JP2532259B2 - ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 - Google Patents
ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置Info
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- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
- B23H7/02—Wire-cutting
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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- B23H—WORKING OF METAL BY THE ACTION OF A HIGH CONCENTRATION OF ELECTRIC CURRENT ON A WORKPIECE USING AN ELECTRODE WHICH TAKES THE PLACE OF A TOOL; SUCH WORKING COMBINED WITH OTHER FORMS OF WORKING OF METAL
- B23H7/00—Processes or apparatus applicable to both electrical discharge machining and electrochemical machining
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、ワイヤ放電加工機におけるワークとワイヤ
電極倍打の放電位置を検出する装置に関する。
電極倍打の放電位置を検出する装置に関する。
従来の技術 放電加工装置において、放電位置を検出する方法とし
て、放電が生じたとき発生する圧力波の伝播時間を測定
することによって放電位置を検出する方法（特開昭59−
47124号公報参照）、また、放電電流波形より放電位置
が一点に集中しているか否か判別する集中放電検出方法
（特開昭59−30620号公報参照）、さらに、ワイヤ電極
への給電点と放電点間の電気抵抗の変動を検出すること
によって放電位置を検出する方法（特開昭53−64899号
公報参照）等が知られている。
て、放電が生じたとき発生する圧力波の伝播時間を測定
することによって放電位置を検出する方法（特開昭59−
47124号公報参照）、また、放電電流波形より放電位置
が一点に集中しているか否か判別する集中放電検出方法
（特開昭59−30620号公報参照）、さらに、ワイヤ電極
への給電点と放電点間の電気抵抗の変動を検出すること
によって放電位置を検出する方法（特開昭53−64899号
公報参照）等が知られている。
発明が解決しようとする問題点 本発明は、上記従来技術の放電位置検出方法とは異な
る方法によって放電位置を検出しようとするもので、本
発明の目的は、ワイヤ放電加工機において、正確に放電
位置を検出できる放電位置検出装置を提供することにあ
る。
る方法によって放電位置を検出しようとするもので、本
発明の目的は、ワイヤ放電加工機において、正確に放電
位置を検出できる放電位置検出装置を提供することにあ
る。
問題点を解決するための手段 本発明は、ワイヤ電極にワークの上方及び下方から各
々通電子を介して電流を供給するように構成されたワイ
ヤ放電加工機において、上記２つの通電子に流れる電流
の微分値を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流
微分値検出手段の出力信号の差を放電電流の微分値で除
した信号を出力する差微分値検出手段と、該差微分値検
出手段の出力の放電開始時の値をサンプルホールドする
サンプルホールド回路と、該サンプルホールド回路の出
力を入力し各々の設定レベルの電圧と比較する複数のコ
ンパレータとを設け、該コンパレータの出力によって放
電位置を検出するようにした。
々通電子を介して電流を供給するように構成されたワイ
ヤ放電加工機において、上記２つの通電子に流れる電流
の微分値を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流
微分値検出手段の出力信号の差を放電電流の微分値で除
した信号を出力する差微分値検出手段と、該差微分値検
出手段の出力の放電開始時の値をサンプルホールドする
サンプルホールド回路と、該サンプルホールド回路の出
力を入力し各々の設定レベルの電圧と比較する複数のコ
ンパレータとを設け、該コンパレータの出力によって放
電位置を検出するようにした。
作 用 第１図は、本発明の作用原理を説明する説明図で、１
はワイヤ電極、２はワーク、３はオンオフする加工電源
であり、該加工電源３より上部，下部通電子4,5を介し
てワイヤ電極１に通電され、今、ワイヤ電極１とワーク
２間のギャップ電圧をＶG，加工電源の電圧をVc,ワーク
２から加工電源３及び加工電源３から上部，下部通電子
4,5へのリード線の分岐点Ｐまでのリード線の抵抗をRo,
浮遊インダクタンスをLo、分岐点Ｐから上部通電子４ま
での抵抗をR1,浮遊インダクタンスをL1、分岐点Ｐから
下部通電子５までの抵抗をR2、浮遊インダクタンスをL
2、上部通電子４から放電位置Ｑまでのワイヤ電極１の
抵抗をr1,浮遊インダクタンスをl1、下部通電子５から
放電位置Ｑまでのワイヤ電極１の抵抗をr2,浮遊インダ
クタンスをl2、上部通電子４を流れる放電電流をi1、下
部通電子５に流れる放電電流をi2,放電電流をｉ（＝i1
＋i2）とすると、電源3,ワーク2,ワイヤ電極1,上部通電
子4,電源３の閉回路から また、電源3,ワーク2,ワイヤ電極1,下部通電子5,電源
３の閉回路から の式が成立つ。そこで、第（１）式と第（２）式より、 上記第（３）式の左辺，右辺は、分岐点Ｐと放電位置
Ｑ間の電圧差を意味しており、また、放電開始時には、
放電電流i1、i2の変化、即ち立上りは大きく、電流値は
小さい。そこで、第（３）式において、抵抗値による電
圧を非常に小さなものとして無視すると、 上記第（４）式が近似される。
はワイヤ電極、２はワーク、３はオンオフする加工電源
であり、該加工電源３より上部，下部通電子4,5を介し
てワイヤ電極１に通電され、今、ワイヤ電極１とワーク
２間のギャップ電圧をＶG，加工電源の電圧をVc,ワーク
２から加工電源３及び加工電源３から上部，下部通電子
4,5へのリード線の分岐点Ｐまでのリード線の抵抗をRo,
浮遊インダクタンスをLo、分岐点Ｐから上部通電子４ま
での抵抗をR1,浮遊インダクタンスをL1、分岐点Ｐから
下部通電子５までの抵抗をR2、浮遊インダクタンスをL
2、上部通電子４から放電位置Ｑまでのワイヤ電極１の
抵抗をr1,浮遊インダクタンスをl1、下部通電子５から
放電位置Ｑまでのワイヤ電極１の抵抗をr2,浮遊インダ
クタンスをl2、上部通電子４を流れる放電電流をi1、下
部通電子５に流れる放電電流をi2,放電電流をｉ（＝i1
＋i2）とすると、電源3,ワーク2,ワイヤ電極1,上部通電
子4,電源３の閉回路から また、電源3,ワーク2,ワイヤ電極1,下部通電子5,電源
３の閉回路から の式が成立つ。そこで、第（１）式と第（２）式より、 上記第（３）式の左辺，右辺は、分岐点Ｐと放電位置
Ｑ間の電圧差を意味しており、また、放電開始時には、
放電電流i1、i2の変化、即ち立上りは大きく、電流値は
小さい。そこで、第（３）式において、抵抗値による電
圧を非常に小さなものとして無視すると、 上記第（４）式が近似される。
上記第（４）式より の差をとると、第（５）式より 一方、分岐点Ｐと放電位置Ｑ間は並列回路であり、前
述同様抵抗分を無視するとPQ間の電圧は ただし、ｉ＝i1＋i2 となり、上記電圧はPQ間の電圧であるから、第（４）式
と等しく、 第（８）式より 上記第（９）式と第（６）式より 上記第（10）式において、L1,L2は分岐点Ｐから上
部，下部通電子4,5までの各々の浮遊インダクタンスで
あり一定値である。また、l1＋l2は上部通電子４と下部
通電子５間のワイヤ電極の浮遊インダクタンスであり、
放電位置Ｑが変化しても常に一定である。そのため、上
記第（10）式より、（di1/dt）−（di2/dt）は（l2−l
1）及び（di/dt）の変化に比例する。（di/dt）はギャ
ップ電圧ＶGと電源電圧Vcによって変化するが、電源電
圧Vcは一定であると考えられ、また、ギャップ電圧ＶG
の変化も少ないと考えれば、（di1/dt）−（di2/dt）は
（l2−l1）に比例することとなる。このことは、放電開
始時、上部通電子４を流れる電流i1の微分値から下部通
電子５を流れる電流i2の微分値の差は、下部通電子５と
放電位置Ｑ間の浮遊インダクタンスl1との差に比例す
る。即ち、放電位置Ｑによって（di1/dt）−（di2/dt）
の値は変ってくる。
述同様抵抗分を無視するとPQ間の電圧は ただし、ｉ＝i1＋i2 となり、上記電圧はPQ間の電圧であるから、第（４）式
と等しく、 第（８）式より 上記第（９）式と第（６）式より 上記第（10）式において、L1,L2は分岐点Ｐから上
部，下部通電子4,5までの各々の浮遊インダクタンスで
あり一定値である。また、l1＋l2は上部通電子４と下部
通電子５間のワイヤ電極の浮遊インダクタンスであり、
放電位置Ｑが変化しても常に一定である。そのため、上
記第（10）式より、（di1/dt）−（di2/dt）は（l2−l
1）及び（di/dt）の変化に比例する。（di/dt）はギャ
ップ電圧ＶGと電源電圧Vcによって変化するが、電源電
圧Vcは一定であると考えられ、また、ギャップ電圧ＶG
の変化も少ないと考えれば、（di1/dt）−（di2/dt）は
（l2−l1）に比例することとなる。このことは、放電開
始時、上部通電子４を流れる電流i1の微分値から下部通
電子５を流れる電流i2の微分値の差は、下部通電子５と
放電位置Ｑ間の浮遊インダクタンスl1との差に比例す
る。即ち、放電位置Ｑによって（di1/dt）−（di2/dt）
の値は変ってくる。
さらに、より正確に放電位置Ｑを検出するには、第
（10）式より（di1/dt）−（di2/dt）を（di/dt）で割
れば、正確な放電位置Ｑを検出できることを意味する。
特に、L1＝L2となるようにすると、第（10）式から理解
できるように、l1＝l2のとき、即ちワーク２の中央（ワ
イヤ１の上部，下部通電子4,5間の中間点）で放電が生
じたとき（di1/dt）−（di2/dt）が「０」となり、中央
より上方で生じたときは（di1/dt）−（di2/dt）の値は
正の値となり、中央より下方で生じたときは負の値とな
る。
（10）式より（di1/dt）−（di2/dt）を（di/dt）で割
れば、正確な放電位置Ｑを検出できることを意味する。
特に、L1＝L2となるようにすると、第（10）式から理解
できるように、l1＝l2のとき、即ちワーク２の中央（ワ
イヤ１の上部，下部通電子4,5間の中間点）で放電が生
じたとき（di1/dt）−（di2/dt）が「０」となり、中央
より上方で生じたときは（di1/dt）−（di2/dt）の値は
正の値となり、中央より下方で生じたときは負の値とな
る。
そこで、本発明は、上部，下部各通電子を流れる電流
の微分値（di1/dt），（di2/dt）を検出する電流微分値
検出手段で検出し、その差を差微分値検出手段で求める
ことにより、放電位置を検出する。
の微分値（di1/dt），（di2/dt）を検出する電流微分値
検出手段で検出し、その差を差微分値検出手段で求める
ことにより、放電位置を検出する。
実施例 第２図は、本発明の一実施例のブロック図で、加工電
源３から本実施例においてマイナス側が上部，下部通電
子4,5に接続され、ワイヤ電極１に通電し、加工電源３
のプラス側はワーク２に接続されている。なお、6,7は
ワイヤガイドであり、８はガイドローラである。上記上
部通電子４を流れる放電電流i1をコイル９で検出し、下
部通電子５を流れる放電電流i2をコイル10で検出するよ
うコイル9,10が配設されている。放電電流i1,i2をコイ
ル9,10で検出することから、コイル9,10は放電電流の変
化値、即ち、微分値（di1/dt），（di2/dt）を出力する
こととなる。該コイル9,10の出力は差動増幅器11に入力
され、その差（di1/dt）−（di2/dt）が誤動増幅器から
出力される。また、コイル9,10の出力は加算器12にも入
力され、加算される。即ち、加算器12の出力は となる。ただし、ｉ＝i1＋i2で全放電電流を示す。
源３から本実施例においてマイナス側が上部，下部通電
子4,5に接続され、ワイヤ電極１に通電し、加工電源３
のプラス側はワーク２に接続されている。なお、6,7は
ワイヤガイドであり、８はガイドローラである。上記上
部通電子４を流れる放電電流i1をコイル９で検出し、下
部通電子５を流れる放電電流i2をコイル10で検出するよ
うコイル9,10が配設されている。放電電流i1,i2をコイ
ル9,10で検出することから、コイル9,10は放電電流の変
化値、即ち、微分値（di1/dt），（di2/dt）を出力する
こととなる。該コイル9,10の出力は差動増幅器11に入力
され、その差（di1/dt）−（di2/dt）が誤動増幅器から
出力される。また、コイル9,10の出力は加算器12にも入
力され、加算される。即ち、加算器12の出力は となる。ただし、ｉ＝i1＋i2で全放電電流を示す。
なお、上記第（11）式が示すように、加算器12の出力
は全放電電流の微分値であるから、コイル9,10と同様に
加工電源３とワーク２間のリード線に流れる電流を検出
するコイルを設け、このコイルにより全放電電流の微分
値（di/dt）を求めるようにして、加算器12の代りにし
てもよい。
は全放電電流の微分値であるから、コイル9,10と同様に
加工電源３とワーク２間のリード線に流れる電流を検出
するコイルを設け、このコイルにより全放電電流の微分
値（di/dt）を求めるようにして、加算器12の代りにし
てもよい。
上記差動増幅器11,加算器12の出力は割算器13に入力
され、加算器12は差動増幅器11の出力を加算器12の出力
で除し、出力S1を出する。即ち、該出力S1は、 となる。
され、加算器12は差動増幅器11の出力を加算器12の出力
で除し、出力S1を出する。即ち、該出力S1は、 となる。
上記割算器の出力S1はサンプルホールド回路14に入力
される。一方、コイル10の出力即ち、放電電流i2の検出
出力の立上りでトリガされ、所定幅のパルスを出力する
タイマ15の出力がサンプルホールド回路14に入力され、
該サンプルホールド回路14は割算器13の出力S1の放電開
始時の値をホールドするようになっている。
される。一方、コイル10の出力即ち、放電電流i2の検出
出力の立上りでトリガされ、所定幅のパルスを出力する
タイマ15の出力がサンプルホールド回路14に入力され、
該サンプルホールド回路14は割算器13の出力S1の放電開
始時の値をホールドするようになっている。
サンプルホールド回路14の出力S2は複数のコンパレー
タC1〜Cnに入力され、それぞれ異なったレベルの比較電
圧１〜〜ｎと比較される。各コンパレータC1〜Cnの
出力は、該出力の立上り，立下りでトリガされるワンシ
ョットマルチバイブレータM1a,M1b〜Mna,Mnbが接続さ
れ、各マルチバイブレータM1a,M1b〜Mna,Mnbの出力はノ
アゲート16に入力されている。
タC1〜Cnに入力され、それぞれ異なったレベルの比較電
圧１〜〜ｎと比較される。各コンパレータC1〜Cnの
出力は、該出力の立上り，立下りでトリガされるワンシ
ョットマルチバイブレータM1a,M1b〜Mna,Mnbが接続さ
れ、各マルチバイブレータM1a,M1b〜Mna,Mnbの出力はノ
アゲート16に入力されている。
次に、本実施例の動作を第３図のタイミングチャート
と共に説明する。
と共に説明する。
加工電源３からワイヤ電源１とワーク２間に電圧が印
加され、放電が生じ放電電流ｉが第３図（ａ）に示すよ
うに流れると、上部通電子４及び下部通電子５を流れる
放電電流i1,i2の微分値（di1/dt），（di2/dt）はコイ
ル9,10で各々検出され（第３図（ｂ），（ｃ）参照）、
差動増幅器11,加算器12に入力される。差動増幅器11及
び加算器12の出力により割算器13で第（12）式の割算が
行われ、割算器13から第３図（ｄ）に示すように出力S1
が出力される。一方、コイル10が放電電流i2を検出し、
その立上りによりトリガされたタイマ15の出力により、
サンプルホールド回路14は放電開始時の割算器13の出力
S1をホールドし、第３図（ｄ）に破線で示すように、出
力S2を出す。
加され、放電が生じ放電電流ｉが第３図（ａ）に示すよ
うに流れると、上部通電子４及び下部通電子５を流れる
放電電流i1,i2の微分値（di1/dt），（di2/dt）はコイ
ル9,10で各々検出され（第３図（ｂ），（ｃ）参照）、
差動増幅器11,加算器12に入力される。差動増幅器11及
び加算器12の出力により割算器13で第（12）式の割算が
行われ、割算器13から第３図（ｄ）に示すように出力S1
が出力される。一方、コイル10が放電電流i2を検出し、
その立上りによりトリガされたタイマ15の出力により、
サンプルホールド回路14は放電開始時の割算器13の出力
S1をホールドし、第３図（ｄ）に破線で示すように、出
力S2を出す。
このサンプルホールド回路14の出力S2は各コンパレー
タC1〜Cnで比較されることとなるが、以下の説明では、
説明を簡単にするためにコンパレータを３個（ｎ＝３）
とし、各コンパレータC1〜C3の比較電圧１〜３と出
力S2は比較されることとなる。その結果、サンプルホー
ルド回路14の出力Ｓの電圧が比較電圧１より高いとき
は第３図（ｅ）に示すように出力S3がコンパレータC1よ
り出力され、比較電圧２より高いときはコンパレータ
C2より第３図（ｆ）に示すように出力S4が出される。ま
た、比較電圧３より低いときは、コンパレータC3より
第３図（ｇ）に示すように出力S5が出される。
タC1〜Cnで比較されることとなるが、以下の説明では、
説明を簡単にするためにコンパレータを３個（ｎ＝３）
とし、各コンパレータC1〜C3の比較電圧１〜３と出
力S2は比較されることとなる。その結果、サンプルホー
ルド回路14の出力Ｓの電圧が比較電圧１より高いとき
は第３図（ｅ）に示すように出力S3がコンパレータC1よ
り出力され、比較電圧２より高いときはコンパレータ
C2より第３図（ｆ）に示すように出力S4が出される。ま
た、比較電圧３より低いときは、コンパレータC3より
第３図（ｇ）に示すように出力S5が出される。
そして、各コンパレータC1〜C3の出力の立上り、立下
りよりワンショットマルチバイブレータM1a,M1b〜M3a,M
3bはトリガされ、第３図（ｈ）〜（ｍ）に示すように、
所定幅のパルスS6〜S11を出力する。該出力パルスS6〜S
11はノアゲート16に入力される。
りよりワンショットマルチバイブレータM1a,M1b〜M3a,M
3bはトリガされ、第３図（ｈ）〜（ｍ）に示すように、
所定幅のパルスS6〜S11を出力する。該出力パルスS6〜S
11はノアゲート16に入力される。
その結果、サンプルホールド回路14の出力S2 の値が変化しているとき、即ち、第（10）式で示される
ように、l2−l1の値が変化し、放電位置が変化している
ときは、ワンショットマルチバイブレータM1a,M1b〜M3
a,M3bの少なくとも１つから出力が出され、ノアゲート1
6の出力S12はＬレベルであるが、集中放電が生じ、l2−
l1の値が変化せず、上記第（13）式で示すサンプルホー
ルド回路14の出力S2の値が変化しないと、コンパレータ
C1〜C3の出力が変化しなくなるため、ワンショットマル
チバイブレータM1a,M1b〜M3a,M3bの出力がなくなり、ノ
アゲート16の出力S12はＨレベルとなる。即ち、集中放
電が生じると、ノアゲート16からＨレベルの信号S12が
出されることとなる。
ように、l2−l1の値が変化し、放電位置が変化している
ときは、ワンショットマルチバイブレータM1a,M1b〜M3
a,M3bの少なくとも１つから出力が出され、ノアゲート1
6の出力S12はＬレベルであるが、集中放電が生じ、l2−
l1の値が変化せず、上記第（13）式で示すサンプルホー
ルド回路14の出力S2の値が変化しないと、コンパレータ
C1〜C3の出力が変化しなくなるため、ワンショットマル
チバイブレータM1a,M1b〜M3a,M3bの出力がなくなり、ノ
アゲート16の出力S12はＨレベルとなる。即ち、集中放
電が生じると、ノアゲート16からＨレベルの信号S12が
出されることとなる。
上記ノアゲート16からＨレベルの信号S12が出力され
ると、加工電源３のON/OFF幅，電圧，電流または加工液
の液圧，ワイヤ電極１の張力等を制御し、集中放電を解
除させ、ノアゲート16からＨレベルの信号S12が出力さ
れないように制御する。
ると、加工電源３のON/OFF幅，電圧，電流または加工液
の液圧，ワイヤ電極１の張力等を制御し、集中放電を解
除させ、ノアゲート16からＨレベルの信号S12が出力さ
れないように制御する。
上記実施例において、ワンショットマルチバイブレー
タM1a,M1b〜Mna,Mnbはその出力パルスの幅を任意の値に
設定できるものがよく、また、ワンショットマルチバイ
ブレータの代りに時定数回路によるタイマや他のタイマ
を使用してもよい。さらに、ワンショットマルチバイブ
レータ（タイマ）は再トリガ可能なものがよい。
タM1a,M1b〜Mna,Mnbはその出力パルスの幅を任意の値に
設定できるものがよく、また、ワンショットマルチバイ
ブレータの代りに時定数回路によるタイマや他のタイマ
を使用してもよい。さらに、ワンショットマルチバイブ
レータ（タイマ）は再トリガ可能なものがよい。
さらに、上記実施例では、各コンパレータの出力の立
上り，立下りでトリガされるワンショットマルチバイブ
レータを各々設けたが、立上りのみまたは立下りのみで
トリガされるワンショットマルチバイブレータ（タイ
マ）でもよい。また、コンパレータも１つでもよい。要
するに、コンパレータの数，ワンショットマルチバイブ
レータ（タイマ）の数及び出力パルス幅を調整し、放電
位置がワークに対しランダムで均等に発生しているとき
はノアゲートからＨレベルの出力が出ないようにし、集
中放電が生じているとき、ノアゲートからＨレベルの出
力が出されるように、これらの要因を選択すればよい。
上り，立下りでトリガされるワンショットマルチバイブ
レータを各々設けたが、立上りのみまたは立下りのみで
トリガされるワンショットマルチバイブレータ（タイ
マ）でもよい。また、コンパレータも１つでもよい。要
するに、コンパレータの数，ワンショットマルチバイブ
レータ（タイマ）の数及び出力パルス幅を調整し、放電
位置がワークに対しランダムで均等に発生しているとき
はノアゲートからＨレベルの出力が出ないようにし、集
中放電が生じているとき、ノアゲートからＨレベルの出
力が出されるように、これらの要因を選択すればよい。
また、上記コンパレータはウインドコンパレータを使
用してもよい。さらに、サンプルホールド回路の出力を
平滑して各コンパレータに入力するようにしてもよい。
用してもよい。さらに、サンプルホールド回路の出力を
平滑して各コンパレータに入力するようにしてもよい。
発明の効果 本発明は、放電加工中、常に放電位置を検出している
から、集中放電が生じているか否か判別が容易にでき、
これにより、集中放電によるワイヤ電極の断線を防止す
るように制御することを可能にする。
から、集中放電が生じているか否か判別が容易にでき、
これにより、集中放電によるワイヤ電極の断線を防止す
るように制御することを可能にする。
第１図は、本発明の作用原理の説明図、第２図は本発明
の一実施例のブロック図、第３図は同実施例のタイミン
グチャートである。 １……ワイヤ電極、２……ワーク、３……加工電源、４
……上部通電子、５……下部通電子、9,10……コイル、
11……差動増幅器、12……加算器、13……割算器、14…
…サンプルホールド回路、C1〜Cn……コンパレータ、M1
a,M1b〜Mna,Mnb……ワンショットマルチバイブレータ。
の一実施例のブロック図、第３図は同実施例のタイミン
グチャートである。 １……ワイヤ電極、２……ワーク、３……加工電源、４
……上部通電子、５……下部通電子、9,10……コイル、
11……差動増幅器、12……加算器、13……割算器、14…
…サンプルホールド回路、C1〜Cn……コンパレータ、M1
a,M1b〜Mna,Mnb……ワンショットマルチバイブレータ。
Claims (5)
- 【請求項１】ワイヤ電極にワークの上方及び下方から各
々通電子を介して電流を供給するように構成されたワイ
ヤ放電加工機において、上記２つの通電子に流れる電流
の微分値を各々検出する電流微分値検出手段と、各電流
微分値検出手段の出力信号の差を放電電流の微分値で除
した信号を出力する差微分値検出手段と、該差微分値検
出手段の出力の放電開始時の値をサンプルホールドする
サンプルホールド回路と、該サンプルホールド回路の出
力を入力し各々の設定レベルの電圧と比較する複数のコ
ンパレータとを備え、該コンパレータの出力によって放
電位置を検出するワイヤ放電加工機における放電位置検
出装置。 - 【請求項２】上記各コンパレータの出力の立上りまたは
立下りの少なくとも一方でトリガされ所定時間出力する
タイマを有し、該タイマの出力によって集中放電を検出
する特許請求の範囲第１項記載のワイヤ放電加工機にお
ける放電位置検出装置。 - 【請求項３】上記タイマの出力時間幅は調整可能である
特許請求の範囲第２項記載のワイヤ放電加工機における
放電位置検出装置。 - 【請求項４】上記タイマは再トリガ可能なタイマである
特許請求の範囲第２項又は第３項記載のワイヤ放電加工
機における放電位置検出装置。 - 【請求項５】上記タイマはワンショットマルチバイブレ
ータで構成されている特許請求の範囲第２項，第３項又
は第４項記載のワイヤ放電加工機における放電位置検出
装置。
Priority Applications (6)
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|---|---|---|---|
| JP62274659A JP2532259B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
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| JP62274659A JP2532259B2 (ja) | 1987-10-31 | 1987-10-31 | ワイヤ放電加工機における放電位置検出装置 |
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-
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- 1987-10-31 JP JP62274659A patent/JP2532259B2/ja not_active Expired - Fee Related
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