅段の利得は、
明らかに非常に高いレベルの強さに達し得る光をも増幅
してしまう。糸の明らかな変化に関し、光雑音が存在す
る中での直径は、その光雑音の強さが弱い限りは、コー
ナーの代表的精度に対してきわどくないので、従来の装
置では修正されない。
劣化および熱雑音の両方の観点から汚れの補償および光
学的能率の問題に関して完全にアナログとした従来の装
置は、せいぜい、出力をゆっくりと変化させるすべての
タイプの劣化が、糸の直径のプリセットされた平均値に
相当する平均出力値を一定に保つように発光を適当に変
えることによって補償されるタイプの回路を備えてい
る。
代表的装置においては、非常に大きな時定数を有する積
分器が、信号と所望平均値との差を積分し、その出力は
セットされた発光レベルとして出される。
この提案の限界は、多少長い周期の直径変化の存在によ
っても常に放射光が変化してしまうこと、および、汚れ
を補償するに十分な動力学を達成する積分時定数の校正
を行うことの妥協が、たとえば直径がゆっくり変化する
ように挿入される引そろえ糸に装置を適合させるのと同
時には防止できないことである。
いずれの場合も、従来では、太さによるピークが一連の
ノップとして、すなわち必ずしも周期的でない連なりの
小さなスラブとして計算されるほど大きい時だけしか、
欠陥を生じせしめる木目ムラの検出は解決されていな
い。
この提案は、簡単な装置を使っては周期的減少およびス
ラブを検出できないので、すでに明白である時だけしか
木目ムラの発生を抑えることはできない。
したがって、従来の解決法では、木目ムラの発生を抑え
るために、糸の不規則に非常に狭い制限を与えるか、す
でに明白な木目レベルで不規則性を通すことができるよ
うにすることが必要である。
逆に、2つの測定をうまく切り離すことが織工の要求で
あり、この場合には単に見える木目レベルを妨げること
を断念することなく、比較的不ぞろいのものを受け入れ
ることができる。
木目、他の特性および糸の不規則性についてすでに予想
されているとおり、従来のアナログ手段は、或る測定を
行って、直径の平均値の百分率として二乗平均偏差によ
って数学的に定められた%VC変化率である不規則性の最
も正確な定義にほぼ修正されるだけである。
従来の解決法においては、この不規則性は測定されず、
恐らくは限界に対して比較されないが、ピーク、すなわ
ち測定した直径が予め定めた値を越えた回数はカウント
され、これらの回数が予め定めた値を越えた時不規則性
の過剰により停止が与えられる。
この従来の校正はしたがって木目ムラについても同様で
ある。しかし、たとえば所定レベルの不規則性の発生が
停止させられようとも、それらのレベルは%VCレベルと
一致しないし、更にその停止が起こらない時は、受け入
れられた糸について、%VCの実際の測定値は利用できな
いのである。
分光写真、すなわち糸に存在する不規則性のスペクトル
分析は、実験室装置によって目下なし遂げられる機能の
代表であり、糸のサンプルに分光写真を適用させるよう
にするには費用および複雑さがあり、全製品の実際の品
質を比較的良くは表さないのである。
スラブキャッチャについての直接の分光写真の計算は、
従来はアナログであるので行うことはできない。
各スラブキャッチャにこの問題を自動的に解決させるよ
うなマイクロプロセッサの利用可能性はない。というの
は、記憶装置のほか、演算の速度および複雑さがフーリ
エ係数の計算に要し、市販品で利用できかつスラブキャ
ッチャの制御に使用できる単一チップの校正およびコス
トと折り合いがつかないからである。
本発明の目的は、上記欠点を取り除き、そして、8ビッ
トマイクロチッププロセッサを最適な範囲で利用するこ
とによって、スラブキャッチャの代表的性質を改良およ
びより正確にするだけでなく、同スラブキャッチャに目
下実験室装置によってなし遂げられた製織ユニットの全
ての電子管理機能を集中させるような、またはアドホッ
ク設置装置によって除去しうるような新規光学式スラブ
キャッチャを提供することである。好ましくは、現装置
の高感度が予め定めたしきい値レベルを越える木目ムラ
を検出するだけでなく、その現象が初期のものではある
がまだ受け入れられる時の警戒レベルをも検出して、平
均時間内に停止させなければならない製織を除いてロー
タの清掃サービスの要求を生ぜしめて、製織プラントの
生産性を最大にすることを目的としている。
以下、添付図面に例示した本発明の好適な実施例につい
て詳述する。
図面のうちの特に第1図を参照すれば、以下の基本的な
機能ブロックが認識される。すなわち、 糸直径の測定のための光ヘッド1、 ディジタル・アナログ変換器を備え、発光素子の光りを
変調する光変調ユニット2、 周囲光および信号正規化による雑音を補償する雑音補償
ユニット3、 データ処理ユニット(中央処理装置)4、 タイマおよびシーケンス発生器5、 アナログ・ディジタル変換器6、 抵抗を有するスラブキャッチャ個性化ブロック7、 直列ラインへのインターフェースユニット8、 主ユニット9、 製織ユニット制御回路10、 他のスラブキャッチャを主ユニットへ接続する直列ライ
ン11、 木目ムラ検出ユニット12、 %VC不規則性検出ユニット13、 分光写真計算ユニット14、 自動ゼロ修正ユニット15、 直径(カウント)制御ユニット16、 単一直径計算ユニット17、 走行糸検出ユニット18、 個々の或る範囲のムラ(短かいムラ)検出ユニット19、 効率計算ユニット20、 ノップ、すなわち小さな周期性スラブの列を検出するノ
ップ検出ユニット21、 長さムラ検出ユニット22、 基準平均直径Dmをプリセットするユニット23、 スラブキャッチャアドレス処理ユニット24、 光ヘッドの光学系の過剰の汚れを検出する汚れ検出ユニ
ット25、 コーンの巻き取りがプリセットされた糸の長さになって
いることを検出する補充完了検出(糸長さ計算)ユニッ
ト26、 糸脱水ローラにキー止めされたインパルス発生器27、 減算ノード60、 が見られる。
スラブキャッチャは次のように作用する。
光ヘッド1の発光素子28からの光を変調する光変調ユニ
ット2は、その発光素子28に同じ発光および消光周期で
(互いに異ならせることもできる)パルス電流を供給す
るもので、タイマおよびシーケンス発生器5によって駆
動される。
発光電流31は自動ゼロ修正ユニット15によって決定され
たレベルに調整される。
自動ゼロ修正ユニット15は2つのチャンネル29,30によ
って光変調ユニット2に接続され、チャンネル29には発
光ダイオードの発光レベル31を増加させ、チャンネル30
には減少させるパルスをそれぞれ送出する。
発光された光は、内側に問題の糸34が走っている検出ウ
インドウ33を介して受光素子32へ伝えられる。
受光素子32によって受光された光量は、糸34の直径の増
加と共に、ウインドウ33の寸法に適合する最大直径まで
直線的に減少する。
受光素子32は電流発生器として作用するよう作られてい
るので、発生された電流は受けた光に比例し、ここでは
電流の変化は問題の糸の直径に比例する結果となる。
受光素子32によって供給された信号は、関連する雑音補
償ユニット3によって増幅され復調される。この雑音補
償ユニット3はまた、単一直径計算ユニット17によって
接続線35を介しディジタル的に制御される可変利得増幅
器によりこの信号の正規化を行う。
正規化されたアナログ信号、ここではスラブキャッチャ
によって処理すべき糸の可変直径を有する定数が、接続
線36を介して8ビットアナログ・ディジタル変換器6に
送られて、たとえば2.5mmの予め定めた糸の長さに相当
するサンプリング周期で、8ビットディジタル値すなわ
ち0〜256の範囲の数に変換される。
測定した直径に相当する数は、接続線38によってマイク
ロプロセッサ37の減算ノード60および単一直径計算ユニ
ット17にそれぞれ伝えられる。
スラブキャッチャの動作の第1のステップにおいて、定
格の直径が検出されると、単一直径計算ユニット17にお
いて、糸の64〜256メートルの範囲内で予め定めた糸の
長さにて読取った値の平均が計算される。
このステップにおいて、雑音補償ユニット3の可変利得
増幅器に対し、単一直径計算ユニット17により最も高い
利得に近い特定の構成が与えられ、平均単一直径をディ
ジタルの形で表現しているほか、検出値の平均に相当す
る数もまた2進ディジットの構成で正規化利得をも成し
ており、雑音補償ユニット3に特定の糸による正規化値
を得る目的に対して与えられる。
単一直径計算ユニット17にて計算された平均直径は、直
列ラインインターフェース8を介して主ユニット9に与
えられる。
主ユニット9は全てのスラブキャッチャからの平均直径
値を受けた後、この平均値を計算し、制御に使用される
この値を全てのスラブキャッチャに単一直径計算ユニッ
ト17を介して帰還し、雑音補償ユニット3の可変利得増
幅器の構成を駆動するのである。
平均直径を最終的に確かめた後、スラブキャッチャは、
減算ノード60において実施される基準平均値を表す値23
と測定された直径との差から開始することによって常に
動作開始する。
符号“+”または“−”を付けたディジットによって基
準直径との関連において誤差を表している前記差は、線
90によって、ムラの検出のための各種機能ユニットへ、
およびこの装置の動作に必要なサービスユニットへと伝
えられる。
サービスユニットから始めると、これらの第1のもので
ある走行糸検出ユニット18は、走行している糸の検出を
行う。
この走行検出ユニット18において、前記差の繰返し等し
い値は糸“停止”または“不存在”信号を発生させ、一
方、アナログ・ディジタル変換器6の不確定よりも大き
な値の複数のサンプルの前記差の変化性は、糸“走行
中”の信号を定める。
この糸“走行中”信号は接続線39を介してスラブキャッ
チング機能の全てを可能にし、糸長さ計算ユニット26を
も作動させる。
糸“停止”信号は、製織ユニットの効率のデータを処理
する効率計算ユニット20の不作動状態の時間のカウント
を可能にさせるために使用される。
第2のサービスユニットである自動ゼロ修正ユニット15
は、光ヘッド1における汚れの存在、発光素子28および
受光素子32の熱ドリフト、および光変調ユニット2の調
整回路や雑音補償ユニット3の復調増幅器の熱ドリフト
のような妨害の結果として起こるゼロの修正を行う。
動作機構は次のとおりである。
自動ゼロ修正ユニット15においては、基準直径からの偏
差を表している前記差の加算を16ないし32メートルの1
本の糸について行う。
このように長い糸では、前記差の平均値は、不規則性の
全てが一般に非常に短い長さを有しかつ製織ユニット供
給のスライバが非常に一定したカウントを有すると仮定
する限りはゼロとなるべきである。
そうでなければ、前記偏差の平均値の2〜3%に相当す
る比較的小さな値に対しては、上述の妨害によって生じ
た計器タイプの誤差による。
積分の終わりにおいて、前記ゼロ誤差の修正は自動的に
自動ゼロ修正ユニット15によって行われ、接続線29およ
び30によって光変調ユニット2を介し発光素子28の発光
レベルを増減する。
この結果を達成するには、16〜32メートルでの前記偏差
を積分した結果は、単一直径計算ユニット17によって発
生された信号の正規化の利得の逆数倍を乗ぜられ、その
目的のために接続線35を介して自動ゼロ修正ユニット15
へも供給され、得られた数は発光レベルを増減させるイ
ンパルスに変換される。
この装置の解像力および精度は、ゼロの自動再校正によ
って、見つけた誤差の正確な修復を可能にしている。
非常に長い糸のディジタル積分は、中間の長さでも直径
の変動がゼロ誤差として見なされること、ここでは不適
当かつ危険な修正がゼロ校正に行われることを防止して
いる。
この点について、偏差の前記平均の或る百分率値以上で
は、修正はもはや拡大されることはなく、前記平均の値
はさらに接続線40を介してカウント制御ユニット16に供
給され、ここで最大許容カウント偏差として定められた
限界と比較され、もし前記値を越えたならば、カウント
制御ユニット16から製織停止信号が発生され、接続線53
を介して製織ユニット制御回路10に供給されて、オペレ
ータ呼び出しすなわち警報を発生させる。
上述の動作の高度化、特にディジタル平均の使用および
ゼロの周期的かつ非連続的更新は、自動ゼロ再校正を有
するスラブキャッチャ装置の典型である、誤ったカウン
トを覚えるような欠点を遠ざけるように設計されてい
る。
上述の装置において、このようなことは、直径の変化が
糸の16〜32メートル毎に徐々にであって2〜3%に等し
いという非常に稀有な場合にしか生じない。
各サンプリングにおいて、平均直径からの偏差の値は、
次に木目ムラ検出ユニット12に供給されて木目の発生ム
ラの制御を処理し、これらの処理の後に、それぞれ接続
線56,55を介して製織ユニット制御回路10の管理回路に
送られる警戒信号すなわち製織停止信号を発生すること
ができる。他のユニットであるムラ検出ユニット19は、
平均直径からの偏差のサンプリングされた値に基いて、
或る大きさの個々のムラの制御を処理する。この処理の
結果は、ムラが限界を越えれば更に上の停止信号とな
る。
ノップ検出ユニット21は、常に平均直径からの偏差のサ
ンプリング値から開始することによって、一連のノップ
と名付けた小さな周期性スラブを停止信号の発生で制御
している。
その後は、%VC不規則性検出ユニット13において、平均
直径からの偏差のサンプリング値の二乗平均偏差が計算
され、これは、“%VC"として織機によって定められた
糸の不規則性の程度である“%変化係数”を表してい
る。
このユニットはまた過剰の不規則性による停止を発生す
ることもできる。
分光写真計算ユニット14はスペクトルを分析して、あら
ゆる波長におけるフーリエ係数の最も高い振幅レベルが
プリセットされた値を越えれば停止信号を発生すること
もできる。スペクトルレベルのプリセット値を越えるこ
とは、過剰の不規則性があること、および或る大きさの
木目タイプのムラがあることを意味している。
この終わりに、いくつかの補助機能または任意機能が他
のユニットにより上述の電子回路で作られた信号で実行
される。
これらユニットの第1のものであるスラブキャッチャア
ドレス処理ユニット24は、電源および接続線のコネクタ
50の固定部分に収容された抵抗型スラブキャッチャ個性
化ブロック7の中に設けられた2つの抵抗43,44の値の
検出から始めることによって、スラブキャッチャのアド
レスの処理を主ユニット9に対するスラブキャッチャの
相互接続用直列ライン11へ与える。
前記値は読取られ、アナログ・ディジタル変換器6によ
って数値に変換された後、汚れ検出ユニット25へ転送さ
れ、4ビットだけを使用することによって最も意味のあ
る2つの数値がスラブキャッチャの8ビットアドレスを
成している(したがって256個のアドレスが可能であ
る)。
第2のユニットである汚れ検出ユニット25は、光ヘッド
1の光学系の汚れおよび劣化の程度の検出を与える。
前記検出は光変調ユニット2によって達せられた発光レ
ベルの測定から得られ、接続線52を介してアナログ・デ
ィジタル変換器6に送られる。この動作原理は、汚れが
進めば進むほど放射光を増加させるので、放射光のプリ
セットされた最大レベルを、汚れ検出ユニット25によっ
てオペレータに清掃を要求(警報)する制限値として使
用することにある。
汚れ検出ユニット25によって発生された警報信号は、線
53を介して製織ユニット制御回路10の管理回路に与えら
れると共に、線54を介して主ユニット9へのインターフ
ェースユニット8に与えられる。
効率計算ユニット20は製織ユニットの不作動時間を加え
ていくことから始めて製織ユニットの効率の計算を行
う。
停止による不作動時間の和は、接続線55を介して製織ユ
ニット10の管理回路に伝えられて開端ロータの清掃およ
び糸の再結合を行うロボット車の自動作動に使われるも
ので、自動的に行えないようなサービスの全てに対して
オペレータを呼ぶことに相当する警報によって生ぜしめ
られる停止の和とは別個に形成される。
直列線へのインターフェースユニット8を介して主ユニ
ット9へ伝えられたデータは、車の効率、オペレータの
効率および全体の効率を校正させることができる。
この終わりに、糸長さ計算ユニット26は主ユニット9に
よってコアの補充完了に相当するメートル数にプリセッ
トされる。これは、コーンを完全に巻き戻したことに相
当するセットを行ってから行われ、走行中の糸の非常に
正確な長さに相当するサンプリング数は、コーンに補充
することに相当する数に達するまで、カウントされる。
この点において、“コーン巻き戻し”信号が発生され
る。
次いで、本発明の具体例の好適な形によれば、前記光ヘ
ッド1は実質的にU字形に形成され、Uの先端に設けた
発光素子28より放射された光ビーム47のガイドとして作
用するプラスチックまたはガラスのブロックによって構
成される(特に第2図参照)。前記光ビーム47は45゜に
傾けて位置された2つの滑らかな反射表面48,49におい
て2度反射され、糸34の検出の光学ウインドウ33を通過
後、糸の直径に逆比例して強さの変化する光ビームが、
Uの他方の先端に位置された受光素子32に到達する。受
光素子32は発光素子28と共にブロック51内に埋設され
て、2つの素子の温度を等しく保てるようにしている。
このような実施例は2つの主な問題、すなわちこのタイ
プの構成要素の特徴である、糸34を通過させる測定ウイ
ンドウ33の照明光の直線性および均質性と、発光素子28
および受光素子間の温度差による妨害の最小化との2つ
の有効な方法で解決している。
事実、2回の反射は光線の混合の影響を最小にでき、そ
れ故光ビームの均質化が達成される。この均質化は長い
光路によっても高められ、ブロックの壁46に光線が反射
することによって放射光が弱められる縁部において光ビ
ームを強化する役目もする。
均質化は更に光エネルギの損失がないので、装置の効率
に悪影響を及ぼすことはない。
他方、発光素子28および受光素子32を互いに非常に接近
させることは、それらを常に同じ温度を有するようにさ
せ、ブロック51は同じ方法にて素子28および32の両方に
温度変化を作用させることを保証することになる。
次いで、本発明の更なる特徴によれば、第3図に見られ
るように、周囲光雑音および信号正規化の雑音補償ユニ
ット3は受光素子(フォトダイオード)32より発せられ
た信号の復調を与えるもので、増幅器57に接続され、純
水な、すなわち短絡された電流発生器を作動させ、受光
された光と電流との最も高い直線性を得るようにしてい
る。
受信信号の傾向は第4図に示され、曲線58によって示さ
れている。
第4図において、不連続線59も示され、発光素子(発光
ダイオード)28に供給される電流の脈動を表している。
発光素子28においては、発光は周期的にゼロまで落とさ
れ、一方、発光素子32は、最小点がゼロ値でなくゼロレ
ベル61より高い信号を供給する。これは周囲光によるも
ので、信号の連続成分レベルをかなりの範囲まで上昇さ
せる妨害を与えている。このタイプの妨害によって増幅
器57が飽和しないようにするため、前記連続信号の減衰
装置が本発明によって用意される。この減衰は信号の動
的特性を悪くすることなく、曲線58で示されそのピーク
点62に得られた信号値から最小値63を引き算する構成を
とることによって行う。
この装置は最小点63にある信号58をゲート64およびコン
デンサ65を介してサンプリングすることから成り、その
サンプリングは線125を介してゲート64に作用するタイ
マおよびシーケンス発生器5のコマンドに基いている。
この信号は増幅器57へ正帰還で一定レベル61として与え
られ、シフトダウンの結果、第4図に見られるように、
増幅器57からの信号である曲線66により飽和されないよ
うになる。
コンデンサ67を介して残留直流成分69から完全に解放さ
れた信号は全て、ダイオード68によってゼロより上に上
昇されるので、ゲート70およびコンデンサ71によって構
成される装置は、常にゼロより高い値を有する信号をサ
ンプリングすることができる。
このサンプラは、接続線126を介して作用するタイマお
よびシーケンス発生器5によるコマンドに常に基いて、
その信号をその最も高いレベル62にし、一方、増幅器72
は本発明の回路的工夫により、周囲光の妨害によって生
ぜしめられる前記信号の代表的な誤差を修正するのを可
能にする。
前記誤差は受光素子32の明らかな非直線性のとおりに常
習的に発生するが、実際には信号の精密な処理の機能に
よるものである、周囲光の妨害の強さが大きくなった
時、検出した糸の直径が減ることに相当する変調の増加
を含んでいる。この誤差の除去は、増幅器72の入力であ
るノード73に、コンデンサ65にサンプリングして入れら
れた電圧の一部を加えることによって得られ、その電圧
はポテンショメータ74の校正による周囲光妨害のレベル
の一部を表している。
この校正の最適値は、スラブキャッチャに異なったレベ
ルの防害光を受けさせることにより、またポテンショメ
ータ74への修正で増幅器72からの出力の変動を最小化す
ることにより得られる。
増幅器72からの出力は、第3図に見られるように、更な
る反転増幅器75に供給される。この反転増幅器75は、そ
の帰還路に並列に接続してその利得を増加させる抵抗76
を備えている。
この抵抗76には、順次単一直径計算ユニット17によって
接続線35を介してコマンドを受けるゲート77が挿入され
る。そのコマンドは、挿入される抵抗の組合せに従って
増幅器75の利得をディジタル的に表したものである。
本発明の特徴によれば、前記抵抗の値は一連の2の累乗
とする倍加則によって互いに関連され、この結果、この
増幅器の利得の逆数は挿入された抵抗の配列に相当する
2進数に直線的に比例する。この特徴を有する増幅器75
は、実際上、入力信号を校正単一直径に比例した数での
除算を行うので、測定した糸直径を表しているこの増幅
器からの信号を、プリセットされた単一直径との関連に
おいて一定にしている。
それ故、スラブキャッチャの単一校正直径に比例する数
に従って前記抵抗76をプリセットすることによって、校
正直径との関連において測定した直径の%値を常にプリ
セットする信号、つまり正規化された信号が得られる。
本発明の更なる特徴によれば、前記増幅器75の基準電圧
はゼロと異なる値にセットされるので、測定した直径が
ゼロであって糸の不存在に相当している時の出力信号
は、ゼロではない。
したがって、この信号がゼロであれば、この信号は負の
直径を表すことになり、その物理的意味はこの方法で検
出できる回路の校正ミスにすぎない。
前記信号は接続線36を介してアナログ・ディジタル変換
器6に与えられ、これを前記正規化のために糸の不存在
に相当して常に取られる数に周期的に変換し、また糸が
挿入されている時は単一校正直径に正確に等しい直径を
有する数に周期的に変化する。減算ノード60において、
入力信号から、単一直径に相当した前記数に等しい固定
値23が減算され、そのノードからの出力には、前記単一
直径から測定された直径の偏差のサンプリング値が使用
可能にされる。
本発明の更なる特徴によれば、自動ゼロ修正ユニット15
はゼロ校正の修正を与えて、前記偏差が平均糸直径に関
係づけるようにされる。
第5図の回路図には、自動ゼロ修正ユニットからの信号
の処理が示されており、入力としては、前記偏差のサン
プリング値および増幅器75でプリセットされた利得の逆
数値があり、出力としては、2つの信号、すなわち光ヘ
ッド1の発光素子28の電流レベルを増加させる信号29お
よび減少させる信号30がある。
ゼロの修正は光放射のレベルの修正を通して行う。
この修正は、周囲光防害の補償ユニット3および発光素
子の光変調ユニット2に含まれた回路の熱ドリフトのほ
か、光ヘッド1の光学ウインドウ33における汚れの堆積
の可能性により、放射光を導くプラスチック材料の経時
変化により、発光素子28および受光素子32の劣化および
熱ドリフトにより必要とされる。
ゼロの自動校正の機構は積分タイプの作用によってユニ
ット15への入力信号のゼロ調整に基いている。
積分は、非常に長い糸の長さ(例えば16〜32メートル)
に等価なサンプルの数についてカウンタ78により偏差の
サンプリング値に基づいてディジタル的に行われ、短か
い長さおよび中間の長さでの直径変化から生ずる偏差の
平均を表している得られた最終値によって影響されない
ようにし、更に発光において、積分完了時でこれに続く
修正は何ら与えられず、ゼロの修正がカウント誤差によ
る平均直径の実際の変化の検出を妨げるのを防ぐための
チェックだけを続けるようにしたことが、本発明の1つ
の特徴である。
このため、カウンタ78によって行われる加算の結果は、
予め確立された限界79と比較され、この場合においての
み、その限界は越えられることはない。平均偏差の値の
乗算器81への転送はゲート80を介して行われ、その値は
増幅器75の利得の逆数倍される。
前記限界以上は、汚れのような妨害に起因されるサンプ
リング偏差の平均の小さな偏差をカウント誤差に起因さ
れる妨害から弁別する作用をする。
第1のタイプの偏差の場合のみにおいて、前記偏差の正
確なゼロ調整を得るために平均偏差を増幅器75の利得の
逆数倍することにより、これに対し前記修正を確実にす
るためには正規化された偏差値から開始することによ
り、修正が行われ、しかも正確に得られる。
前記乗算の結果の数値は、符号弁別器82により、偏差の
平均の符号の関数として2つのチャンネル29,30への1
組のインパルスに変換される。
前記偏差の平均はまた接続線40を介して直径(カウン
ト)制御ユニット16へ送られ、ここでオペレータが校正
可能な限界値と比較されてカウントの誤差から生ずる警
報信号を作り、また、%VC不規則性検出ユニット13にも
送られ、ここでは前記変化係数%VCの計算をより正確に
する目的に使用される。
本発明の更なる特徴によれば、ディジタル・アナログ変
換器を有する光変調ユニット2は前記1組のインパルス
をアナログレベルの電圧に変換し、これには発光素子28
へ供給される決められた電流レベルが対応している(第
6図参照)。ディジタル・アナログ変換器の機能は増幅
器83による積分回路によって実施され、出力レベルの増
減はそれぞれチャンネル29および30によって駆動される
ゲート84およびゲート85によって生ぜしめられ、ゲート
84,85の中間点は前記積分回路に接続される。この積分
回路はゲート84,85に与えられる電圧の中間電圧に固定
された自身の基準を有している。
この変換器によって達成される高い解像力は、自動ゼロ
修正ユニット15によって計算されたインパルスの数が大
きく変化することによって必ず得られ、ゼロの誤差の正
確な修復を得ている。
この変換の結果は、本発明の特徴に従い、接続線52によ
って監視のためにアナログ・ディジタル変換器6に与え
られ、光ヘッドの汚れ検出ユニット25によって光ヘッド
1の過剰の汚れが検出されると、警報信号が発生され、
オペレータのサービスを要求する。
本発明の特徴に従って、前記ディジタル・アナログ変換
器の介在する範囲を広げて非常に高い汚れレベルを得る
ようにするため、発光素子28に供給する電流を調整する
増幅器88への入力ノード86に1組の抵抗87を接続してあ
る。この抵抗にはデータ処理ユニット4の多くの論理出
力が接続され、いくつ挿入するかに応じて発光素子電流
調整信号をシフトアップすることができる。
最後に、接続線61およびゲート89を介してタイマおよび
シーケンス発生器5により駆動される発光素子28の逐次
ONおよびOFFによって光の変調が得られ、周囲光防害の
影響は回路3によって除くことができる。
本発明の他の特徴によれば、木目ムラ検出ユニット12は
第7図のブロック図によって構成される。
この回路図において、入力は、接続線90から得られた平
均直径からのサンプリングされた偏差値を成している。
前記サンプリングされた偏差値は、シーケンサ95の接続
線94を介して駆動されるシーケンスに従って多数の積分
カウンタ91において加減算される。シーケンサ95はまず
Z個の逐次サンプリングした値の減算を、次いで動作を
行わない“待ち”を周期的に与え、その“待ち”はロー
タの1回転に相当する、すなわちロータの内径を展開し
たものに必ずしも等しくない糸の長さを通過した後、減
算サイクルを再び開始するサンプルグ数の期間である。
各積分器91において、シーケンスは前のZ個のサンプル
のシーケンスに関し位相がずれて開始し、前記積分器の
数はステップごとのサンプル数Zに、およびサンプリン
グの損失をなくし糸の全長を制御するためロータの直径
を展開したものに基いて決められる。
前記シーケンスは数メートルの糸の長さで繰り返され
る。
前記シーケンスの終わりに、各カウンタの出力は2つの
比較ノード92,93に与えられ、ここで木目ムラ受け入れ
不可レベルに相当する木目警戒しきい値94,95とそれぞ
れ比較される。
しきい値限界を越えるいずれの場合も、接続線56に沿っ
て木目警戒信号が、または接続線55に沿って機械停止信
号がそれぞれ発生され、製織ユニット制御回路10へ送ら
れる。
第7図の回路によって実行される機能の説明は、この回
路をディジタルフィルタとして定規され、フーリエ係数
の計算式の条件から得ることができる。
フーリエ係数は以下のとおりである。
ここに、λは既知波長であり、信号f(x)の振幅の内
容はテストした糸の直径な関数を表している第8図の曲
線97である。フーリエ係数は係数aλとしてサーチさ
れ、式(I)を条件付けることによって、すなわち積分
に微分dx、ここではλ/2に等しい最終値Δxを指定する
ことによって、本装置の目的に近いが十分である結果に
より計算することができる。
この方法で、第8図を見ると、項 の曲線98は値“−1"または“+1"を付けることができ、
積分、この場合は関数f(x)は λ/2Z に等しい糸の長さ毎のサンプリング関数であり、符号
“−”または符号“+”の不連続線99と共に前記サンプ
ル108の加算をするようになり、λ/Zの糸の長さ、すな
わちZ個のサンプル毎に計算されるようになる。
上述の計算式は本発明の特徴に従って次式のようにす
る。
木目ムラの形成において(第9図)、開端のローラの汚
れの固まりが糸100に小さな減少103、そして局部的なス
ラブ102を生ぜしめることを観測することから始まる。
スラブの調和定数は波長λ=πDとする曲線101であ
る。ここに、Dは開端のロータの直径であって、面積10
4,105との関連において区域102,103に相当する面積の比
の小さな値によって明らかにされるとおり非常に小さい
ものであり、本発明の特性によれば、その検出を得るた
めに、2Z個のサンプルに相当する小期間(不連続線10
6)によって信号の積分を実施する工夫が使用され、そ
の積分は或る期間中断され、周期的に再開始され、全体
的にはn回反復される。
このフィルタと完全に同相でムラが発生し、その回数n
が十分に大きい、代表的には16回であれば、その結果
は、それらの初期の段階においてムラを検出できる非常
に感度の高いものとなる。
本発明の目的は位相の問題を解決する方法にもある。デ
ィジタルモードで動作させることによって、複数の積分
器は並列に動作させられ、それらの全ては、全波長λ=
πDをカバーするまでZ個のサンプリング周期によって
互いに相対的に位相がずらされている。
積分器の夫々は式(II)の演算を実行し、そのうち最も
高い結果を与えるものは、(a)位相の合った積分器で
あること、および(b)得られた結果はムラのだいたい
の大きさを表していること、を定めている。
見つけたその結果aλmaxは2つのしきい値、すなわ
ち、織機停止を要求する受け入れ不可の高い木目レベル
と、すでに検出可能な受け入れ可能の低い木目レベルと
を表すしきい値と比較され、織機運転を可能にさせる
が、ロータの清掃がこの目的のためのユニットの最初の
横移動時に要求される。
木目警戒と名付けた第2しきい値の存在、およびそれを
正当化するに十分正確な結果を達成するために開発され
た方法は、本発明の特徴でもある。
ムラの大きさの計算の近似値は、分光写真計算ユニット
14に要する方法を必要とし、第2の積分器を、位相を
Z′/2個のサンプル分だけずらして(第9図の波形109
参照)その積分器の夫々に関連して動作させ、2つの積
分器から得られた2つの係数aλおよびbλの法に相当
する項 を計算することから成る。前記2つの積分器はフーリエ
によるサインおよびコサインに関連した90゜の位相でサ
ンプリングを実行し、積分器の位相との関連においてム
ラの正確な大きさをその位相から独立して与える。
ムラの検出に関し、これは必ずしも必要なものではな
い。というのは、理論的サンプリング周期πDと実際の
糸の滑動との間の小さな位相が、積分器の1つを急速に
同じにする仕事、ここでは木目信号を検出する仕事を満
足させているからである。
検出の速さに関し、サンプリング周期がたとえば16、値
πDがたとえば約0.2mのとき、この装置に対し、木目の
値を検出する目的において、たとえば3.2mの検査で十分
であり(πDの関数としてたとえば±0.1〜0.3mの範囲
内で変化する)、信号が同相でない場合、従来では、フ
ーリエから得られるディジタルフィルタを使用せず、非
常に高い木目レベルを検出するためには30〜50メートル
の長さの糸の分析を与える検査が必要である(本発明よ
り1桁長い長さが必要)。
この特徴は本発明にとって重要なものである。というの
は、従来のスラブキャッチャを使用して得られたものよ
りプラントの理論的効率が優れているからである。
この差は、本発明によって、木目発生を停止後、わずか
2〜3mの糸がコーンに巻回され、オペレータのサービス
を要せずに自動ロータ清掃の普通の動作の間に除去する
ことができることにある。
従来のスラブキャッチャでは、停止後において、コーン
に巻かれている糸の量は30〜100mにもなり、オペレータ
だけによってしか自動的には除去できない。
目下、自動的に除去できない全てのタイプのムラのた
め、オペレータによるサービスを増やすことで、オペレ
ータ当りの製織ヘッドの数が減るようになり、いずれに
してもオペレータ当たりの生産性が低くなる。
本発明の他の特徴によれば、%変化係数%VCの形で不規
則性の検出を与える%VC不規則性検出ユニット13は、第
10図に示したような回路ブロックによって構成されてい
る。
入力値の二乗まで高めるカウンタ127は2つの信号を受
ける。その一方の信号は、接続線90に沿って減算ノード
60から来る、平均直径からの偏差値を成している。減算
される他方の信号は、接続線40を介して受ける自動ゼロ
修正ユニット15で計算されたと同じ偏差の値の平均で構
成され、 の減少率で演算子128において乗算されたものである。
加算構成の動作は150mの糸に相当するサンプルの数に及
び、その後、カウンタ127からの結果は受け入れ可能な
%VCの最大限界レベルと比較され(130)、その限界レ
ベルを越えると、%VC過剰による停止信号を発生し、接
続線50によって製織ユニット制御回路10へ伝えられ、一
方、この出力値は接続線54に与えられ、直列ラインへの
インターフェースユニット8によって主ユニット9へ与
えられる。
上述の動作に関し、図示の回路が選択したアルゴリズム
は理論的に であり、これは平均偏差の計算に相当する。
カウンタ127において、各サンプリングには二乗した偏
差の値が150mに相当するサンプルの合計の代りに加えら
れる。
この終りにおいて、合計が利用可能となり、その平方根
は求められない。というのは、サンプルの数を限界値12
9の二乗倍する計算は2つの数を比較できるようにする
目的と等価であり、演算の負担を軽減しているからであ
る。
これに対し、大きな計算容量を有する主ユニットにおい
て、データは正規化され、平方根が、変化係数の百分率
(%VC)として理論データを表示しかつ製造全体で平均
値にするために、求められる。
本発明の特徴によれば、自動ゼロ修正ユニット15によっ
て定められた長さに関して処理された平均偏差の値を 倍したもので減算する回路は、%VCの計算を正確なもの
にしている。
スラブキャッチャの動作の間、実際には、標準の値が汚
れ、熱ドリフト等による小さな誤差によって妨害され、
その誤差はそれぞれ定められた糸の長さの所で、放射光
を修正することを通して、平均直径探知回路により回復
されている。
前記誤差は%VCの計算をゆがめることになる。上述の付
加回路はこの誤差を、ゼロのシフトが時間と共に直線的
であるという仮定のもとで正確に除去し、一方、乗数 証明は省くが、偏差の平均の積値および前記偏差の二乗
平均の明白な数学的関係により同次のものとなり、これ
から前記積分値が予め二乗した後減算される。
本発明の特徴によれば、分光写真計算ユニット14が第11
図の回路機能図に従って設けられている。
2つの積分器カウンタ111,112はそれらの入力に平均値
からの偏差のサンプリング値を受ける。これらは接続線
90に沿って減算ノード60から、シーケンサ115によって
次々と使用可能にされる4つのゲート113,113′,114,11
4′により確保されたシーケンスに従って来る。演算子1
16は2つのゲート113,113′それぞれに入ってくる信号
の符号を変えるもので、上記ゲートに対応して、サンプ
リングされた値はカウンタの内容から減算されることに
なる。
この動作の適当なシーケンスの終わりにおいて、カウン
タ111,112からの出力は2つの割算器117に送られる。割
算器117は、結果を得られたサンプルの数および因子0.4
5によって除すことにより、偏差のサンプリング値と同
じスケールに正規化し、これにより2つの値はサインお
よびコサインにおいて2つのフーリエ係数に等しいもの
が得られる。
その値の出力はそれらを二乗する2つの演算子118への
入力として供給され、それらの各出力は加算ノード119
にて加算され、そこから2つの係数の二乗が行われるの
である。
二乗された係数は接続線54およびインターフェース8を
介して主ユニット9へ送られ、更に比較ノード120によ
って周期的不規則性の限界を表わしているしきい値121
と比較され、それを越えると、この回路は接続線55によ
り停止信号を発生する。
第11図に示した回路のスペクトル検出器のような動作お
よび簡単な手段によって達成される近似の程度の証明に
ついての説明は、この装置の特徴であるいくつかの単純
化および仮定を前提としている。
第1の単純化は、調和内容が調べる糸を通じて一定であ
ると仮定していることであり、このため1つの周波数、
すなわち同時に1つの波長の分析をも逐次行うことが可
能なのである。
この近似は、たとえ科学的観点から正確でなくとも、糸
の品質を定めるのによく受け入れることができる。実
に、150mの1本の糸のサンプルの調和内容を平行して調
べることにより現在施行中の基準に従って作られる完全
な分光写真は、本発明の分光写真を有する一束の大きな
糸の品質を更に良く表している。本発明は各波長で定め
た糸の長さに関しているが、コーンの長さを通して連続
的に繰り返すことができ、更に基準より優れた最終表示
によって結果を平均化することができる。
第2の単純化は、対数目盛上で一定のピッチを有するよ
うな均一分布に従わないが、1つの波長と他の波長とに
またがって感度が一定でない分布となるようなサンプリ
ング周期の倍数には従った、調べようとする波長の決定
の単純化である。
また、この仮定で生まれた近似については、前のことに
ついて言ったことが正確と思う。
%VCの計算、分光写真についてフーリエ係数の演算のた
めの式の条件に関して言ったことは当然のことであり、
第8図に示した以上の改善が導き入れられた。
スペクトルの場合、フィルタの位相との関連において不
規則の位相が未知であるので係数を作るべきであり、 から係数を減らすためにはフーリエのaλおよびbλ
両方を計算しておくことが必要である。
第8図のディジタルフィルタを使用することによって、
たいしたことはないにしても、一定の係数があれば、関
数“r"は位相を関数とした変数なのである。
これに対し、第11図に示したフィルタは、第12図の線12
2,123で示した符号と共に2つのカウンタ111,112の加算
を行うことによって、調べられた信号の実際の係数に正
確に等しい、信号位相の変化を伴うr関数の定数が得ら
れる結果に到達する。
このフィルタにおいて、波長λは4Zmに等しい。ここ
で、Zは各位相のサンプル数、mは1つのサンプリング
に相当する長さである。
フィルタの波長λは、たとえば64個のZの値を得るよう
な表に従って増えるZ値に4cmないし64mの範囲の波長を
与えることによって得られる。
本発明の限定しない特徴によれば、特に長さに m=2.5mm を設定することにより、Zの値、位相当たりのサンプリ
ング数、それに関連するフィルタの波長(cm)の数値的
一致を得ることができる。
係数の計算式は以下の式とする。
nの選定に関し、nを増やせば選択度も向上するが、或
る限界までしか増やすことはできない。というのは、波
長λのシーケンスは離散的なものであり、ムラの実際の
波長が表にされた2つの波長の中間にあれば信号を拾え
ないことになるからである。
織物工業の実際の要求では、nは8付近(たとえば6〜
10)に選択されるべきである。
正規化係数2.22/4nZは係数2.22を含んでおり、その逆数
0.45は第12図の面積125に対する面積124の比である。ま
た係数に含まれている4nZはサンプリングの総数であ
る。
基本的に、正規化のこの係数により、フーリエ係数は偏
差のサンプリング値と同じスケールで得ることができる
ので、その証明は省く。
本発明の最後の特徴は、第11図に示したように、フーリ
エ係数に最大限界をあたえる装置によって構成される。
この装置は、木目ムラ検出ユニット12との関連において
分光写真の処理の間或る強さの木目タイプのムラを停止
させるに有効な木目ムラの選択的さえぎりを可能にさ
せ、この場合には特別な木目ムラ検出ユニット12を並列
に動作させることは不可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は直列の通信ラインと関連されそのラインには他
の全てのスラブキャッチャ、主ユニットおよび製織ユニ
ット制御回路が接続されている本発明によるスラブキャ
ッチャのブロック図、第2図は第1図のスラブキャッチ
ャの光ヘッドの横断面図、第3図は第1図のスラブキャ
ッチャの周囲光による防害および信号正規化のための雑
音補償ユニットの回路図、第4図は第3図の雑音補償ユ
ニットの動作に関するチャートを示す図、第5図は第1
図のスラブキャッチャの自動ゼロ修正ユニットの回路
図、第6図は第1図のスラブキャッチャのディジタル・
アナログ変換器付光変調ユニットの回路図、第7図は第
1図のスラブキャッチャの木目ムラ検出ユニットの機能
図、第8図および第9図は第7図の木目ムラ検出ユニッ
トの動作に関するチャートを示す図、第10図は百分率変
化係数%VCの不規則性検出ユニットの回路図、第11図は
分光写真計算ユニットの回路図、第12図は第1図のユニ
ットの動作に関するチャートを示す図である。 1……光ヘッド、2……光変調ユニット、3……雑音補
償ユニット、4……データ処理ユニット(中央処理装
置)、5……タイマおよびシーケンス発生器、6……ア
ナログ・ディジタル変換器、7……スラブキャッチャ個
性化ブロック、8……インターフェースユニット、9…
…主ユニット、10……製織ユニット制御回路、11……直
列ライン、12……木目ムラ検出ユニット、13……%VC不
規則性検出ユニット、14……分光写真計算ユニット、15
……自動ゼロ修正ユニット、16……直径(カウント)制
御ユニット、17……単一直径計算ユニット、18……走行
糸検出ユニット、19……ムラ検出ユニット、20……効率
計算ユニット、21……ノップ検出ユニット、22……長さ
ムラ検出ユニット、23……基準平均直径プリセットユニ
ット、24……スラブキャッチャアドレス処理ユニット、
25……汚れ検出ユニット、26……糸長さ計算ユニット、
27……インパルス発生器。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭53−81742(JP,A) 特開 昭54−6935(JP,A) 特開 昭56−108664(JP,A)

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】(a)糸の製造を制御し糸の特性を定める
    のに使用される糸の直径に比例したアナログ信号を供給
    するための糸の直径を測定する光ヘッド; (b)前記光ヘッドに接続され、前記アナログ信号を増
    幅し復調し正規化する雑音補償ユニット; (c)前記雑音補償ユニットに接続され、前記アナログ
    信号をディジタル信号に変換するアナログ・ディジタル
    変換器; (d)前記光ヘッドに接続され、この光ヘッドにパルス
    電流を供給する光変調ユニット; (e)前記光変調ユニットに接続され、この光変調ユニ
    ットを駆動するタイマおよびシーケンス発生器; (f)前記光変調ユニットと前記タイマおよびシーケン
    ス発生器に接続され、データを分析してスラブキャッチ
    ャの作動を制御する中央処理装置; (g)前記中央処理装置に接続され、糸の基準平均直径
    をプリセットする基準平均直径プリセット装置; (h)前記中央処理装置に接続され、測定した糸直径を
    前記基準平均直径との誤差を計算する減算ノード; (i)前記中央処理装置に接続され、スラブキャッチャ
    の部分を同期させるカウント制御ユニット;および (j)前記中央処理装置に接続され、糸の単一直径を計
    算する単一直径計算ユニット を包含してなることを特徴とする、オーブンエンド型の
    製織ユニットのための光学式スラブキャッチャ。
  2. 【請求項2】前記光ヘッドは光線の二重反射を許容する
    材料のU字形ブロックによって構成され、発光素子およ
    び受光素子はこれら素子の温度を等しく保つように前記
    Uの両端部に埋設されていることを特徴とする特許請求
    の範囲第1項記載の光学式スラブキャッチャ。
  3. 【請求項3】前記雑音補償ユニットは (a)前記光ヘッドに接続された電流源増幅回路; (b)前記電流源増幅回路に接続されてこの電流源増幅
    回路からの増幅信号をサンプリングし、前記増幅信号を
    前記電流源増幅回路に正帰還で供給するチョッパ; (c)前記チョッパに接続され、周囲光により生ずる変
    動を無くす増幅器;および (d)前記増幅器に接続された反転増幅器 を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
  4. 【請求項4】前記光変調ユニットは (a)ディジタル・アナログ変換器として機能し、予め
    定めた電圧値で有極化され、かつ、直列に接続され前記
    有極化される電圧の2倍の値の正電圧を受ける2つのゲ
    ートの中間点が接続されている積分回路; (b)前記積分回路に接続された前記光ヘッドへの供給
    電流のレギュレータ;および (c)前記積分回路の入力レベルを有極化し、一側を加
    算ノードに接続されるとともに他側を前記中央処理装置
    に接続されている1組の抵抗 を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
  5. 【請求項5】前記中央処理装置に接続された木目ムラ検
    出ユニットを更に包含し、この木目ムラ検出ユニットは (a)前記減算ノードで計算した平均直径からの偏差の
    サンプリング値が送られる一連のカウンタ;および (b)前記カウンタが連続するサンプリング値の所定数
    を加算し、次いで連続値の同じ数を減算し、これらの動
    作をロータの1回転の間に巻き戻される糸の長さに一致
    する予めセットされた周期で繰り返しかつ予め定めた回
    数だけ前記サンプリングを繰り返し、各カウンタが連続
    サンプリング値の所定数に等しい遅延を前のカウンタと
    の関連において行うことができ、その出力が木目ムラの
    警戒または停止をそれぞれ発生させることに相当する2
    つのしきい値と比較されるように、前記一連のカウンタ
    を制御するシーケンサ を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
  6. 【請求項6】前記中央処理装置に接続された%VC不規則
    性検出ユニットを更に包含し、この%VC不規則性検出ユ
    ニットは (a)平均値からの偏差のサンプリング値の第1入力信
    号を受けるカウンタ; (b)プリセット値の倍数を表す減算される第2入力信
    号を前記カウンタに与え、平均直径からの偏差のサンプ
    リング値の直線平均を糸の所定の長さで行う乗算手段;
    および (c)糸の所定の長さに沿った値の二乗の和を表す前記
    カウンタの出力を受け、このカウンタの出力をしきい値
    と比較して%VC不規則性の超過により停止信号を発生さ
    せる比較器 を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
  7. 【請求項7】前記中央処理装置に接続された不規則性の
    分光写真を処理する分光写真計算ユニットを更に包含
    し、この分光写真計算ユニットは (a)2つにはNOT素子が接続されている4つのゲート
    を介して平均直径からの偏差のサンプリング値が与えら
    れる2つのカウンタ積分器; (b)各々が前記カウンタ積分器の1つに接続され、検
    出したサンプリング値の総数に比例した一定値で除算を
    行う2つの割算器;および (c)各々が前記割算器の1つに接続され、各割算器の
    出力を二乗する二乗器であって、二乗器の出力を互いに
    加算し、その和を、予め定めた限界値と比較して不規則
    性過剰の場合に製織を停止させる比較器へ供給するよう
    にした二乗器 を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
  8. 【請求項8】前記中央処理装置に接続された自動ゼロ修
    正ユニットを更に包含し、この自動ゼロ修正ユニットは (a)前記カウント制御ユニットに接続され、平均直径
    からの偏差のサンプリング値が与えられるカウンタ積分
    器; (b)単一直径計算ユニットに接続された乗算器に前記
    カウンタ積分器を接続するゲートに接続され、前記サン
    プリング値の全ての和を予め定めた長さに関して限界値
    と比較する修正比較器; (c)前記乗算器に接続された符号弁別器;および (d)前記符号弁別器に接続されたディジタル・アナロ
    グ変換器 を包含してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光学式スラブキャッチャ。
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Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3732513C2 (de) * 1987-09-26 1996-07-18 Schlafhorst & Co W Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Prüfen von Stapelfasergarn
DE3803353A1 (de) * 1988-02-05 1989-08-17 Truetzschler & Co Vorrichtung zur gewinnung von messgroessen, die der dicke von in der spinnereivorbereitung anfallenden faserverbaenden, z.b. kardenbaendern o. dgl. entsprechen
US5119308A (en) * 1988-08-26 1992-06-02 Murata Kikai Kabushiki Kaisha Control system for spinning machine
JP2974149B2 (ja) * 1989-06-23 1999-11-08 株式会社日立製作所 光ピックアップによりデータの記録および再生の少なくとも一方を行う装置
CH681462A5 (ja) * 1989-08-31 1993-03-31 Zellweger Uster Ag
DD292076A5 (de) * 1990-02-08 1991-07-18 Textilmaschinenbau Grossenhain Bfsr,De Verfahren zur opto-elektronischen ueberwachung fadenfoermiger materialien
FI88828C (fi) * 1991-02-06 1993-07-12 Valmet Paper Machinery Inc Foerfarande och anordning vid fotoelektrisk identifiering av en materialbana
IT1248072B (it) * 1991-06-17 1995-01-05 Tiziano Barea Metodo per lo stato di un filo alimentato ad una macchina tessile attraverso il rilevamento del suo spostamento di fronte ad un sensore ottico e dispositivo cosi` ottenuto.
JP2626465B2 (ja) * 1993-04-27 1997-07-02 村田機械株式会社 糸監視器の診断方法及び同装置
US5725165A (en) * 1993-07-17 1998-03-10 W. Schlafhorst Ag & Co. Method of monitoring the moving yarn at a winding station of an automatic winding frame
CH686779A5 (de) * 1993-10-29 1996-06-28 Luwa Ag Zellweger Vorrichtung zur Ueberpruefung der Wickelqualitaet von Garnspulen und Verwendung der Vorrichtung an einer Spul- oder Spinnmaschine.
DE4445720B4 (de) * 1994-12-22 2006-06-14 Rieter Ingolstadt Spinnereimaschinenbau Ag Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen Messung der Masse eines bewegten Faserbandes
EP0737857A3 (de) * 1995-04-13 1998-04-08 Akzo Nobel N.V. Vorrichtung zur optischen Überwachung eines Fadens auf Unregelmässigkeiten
WO1997036032A1 (de) * 1996-03-27 1997-10-02 Zellweger Luwa Ag Verfahren und vorrichtung zur qualitätsüberwachung von garnen
JP3520159B2 (ja) * 1996-07-02 2004-04-19 計測器工業株式会社 糸むら検出方法
US6219136B1 (en) 1998-03-03 2001-04-17 Union Underwear Company, Inc. Digital signal processor knitting scanner
JP4756411B2 (ja) * 1998-03-25 2011-08-24 ウステル・テヒノロジーズ・アクチエンゲゼルシヤフト 長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置
DE10009131A1 (de) * 2000-02-26 2001-08-30 Schlafhorst & Co W Verfahren und Vorrichtung zur optischen Detektion von Verunreinigungen, insbesondere Fremdfasern, in längsbewegten Garn
DE10348742A1 (de) * 2003-10-16 2005-05-12 Saurer Gmbh & Co Kg Verfahren zur Bestimmung von Effekten eines Effektgarnes
BE1016504A3 (nl) * 2005-04-25 2006-12-05 Picanol Nv Werkwijze voor het inbrengen van een inslagdraad bij een weefmachine.
US7832190B2 (en) * 2005-11-18 2010-11-16 Uster Technologies Ag Characterization of fancy yarn
JP2008007214A (ja) * 2006-06-27 2008-01-17 Murata Mach Ltd ヤーンクリアラの検出ヘッドの汚れ検出方法及び検出システム
US9447525B2 (en) * 2014-02-18 2016-09-20 Eastman Chemical Company On-line detection of defects in fibrous members
JP2017132597A (ja) * 2016-01-28 2017-08-03 村田機械株式会社 糸監視装置、糸巻取機、及び自動ワインダ
IT201700042506A1 (it) * 2017-04-18 2018-10-18 Btsr Int Spa Metodo, sistema e sensore per rilevare una caratteristica di un filo tessile o metallico alimentato ad una macchina operatrice
JP2018193198A (ja) * 2017-05-19 2018-12-06 村田機械株式会社 生産力表示制御装置及び方法並びに自動ワインダ

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3887814A (en) * 1973-11-01 1975-06-03 Du Pont Yarn slub analyzer
CH568405A5 (ja) * 1974-02-08 1975-10-31 Zellweger Uster Ag
US3930291A (en) * 1974-05-06 1976-01-06 Abbott Machine Co., Inc. Combination tension and slub catching device
DE2508969A1 (de) * 1975-03-01 1976-09-09 Schlafhorst & Co W Verfahren und vorrichtung zur ueberwachung von textilfaeden
JPS51116255A (en) * 1975-04-07 1976-10-13 Asahi Chemical Ind Tester for yarn quality
DE2525560C2 (de) * 1975-06-07 1991-04-18 Fritz 7347 Bad Überkingen Stahlecker Wartungseinrichtung die längs einer eine Vielzahl von nebeneinander angeordneten Spinnstellen aufweisenden Offenend-Spinnmaschine verfahrbar ist
US3986037A (en) * 1975-10-03 1976-10-12 E. I. Du Pont De Nemours And Company Yarn detector with a self-calibrating circuit
DE2551153A1 (de) * 1975-11-14 1977-05-26 Schlafhorst & Co W Verfahren und vorrichtung zum auswerten stochastischer, periodischer oder stochastisch ueberlagerter periodischer signale
DE2552448C2 (de) * 1975-11-22 1985-07-25 W. Schlafhorst & Co, 4050 Mönchengladbach Verfahren und Vorrichtung zur Wartung von Spinnstellen
CH609011A5 (ja) * 1975-12-04 1979-02-15 Peyer Siegfried
CH612152A5 (ja) * 1976-01-26 1979-07-13 Rieter Ag Maschf
US4189841A (en) * 1976-08-28 1980-02-26 Aktiengesellschaft Gebruder Loepfe Method and device for measuring the variations of the cross-sectional dimensions of a moving thread-like structure
JPS5381742A (en) * 1976-12-08 1978-07-19 Toyo Boseki Yarn chip and fly waste or like detector
CH614421A5 (ja) * 1977-03-21 1979-11-30 Zellweger Uster Ag
CH615404A5 (ja) * 1977-03-22 1980-01-31 Zellweger Uster Ag
DE2714353A1 (de) * 1977-03-31 1978-10-12 Fritz Stahlecker Textilmaschine mit vorrichtungen zum erfassen der querdimension des laufenden garns
CH620655A5 (ja) * 1977-06-17 1980-12-15 Loepfe Ag Geb
CH641422A5 (de) * 1979-03-16 1984-02-29 Zellweger Uster Ag Verfahren zur bewertung von garnfehlern.
CH620482A5 (ja) * 1979-09-17 1980-11-28 Saurer Ag Adolph
JPS56108664A (en) * 1980-01-31 1981-08-28 Kamiya Denshi Kogyo Kk Detector for abnormal condition of thread
CH651660A5 (de) * 1981-02-18 1985-09-30 Peyer Siegfried Verfahren und einrichtung zur fotoelektrischen messung von bewegten fadenfoermigen materialien.
JPS5862511A (ja) * 1981-10-09 1983-04-14 Murata Mach Ltd 糸ムラ情報の解析方法および解析装置
JPS5879574A (ja) * 1981-11-02 1983-05-13 村田機械株式会社 ワインダ−の不良パツケ−ジ選別装置
US4648054A (en) * 1983-06-20 1987-03-03 Unisearch Limited Continuous measurement of yarn diameter and twist
US4634280A (en) * 1984-11-21 1987-01-06 E. I. Dupont De Nemours And Company Method for measuring shape parameters of yarn

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DE3635267A1 (de) 1987-05-21

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