JP3520159B2 - 糸むら検出方法 - Google Patents
糸むら検出方法Info
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- D—TEXTILES; PAPER
- D01—NATURAL OR MAN-MADE THREADS OR FIBRES; SPINNING
- D01H—SPINNING OR TWISTING
- D01H13/00—Other common constructional features, details or accessories
- D01H13/26—Arrangements facilitating the inspection or testing of yarns or the like in connection with spinning or twisting
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、紡績糸の周期変動
として現れる糸むらを検出する方法に関する。
として現れる糸むらを検出する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】紡績糸の糸むらを検出する装置として、
本出願人は、商品名イーブネス・テスターを提供してい
る。この従来技術は、電極間に糸試料を走行せしめるこ
とにより、該糸の重量変動に比例する信号を取り出す。
例えば、糸試料の走行方向に対する電極の幅寸法が８mm
のとき、試料を４００ｍ／分で走行させれば、５分の試
験で測定長は２kmとなる。この信号を時間に従って記録
すれば重量ダイアグラム、振幅について分布をとれば重
量ヒストグラムが得られる。また、ＣＶ％、Ｕ％を計算
すれば、８mm長の平均重量の変動率となる。
本出願人は、商品名イーブネス・テスターを提供してい
る。この従来技術は、電極間に糸試料を走行せしめるこ
とにより、該糸の重量変動に比例する信号を取り出す。
例えば、糸試料の走行方向に対する電極の幅寸法が８mm
のとき、試料を４００ｍ／分で走行させれば、５分の試
験で測定長は２kmとなる。この信号を時間に従って記録
すれば重量ダイアグラム、振幅について分布をとれば重
量ヒストグラムが得られる。また、ＣＶ％、Ｕ％を計算
すれば、８mm長の平均重量の変動率となる。
【０００３】ところで、図１（Ａ）に示すように、糸む
らの周期変動は、完全な正弦波に限られず、一般的に
は、正弦波から大きく歪んだ波形や、三角波状、矩形波
状等の波形で周期性を有する変動が含まれている。これ
らは、基本波（波長λ）の他に、波長がλ／２、λ／
３、λ／４のように、整数分の一の高調波として現れ
る。例えば、図１（Ａ）の実線で示した波形を解析する
と、基本波Ａ（波長λ）の他に、高調波Ｂ（波長λ／
２）や高調波Ｃ（波長λ／３）が含まれている。
らの周期変動は、完全な正弦波に限られず、一般的に
は、正弦波から大きく歪んだ波形や、三角波状、矩形波
状等の波形で周期性を有する変動が含まれている。これ
らは、基本波（波長λ）の他に、波長がλ／２、λ／
３、λ／４のように、整数分の一の高調波として現れ
る。例えば、図１（Ａ）の実線で示した波形を解析する
と、基本波Ａ（波長λ）の他に、高調波Ｂ（波長λ／
２）や高調波Ｃ（波長λ／３）が含まれている。
【０００４】そこで、１本の糸試料から取り出された重
量変動に比例する信号をフーリエ変換により周波数分解
（或いは波長分解）すれば、図１（Ｂ）に示すようなス
ペクトログラム（以下個別スペクトログラムという）を
形成することができる。前述の商品名イーブネス・テス
ターにおいては、横軸を波長として、２倍の波長を５つ
に分解し、短い側が左、長い側が右になるようにして、
対数目盛りで表示している。即ち、糸むら成分中の一つ
の波長λ1 と、該波長の２倍の波長λ1 ×２との間を５
つに分解し、この分解された一つ一つを「チャンネル」
としている。各チャンネルの高さは、当該チャンネルに
含まれる糸むら成分の変動率とされており、これを分析
することにより紡績工程における機械的欠陥部分を検出
することができる。例えば、図１（Ｂ）の場合、オープ
ンエンド紡績糸におけるロータに欠陥があることを示し
ており、ロータの円周を１周期とするむら（波長２０c
m）の他、第二次（波長１０cm）、第三次（波長６．７c
m）、第四次（波長５cm）の高調波を示すチャンネルが
突出している。尚、各チャンネルの値の２乗を全チャン
ネルについて加算しその平方根を求めると、前記のＣＶ
％、Ｕ％となるように設定されている。
量変動に比例する信号をフーリエ変換により周波数分解
（或いは波長分解）すれば、図１（Ｂ）に示すようなス
ペクトログラム（以下個別スペクトログラムという）を
形成することができる。前述の商品名イーブネス・テス
ターにおいては、横軸を波長として、２倍の波長を５つ
に分解し、短い側が左、長い側が右になるようにして、
対数目盛りで表示している。即ち、糸むら成分中の一つ
の波長λ1 と、該波長の２倍の波長λ1 ×２との間を５
つに分解し、この分解された一つ一つを「チャンネル」
としている。各チャンネルの高さは、当該チャンネルに
含まれる糸むら成分の変動率とされており、これを分析
することにより紡績工程における機械的欠陥部分を検出
することができる。例えば、図１（Ｂ）の場合、オープ
ンエンド紡績糸におけるロータに欠陥があることを示し
ており、ロータの円周を１周期とするむら（波長２０c
m）の他、第二次（波長１０cm）、第三次（波長６．７c
m）、第四次（波長５cm）の高調波を示すチャンネルが
突出している。尚、各チャンネルの値の２乗を全チャン
ネルについて加算しその平方根を求めると、前記のＣＶ
％、Ｕ％となるように設定されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、個別ス
ペクトログラムは、チャンネル毎に糸むら成分の変動率
を示しているから、これを分析することにより、紡績工
程における機械の調整や部品に不良又は欠陥があるかど
うかを検出できる。
ペクトログラムは、チャンネル毎に糸むら成分の変動率
を示しているから、これを分析することにより、紡績工
程における機械の調整や部品に不良又は欠陥があるかど
うかを検出できる。
【０００６】然しながら、このような分析は、経験豊か
な技術者の経験に頼って行われているのが現状であり、
熟練された技術者が減少しつつある近年、前記チャンネ
ルの分析を可及的簡単かつ容易ならしめることが要望さ
れている。
な技術者の経験に頼って行われているのが現状であり、
熟練された技術者が減少しつつある近年、前記チャンネ
ルの分析を可及的簡単かつ容易ならしめることが要望さ
れている。
【０００７】この点について、本発明者は、理想的な紡
績糸の糸むら変動率を理論的に算出し、これを理想スペ
クトラムとして表すことにより、前記個別スペクトログ
ラムと比較すれば、個別スペクトログラムのうち理想ス
ペクトラムを越えるチャンネルを一目瞭然に簡単に発見
できることを知見した。この理想スペクトラムは、糸を
構成する繊維の平均太さと、繊維の長さ分布（近似的で
あれば平均繊維長でも可）が既知であれば、理論的に求
めることができ、前記繊維の平均太さは、本出願人が提
供する装置（商品名マイクロネア）により測定でき、前
記繊維長の分布又は平均繊維長は、本出願人が提供する
装置（商品名クラシファイバ）により測定できる。
績糸の糸むら変動率を理論的に算出し、これを理想スペ
クトラムとして表すことにより、前記個別スペクトログ
ラムと比較すれば、個別スペクトログラムのうち理想ス
ペクトラムを越えるチャンネルを一目瞭然に簡単に発見
できることを知見した。この理想スペクトラムは、糸を
構成する繊維の平均太さと、繊維の長さ分布（近似的で
あれば平均繊維長でも可）が既知であれば、理論的に求
めることができ、前記繊維の平均太さは、本出願人が提
供する装置（商品名マイクロネア）により測定でき、前
記繊維長の分布又は平均繊維長は、本出願人が提供する
装置（商品名クラシファイバ）により測定できる。
【０００８】例えば、図１（Ｃ）は、個別スペクトログ
ラムに理想スペクトラムのカーブを書き加えたものを示
している。従って、この場合、理想スペクトラムと個別
スペクトログラムを比較することにより、個別スペクト
ログラムのうち、理想スペクトラムを顕著に越えるチャ
ンネルから、試料の周期的欠陥を容易に確認することが
できる。
ラムに理想スペクトラムのカーブを書き加えたものを示
している。従って、この場合、理想スペクトラムと個別
スペクトログラムを比較することにより、個別スペクト
ログラムのうち、理想スペクトラムを顕著に越えるチャ
ンネルから、試料の周期的欠陥を容易に確認することが
できる。
【０００９】ところで、図示のように、実際の試料から
得られる個別スペクトログラムは、全てのチャンネルに
おいて、理想スペクトラムより必ずチャンネルの高さが
高くなる（Ｉ指数と称される）。これは、紡績工程の機
械の動きの影響で付加されるむら（付加むら）が存在す
るからであり、機械の調整や部品に不良又は欠陥がある
ほど、その高さは高くなる。紡績工程では、初期段階の
欠陥や付加むらは、紡糸工程の最終段階では引き伸ばさ
れて長い波長の欠陥やむらとなるため、個別スペクトロ
グラムの付加むらの波長と高さを見ることにより、どの
工程に問題があるかを判断できる。即ち、個別スペクト
ログラムのうち、許容されるＩ指数の範囲内のチャンネ
ルには問題がないと判断できるが、特定のチャンネルが
前後のチャンネルよりも顕著に高い場合、例えば１．５
倍以上のように高い場合、それは、特定の周期むら成分
が許容されるＩ指数の範囲を越えていることを示し、そ
れに相当する周期の機械的欠陥があると判断される。
得られる個別スペクトログラムは、全てのチャンネルに
おいて、理想スペクトラムより必ずチャンネルの高さが
高くなる（Ｉ指数と称される）。これは、紡績工程の機
械の動きの影響で付加されるむら（付加むら）が存在す
るからであり、機械の調整や部品に不良又は欠陥がある
ほど、その高さは高くなる。紡績工程では、初期段階の
欠陥や付加むらは、紡糸工程の最終段階では引き伸ばさ
れて長い波長の欠陥やむらとなるため、個別スペクトロ
グラムの付加むらの波長と高さを見ることにより、どの
工程に問題があるかを判断できる。即ち、個別スペクト
ログラムのうち、許容されるＩ指数の範囲内のチャンネ
ルには問題がないと判断できるが、特定のチャンネルが
前後のチャンネルよりも顕著に高い場合、例えば１．５
倍以上のように高い場合、それは、特定の周期むら成分
が許容されるＩ指数の範囲を越えていることを示し、そ
れに相当する周期の機械的欠陥があると判断される。
【００１０】然しながら、このような理想スペクトラム
と個別スペクトログラムを比較する方法の場合、前述の
ような各チャンネルに表示された高さが、果たして、そ
の糸の紡績工程における欠陥と見るべきものかどうか、
更に、経験に基づく判断を要することになる。蓋し、前
述のように、試料から得られる個別スペクトログラム
は、全てのチャンネルにわたり理想スペクトラムを越え
る高さで表示されるから、それが欠陥と見るべきでない
許容されたＩ指数の範囲内であるかどうかの判断が必要
である。また、市場に供給される糸は、グレードその他
により様々であり、例えば、高品質の糸の場合はＩ指数
を厳格に判断し、低品質の糸の場合はＩ指数を寛大に判
断しなければならないから、そこに困難な判断を伴う。
と個別スペクトログラムを比較する方法の場合、前述の
ような各チャンネルに表示された高さが、果たして、そ
の糸の紡績工程における欠陥と見るべきものかどうか、
更に、経験に基づく判断を要することになる。蓋し、前
述のように、試料から得られる個別スペクトログラム
は、全てのチャンネルにわたり理想スペクトラムを越え
る高さで表示されるから、それが欠陥と見るべきでない
許容されたＩ指数の範囲内であるかどうかの判断が必要
である。また、市場に供給される糸は、グレードその他
により様々であり、例えば、高品質の糸の場合はＩ指数
を厳格に判断し、低品質の糸の場合はＩ指数を寛大に判
断しなければならないから、そこに困難な判断を伴う。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明は、測定対象の糸
に含まれるむら成分のうち、当該糸において特に欠陥と
見る必要のない付加むらについては、それが欠陥に基づ
くものかどうかの判断を捨象することができ、その糸に
おいて、特に、欠陥と見るべき重要な欠陥的付加むらだ
けを一目で簡単に見つけ出すことができるようにした糸
むら検出方法を提供するものである。
に含まれるむら成分のうち、当該糸において特に欠陥と
見る必要のない付加むらについては、それが欠陥に基づ
くものかどうかの判断を捨象することができ、その糸に
おいて、特に、欠陥と見るべき重要な欠陥的付加むらだ
けを一目で簡単に見つけ出すことができるようにした糸
むら検出方法を提供するものである。
【００１２】そこで、本発明が第一の手段として構成し
たところは、測定対象の糸からサンプリングした複数本
の試料を走行させ、各試料の重量変動に比例する信号を
取出した後、前記信号から周波数解析又は波長解析によ
り長短異なる波長の糸むら成分をチャンネル毎に分類
し、各糸むら成分の変動率をチャンネルの高さにより表
示した個別スペクトログラムを形成する糸むら検出方法
において、前記試料の本数に対応して得られたｋ個の個
別スペクトログラムを平均化することによりオーバーオ
ールスペクトログラムを形成すると共に、該オーバーオ
ールスペクトログラムの隣接するチャンネル相互の高さ
を平均化することによりリファレンススペクトログラム
を形成し、前記リファレンススペクロトグラムとオーバ
ーオールスペクトログラムを比較することにより、オー
バーオールスペクトログラムのうちリファレンススペク
トログラムを超過する高さのチャンネルの該超過部分を
表示し、これにより欠陥としての糸むらを検出する点に
ある。
たところは、測定対象の糸からサンプリングした複数本
の試料を走行させ、各試料の重量変動に比例する信号を
取出した後、前記信号から周波数解析又は波長解析によ
り長短異なる波長の糸むら成分をチャンネル毎に分類
し、各糸むら成分の変動率をチャンネルの高さにより表
示した個別スペクトログラムを形成する糸むら検出方法
において、前記試料の本数に対応して得られたｋ個の個
別スペクトログラムを平均化することによりオーバーオ
ールスペクトログラムを形成すると共に、該オーバーオ
ールスペクトログラムの隣接するチャンネル相互の高さ
を平均化することによりリファレンススペクトログラム
を形成し、前記リファレンススペクロトグラムとオーバ
ーオールスペクトログラムを比較することにより、オー
バーオールスペクトログラムのうちリファレンススペク
トログラムを超過する高さのチャンネルの該超過部分を
表示し、これにより欠陥としての糸むらを検出する点に
ある。
【００１３】また、本発明が第二の手段として構成した
ところは、前記と同様に形成したリファレンススペクト
ログラムに対して、個別スペクトログラムを比較するこ
とにより、個別スペクトログラムのうちリファレンスス
ペクトログラムを超過する高さのチャンネルの該超過部
分を表示し、これにより欠陥としての糸むらを検出する
点にある。
ところは、前記と同様に形成したリファレンススペクト
ログラムに対して、個別スペクトログラムを比較するこ
とにより、個別スペクトログラムのうちリファレンスス
ペクトログラムを超過する高さのチャンネルの該超過部
分を表示し、これにより欠陥としての糸むらを検出する
点にある。
【００１４】更に、本発明が第三の手段として構成した
ところは、ディスプレー上又はプリント紙上において、
前記超過チャンネルの超過部分を超過量に応じて色分け
表示する点にある。
ところは、ディスプレー上又はプリント紙上において、
前記超過チャンネルの超過部分を超過量に応じて色分け
表示する点にある。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づいて本発明の好
ましい実施の形態を詳述する。
ましい実施の形態を詳述する。
【００１６】先ず、測定対象の糸からサンプリングした
複数本の試料をそれぞれ電極間に走行させ、そこで各試
料の重量変動に比例する信号を取出した後、前記信号か
ら周波数解析又は波長解析により長短異なる波長の糸む
ら成分をチャンネル毎に分類し、各糸むら成分の変動率
をチャンネルの高さにより表示した個別スペクトログラ
ムを形成する。この点は、従来の方法と同様であり、図
２（Ａ）は、上述した本出願人の商品名イーブネス・テ
スターにより記録した信号のアナログ波形、図２（Ｂ）
は、同イーブネス・テスターにより記録した個別スペク
トログラムを示している。
複数本の試料をそれぞれ電極間に走行させ、そこで各試
料の重量変動に比例する信号を取出した後、前記信号か
ら周波数解析又は波長解析により長短異なる波長の糸む
ら成分をチャンネル毎に分類し、各糸むら成分の変動率
をチャンネルの高さにより表示した個別スペクトログラ
ムを形成する。この点は、従来の方法と同様であり、図
２（Ａ）は、上述した本出願人の商品名イーブネス・テ
スターにより記録した信号のアナログ波形、図２（Ｂ）
は、同イーブネス・テスターにより記録した個別スペク
トログラムを示している。
【００１７】従って、複数本の試料、例えば、少なくと
も５本、通常１０本、多い場合で２０本以上の試料か
ら、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn が得られる。
も５本、通常１０本、多い場合で２０本以上の試料か
ら、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn が得られる。
【００１８】そこで、全ての試料に共通した問題を見る
ため、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn （ｎ＝１、
２、・・・ｋ）を平均化することにより、図３（Ａ）に
示すようなオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを形
成する。即ち、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn につ
いて、チャンネルＬ毎に、下記の数式〔数１〕に基づく
計算を行ない、この結果を全チャンネルについてまとめ
て表すことにより、オーバーオールスペクトログラムＣ
ＨOAとする。
ため、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn （ｎ＝１、
２、・・・ｋ）を平均化することにより、図３（Ａ）に
示すようなオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを形
成する。即ち、ｋ個の個別スペクトログラムＣＨn につ
いて、チャンネルＬ毎に、下記の数式〔数１〕に基づく
計算を行ない、この結果を全チャンネルについてまとめ
て表すことにより、オーバーオールスペクトログラムＣ
ＨOAとする。
【００１９】
【数１】
【００２０】引き続き、オーバーオールスペクトログラ
ムＣＨOAから、次のようにして、図３（Ｂ）に示すよう
なリファレンススペクトログラムＣＨRFを作成する。
ムＣＨOAから、次のようにして、図３（Ｂ）に示すよう
なリファレンススペクトログラムＣＨRFを作成する。
【００２１】 オーバーオールスペクトログラムの各
チャンネルＣＨOA(L) について、それが左右に隣接する
何れのチャンネルよりも高いときは、左右のチャンネル
の平均値に補正する。即ち、補正するチャンネルの高さ
は、左右のチャンネルの中間平均値とされる。但し、左
端のチャンネルはその右側のチャンネルとだけ、右端の
チャンネルはその左側のチャンネルとだけ比較され、平
均値に補正される。この平均値への補正を、オーバーオ
ールスペクトログラムの左端のチャンネル（最短波長を
示すチャンネル）から右側の所定のチャンネルまで行う
と、そこにはピークとなる高さのチャンネル（図例の場
合、波長５cmのチャンネル）が形成され、該ピークから
右側のチャンネルは、次第に高さを単調減少する。理論
的には、糸の試料に含まれる平均繊維長をＬＦとする
と、ピーク波長は、ＬＦの２．５〜３倍になるので、４
×ＬＦ以上の長い波長を示す右側のチャンネルまで前記
平均値の補正を行えば良い。
チャンネルＣＨOA(L) について、それが左右に隣接する
何れのチャンネルよりも高いときは、左右のチャンネル
の平均値に補正する。即ち、補正するチャンネルの高さ
は、左右のチャンネルの中間平均値とされる。但し、左
端のチャンネルはその右側のチャンネルとだけ、右端の
チャンネルはその左側のチャンネルとだけ比較され、平
均値に補正される。この平均値への補正を、オーバーオ
ールスペクトログラムの左端のチャンネル（最短波長を
示すチャンネル）から右側の所定のチャンネルまで行う
と、そこにはピークとなる高さのチャンネル（図例の場
合、波長５cmのチャンネル）が形成され、該ピークから
右側のチャンネルは、次第に高さを単調減少する。理論
的には、糸の試料に含まれる平均繊維長をＬＦとする
と、ピーク波長は、ＬＦの２．５〜３倍になるので、４
×ＬＦ以上の長い波長を示す右側のチャンネルまで前記
平均値の補正を行えば良い。
【００２２】 そこで、前記で説明したピークとな
るチャンネルから右側のチャンネルに向かう高さの単調
減少を等比減少と考えて、その公比を求める。
るチャンネルから右側のチャンネルに向かう高さの単調
減少を等比減少と考えて、その公比を求める。
【００２３】 そして、４×ＬＦ以上の長い波長を示
すチャンネルについては、前記で求めた公比によって
計算した値に補正する。
すチャンネルについては、前記で求めた公比によって
計算した値に補正する。
【００２４】 その後、オーバーオールスペクトログ
ラムの各チャンネルＣＨOA(L) について以上のように補
正したものを総合して、リファレンススペクトログラム
ＣＨRFを形成する。
ラムの各チャンネルＣＨOA(L) について以上のように補
正したものを総合して、リファレンススペクトログラム
ＣＨRFを形成する。
【００２５】従って、このリファレンススペクトログラ
ムＣＨRFは、オーバーオールスペクトログラムＣＨOAか
ら図１（Ｃ）に示したような理想スペクトラムに近づく
ことになるが、理想スペクトラムが理論的に完全理想的
なものであるのに対して、リファレンススペクトログラ
ムＣＨRFは、測定された複数本の試料により得られたオ
ーバーオールスペクトログラムＣＨOAから異常な周期的
欠陥だけを取り除いた現実的な目標としてのスペクトロ
グラムとされる。
ムＣＨRFは、オーバーオールスペクトログラムＣＨOAか
ら図１（Ｃ）に示したような理想スペクトラムに近づく
ことになるが、理想スペクトラムが理論的に完全理想的
なものであるのに対して、リファレンススペクトログラ
ムＣＨRFは、測定された複数本の試料により得られたオ
ーバーオールスペクトログラムＣＨOAから異常な周期的
欠陥だけを取り除いた現実的な目標としてのスペクトロ
グラムとされる。
【００２６】このため、測定した試料に問題視すべき現
実的な周期的欠陥があるかどうかは、前記リファレンス
スペクトログラムＣＨRFに対して、オーバーオールスペ
クトログラムＣＨOAを比較するか、或いは、個別スペク
トログラムＣＨn を比較し、各チャンネル毎にリファレ
ンススペクトログラムＣＨRF(L) を越える高さ部分があ
れば、それが異常な周期的欠陥（欠陥的付加むら）であ
ると判断することができる。
実的な周期的欠陥があるかどうかは、前記リファレンス
スペクトログラムＣＨRFに対して、オーバーオールスペ
クトログラムＣＨOAを比較するか、或いは、個別スペク
トログラムＣＨn を比較し、各チャンネル毎にリファレ
ンススペクトログラムＣＨRF(L) を越える高さ部分があ
れば、それが異常な周期的欠陥（欠陥的付加むら）であ
ると判断することができる。
【００２７】（第１実施形態）本発明の第１実施形態に
おいて、欠陥的付加むらは、リファレンススペクトログ
ラムＣＨRFとオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを
比較し、各チャンネルＬについて、下記の数式〔数２〕
に基づく計算を行ない、この結果を総合したものを、図
４（Ａ）に示すように、平均付加むらスペクトログラム
ＣＨAD(L) として、リファレンススペクトログラムＣＨ
RFの上に重畳して表すことにより行われる。
おいて、欠陥的付加むらは、リファレンススペクトログ
ラムＣＨRFとオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを
比較し、各チャンネルＬについて、下記の数式〔数２〕
に基づく計算を行ない、この結果を総合したものを、図
４（Ａ）に示すように、平均付加むらスペクトログラム
ＣＨAD(L) として、リファレンススペクトログラムＣＨ
RFの上に重畳して表すことにより行われる。
【００２８】
【数２】
【００２９】尚、図４（Ａ）においては、平均付加むら
スペクトログラムＣＨAD(L) をリファレンススペクトロ
グラムＣＨRFの上に重畳して表したが、をリファレンス
スペクトログラムＣＨRFを超える平均付加むらスペクト
ログラムＣＨAD(L) のみを抽出して表示しても良い。
スペクトログラムＣＨAD(L) をリファレンススペクトロ
グラムＣＨRFの上に重畳して表したが、をリファレンス
スペクトログラムＣＨRFを超える平均付加むらスペクト
ログラムＣＨAD(L) のみを抽出して表示しても良い。
【００３０】（第２実施形態）本発明の第２実施形態に
おいて、欠陥的付加むらは、リファレンススペクトログ
ラムＣＨRFと個別スペクトログラムＣＨn （ｎ＝１、
２、・・・、ｋ）を比較し、各チャンネルＬ毎に、下記
の数式〔数３〕に基づく計算を行ない、この結果を総合
したものを、図４（Ｂ）に示すようなｋ個の個別付加む
らスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、ＣＨ
kAD として表すことにより行われる。
おいて、欠陥的付加むらは、リファレンススペクトログ
ラムＣＨRFと個別スペクトログラムＣＨn （ｎ＝１、
２、・・・、ｋ）を比較し、各チャンネルＬ毎に、下記
の数式〔数３〕に基づく計算を行ない、この結果を総合
したものを、図４（Ｂ）に示すようなｋ個の個別付加む
らスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、ＣＨ
kAD として表すことにより行われる。
【００３１】
【数３】
【００３２】尚、図４（Ｂ）においては、ｋ個の個別付
加むらスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、
ＣＨkAD を単独で表したが、これらのｋ個の個別付加む
らスペクトログラムをそれぞれリファレンススペクトロ
グラムＣＨRFの上に重畳して表しても良い。
加むらスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、
ＣＨkAD を単独で表したが、これらのｋ個の個別付加む
らスペクトログラムをそれぞれリファレンススペクトロ
グラムＣＨRFの上に重畳して表しても良い。
【００３３】前記の平均付加むらスペクトログラムＣＨ
AD(L) 及び／又は個別付加むらスペクトログラムＣＨ
kAD は、コンピュータのディスプレー上に表示され、或
いは、プリンタによりプリント紙上に印刷表示される
が、超過チャンネルの超過部分を超過量に応じて色分け
表示することが好ましい。例えば、数式〔数２〕により
得られたＣＨAD(L) 又は数式〔数３〕により得られたＣ
Ｈn(L)の値に応じて、該値が５以上の場合は灰色、４以
上５未満の場合は赤色、３以上４未満の場合は黄色、２
以上３未満の場合は青色、１以上２未満の場合は白色の
ように色分けすることができ、これにより、欠陥的付加
むらの表示を顕在化させることができる。
AD(L) 及び／又は個別付加むらスペクトログラムＣＨ
kAD は、コンピュータのディスプレー上に表示され、或
いは、プリンタによりプリント紙上に印刷表示される
が、超過チャンネルの超過部分を超過量に応じて色分け
表示することが好ましい。例えば、数式〔数２〕により
得られたＣＨAD(L) 又は数式〔数３〕により得られたＣ
Ｈn(L)の値に応じて、該値が５以上の場合は灰色、４以
上５未満の場合は赤色、３以上４未満の場合は黄色、２
以上３未満の場合は青色、１以上２未満の場合は白色の
ように色分けすることができ、これにより、欠陥的付加
むらの表示を顕在化させることができる。
【００３４】尚、図４（Ａ）に示すような平均付加むら
スペクトログラムＣＨAD(L) をリファレンススペクトロ
グラムの上に重畳して表示する場合や、ｋ個の個別付加
むらスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、Ｃ
ＨkAD をリファレンススペクトログラムの上に重畳して
表示する場合は、同時に、理想スペクトラムを書き加え
た状態で表示しても良い。
スペクトログラムＣＨAD(L) をリファレンススペクトロ
グラムの上に重畳して表示する場合や、ｋ個の個別付加
むらスペクトログラムＣＨ1AD 、ＣＨ2AD 、・・・、Ｃ
ＨkAD をリファレンススペクトログラムの上に重畳して
表示する場合は、同時に、理想スペクトラムを書き加え
た状態で表示しても良い。
【００３５】
【発明の効果】本発明によれば、試料の本数に対応して
得られたｋ個の個別スペクトログラムＣＨn を平均化す
ることによりオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを
形成すると共に、該オーバーオールスペクトログラムＣ
ＨOAの隣接するチャンネル相互の高さを平均化すること
によりリファレンススペクトログラムＣＨRFを形成し、
このリファレンススペクロトグラムＣＨRFに対して、オ
ーバーオールスペクトログラムＣＨOA又は個別スペクト
ログラムＣＨn を比較することにより、チャンネル毎に
リファレンススペクロトグラムＣＨRFを超過する平均付
加むらスペクトログラムＣＨAD(L) 又は個別付加むらス
ペクトログラムＣＨkAD を表示するものであるから、異
常な欠陥的付加むらを一目瞭然に直ちに判定することが
できる。
得られたｋ個の個別スペクトログラムＣＨn を平均化す
ることによりオーバーオールスペクトログラムＣＨOAを
形成すると共に、該オーバーオールスペクトログラムＣ
ＨOAの隣接するチャンネル相互の高さを平均化すること
によりリファレンススペクトログラムＣＨRFを形成し、
このリファレンススペクロトグラムＣＨRFに対して、オ
ーバーオールスペクトログラムＣＨOA又は個別スペクト
ログラムＣＨn を比較することにより、チャンネル毎に
リファレンススペクロトグラムＣＨRFを超過する平均付
加むらスペクトログラムＣＨAD(L) 又は個別付加むらス
ペクトログラムＣＨkAD を表示するものであるから、異
常な欠陥的付加むらを一目瞭然に直ちに判定することが
できる。
【００３６】この点に関して、上述したように、例え
ば、理論的に求められる理想スペクトラムを基準として
付加むらを検出する場合は、許容できるＩ指数の範囲内
での付加むらが全て表示され、当該糸について目的とす
る現実的な欠陥部分を検出することが困難であるのに対
して、本発明によれば、ｋ個の個別スペクトログラムＣ
Ｈn を平均化することにより得たオーバーオールスペク
トログラムＣＨOAからリファレンススペクトログラムＣ
ＨRFを形成し、該リファレンススペクトログラムＣＨRF
を標準として付加むらを検出するものであるから、許容
できる付加むらを捨象しつつ、現実的な目標とされる異
常な欠陥的付加むらだけを簡単に検出できる点において
極めて有利である。
ば、理論的に求められる理想スペクトラムを基準として
付加むらを検出する場合は、許容できるＩ指数の範囲内
での付加むらが全て表示され、当該糸について目的とす
る現実的な欠陥部分を検出することが困難であるのに対
して、本発明によれば、ｋ個の個別スペクトログラムＣ
Ｈn を平均化することにより得たオーバーオールスペク
トログラムＣＨOAからリファレンススペクトログラムＣ
ＨRFを形成し、該リファレンススペクトログラムＣＨRF
を標準として付加むらを検出するものであるから、許容
できる付加むらを捨象しつつ、現実的な目標とされる異
常な欠陥的付加むらだけを簡単に検出できる点において
極めて有利である。
【００３７】そして、前記平均付加むらスペクトログラ
ムＣＨAD(L) 又は個別付加むらスペクトログラムＣＨ
kAD の超過チャンネルの超過部分を、ディスプレー上又
はプリント紙上において超過量に応じて色分け表示すれ
ば、目的とする欠陥的付加むらを一層簡単に視認できる
効果がある。
ムＣＨAD(L) 又は個別付加むらスペクトログラムＣＨ
kAD の超過チャンネルの超過部分を、ディスプレー上又
はプリント紙上において超過量に応じて色分け表示すれ
ば、目的とする欠陥的付加むらを一層簡単に視認できる
効果がある。
【図１】糸むら成分の説明図であり、（Ａ）は糸むら
（実線）が複数の波長成分（Ａ、Ｂ、Ｃ）を含むことを
示す１例、（Ｂ）は周波数解析により形成した個別スペ
クトログラムの１例、（Ｃ）は理想スペクトラムを書き
加えた個別スペクトログラムの１例である。
（実線）が複数の波長成分（Ａ、Ｂ、Ｃ）を含むことを
示す１例、（Ｂ）は周波数解析により形成した個別スペ
クトログラムの１例、（Ｃ）は理想スペクトラムを書き
加えた個別スペクトログラムの１例である。
【図２】本発明により１本の試料から測定した糸むらを
例示しており、（Ａ）は走行中の試料の重量変動に比例
する信号のアナログ波形の１例、（Ｂ）は該信号を周波
数解析することにより形成した個別スペクトログラムの
１例である。
例示しており、（Ａ）は走行中の試料の重量変動に比例
する信号のアナログ波形の１例、（Ｂ）は該信号を周波
数解析することにより形成した個別スペクトログラムの
１例である。
【図３】本発明におけるオーバーオールスペクトログラ
ムとリファレンススペクロトグラムを示しており、
（Ａ）はｋ個の個別スペクトログラムから形成したオー
バーオールスペクトログラムの１例、（Ｂ）は該オーバ
ーオールスペクトログラムから形成したリファレンスス
ペクロトグラムの１例である。
ムとリファレンススペクロトグラムを示しており、
（Ａ）はｋ個の個別スペクトログラムから形成したオー
バーオールスペクトログラムの１例、（Ｂ）は該オーバ
ーオールスペクトログラムから形成したリファレンスス
ペクロトグラムの１例である。
【図４】本発明により表示される欠陥付加むらのスペク
トログラムであり、（Ａ）は平均付加むらスペクトログ
ラムをリファレンススペクトログラムの上に重畳して表
した表示方法の１例、（Ｂ）は個別付加むらスペクトロ
グラムを単独で表した表示方法の１例である。
トログラムであり、（Ａ）は平均付加むらスペクトログ
ラムをリファレンススペクトログラムの上に重畳して表
した表示方法の１例、（Ｂ）は個別付加むらスペクトロ
グラムを単独で表した表示方法の１例である。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名)
D01H 13/26
Claims (3)
- 【請求項１】 測定対象の糸からサンプリングした複数
本の試料を走行させ、各試料の重量変動に比例する信号
を取出した後、前記信号から周波数解析又は波長解析に
より長短異なる波長の糸むら成分をチャンネル毎に分類
し、各糸むら成分の変動率をチャンネルの高さにより表
示した個別スペクトログラムを形成する糸むら検出方法
において、 前記試料の本数に対応して得られたｋ個の個別スペクト
ログラムを平均化することによりオーバーオールスペク
トログラムを形成すると共に、該オーバーオールスペク
トログラムの隣接するチャンネル相互の高さを平均化す
ることによりリファレンススペクトログラムを形成し、 前記リファレンススペクロトグラムとオーバーオールス
ペクトログラムを比較することにより、オーバーオール
スペクトログラムのうちリファレンススペクトログラム
を超過する高さのチャンネルの該超過部分を平均付加む
らスペクトログラムとして表示することを特徴とする糸
むら検出方法。 - 【請求項２】 測定対象の糸からサンプリングした複数
本の試料を走行させ、各試料の重量変動に比例する信号
を取出した後、前記信号から周波数解析又は波長解析に
より長短異なる波長の糸むら成分をチャンネル毎に分類
し、各糸むら成分の変動率をチャンネルの高さにより表
示した個別スペクトログラムを形成する糸むら検出方法
において、 前記試料の本数に対応して得られたｋ個の個別スペクト
ログラムを平均化することによりオーバーオールスペク
トログラムを形成すると共に、該オーバーオールスペク
トログラムの隣接するチャンネル相互の高さを平均化す
ることによりリファレンススペクトログラムを形成し、 前記リファレンススペクロトグラムと個別スペクトログ
ラムを比較することにより、個別スペクトログラムのう
ちリファレンススペクトログラムを超過する高さのチャ
ンネルの該超過部分を個別付加むらスペクトログラムと
して表示することを特徴とする糸むら検出方法。 - 【請求項３】 ディスプレー上又はプリント紙上におい
て、前記超過チャンネルの超過部分を超過量に応じて色
分け表示することを特徴とする請求項１又は２に記載の
糸むら検出方法。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19287696A JP3520159B2 (ja) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | 糸むら検出方法 |
| US08/866,221 US5910187A (en) | 1996-07-02 | 1997-05-30 | Method of detecting yarn unevenness |
| EP97108973A EP0816542B1 (en) | 1996-07-02 | 1997-06-04 | Method of detecting yarn unevenness |
| DE69719249T DE69719249T2 (de) | 1996-07-02 | 1997-06-04 | Verfahren zum Feststellen von Fadenungleichmässigkeit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19287696A JP3520159B2 (ja) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | 糸むら検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1018132A JPH1018132A (ja) | 1998-01-20 |
| JP3520159B2 true JP3520159B2 (ja) | 2004-04-19 |
Family
ID=16298453
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19287696A Expired - Fee Related JP3520159B2 (ja) | 1996-07-02 | 1996-07-02 | 糸むら検出方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5910187A (ja) |
| EP (1) | EP0816542B1 (ja) |
| JP (1) | JP3520159B2 (ja) |
| DE (1) | DE69719249T2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB9816604D0 (en) * | 1998-07-30 | 1998-09-30 | Fibrevision Limited | Yarn monitoring |
| DE102005019760B4 (de) | 2004-05-29 | 2018-12-20 | Rieter Ingolstadt Gmbh | Spinnereimaschine mit einem Streckwerk zum Verstrecken eines Faserverbandes und entsprechendes Verfahren |
| WO2014107817A1 (de) | 2013-01-09 | 2014-07-17 | Uster Technologies Ag | Ermittlung von fehlerursachen in einem produktionsprozess eines länglichen textilen gebildes |
| CN112651928B (zh) * | 2020-12-08 | 2022-08-23 | 东华大学 | 基于动态卷积神经网络的涤纶长丝均匀性在线检测系统 |
| CN120198435A (zh) * | 2025-05-27 | 2025-06-24 | 陕西银华纺织有限责任公司 | 一种基于图像处理的纺织品缺陷检测方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| IT977676B (it) * | 1972-01-26 | 1974-09-20 | Kurashiki Boseki Kk | Procedimento ed apparecchio per l accertamento delle qualita di un filato |
| US3945181A (en) * | 1973-08-11 | 1976-03-23 | Toray Industries, Inc. | Process and apparatus for measuring uniformity of physical properties of yarn |
| JPS5862511A (ja) * | 1981-10-09 | 1983-04-14 | Murata Mach Ltd | 糸ムラ情報の解析方法および解析装置 |
| CH661913A5 (de) * | 1983-08-19 | 1987-08-31 | Zellweger Uster Ag | Verfahren und vorrichtung zur gleichzeitigen ueberwachung der garnqualitaet an einer vielzahl gleichartiger ueberwachungsstellen einer textilmaschine. |
| IT1185450B (it) * | 1985-10-16 | 1987-11-12 | Nuovo Pignone Spa | Stribbia ottica perfezionata,particolarmente adatta per open-end |
| CH672931A5 (ja) * | 1986-05-21 | 1990-01-15 | Zellweger Uster Ag | |
| CH687110A5 (de) * | 1991-09-10 | 1996-09-13 | Luwa Ag Zellweger | Verfahren zur Erstellung einer Stoerungsdiagnose an Produktionsmaschinen und Anwendung des Verfahrens an Textilmaschinen. |
| JP2611611B2 (ja) * | 1992-10-16 | 1997-05-21 | 村田機械株式会社 | 糸ムラ情報解析装置 |
| US5570188A (en) * | 1993-11-10 | 1996-10-29 | Lawson-Hemphill, Inc. | System and method for electronically displaying yarn qualities |
-
1996
- 1996-07-02 JP JP19287696A patent/JP3520159B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1997
- 1997-05-30 US US08/866,221 patent/US5910187A/en not_active Expired - Fee Related
- 1997-06-04 EP EP97108973A patent/EP0816542B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1997-06-04 DE DE69719249T patent/DE69719249T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0816542A2 (en) | 1998-01-07 |
| EP0816542A3 (en) | 1999-01-13 |
| JPH1018132A (ja) | 1998-01-20 |
| DE69719249T2 (de) | 2003-12-11 |
| DE69719249D1 (de) | 2003-04-03 |
| US5910187A (en) | 1999-06-08 |
| EP0816542B1 (en) | 2003-02-26 |
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