JPH07110326A - 容器検査機 - Google Patents
容器検査機Info
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- JPH07110326A JPH07110326A JP6210130A JP21013094A JPH07110326A JP H07110326 A JPH07110326 A JP H07110326A JP 6210130 A JP6210130 A JP 6210130A JP 21013094 A JP21013094 A JP 21013094A JP H07110326 A JPH07110326 A JP H07110326A
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- Japan
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- container
- dimensional
- vessel
- inspection
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/024—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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- Image Processing (AREA)
- Image Input (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 容器の周辺部を検査する新規な検査機を提供
する。 【構成】 直立容器の周辺部を検査するための検査機
は、検査位置を通るように直立容器（１２）を搬送する
手段（１０）を備え；検査位置が、容器が検査位置に位
置するときに平行光線（１６）の周辺部が容器の周辺部
から離間するように選択された形状を有する平行光線を
容器の方へ垂直下方に向ける手段（２０）と、検査位置
における容器の垂直投影像のプロフィールを軸方向に眺
める二次元カメラ手段（２０）と、二次元カメラ手段に
より眺められたプロフィールの周辺部を評価し、容器の
適否を決定する画像処理手段（３２）とを備え；この画
像処理手段が、獲得画像の中心を決定する手段と、垂直
投影像における理想の容器の周界を表す仮想線により二
等分された少なくとも１つの二次元矩形領域内に、獲得
画像の周界を再マップ化する手段とを具備する。
する。 【構成】 直立容器の周辺部を検査するための検査機
は、検査位置を通るように直立容器（１２）を搬送する
手段（１０）を備え；検査位置が、容器が検査位置に位
置するときに平行光線（１６）の周辺部が容器の周辺部
から離間するように選択された形状を有する平行光線を
容器の方へ垂直下方に向ける手段（２０）と、検査位置
における容器の垂直投影像のプロフィールを軸方向に眺
める二次元カメラ手段（２０）と、二次元カメラ手段に
より眺められたプロフィールの周辺部を評価し、容器の
適否を決定する画像処理手段（３２）とを備え；この画
像処理手段が、獲得画像の中心を決定する手段と、垂直
投影像における理想の容器の周界を表す仮想線により二
等分された少なくとも１つの二次元矩形領域内に、獲得
画像の周界を再マップ化する手段とを具備する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は円筒状ガラス製品の不良
形成、寸法変化及び欠陥を検査する検査機に関する。
形成、寸法変化及び欠陥を検査する検査機に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガラス容器はＩ．Ｓ．（個々区分
形成）機械を用いて溶融ガラスの別個の塊から作ってい
る。まず、対向する側部分を有する素材モールド内に各
溶融ガラスの塊を入れてパリソンを形成し、次いで、対
向する側部分を有するブローモールド内でパリソンをブ
ロー成形して最終容器を形成する。容器は所望の形状
（横断面）を有さねばならない。この所望形状からの全
体の変化即ちずれが異常に大きい場合は、容器を不適格
品とすべきである。ブローモールドの対向する側部分を
互いに近づけてパリソンを作る際に、パリソンの底にシ
ーム（継ぎ目）が形成され、このシームは普通顕著に観
察できる。このシーム（局部変化）は許容し難いほど顕
著になる場合があり、または、シームに沿って部分的又
は全体的にガラスの薄い鰭（フィン）が形成される場合
もある。これらいずれの場合も、検査時にその容器を不
適格品として排除すべきである。
形成）機械を用いて溶融ガラスの別個の塊から作ってい
る。まず、対向する側部分を有する素材モールド内に各
溶融ガラスの塊を入れてパリソンを形成し、次いで、対
向する側部分を有するブローモールド内でパリソンをブ
ロー成形して最終容器を形成する。容器は所望の形状
（横断面）を有さねばならない。この所望形状からの全
体の変化即ちずれが異常に大きい場合は、容器を不適格
品とすべきである。ブローモールドの対向する側部分を
互いに近づけてパリソンを作る際に、パリソンの底にシ
ーム（継ぎ目）が形成され、このシームは普通顕著に観
察できる。このシーム（局部変化）は許容し難いほど顕
著になる場合があり、または、シームに沿って部分的又
は全体的にガラスの薄い鰭（フィン）が形成される場合
もある。これらいずれの場合も、検査時にその容器を不
適格品として排除すべきである。
【０００３】
【発明の目的】本発明の目的は、ガラスビンの外径を検
査するための改善したアルゴリズムを提供することであ
る。
査するための改善したアルゴリズムを提供することであ
る。
【０００４】
【発明の構成】本発明によれば、直立容器の周辺部を検
査するための検査機であって、検査位置を通るように直
立容器を搬送する手段を備え；検査位置が、容器が検査
位置に位置するときに平行光線の周辺部が容器の周辺部
から離間するように選択された形状を有する平行光線を
容器の方へ垂直下方に向ける手段と、検査位置における
容器の垂直投影像のプロフィールを軸方向に眺める二次
元カメラ手段と、二次元カメラ手段により眺められたプ
ロフィールの周辺部を評価する画像処理手段と、を備
え；この画像処理手段が、獲得画像の中心を決定する手
段と、垂直投影像における理想の容器の周界を表す仮想
線により二等分された少なくとも１つの二次元矩形領域
内に、記獲得画像の周界を再マップ化する手段と、を備
えたことを特徴とする検査機が提供される。
査するための検査機であって、検査位置を通るように直
立容器を搬送する手段を備え；検査位置が、容器が検査
位置に位置するときに平行光線の周辺部が容器の周辺部
から離間するように選択された形状を有する平行光線を
容器の方へ垂直下方に向ける手段と、検査位置における
容器の垂直投影像のプロフィールを軸方向に眺める二次
元カメラ手段と、二次元カメラ手段により眺められたプ
ロフィールの周辺部を評価する画像処理手段と、を備
え；この画像処理手段が、獲得画像の中心を決定する手
段と、垂直投影像における理想の容器の周界を表す仮想
線により二等分された少なくとも１つの二次元矩形領域
内に、記獲得画像の周界を再マップ化する手段と、を備
えたことを特徴とする検査機が提供される。
【０００５】
【実施例】検査機はコンベヤ１０を有し、容器１２はフ
ィーダ（図示せず）によりコンベヤ１０上に置かれる。
各容器はその底部からネック（頸）部１４まで垂直上方
に延びる円筒（例えば、円形又は楕円形）形状１３を呈
する（なお、容器（ビン）の軸線は垂直である）。コン
ベヤは連続的に移動し、その移動中、容器は図示の検査
位置へ運ばれ、この検査位置においては、平行光１６が
下方に向けて容器上に照射される。フレネルレンズ２０
は短アークフラッシュチューブ１８から拡散した光１９
を受光し、平行光線１６を形成する。図３に示すよう
に、コンベヤ上の平行光線のフットプリントは、搬送さ
れた任意のビンに対して、ビンのまわりに光の環状帯域
を形成するように選択されている。
ィーダ（図示せず）によりコンベヤ１０上に置かれる。
各容器はその底部からネック（頸）部１４まで垂直上方
に延びる円筒（例えば、円形又は楕円形）形状１３を呈
する（なお、容器（ビン）の軸線は垂直である）。コン
ベヤは連続的に移動し、その移動中、容器は図示の検査
位置へ運ばれ、この検査位置においては、平行光１６が
下方に向けて容器上に照射される。フレネルレンズ２０
は短アークフラッシュチューブ１８から拡散した光１９
を受光し、平行光線１６を形成する。図３に示すよう
に、コンベヤ上の平行光線のフットプリントは、搬送さ
れた任意のビンに対して、ビンのまわりに光の環状帯域
を形成するように選択されている。
【０００６】コンベヤは透明ウレタンから設計された一
部品の継ぎ目無し（シームレス）ベルトでできており、
駆動装置２２により駆動せしめられる。ベルトはテフロ
ン（登録商標名：正式名はポリテトラフルオルエチレ
ン）層２４で被覆した金属板２３により支持される。ベ
ルトの下面と同じ高さ位置において、開口２６内にディ
フューザ板２８が固定してある。垂直上方を眺める二次
元カメラ３０はディフューザ板を通して容器の垂直投影
像のプロフィール即ち輪郭を写し、平行光線のフットプ
リントを見る。カメラにより感知された像は画像処理コ
ンピュータ３２により評価される。このような画像処理
コンピュータは平行光線によりディフューザ板の拡散表
面に映された容器の像の形状即ち周辺部（即ち、輪郭、
周界、外縁、縁部）を図２に示すように評価し、鰭３４
（図３）又は円形形状からの許容し難いずれの存否を決
定する。鰭等の存在が確認されたときは、コンピュータ
は容器を排斥するための信号を発する。検査済みの容器
はコンベヤから去り、適当な装置（図示せず）により次
の処理を受ける。
部品の継ぎ目無し（シームレス）ベルトでできており、
駆動装置２２により駆動せしめられる。ベルトはテフロ
ン（登録商標名：正式名はポリテトラフルオルエチレ
ン）層２４で被覆した金属板２３により支持される。ベ
ルトの下面と同じ高さ位置において、開口２６内にディ
フューザ板２８が固定してある。垂直上方を眺める二次
元カメラ３０はディフューザ板を通して容器の垂直投影
像のプロフィール即ち輪郭を写し、平行光線のフットプ
リントを見る。カメラにより感知された像は画像処理コ
ンピュータ３２により評価される。このような画像処理
コンピュータは平行光線によりディフューザ板の拡散表
面に映された容器の像の形状即ち周辺部（即ち、輪郭、
周界、外縁、縁部）を図２に示すように評価し、鰭３４
（図３）又は円形形状からの許容し難いずれの存否を決
定する。鰭等の存在が確認されたときは、コンピュータ
は容器を排斥するための信号を発する。検査済みの容器
はコンベヤから去り、適当な装置（図示せず）により次
の処理を受ける。
【０００７】図２は本発明に係るアルゴリズムのフロー
チャートである。ステップＳ１において、獲得画像(acq
uire image) が図３に示すスクリーンにより現され、こ
の画像はＣＲＴスクリーン上の容器の画像（デジタル画
像処理装置のメモリースペースに記憶される画像）であ
る。次のステップＳ２において、この画像の中心を決定
する。図４に示すように、ｘ、ｙ方向の線を走査し、遷
移地点（光が暗部に変わり、画像の縁部を表す地点）を
位置決めし、次いで、これと対をなす（即ち補足的な）
遷移地点（暗部から明部に変わり、画像の別の縁部を表
す地点）を位置決めする。記憶した画像は必要な測定精
度を保証するのに十分大きな空間解像度を有し、投影画
像を背景から区別するのを保証するのに十分大きな振幅
解像度を有する。これら２つの地点に基づき、中間ｘ軸
位置及び中間ｙ軸位置（ｘ軸方向及びｙ軸方向における
中心点）を決定できる（投票操作（決定操作）は悪いデ
ータを否決（否定）するために使用できる）。この中心
点は別の技術、例えば境界決め箱(bounding box)により
位置決めしてもよい。画像が円形でない（例えば、楕円
形）の場合、容器の方位を決定する。
チャートである。ステップＳ１において、獲得画像(acq
uire image) が図３に示すスクリーンにより現され、こ
の画像はＣＲＴスクリーン上の容器の画像（デジタル画
像処理装置のメモリースペースに記憶される画像）であ
る。次のステップＳ２において、この画像の中心を決定
する。図４に示すように、ｘ、ｙ方向の線を走査し、遷
移地点（光が暗部に変わり、画像の縁部を表す地点）を
位置決めし、次いで、これと対をなす（即ち補足的な）
遷移地点（暗部から明部に変わり、画像の別の縁部を表
す地点）を位置決めする。記憶した画像は必要な測定精
度を保証するのに十分大きな空間解像度を有し、投影画
像を背景から区別するのを保証するのに十分大きな振幅
解像度を有する。これら２つの地点に基づき、中間ｘ軸
位置及び中間ｙ軸位置（ｘ軸方向及びｙ軸方向における
中心点）を決定できる（投票操作（決定操作）は悪いデ
ータを否決（否定）するために使用できる）。この中心
点は別の技術、例えば境界決め箱(bounding box)により
位置決めしてもよい。画像が円形でない（例えば、楕円
形）の場合、容器の方位を決定する。
【０００８】次いで、理想的な容器の周界が１以上の直
線線分（周界の長さの関数）上に位置するように、画像
の周界縁を含む領域を別のデジタルメモリースペース内
で図５に示すように再マップ化する（ステップＳ３）。
この再マップ化は、見本としての画素を含む任意の画像
処理装置又は空間変換のためのワープ装置により行うこ
とができるし、または、再マップ化はソフトウエアを用
いて行ってもよい。公称上円形の容器に対する図示の画
像の場合、この領域は環状で、容器の投影像の半径より
若干小さな内側半径と若干大きな外側半径とを有する。
ソースフレーム（こま）内に再マップ化されるこの領域
は容器の垂直投影像の形状を常に表し、このソース領域
を再マップ化させる区域は常にほぼ矩形で、容器の理想
的な投影像の周界を表す（仮想上の）直線により一つの
軸線に沿って二等分されている。一般に、ソース画像領
域の画素領域は画像間の一般的な空間関係と共に再マッ
プとして保持される。この操作は従来から画像の「ワー
プ化」として知られており、相似マップ化として知られ
慎重に実行される幾何学的操作である。ワープ化は補間
により行ってもよく、補間を用いずに行ってもよい。
線線分（周界の長さの関数）上に位置するように、画像
の周界縁を含む領域を別のデジタルメモリースペース内
で図５に示すように再マップ化する（ステップＳ３）。
この再マップ化は、見本としての画素を含む任意の画像
処理装置又は空間変換のためのワープ装置により行うこ
とができるし、または、再マップ化はソフトウエアを用
いて行ってもよい。公称上円形の容器に対する図示の画
像の場合、この領域は環状で、容器の投影像の半径より
若干小さな内側半径と若干大きな外側半径とを有する。
ソースフレーム（こま）内に再マップ化されるこの領域
は容器の垂直投影像の形状を常に表し、このソース領域
を再マップ化させる区域は常にほぼ矩形で、容器の理想
的な投影像の周界を表す（仮想上の）直線により一つの
軸線に沿って二等分されている。一般に、ソース画像領
域の画素領域は画像間の一般的な空間関係と共に再マッ
プとして保持される。この操作は従来から画像の「ワー
プ化」として知られており、相似マップ化として知られ
慎重に実行される幾何学的操作である。ワープ化は補間
により行ってもよく、補間を用いずに行ってもよい。
【０００９】次いで、ステップＳ４において、容器の垂
直投影像の周界を表す二次元アレイ（配列）を、濃度投
影を表す一次元アレイへと縮小する。この実施例におい
ては、容器の画像の縁部は複数個の水平画像として再マ
ップ化されている。画素縦列に沿って垂直に集計するこ
とにより、多数のナンバーから成るこの二次元アレイを
多数のナンバーから成る一次元アレイ（図６）に縮小す
ることができる。各ナンバーは、ワープ操作に使用する
ソース領域の内側境界からの、画素ユニット内で測定し
た半径の局部差を表す。容器の画像の境界を複数個の垂
直矩形として再マップ化した場合は、これらの矩形は画
素横列に沿って水平に集計されるが、その操作は上述の
操作と同じであることに留意されたい。
直投影像の周界を表す二次元アレイ（配列）を、濃度投
影を表す一次元アレイへと縮小する。この実施例におい
ては、容器の画像の縁部は複数個の水平画像として再マ
ップ化されている。画素縦列に沿って垂直に集計するこ
とにより、多数のナンバーから成るこの二次元アレイを
多数のナンバーから成る一次元アレイ（図６）に縮小す
ることができる。各ナンバーは、ワープ操作に使用する
ソース領域の内側境界からの、画素ユニット内で測定し
た半径の局部差を表す。容器の画像の境界を複数個の垂
直矩形として再マップ化した場合は、これらの矩形は画
素横列に沿って水平に集計されるが、その操作は上述の
操作と同じであることに留意されたい。
【００１０】次の操作（境界検査）即ちステップＳ５に
おいて、多数のナンバーから成る一次元アレイを検査
し、オペレータが直接的又は間接的に設定した境界内に
これらのアレイが位置するか否かを確かめる。一般に、
この境界は垂直投影図における容器の許容可能な最大及
び最小寸法としてオペレータが（例えば、垂直投影図と
しての容器の青写真に基づき）間接的に設定する。この
場合、設定中、画素、寸法、光学倍率等を考慮して、計
算装置が寸法上の許容差を上方及び下方の境界に変換
し、これらの上方及び下方の境界は一次元アレイが許容
可能な寸法変化の範囲内にあるか否かを調べるために使
用される。必要なら、この境界検査を図５に示す二次元
領域に対して行うこともできる。
おいて、多数のナンバーから成る一次元アレイを検査
し、オペレータが直接的又は間接的に設定した境界内に
これらのアレイが位置するか否かを確かめる。一般に、
この境界は垂直投影図における容器の許容可能な最大及
び最小寸法としてオペレータが（例えば、垂直投影図と
しての容器の青写真に基づき）間接的に設定する。この
場合、設定中、画素、寸法、光学倍率等を考慮して、計
算装置が寸法上の許容差を上方及び下方の境界に変換
し、これらの上方及び下方の境界は一次元アレイが許容
可能な寸法変化の範囲内にあるか否かを調べるために使
用される。必要なら、この境界検査を図５に示す二次元
領域に対して行うこともできる。
【００１１】分析すべき欠陥即ち形状の大きな局部変化
についての第２のカテゴリーがあり、その局部変化の主
たる一例は、最終形状を得るために溶融ガラスをブロー
成形するためのモールドの２つのモールド半型により、
シーム（継ぎ目）を形成するように溶融ガラスを間違っ
て圧縮した場合に生じる「鰭」である。このような突起
物即ち鰭の存在は、容器の全体の寸法変化が許容できる
ものであったとしても、容器を不適格品（許容できない
もの）としてしまう。更に、許容可能な量だけ全体的に
寸法が小さな領域において局部的な突出が生じる場合が
ある。このような場合、図５に示すように簡単な境界検
査を行ったときに、全体的に寸法が小さな幾何学形状の
ために、局部的な突出物が隠されてしまうことがある。
これは、鰭を含んだ領域がわずかに陥没している場合に
生じる。つまり、陥没の量が許容範囲内にあったとき
に、（許容範囲外の）鰭を許容範囲内のものとしてしま
うことがある。しかし、この場合、鰭自体は許容できな
いものであるから、検査装置は鰭が許容できないもので
あることを認識しなければならない。
についての第２のカテゴリーがあり、その局部変化の主
たる一例は、最終形状を得るために溶融ガラスをブロー
成形するためのモールドの２つのモールド半型により、
シーム（継ぎ目）を形成するように溶融ガラスを間違っ
て圧縮した場合に生じる「鰭」である。このような突起
物即ち鰭の存在は、容器の全体の寸法変化が許容できる
ものであったとしても、容器を不適格品（許容できない
もの）としてしまう。更に、許容可能な量だけ全体的に
寸法が小さな領域において局部的な突出が生じる場合が
ある。このような場合、図５に示すように簡単な境界検
査を行ったときに、全体的に寸法が小さな幾何学形状の
ために、局部的な突出物が隠されてしまうことがある。
これは、鰭を含んだ領域がわずかに陥没している場合に
生じる。つまり、陥没の量が許容範囲内にあったとき
に、（許容範囲外の）鰭を許容範囲内のものとしてしま
うことがある。しかし、この場合、鰭自体は許容できな
いものであるから、検査装置は鰭が許容できないもので
あることを認識しなければならない。
【００１２】ステップＳ６におけるハイパスフィルタ
（図６）の機能は、局部変化の表示をそのままにした状
態又はその局部振幅を増大させている間に、一次元アレ
イ表示からの全体の形状変化を排除することである。こ
れは、各画素とすぐ隣の画素とを次のように比較するこ
とにより行う。すなわち、アレイ内の画素ＰをＰｎで示
し、これに先行する画素をＰn-1で示し、後続の画素を
Ｐn+1で示し、画素Ｐｎが次のアレイ（第２アレイ）内
に画素Ｐ’ｎとして再マップ化される場合、画素Ｐ’ｎ
は元のアレイに基づき次の式から計算される。
（図６）の機能は、局部変化の表示をそのままにした状
態又はその局部振幅を増大させている間に、一次元アレ
イ表示からの全体の形状変化を排除することである。こ
れは、各画素とすぐ隣の画素とを次のように比較するこ
とにより行う。すなわち、アレイ内の画素ＰをＰｎで示
し、これに先行する画素をＰn-1で示し、後続の画素を
Ｐn+1で示し、画素Ｐｎが次のアレイ（第２アレイ）内
に画素Ｐ’ｎとして再マップ化される場合、画素Ｐ’ｎ
は元のアレイに基づき次の式から計算される。
【００１３】Ｐ’ｎ＝Ｐｎ×２−Ｐn-1−Ｐn+1 ここで、Ｐｎ、Ｐn-1、Ｐn+1がすべて同じ値を有する場
合は、Ｐ’ｎがゼロになることを諒解されたい。画素が
隣の画素より大きい場合は、その差は誇張される。この
ようにして、第２アレイ内のすべての画素は元のアレイ
に再マップ化される。このマップ化を図８に示す。局部
変動（鰭）が増長されている間、直径の漸進的な変動は
抑制されることを諒解されたい。従来から、この操作は
ハイパスフィルタ、一層一般的には、ローパスフィルタ
とは逆の作動を行う限定インパルス応答フィルタ（ＦＩ
Ｒフィルタ）として知られている。これは普通渦巻き即
ち回旋として実行される。この操作においては、多数の
隣の画素（例えば、２つの先行画素及び２つの後続画
素）を考慮するとよい。次いで、これらの鰭についてス
テップＳ７の境界検査（図９）を行う。
合は、Ｐ’ｎがゼロになることを諒解されたい。画素が
隣の画素より大きい場合は、その差は誇張される。この
ようにして、第２アレイ内のすべての画素は元のアレイ
に再マップ化される。このマップ化を図８に示す。局部
変動（鰭）が増長されている間、直径の漸進的な変動は
抑制されることを諒解されたい。従来から、この操作は
ハイパスフィルタ、一層一般的には、ローパスフィルタ
とは逆の作動を行う限定インパルス応答フィルタ（ＦＩ
Ｒフィルタ）として知られている。これは普通渦巻き即
ち回旋として実行される。この操作においては、多数の
隣の画素（例えば、２つの先行画素及び２つの後続画
素）を考慮するとよい。次いで、これらの鰭についてス
テップＳ７の境界検査（図９）を行う。
【図面の簡単な説明】
【図１】円筒状ガラス容器の周辺部（形状）を検査する
ための従来の機械を示す概略図である。
ための従来の機械を示す概略図である。
【図２】本発明に係る検査アルゴリズムを示すフローチ
ャート図である。
ャート図である。
【図３】カメラで眺めた図１に示す容器を示す図であ
る。
る。
【図４】図３と同様の図であるが、画像の中心を検知す
る方法を示す図である。
る方法を示す図である。
【図５】アルゴリズムの一ステップを表すフレーム（こ
ま）を示す図である。
ま）を示す図である。
【図６】アルゴリズムの別のステップを表すフレームを
示す図である。
示す図である。
【図７】アルゴリズムの更に別のステップを表すフレー
ムを示す図である。
ムを示す図である。
【図８】アルゴリズムの他のステップを表すフレームを
示す図である。
示す図である。
【図９】アルゴリズムの更に他のステップを表すフレー
ムを示す図である。
ムを示す図である。
１０ コンベヤ １２ 容器 １６ 平行光線 ２０ フレネルレンズ ３０ 二次元カメラ ３２ 画像処理コンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｇ０６Ｔ 7/00 1/00 (72)発明者 レオ・ビー・ボードウィン アメリカ合衆国ニューヨーク州14845，ホ ースヘッズ，ダファディル・ドライブ 115
Claims (5)
- 【請求項１】 直立容器の周辺部を検査するための検査
機において、 検査位置を通るように直立容器を搬送する手段を備え；
上記検査位置が、 上記容器が当該検査位置に位置するときに平行光線の周
辺部が当該容器の周辺部から離間するように選択された
形状を有する平行光線を該容器の方へ垂直下方に向ける
手段と、 上記検査位置における容器の垂直投影像のプロフィール
を軸方向に眺める二次元カメラ手段と、 上記二次元カメラ手段により眺められたプロフィールの
周辺部を評価する画像処理手段と、を備え；この画像処
理手段が、 獲得画像の中心を決定する手段と、 垂直投影像における理想の容器の周界を表す仮想線によ
り二等分された少なくとも１つの二次元矩形領域内に、
上記獲得画像の周界を再マップ化する手段と、を備えた
ことを特徴とする検査機。 - 【請求項２】 上記各二次元矩形領域の境界検査を行う
手段を更に備えたことを特徴とする請求項１の検査機。 - 【請求項３】 一次元アレイの各素子の振幅が当該アレ
イの素子の指標により表される周界上の位置で上記容器
の半径の局部変化を表すように、上記各二次元矩形領域
を当該一次元アレイとして投射する手段と、 上記各一次元アレイの境界検査を行う手段と、を更に備
えたことを特徴とする請求項１の検査機。 - 【請求項４】 上記各一次元アレイをろ過するための高
空間周波数フィルタと、 上記容器の幾何学的局部変化を検知するために上記ろ過
した各一次元アレイの境界検査を行う手段と、を更に備
えたことを特徴とする請求項３の検査機。 - 【請求項５】 一次元アレイの各素子の振幅が当該アレ
イの素子の指標により表される周界上の位置で上記容器
の半径の局部変化を表すように、上記各二次元矩形領域
を当該一次元アレイとして投射する手段と、 上記各一次元アレイをろ過するための高空間周波数フィ
ルタと、 上記容器の幾何学的局部変化を検知するために上記ろ過
した各一次元アレイの境界検査を行う手段と、を更に備
えたことを特徴とする請求項１の検査機。
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