JPH0691433A - ワイヤカット放電加工機 - Google Patents
ワイヤカット放電加工機Info
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- JPH0691433A JPH0691433A JP26796292A JP26796292A JPH0691433A JP H0691433 A JPH0691433 A JP H0691433A JP 26796292 A JP26796292 A JP 26796292A JP 26796292 A JP26796292 A JP 26796292A JP H0691433 A JPH0691433 A JP H0691433A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- discharge
- wire
- power supply
- output
- abnormal
- Prior art date
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- Pending
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-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
- B23H7/04—Apparatus for supplying current to working gap; Electric circuits specially adapted therefor
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 異常放電およびワイヤと給電子の接触不良を
検出し、これを表示するワイヤカット放電加工機。 【構成】 ２個の給電子がワイヤと摺接されたワイヤカ
ット放電加工機に関する。それぞれの給電子に流れる放
電電流の測定手段、通電不良検出手段、一方の電極に関
する放電位置仕分け手段を備える。さらに、通電不良検
出手段の出力をうけて給電子の接触が不良であることの
出力をすると共に、放電位置仕分け手段の出力を受けて
放電位置の分布が放電加工面に関して均等でない場合に
放電状態が異常であることの出力をする演算手段およ
び、この出力により給電子の接触不良、放電状態の異常
を表示する表示手段を備える。
検出し、これを表示するワイヤカット放電加工機。 【構成】 ２個の給電子がワイヤと摺接されたワイヤカ
ット放電加工機に関する。それぞれの給電子に流れる放
電電流の測定手段、通電不良検出手段、一方の電極に関
する放電位置仕分け手段を備える。さらに、通電不良検
出手段の出力をうけて給電子の接触が不良であることの
出力をすると共に、放電位置仕分け手段の出力を受けて
放電位置の分布が放電加工面に関して均等でない場合に
放電状態が異常であることの出力をする演算手段およ
び、この出力により給電子の接触不良、放電状態の異常
を表示する表示手段を備える。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被加工物とワイヤ間
に放電を行わせ、そのエネルギーで被加工物を加工する
ワイヤカット放電加工機に関する。
に放電を行わせ、そのエネルギーで被加工物を加工する
ワイヤカット放電加工機に関する。
【０００２】
【従来技術】ワイヤカット放電加工では、被加工物とワ
イヤ間に正常な放電を持続させることが精度の高い加工
を行う上で重要である。しかし、実際には被加工物にワ
イヤを近付け過ぎて放電間隙が短絡してしまったり、被
加工物とワイヤ間の間隙を満たす加工液中の加工屑や遊
離炭素などの偏在で放電箇所が一か所に集中してしまう
など異常放電の現象が生じる。
イヤ間に正常な放電を持続させることが精度の高い加工
を行う上で重要である。しかし、実際には被加工物にワ
イヤを近付け過ぎて放電間隙が短絡してしまったり、被
加工物とワイヤ間の間隙を満たす加工液中の加工屑や遊
離炭素などの偏在で放電箇所が一か所に集中してしまう
など異常放電の現象が生じる。
【０００３】一方、ワイヤには給電子を介して放電用電
源のパルス状電力が供給されるが、この供給状態も正常
な放電を維持する上で重要である。しかし、ワイヤは定
位置に固定された給電子の一部に接触して移動する（摺
接する）ので、給電子が磨耗してワイヤと接触不良とな
ることがある。なお、給電子は、通常、ワイヤの走行方
向に間隔をおいて２個あり、ワイヤと一方の給電子との
接触が不良となっても放電が停止することはないが、ワ
イヤにおける電圧分布が変化し、もはや、加工面の全域
に亘って均一な放電状態は維持できなくなる。
源のパルス状電力が供給されるが、この供給状態も正常
な放電を維持する上で重要である。しかし、ワイヤは定
位置に固定された給電子の一部に接触して移動する（摺
接する）ので、給電子が磨耗してワイヤと接触不良とな
ることがある。なお、給電子は、通常、ワイヤの走行方
向に間隔をおいて２個あり、ワイヤと一方の給電子との
接触が不良となっても放電が停止することはないが、ワ
イヤにおける電圧分布が変化し、もはや、加工面の全域
に亘って均一な放電状態は維持できなくなる。
【０００４】従来、異常放電については、図３のように
被加工物１と給電子２（ａ，ｂ）間の電圧を電圧測定装
置３（ａ，ｂ）でパルスごとに測定し、これを制御装置
４に伝達・処理し、その測定値が均一に分散した値であ
る場合に正常な放電状態にあると判断している。なお、
符号５はスイッチ回路で、加工用ＤＣ電源６をパルス状
電力に変換する。符号７はワイヤで給電子２（ａ，ｂ）
の双方に接触して図において上方から下方へ走行され
る。
被加工物１と給電子２（ａ，ｂ）間の電圧を電圧測定装
置３（ａ，ｂ）でパルスごとに測定し、これを制御装置
４に伝達・処理し、その測定値が均一に分散した値であ
る場合に正常な放電状態にあると判断している。なお、
符号５はスイッチ回路で、加工用ＤＣ電源６をパルス状
電力に変換する。符号７はワイヤで給電子２（ａ，ｂ）
の双方に接触して図において上方から下方へ走行され
る。
【０００５】しかし、この構成であると、ワイヤ７と給
電子２（ａ，ｂ）の接触、非接触に関わりなく、給電子
２（ａ，ｂ）と被加工物１間の電圧を測定することがで
きるので、ワイヤ７と給電子２（ａ，ｂ）の摺接状態が
不良となっている事態を検出できない。
電子２（ａ，ｂ）の接触、非接触に関わりなく、給電子
２（ａ，ｂ）と被加工物１間の電圧を測定することがで
きるので、ワイヤ７と給電子２（ａ，ｂ）の摺接状態が
不良となっている事態を検出できない。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、被加工物
とワイヤ間における異常放電の検出と共にワイヤと給電
子の接触不良を検出でき、さらに、これらを検出したこ
とを表示するワイヤカット放電加工機の提供を課題とす
る。
とワイヤ間における異常放電の検出と共にワイヤと給電
子の接触不良を検出でき、さらに、これらを検出したこ
とを表示するワイヤカット放電加工機の提供を課題とす
る。
【０００７】
【課題を解決するための手段】放電用電源回路からのパ
ルス状電力をワイヤに供給する２個の給電子がワイヤの
走行方向に間隔をとってワイヤと摺接するように配置さ
れ、それぞれの給電子に流れる放電電流の測定手段を備
えたワイヤカット放電加工機に関する。一方の給電子に
関して検出される電流値と他方の給電子に関して検出さ
れる電流値との差が所定値以上となった時に信号を出力
する通電不良検出手段、一方の電極に関する放電位置の
仕分け手段および演算手段を備える。
ルス状電力をワイヤに供給する２個の給電子がワイヤの
走行方向に間隔をとってワイヤと摺接するように配置さ
れ、それぞれの給電子に流れる放電電流の測定手段を備
えたワイヤカット放電加工機に関する。一方の給電子に
関して検出される電流値と他方の給電子に関して検出さ
れる電流値との差が所定値以上となった時に信号を出力
する通電不良検出手段、一方の電極に関する放電位置の
仕分け手段および演算手段を備える。
【０００８】演算手段は、通電不良検出手段の出力をう
けて給電子とワイヤの接触が不良であることの出力、あ
るいは放電位置仕分け手段の出力を受けて放電を繰り返
す周期に比べ充分に長い時間における前記の放電位置の
分布が均等でない場合に異常放電状態であることの出力
をする演算手段を備える。さらに、演算手段の出力を受
けてワイヤと給電子との接触が不良であること、あるい
は放電状態の異常を知らせる表示手段を備える。
けて給電子とワイヤの接触が不良であることの出力、あ
るいは放電位置仕分け手段の出力を受けて放電を繰り返
す周期に比べ充分に長い時間における前記の放電位置の
分布が均等でない場合に異常放電状態であることの出力
をする演算手段を備える。さらに、演算手段の出力を受
けてワイヤと給電子との接触が不良であること、あるい
は放電状態の異常を知らせる表示手段を備える。
【０００９】
【作用】放電電流の測定手段は、電流値の測定と共に通
電の有無を検出する。通電不良検出手段は、ワイヤの断
線やワイヤと給電子との接触不良などを検出する。放電
位置仕分け手段は、放電加工用電源のパルスごとにサン
プル電流値を得て、これを設定したレベルごとに仕分け
し、それぞれにカウントし、放電位置の分布を作成す
る。
電の有無を検出する。通電不良検出手段は、ワイヤの断
線やワイヤと給電子との接触不良などを検出する。放電
位置仕分け手段は、放電加工用電源のパルスごとにサン
プル電流値を得て、これを設定したレベルごとに仕分け
し、それぞれにカウントし、放電位置の分布を作成す
る。
【００１０】演算手段は、通電不良検出手段からの出力
の有無および、放電位置仕分け手段による放電位置の分
布が、放電加工に関し正常であるか異常であるかを判断
し、通電不良時あるいは、異常放電時に、これらの状態
を表示させるための出力を行う。表示手段は、通電不良
あるいは異常放電状態を作業者に視覚的または聴覚的に
伝達する。
の有無および、放電位置仕分け手段による放電位置の分
布が、放電加工に関し正常であるか異常であるかを判断
し、通電不良時あるいは、異常放電時に、これらの状態
を表示させるための出力を行う。表示手段は、通電不良
あるいは異常放電状態を作業者に視覚的または聴覚的に
伝達する。
【００１１】
【実施例】図１は、ワイヤカット放電加工機１０に関
し、放電加工用の電源回路、放電電流の測定手段１１
（電流検出器１２を備える）、通電不良検出手段１３、
放電位置仕分け手段１４および演算手段２５を含む制御
装置４を備える。放電加工用電源回路は、従来と同様に
加工用ＤＣ電源６の一方の極を被加工物１に、他方の極
を制御装置４によって制御されるスイッチ回路５を経
て、上下に間隔をおいて配置された２個の給電子２
（ａ，ｂ）に接続して構成されている。
し、放電加工用の電源回路、放電電流の測定手段１１
（電流検出器１２を備える）、通電不良検出手段１３、
放電位置仕分け手段１４および演算手段２５を含む制御
装置４を備える。放電加工用電源回路は、従来と同様に
加工用ＤＣ電源６の一方の極を被加工物１に、他方の極
を制御装置４によって制御されるスイッチ回路５を経
て、上下に間隔をおいて配置された２個の給電子２
（ａ，ｂ）に接続して構成されている。
【００１２】給電子２（ａ，ｂ）は上ノズルと下ノズル
にそれぞれ固定されており、ワイヤ７は、常時、双方に
摺接して走行するように配置されている。放電電流の測
定手段１１は、ホール素子やカレントトランスを用いた
電流検出器１２（ａ，ｂ）を上方の給電子２ａおよび下
方の給電子２ｂへの電路のそれぞれに配置した構成であ
って、これら電流検出器１２（ａ，ｂ）からの出力値は
通電不良検出手段１３と放電位置仕分け手段１４に伝達
される。通電不良検出手段１３、放電位置仕分け手段１
４は図２のように構成される。
にそれぞれ固定されており、ワイヤ７は、常時、双方に
摺接して走行するように配置されている。放電電流の測
定手段１１は、ホール素子やカレントトランスを用いた
電流検出器１２（ａ，ｂ）を上方の給電子２ａおよび下
方の給電子２ｂへの電路のそれぞれに配置した構成であ
って、これら電流検出器１２（ａ，ｂ）からの出力値は
通電不良検出手段１３と放電位置仕分け手段１４に伝達
される。通電不良検出手段１３、放電位置仕分け手段１
４は図２のように構成される。
【００１３】放電電流測定手段１１の出力ｅ1 ，ｅ
2 （電流増減時の微分値）は、まず、放電位置仕分け手
段１４の差動増幅器１５と加算器１６に入力され、これ
らは割算器１７で処理された後、サンプルホールド回路
１８でその立ち上がり時のピーク値がタイマー回路１９
にセットされた所定時間だけ維持され、サンプル電流値
とされる。割算器１７による処理は放電位置を正確に検
出するためであり、サンプルホールド回路１８はその検
出結果を仕分けしやすくするためである。なお、このよ
うな処理の理論は、特開平１−１２１１２７号公報（ワ
イヤ放電加工機における放電位置検出装置）に詳しく説
明されている。
2 （電流増減時の微分値）は、まず、放電位置仕分け手
段１４の差動増幅器１５と加算器１６に入力され、これ
らは割算器１７で処理された後、サンプルホールド回路
１８でその立ち上がり時のピーク値がタイマー回路１９
にセットされた所定時間だけ維持され、サンプル電流値
とされる。割算器１７による処理は放電位置を正確に検
出するためであり、サンプルホールド回路１８はその検
出結果を仕分けしやすくするためである。なお、このよ
うな処理の理論は、特開平１−１２１１２７号公報（ワ
イヤ放電加工機における放電位置検出装置）に詳しく説
明されている。
【００１４】サンプルホールド回路１８の出力は、複数
のコンパレータ２０（ａ〜ｃ）に入力され、それぞれ異
なったレベルの比較電圧Ｖ3 〜Ｖ5 （放電加工面の上
部、中部、下部に相当）と比較される。そして、各コン
パレータ２０（ａ〜ｃ）の出力は、それぞれのカウンタ
２１（ａ〜ｃ）でカウントされる。カウント値は制御装
置４の入出力回路（Ｉ／Ｏ）に伝達される。以上は、電
流仕分け手段１４である。
のコンパレータ２０（ａ〜ｃ）に入力され、それぞれ異
なったレベルの比較電圧Ｖ3 〜Ｖ5 （放電加工面の上
部、中部、下部に相当）と比較される。そして、各コン
パレータ２０（ａ〜ｃ）の出力は、それぞれのカウンタ
２１（ａ〜ｃ）でカウントされる。カウント値は制御装
置４の入出力回路（Ｉ／Ｏ）に伝達される。以上は、電
流仕分け手段１４である。
【００１５】通電不良検出手段１３は、図２において前
記の差動増幅器１５の出力（ｅ1 −ｅ2 ）を入力として
これをコンパレータ２２（ａ，ｂ）で構成するウィンド
コンパレータの異なったレベルの比較電圧Ｖ1 ，Ｖ2 と
比較する。コンパレータ２２ａは入力値が比較電圧Ｖ1
より高い時に出力があるが、その出力は直接オアゲート
２３に伝達される。一方、コンパレータ２２ｂは入力値
が比較電圧Ｖ2 より低い時に出力があるが、その出力は
マイナス側なので、反転されてからオアゲート２３に伝
達される。このような処理の理論は特開昭６４−１１７
２６号公報（ワイヤ断線検出装置）に詳しく説明されて
いる。そして、オアゲート２３の出力は制御装置４の入
出力回路（Ｉ／Ｏ）に伝達される。
記の差動増幅器１５の出力（ｅ1 −ｅ2 ）を入力として
これをコンパレータ２２（ａ，ｂ）で構成するウィンド
コンパレータの異なったレベルの比較電圧Ｖ1 ，Ｖ2 と
比較する。コンパレータ２２ａは入力値が比較電圧Ｖ1
より高い時に出力があるが、その出力は直接オアゲート
２３に伝達される。一方、コンパレータ２２ｂは入力値
が比較電圧Ｖ2 より低い時に出力があるが、その出力は
マイナス側なので、反転されてからオアゲート２３に伝
達される。このような処理の理論は特開昭６４−１１７
２６号公報（ワイヤ断線検出装置）に詳しく説明されて
いる。そして、オアゲート２３の出力は制御装置４の入
出力回路（Ｉ／Ｏ）に伝達される。
【００１６】制御装置４は、通常の数値制御装置（ＮＣ
装置）であって、中央演算装置（ＣＰＵ）、システムプ
ログラムなどを納めた読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、
放電加工を実行する加工プログラム等を納めた書き込み
・読み出しメモリ（ＲＡＭ）および入出力回路（Ｉ／
Ｏ）等を備えている。また、表示手段２４としてのＣＲ
Ｔおよび、パラメータ値やデータを制御装置４に入力し
設定するための設定器（ＭＤＩ）を備える。
装置）であって、中央演算装置（ＣＰＵ）、システムプ
ログラムなどを納めた読み出し専用メモリ（ＲＯＭ）、
放電加工を実行する加工プログラム等を納めた書き込み
・読み出しメモリ（ＲＡＭ）および入出力回路（Ｉ／
Ｏ）等を備えている。また、表示手段２４としてのＣＲ
Ｔおよび、パラメータ値やデータを制御装置４に入力し
設定するための設定器（ＭＤＩ）を備える。
【００１７】ワイヤカット放電加工機１０が稼働してい
るとき、電流測定手段１１で検出される電流、すなわ
ち、電流検出器１２（ａ，ｂ）によって検出される上方
給電子２ａ側の電流検出値ｅ1 および下方給電子２ｂ側
の電流検出値ｅ2 は放電位置仕分け手段１４で処理さ
れ、これらの値から放電加工面における放電位置が上
部、中部、下部に仕分けされてカウントされる。
るとき、電流測定手段１１で検出される電流、すなわ
ち、電流検出器１２（ａ，ｂ）によって検出される上方
給電子２ａ側の電流検出値ｅ1 および下方給電子２ｂ側
の電流検出値ｅ2 は放電位置仕分け手段１４で処理さ
れ、これらの値から放電加工面における放電位置が上
部、中部、下部に仕分けされてカウントされる。
【００１８】一方、差動増幅器１５の出力、すなわち、
上方の給電子２ａ側から測定された電流検出値ｅ1 と下
方の給電子２ｂ側から測定された電流検出値ｅ2 の差
が、ウィンドコンパレータを構成するコンパレータ２２
（ａ，ｂ）のそれぞれに伝達される。そして、差値（ｅ
1 −ｅ2 ）がウィンドコンパレータの比較電圧Ｖ1 〜Ｖ
2 の領域外にあるときオアゲート２３から出力がある。
上方の給電子２ａ側から測定された電流検出値ｅ1 と下
方の給電子２ｂ側から測定された電流検出値ｅ2 の差
が、ウィンドコンパレータを構成するコンパレータ２２
（ａ，ｂ）のそれぞれに伝達される。そして、差値（ｅ
1 −ｅ2 ）がウィンドコンパレータの比較電圧Ｖ1 〜Ｖ
2 の領域外にあるときオアゲート２３から出力がある。
【００１９】すなわち、正常放電時における上方給電子
２ａ側の電流検出値ｅ1 および下方給電子２ｂ側の電流
検出値ｅ2 は、放電個所の移動によって変動はするもの
の、その差値（ｅ1 −ｅ2 ）はそれ程大きくならず、前
記の比較電圧Ｖ1 〜Ｖ2 の領域内に有り、オアゲート２
３からの出力はない。しかし、上方あるいは下方の給電
子２（ａ，ｂ）の一方が磨耗し、ワイヤ７から離れた
り、ワイヤ７が断線したりすると一方の給電子側の電流
値は非常に小さくなるか、検出されず、差値（ｅ1 −ｅ
2 ）は大きくなって比較電圧Ｖ1 〜Ｖ2 の領域外となる
ので、オアゲート２３から出力がある。このようにして
通電不良検出手段１３によって通電不良が検出される。
２ａ側の電流検出値ｅ1 および下方給電子２ｂ側の電流
検出値ｅ2 は、放電個所の移動によって変動はするもの
の、その差値（ｅ1 −ｅ2 ）はそれ程大きくならず、前
記の比較電圧Ｖ1 〜Ｖ2 の領域内に有り、オアゲート２
３からの出力はない。しかし、上方あるいは下方の給電
子２（ａ，ｂ）の一方が磨耗し、ワイヤ７から離れた
り、ワイヤ７が断線したりすると一方の給電子側の電流
値は非常に小さくなるか、検出されず、差値（ｅ1 −ｅ
2 ）は大きくなって比較電圧Ｖ1 〜Ｖ2 の領域外となる
ので、オアゲート２３から出力がある。このようにして
通電不良検出手段１３によって通電不良が検出される。
【００２０】制御装置４は、格納されたプログラムによ
り、所定周期毎に入出力回路（Ｉ／Ｏ）のデータを読
み、通電不良検出手段１３からの出力の有無、およびカ
ウンタ２１（ａ〜ｃ）の出力値を判断する。前記した所
定周期の時間は、カウンタ２１（ａ〜ｃ）の出力値に関
しては、少なくとも放電を繰り返す周期に比べ充分に長
い時間である。そして、通電不良検出手段１３からの出
力がある時は、ただちに表示手段２４のＣＲＴにその旨
を表示する処理を行う。この処理は従来のものをそのま
ま用い得る。
り、所定周期毎に入出力回路（Ｉ／Ｏ）のデータを読
み、通電不良検出手段１３からの出力の有無、およびカ
ウンタ２１（ａ〜ｃ）の出力値を判断する。前記した所
定周期の時間は、カウンタ２１（ａ〜ｃ）の出力値に関
しては、少なくとも放電を繰り返す周期に比べ充分に長
い時間である。そして、通電不良検出手段１３からの出
力がある時は、ただちに表示手段２４のＣＲＴにその旨
を表示する処理を行う。この処理は従来のものをそのま
ま用い得る。
【００２１】また、カウンタ２１（ａ〜ｃ）の出力値
は、各カウント値Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 の相互間に設定した
所定値以上のバラツキがない場合には、均等、すなわ
ち、放電現象が加工面の全面に渡って移動しながら行わ
れている正常放電状態と判断し、表示手段２４への出力
は行わない。これに反し、放電個所が一個所に集中する
などの異常放電時には、カウンタ２１（ａ〜ｃ）のいず
れか一つが大きな値になるので、各カウント値Ｃ1 、Ｃ
2 、Ｃ3 の相互間に設定した所定値以上のバラツキが発
生する。この事態はプログラムにより異常と判断され、
その旨を表示手段２４のＣＲＴに表示する出力がなされ
る。
は、各カウント値Ｃ1 、Ｃ2 、Ｃ3 の相互間に設定した
所定値以上のバラツキがない場合には、均等、すなわ
ち、放電現象が加工面の全面に渡って移動しながら行わ
れている正常放電状態と判断し、表示手段２４への出力
は行わない。これに反し、放電個所が一個所に集中する
などの異常放電時には、カウンタ２１（ａ〜ｃ）のいず
れか一つが大きな値になるので、各カウント値Ｃ1 、Ｃ
2 、Ｃ3 の相互間に設定した所定値以上のバラツキが発
生する。この事態はプログラムにより異常と判断され、
その旨を表示手段２４のＣＲＴに表示する出力がなされ
る。
【００２２】このように制御装置４のＣＰＵ、ＲＯＭ、
ＲＡＭおよびこれらに格納されたプログラムは、通電不
良検出手段１３の出力をうけて給電子２（ａ，ｂ）の接
触が不良であることの出力をすると共に、放電位置仕分
け手段１４の出力を受けて放電を繰り返す周期に比べ充
分に長い時間における放電個所の分布が均等でない場合
に放電状態が異常であることの出力をする演算手段２５
を構成している。以上は実施例であって、放電電流の測
定手段１１を用いた後の、通電不良検出手段１３や放電
位置仕分け手段１４あるいは演算手段２５の構成は、他
の構成であっても良い。
ＲＡＭおよびこれらに格納されたプログラムは、通電不
良検出手段１３の出力をうけて給電子２（ａ，ｂ）の接
触が不良であることの出力をすると共に、放電位置仕分
け手段１４の出力を受けて放電を繰り返す周期に比べ充
分に長い時間における放電個所の分布が均等でない場合
に放電状態が異常であることの出力をする演算手段２５
を構成している。以上は実施例であって、放電電流の測
定手段１１を用いた後の、通電不良検出手段１３や放電
位置仕分け手段１４あるいは演算手段２５の構成は、他
の構成であっても良い。
【００２３】
【発明の効果】給電子とワイヤの接触不良の主な原因
は、給電子の磨耗である。したがって、接触不良が発生
した時は、給電子を交換する時期であるが、この時期が
表示手段によって作業者に明示され、ワイヤカット放電
加工機のメインテナンスが容易になる。また、ワイヤの
断線および異常放電も明示され、作業者が放電加工中に
おける異常事態を素早く把握できる。
は、給電子の磨耗である。したがって、接触不良が発生
した時は、給電子を交換する時期であるが、この時期が
表示手段によって作業者に明示され、ワイヤカット放電
加工機のメインテナンスが容易になる。また、ワイヤの
断線および異常放電も明示され、作業者が放電加工中に
おける異常事態を素早く把握できる。
【図１】概略的に示した、放電加工用電源回路および放
電状態の検出手段。
電状態の検出手段。
【図２】放電状態を検出するための概略的な回路図。
【図３】概略的に示した、放電加工用電源回路および放
電状態の検出手段（従来例）。
電状態の検出手段（従来例）。
１ 被加工物 ２ 給電子 ４ 制御装置 ５ スイッチ
回路 ６ 放電加工用ＤＣ電源 ７ ワイヤ １１ 放電電流検出手段 １２ 電流検
出器 １３ 通電不良検出手段 １４ 放電位
置仕分け手段 ２４ 表示手段 ２５ 演算手
段
回路 ６ 放電加工用ＤＣ電源 ７ ワイヤ １１ 放電電流検出手段 １２ 電流検
出器 １３ 通電不良検出手段 １４ 放電位
置仕分け手段 ２４ 表示手段 ２５ 演算手
段
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年１０月２２日
【手続補正１】
【補正対象書類名】図面
【補正対象項目名】全図
【補正方法】追加
【補正内容】
【図１】
【図３】
【図２】
Claims (1)
- 【請求項１】 被加工物とワイヤ間の放電作用によって
被加工物を加工する装置であって、放電用電源回路から
のパルス状電力をワイヤに供給する２個の給電子がワイ
ヤの走行方向に間隔をとり、また、ワイヤと摺接するよ
うに配置され、かつ、それぞれの給電子に流れる放電電
流の測定手段を有し、いずれか一方の電極に電流が検出
されないとき信号を出力する通電不良検出手段と一方の
電極に関する放電位置仕分け手段を備え、さらに、通電
不良検出手段の出力をうけて給電子の接触が不良である
ことの出力をすると共に、放電位置仕分け手段の出力を
受けて正常放電状態の時に放電を繰り返す周期に比べ充
分に長い時間における放電位置の分布が放電加工面に関
して均等でない場合に放電状態が異常であることの出力
をする演算増幅手段および前記の出力により給電子が接
触不良であることあるいは、放電状態が異常であること
を表示する表示手段とを備えていることを特徴としたワ
イヤカット放電加工機。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26796292A JPH0691433A (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | ワイヤカット放電加工機 |
| PCT/JP1993/001183 WO1994006592A1 (en) | 1992-09-11 | 1993-08-24 | Wire-electrode electrodischarge machine |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26796292A JPH0691433A (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | ワイヤカット放電加工機 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0691433A true JPH0691433A (ja) | 1994-04-05 |
Family
ID=17452015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26796292A Pending JPH0691433A (ja) | 1992-09-11 | 1992-09-11 | ワイヤカット放電加工機 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0691433A (ja) |
| WO (1) | WO1994006592A1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20170197267A1 (en) * | 2016-01-07 | 2017-07-13 | Fanuc Corporation | Wire electrical discharge machine with deterioration detection function for feeder |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63185520A (ja) * | 1987-01-23 | 1988-08-01 | Kazuo Muto | 放電加工制御装置 |
| JPS6411726A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-17 | Fanuc Ltd | Wire breaking detecting device |
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-
1992
- 1992-09-11 JP JP26796292A patent/JPH0691433A/ja active Pending
-
1993
- 1993-08-24 WO PCT/JP1993/001183 patent/WO1994006592A1/ja active Application Filing
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20170197267A1 (en) * | 2016-01-07 | 2017-07-13 | Fanuc Corporation | Wire electrical discharge machine with deterioration detection function for feeder |
| KR20170082988A (ko) * | 2016-01-07 | 2017-07-17 | 화낙 코퍼레이션 | 급전선의 열화 검출 기능을 갖는 와이어 방전 가공기 |
| US10751820B2 (en) * | 2016-01-07 | 2020-08-25 | Fanuc Corporation | Wire electrical discharge machine with deterioration detection function for feeder |
| EP3189919B1 (en) * | 2016-01-07 | 2021-12-15 | Fanuc Corporation | Method for detecting the deterioration of the power cable of a wire electrical discharge machine |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO1994006592A1 (en) | 1994-03-31 |
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