JP4756411B2 - 長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置 - Google Patents

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、第１の測定セル内において長手方向に運動するテスト品の特性を測定する装置であって、第１の測定セルが、この第１の測定セルのみに所属するプロセッサに接続されているものに関する。
【０００２】
【従来の技術】
このような装置は、とくに糸の特性の測定のために設けられており、かつ紡績−及びボビン機械に配置されている場合、導線によって結合された３つの部分を有し、すなわち測定セルを有する測定ヘッド、評価ユニット、及び制御装置を有する。その際、制御装置に、１つ又は複数の評価ユニットが、かつそれぞれの評価ユニットに、１つ又は複数の測定ヘッドが接続されている。測定ヘッドは、処理されていないアナログ又はアナログ及びディジタル信号を評価ユニットに送出する。しかし評価ユニットは、測定ヘッドに信号も送出する。評価ユニットは、例えば信号を閾値と比較することによって信号を評価し、かつ処理されたかつ場合によってはディジタル化された信号を制御装置に送出する。通常紡績機あたり又はボビン機械あたり１つの制御装置が考慮される。
【０００３】
このような周知の装置は、多くの空間を必要とする。紡績−又はボビン機械において糸にできるだけわずかしか空間を必要としないようにするために、測定ヘッドは、できるだけ簡単に構成されている。これは、１つの機能だけしか、すなわち測定だけしか行なうことができない。このことは、このような周知の装置が多くの部分を有し、これらの部分が多くの導線及びプラグ接続を介して互いに接続されており、かつそれに相応して調達において高価であるということを意味する。紡績−及びボビン機械における取付けも手間がかかりかつ複雑である。それぞれの測定ヘッドは、固有に、かつ取付けようとする機械を考慮して構成されているので、このことは、紡績−又はボビン機械のそれぞれの構成様式に対して特殊な測定ヘッド及び独自の評価ユニットを製造するという意味でもある。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
それ故に特許請求の範囲に特徴を示したような本発明は、長手方向に移動するテスト品のために、一層簡単に顧客の要求に及び製造機械の特殊な状態に合わせることができる装置を提供するという課題を解決する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】
このことは、次のような装置によって達成される。すなわち第１測定セルが、プロセッサ、複数の装置のための中央制御部への接続部、及び第１の測定セルの信号を伝送するための導線と共に、第１の支持体上に取付けられており、第２の測定セルが第２の支持体上に取付けられており、第１の支持体が第２の測定セルのための第２の支持体への接続部を持っている。測定セル及びプロセッサは、一緒になって取り外し不可能に結合されており、かつ第１の支持体上に配置されており、又は自身のハウジング内にまとめられている。その際、ディジタル化されかつすでに第１の評価を受けた信号を伝送する導線のために１つだけの出力端子が存在する。このような装置は、種々の役割のために複数の測定セルを有することができ、これらの測定セルは、一緒になって再び別の支持体上に又は別のハウジング内に配置されている。種々の役割とは、例えば異なった種類の測定、例えばテスト品の横断面又は質量の光学的な又は容量的な測定、異物の測定、糸における毛深さの測定等のことである。プロセッサは、なるべくいわゆるＡＳＩＣ−構成ブロックとして、したがって顧客固有の集積構成部分として構成されている。これは、光学測定用の測定セル、容量測定用のもの等に接続されているかどうかには関係なく、常に同じに構成されており、かつ同じ機能を実行することができる。とくにこれは、信号の増幅及び変換のために使われる。それ故にＡＳＩＣ−構成ブロックは、少なくとも１つのアナログ−ディジタル−変換器を有する。このＡＳＩＣ−構成ブロックは、しばしばアナログ信号のための複数の入力端子、及びディジタル信号のための１つの出力端子を有する。別の支持体は、測定セルを有する１つ又は複数の支持体又はハウジングの他に、プロセッサ、とくにディジタル動作する信号プロセッサ（ＤＳＰ）を有し、このプロセッサは、複数のＡＳＩＣ−構成ブロックに接続するために複数の入力端子を有する。測定セルを有する第１の支持体は、取り外し可能な結合部、例えばプラグを介して別の支持体に接続されている。
【０００６】
本発明による装置によって達成される利点は、とくに次の点にある。すなわち測定ヘッドに対していくらかの間隔を置いて設けられた分離した評価ユニットを省略することができる。それにより紡績−又はボビン機械において測定ヘッド、評価ユニット及び制御装置の間に、著しくわずかな結合部しか存在せず、このことは、それにより多くのプラグ結合部及びプリント板も省略されるので、動作の確実性を高める。装置は、ずっとわずかな標準化した部分しか持たないので、製造業者におけるこれらの部分の製造及び在庫管理が、同様に簡単になる。それぞれの部分のさらに多くの個数が達成されるので、これらは、さらに正確にかつさらに多くの手間をかけてテストすることができる。なぜならそのために独自のテスト装置が引合うからである。したがって“インテリジェンス”は、測定ヘッドに移されており、かつ分散されているので、なお測定ヘッドから製造位置へのケーブルを設けるだけでよく、かつこのケーブルは、ディジタル信号を送り、このことは、妨害に対するシステムの安全性を高める。ソフトウエアは、すでに測定ヘッド内に蓄積されており、かつ必要に応じてもはやここにロードする必要はない。
【０００７】
【発明の実施の形態】
次に本発明を１つの例により、かつ添付の図面を引用して詳細に説明する。
【０００８】
図１は、第１の測定セル１及び第２の測定セル２によって長手方向に運動するテスト品における特性を測定する装置を示している。例えば第１の測定セルは、すでに周知の糸清掃器において使用されているような、光学的又は容量的に動作するセンサであることができ、かつテスト品の横断面又は質量を測定する。第２の測定セル２は、例えばテスト品における異物を検出し又は例えば毛深さ、着色、より等のようなテスト品の別の特性を測定するセンサとして構成することができる。その際、測定セル１及び測定セル２は、それぞれ第１の支持体３又は４上に取付けられている。第１の支持体３、４は、例えばプリント板として構成されている。第１の支持体３上に別の構成部分が取付けられており、すなわちそれぞれ１つのプロセッサ５及び６、及び計算機７が取付けられている。プロセッサ５は、いわゆるＡＳＩＣとして構成されており、かつ測定セル１から送出された信号を増幅する。このプロセッサ５は、測定セル１に同調されており、かつアナログ信号を処理する。プロセッサ６は、同様にＡＳＩＣ（顧客固有の集積回路）として構成されているが、混合された信号に対して構成されている。すなわちこれは、アナログ及びディジタル信号を処理する。計算機７は、ディジタル信号プロセッサ（いわゆるＤＳＰ）として構成されている。したがって計算機７は、両方のプロセッサ５及び６を介しかつ導線８、９及び１０を介して測定セル１に取り外し不可能に結合されている。なぜならこれらすべて及びその他の要素も、通常の方法にしたがってプリント板として構成された第１の支持体３上に固定的に取付けられているからである。さらに計算機７は、導線１１を介してプラグ結合部１２に接続されている。導線８及び９は、アナログ信号を伝送するが、一方プロセッサ６及び計算機７のための出力端子を形成する導線１０及び１１は、ディジタル信号を伝送する。
【０００９】
測定セル２を有する第１の支持体４は、同様にプロセッサ１３を有し、このプロセッサは、導線１４を介して測定セル２に接続されている。プロセッサ１３は、プロセッサ６と同じに構成されている。とくにプロセッサ６及び１３に対して、同一の構成部分が利用される。この第１の支持体４も、なるぺくプリント板として構成されている。加えてプロセッサ１３は、別の出力端子１５を有し、この出力端子は、プラグ結合部１６に連通されており、このプラグ結合部は、両方の第１の支持体３と４の間に設けられており、かつこのプラグ結合部に第１の支持体３上において導線１７が連通しており、この導線は、計算機７に接続されている。
【００１０】
ここに示した両方の第１の支持体３及び４の他に、別の支持体１８が設けられており、この支持体は、ここでは２つの部分１９、２０からなり、かつ測定セル１、２を有する両方の第１の支持体３、４のためのハウジングを形成している。両方の第１の支持体３、４は、ねじ結合を介して両方の部分１９、２０に固定されている。それ故にここには、ねじ結合２１、２２の一部が認められる。両方の部分１９、２０は、同様にねじ結合２２、２３を介して互いに固定されている。他方において別の支持体１８は、結合部を介して例えば紡績−又はボビン機械に取付けられている。別の支持体は、とくにテスト品のための開口２４も有し、かつこの開口内に、他方において案内要素２５が挿入でき、ここではこの案内要素は、離して示されている。別の案内要素２６、２７は、開口２４内へのテスト品の挿入を容易にするために設けられており、かつ同様に別の支持体１８に取付けられている。
【００１１】
図２は、ここにおいて案内要素２６、２７、テスト品のための開口２４及び別の部分１８を有するまとめられた装置を示している。
【００１２】
本発明による装置の動作は、次のとおりである：
まとめられた装置において、テスト品が測定セル１の開口２９内に挿入され、かつこの中においてそれ自体周知のようにその長手方向に動かされると、測定セル１においてアナログ信号が発生され、これらのアナログ信号は、導線８を介してプロセッサ６に供給され、このプロセッサは、これらの信号をディジタル信号に変換する。処理は、例えば測定セルのプロセッサ５が、支持体信号を供給し、この支持体信号が、テスト品によって変調されることにあり、その際、変調された信号は、プロセッサ５において復調され、かつ増幅される。プロセッサ６においてテスト品の信号はディジタル化され、かつフィルタ処理される。しかしその際、プロセッサ６は、例えば開口内の汚れの作用を補償し、又は消去するために、制御信号もプロセッサ５に送出する。導線１０を介してディジタル化された信号は、計算機７に送出され、この計算機は、これを例えば閾値と比較し、かつ例えば誤りアルゴリズムの適用のような処理ステップ、及び別の評価を実行する。導線１１及び出力端子又はプラグ結合部１２を介して、処理されかつ評価された信号は、例えばこの装置を取付けた機械の中央制御部に到達する。プロセッサ５も省略し、かつ測定セル１をプロセッサ６に直接接続することは可能である。しかしこのことは、利用された測定セル１の様式、及びこれが送出する信号に従う。測定セル１が光学基本方式にしたがって動作する場合、このことが当てはまる。これが容量基本方式にしたがって動作する場合、プロセッサはきわめて望ましい。
【００１３】
測定セル１の他に、測定セル２も存在し、この測定セルは、同様にテスト品を測定し、又は操作する。これは、導線１４を介してその信号をプロセッサ１３に送出し、このプロセッサは、信号を増幅し、かつディジタル信号に変換する。この時、この信号は、出力端子１５、プラグ結合部１６及び導線１７を介して、計算機７に到達し、ここにおいてこれは、同様に処理され、かつ評価される。ここでは計算機７は、両方の測定セル１、２からの信号を一緒に評価し、かつ両方の信号から組合わせによって計算された値を導線１１を介して送出する。
【００１４】
測定セルは、それぞれ第１の支持体上においてプロセッサに取り外し不可能に結合されており、かつ一緒になってモジュールを形成している。ハウジング又は別の支持体は、複数の第１の支持体又はモジュールを収容することができる。これらすべてのモジュールは、そのすでにディジタル化された信号を１つの計算機７に送出し、この計算機は、主モジュールに、ここでは第１の支持体３に存在する。ただし複数のモジュールに又はそれどころかすべてのモジュールに計算機を設けることも考えることができる。しかしなるべく装置全体又は測定ヘッドに対して、評価された信号のための１つの出力端子１２が明らかであり、これらの信号は、機械制御部に供給することができる。利用されたプロセッサ５、６、１３は、すべて同じ構成を有し、かつすべて同じ機能を実行することができる。しかし常に全ての機能が利用されるわけではない。例えばプロセッサ５及び６は、異なった処理を実行し、これらの処理は、他方においてプロセッサ１３における処理に正確に一致するわけではない。したがってプロセッサ５、６及び１３は、アナログ信号のために考慮された処理に応じて割当てられる複数の入力端子３０を有するが、ディジタル信号のためには１つだけの出力端子１０を有する。このようにしてそれぞれの測定セルに、多くの機能に対して構成された同じ構成ブロック５、６、１３が所属しており、かつ分離不可能にこれに結合されている。
【図面の簡単な説明】
【図１】個々の部品を引き離して示す本発明による装置の図である。
【図２】外側から見た装置の斜視図である。
【符号の説明】
１ 測定セル
２ 測定セル
３ 支持体
４ 支持体
５ プロセッサ
６ プロセッサ
７ 計算機
１０ 出力端子
１１ 出力端子
１３ プロセッサ
１５ 出力端子
１８ 別の支持体

Claims (5)

1. 紡績機械又は巻取機械に設けられて移動する糸の複数の特性を測定しかつ評価する装置であって、
   第１の板状支持体（３）、第２の板状支持体（４）、及びこれら第１及び第２の板状支持体（３，４）用のハウジングを形成しかつ紡績機械又は巻取機械に取付けられる別の支持体（１８）を含み、
   第１の板状支持体（３）に、光学的又は容量的に動作して糸の特性を測定する第１の測定セル（１）、第１の測定セル（１）から送出されたアナログ信号を処理してディジタル信号に変換する第１のプロセッサ（６）、及び第１のプロセッサ（６）のディジタル出力信号を供給される計算機（７）が取付けられ、
   第２の板状支持体（４）に、光学的又は容量的に動作して糸の別の特性を測定する第２の測定セル（２）、第２の測定セル（２）から送出されたアナログ信号をディジタル信号に変換する第２のプロセッサ（１３）が取付けられ、
   第２のプロセッサ（１３）のディジタル出力信号を第１の支持体（３）にある計算機（７）へ送る接続手段（１６）が設けられ、
   第１のプロセッサ（６）及び第２のプロセッサ（１３）のディジタル出力信号を一緒に評価する計算機（１７）の出力信号を紡績機械又は巻取機械の中央制御部へ送る接続手段（１２）が設けられている、
   装置。
2. 第１の測定セル（１）が糸の横断面又は質量を測定し、第２の測定セル（２）が糸の異物を測定することを特徴とする、請求項１に記載の装置。
3. 第１及び第２の測定セル（１，２）に、第１及び第２のプロセッサ（６，１３）としてのＡＳＩＣ−構成ブロックがそれぞれ所属しており、これらのＡＳＩＣ−構成ブロックが同じ構成を有し、かつ同じ機能を実行することができることを特徴とする、請求項１に記載の装置。
4. ＡＳＩＣ−構成ブロックが、アナログ信号のための入力端子（９，１４）、及びディジタル信号のための出力端子（１０，１５）を有することを特徴とする、請求項３に記載の装置。
5. 第１及び第２の測定セル（１，２）及びＡＳＩＣ−構成ブロック（６，１３）が、互いに取り外し不可能に結合されていることを特徴とする、請求項３に記載の装置。

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