JPH0682385A - 欠陥検査装置 - Google Patents
欠陥検査装置Info
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- JPH0682385A JPH0682385A JP4233890A JP23389092A JPH0682385A JP H0682385 A JPH0682385 A JP H0682385A JP 4233890 A JP4233890 A JP 4233890A JP 23389092 A JP23389092 A JP 23389092A JP H0682385 A JPH0682385 A JP H0682385A
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 ラインＣＣＤカメラ１と、２値化手段とラン
レングス符号化手段とランレングス符号の連結性処理を
行い欠陥を測定する手段とＮＧ判定を行う手段とを有す
る画像処理装置２と、測定位置からマーキング位置まで
の距離（Ｄ）、検査対象物の走行速度（Ｓ）、欠陥の長
さ（Ｌ）、ラインＣＣＤカメラの走査周期（Ｔ）によ
り、マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）
から（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング位置を欠陥位置と一致
させる手段２１とを備えている欠陥検査装置 【効果】 欠陥の位置に正確にマーキングすることが可
能であり、フィルムのフィッシュアイ検査、不織布の汚
れ検査などの分野で、検査装置として有効である
レングス符号化手段とランレングス符号の連結性処理を
行い欠陥を測定する手段とＮＧ判定を行う手段とを有す
る画像処理装置２と、測定位置からマーキング位置まで
の距離（Ｄ）、検査対象物の走行速度（Ｓ）、欠陥の長
さ（Ｌ）、ラインＣＣＤカメラの走査周期（Ｔ）によ
り、マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）
から（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング位置を欠陥位置と一致
させる手段２１とを備えている欠陥検査装置 【効果】 欠陥の位置に正確にマーキングすることが可
能であり、フィルムのフィッシュアイ検査、不織布の汚
れ検査などの分野で、検査装置として有効である
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、フィルムのフィッシュ
アイ検査、不織布の異物、汚れ検査などの分野で利用す
る欠陥検査装置であり、特に、欠陥の位置に正確にマー
キングする特徴を有するものである。
アイ検査、不織布の異物、汚れ検査などの分野で利用す
る欠陥検査装置であり、特に、欠陥の位置に正確にマー
キングする特徴を有するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、ラインＣＣＤカメラを使用し
た欠陥検査装置として、下記の２種類が提案されてい
る。 （１）ラインＣＣＤカメラの信号を微分処理し、予め指
定されたＳ／Ｎ以上の変化を有する欠陥をＮＧと判定す
るものと、 （２）ラインＣＣＤカメラの信号を２値化、ランレング
ス符号化を行い、連結性処理を行うことにより、予め指
定されたサイズ以上の欠陥をＮＧと判定するものとであ
る。
た欠陥検査装置として、下記の２種類が提案されてい
る。 （１）ラインＣＣＤカメラの信号を微分処理し、予め指
定されたＳ／Ｎ以上の変化を有する欠陥をＮＧと判定す
るものと、 （２）ラインＣＣＤカメラの信号を２値化、ランレング
ス符号化を行い、連結性処理を行うことにより、予め指
定されたサイズ以上の欠陥をＮＧと判定するものとであ
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明の利用分野で
は、欠陥発生部のみを不良品として除去するため、欠陥
の位置に正確にマーキングすることが必要である。従来
技術（１）では、ラインＣＣＤカメラの１ラインの信号
からＮＧ判定を行っているため、見逃してもよい微小な
欠陥でもＳ／Ｎが予め指定された値以上であるとＮＧ判
定を行ってしまうという不都合があった。従来技術
（２）では、欠陥のＮＧ判定に問題はないが、欠陥の画
像が終了した時点でＮＧ判定を行うため、細長い欠陥の
場合にマーキング位置のズレが問題となった。
は、欠陥発生部のみを不良品として除去するため、欠陥
の位置に正確にマーキングすることが必要である。従来
技術（１）では、ラインＣＣＤカメラの１ラインの信号
からＮＧ判定を行っているため、見逃してもよい微小な
欠陥でもＳ／Ｎが予め指定された値以上であるとＮＧ判
定を行ってしまうという不都合があった。従来技術
（２）では、欠陥のＮＧ判定に問題はないが、欠陥の画
像が終了した時点でＮＧ判定を行うため、細長い欠陥の
場合にマーキング位置のズレが問題となった。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、従来技術
（２）と類似の欠陥検出装置であるが、連結性処理とマ
ーキングを改善することにより、前記不都合を解決した
ものである。すなわち、この発明による欠陥検査装置
は、ラインＣＣＤカメラと、前記ラインＣＣＤカメラの
アナログ画像データの２値化手段と、前記２値化画像デ
ータの変化点アドレスをランレングス符号とするランレ
ングス符号化手段と、前記ランレングス符号の連結性処
理を行い欠陥を測定する手段と、前記測定値からＮＧ判
定を行う手段と、測定位置からマーキング位置までの距
離（Ｄ）、検査対象物の走行速度（Ｓ）、欠陥の長さ
（Ｌ）、ラインＣＣＤカメラの走査周期（Ｔ）により、
マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）から
（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング位置を欠陥位置と一致させ
る手段とを備えていることを特徴とするものである。
（２）と類似の欠陥検出装置であるが、連結性処理とマ
ーキングを改善することにより、前記不都合を解決した
ものである。すなわち、この発明による欠陥検査装置
は、ラインＣＣＤカメラと、前記ラインＣＣＤカメラの
アナログ画像データの２値化手段と、前記２値化画像デ
ータの変化点アドレスをランレングス符号とするランレ
ングス符号化手段と、前記ランレングス符号の連結性処
理を行い欠陥を測定する手段と、前記測定値からＮＧ判
定を行う手段と、測定位置からマーキング位置までの距
離（Ｄ）、検査対象物の走行速度（Ｓ）、欠陥の長さ
（Ｌ）、ラインＣＣＤカメラの走査周期（Ｔ）により、
マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）から
（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング位置を欠陥位置と一致させ
る手段とを備えていることを特徴とするものである。
【０００５】
【作用】上記構成を有するこの発明の欠陥検査装置は、
下記のように動作する。検査物をラインＣＣＤカメラで
読取る。読取ったＣＣＤカメラ出力の閾値で２値化し、
ランレングス符号化し、このランレングス符号の連結性
処理を行い、欠陥サイズを測定し、その結果から、ＯＫ
とＮＧの判定を行う。この処理を行うと共に、測定位置
からマーキング位置までの距離〔Ｄ（ｍ）〕、検査対象
物の走行速度〔Ｓ（ｍ／秒）〕、欠陥の長さ〔Ｌ（画
素）〕）、ラインＣＣＤカメラの走査周期〔Ｔ（秒）〕
により、マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−Ｌ
Ｔ）から（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング開始位置と終了位
置の間と、を欠陥区間と一致させ。
下記のように動作する。検査物をラインＣＣＤカメラで
読取る。読取ったＣＣＤカメラ出力の閾値で２値化し、
ランレングス符号化し、このランレングス符号の連結性
処理を行い、欠陥サイズを測定し、その結果から、ＯＫ
とＮＧの判定を行う。この処理を行うと共に、測定位置
からマーキング位置までの距離〔Ｄ（ｍ）〕、検査対象
物の走行速度〔Ｓ（ｍ／秒）〕、欠陥の長さ〔Ｌ（画
素）〕）、ラインＣＣＤカメラの走査周期〔Ｔ（秒）〕
により、マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−Ｌ
Ｔ）から（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング開始位置と終了位
置の間と、を欠陥区間と一致させ。
【０００６】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明す
る。図１は、本発明の装置構成の一実施例を示すブロッ
ク図である。１はラインＣＣＤカメラであり、素子数が
８１９２画素以下のものが接続可能である。２は、画像
処理装置（三菱レイヨン製 型名 ＬＳＣ−１００）で
ある。３はＡ／Ｄコンバータであり、ラインＣＣＤカメ
ラ１の信号を８ビットでＡ／Ｄ変換する。
る。図１は、本発明の装置構成の一実施例を示すブロッ
ク図である。１はラインＣＣＤカメラであり、素子数が
８１９２画素以下のものが接続可能である。２は、画像
処理装置（三菱レイヨン製 型名 ＬＳＣ−１００）で
ある。３はＡ／Ｄコンバータであり、ラインＣＣＤカメ
ラ１の信号を８ビットでＡ／Ｄ変換する。
【０００７】１２は基準値メモリであり、ラインＣＣＤ
カメラ１の画像データを、１行分記録するメモリであ
る。１１は、閾値メモリであり、ラインＣＣＤカメラ１
の素子毎の閾値を設定する。ラインＣＣＤカメラ１の素
子間バラツキ、照明の斑、レンズの歪みなどを補正する
ため、閾値を透過率、あるいは、反射率として指定す
る。このときは、基準値メモリ１２に透過率、あるい
は、反射率が均一である検査物を読み取った画像データ
を記録させ、この画像データと透過率、あるいは、反射
率の積を閾値メモリ１１に記録する。４は、コンパレー
タであり、Ａ／Ｄコンバータ３の出力を、閾値メモリ１
１の値により、論理指定７に合わせて２値化する。
カメラ１の画像データを、１行分記録するメモリであ
る。１１は、閾値メモリであり、ラインＣＣＤカメラ１
の素子毎の閾値を設定する。ラインＣＣＤカメラ１の素
子間バラツキ、照明の斑、レンズの歪みなどを補正する
ため、閾値を透過率、あるいは、反射率として指定す
る。このときは、基準値メモリ１２に透過率、あるい
は、反射率が均一である検査物を読み取った画像データ
を記録させ、この画像データと透過率、あるいは、反射
率の積を閾値メモリ１１に記録する。４は、コンパレー
タであり、Ａ／Ｄコンバータ３の出力を、閾値メモリ１
１の値により、論理指定７に合わせて２値化する。
【０００８】５は、ランレングス符号化回路であり、コ
ンパレータ４から出力された２値化データをランレング
ス符号化する。６は、画像処理装置２内のメモリであ
り、ＣＰＵ内の主メモリと同様に使用できる。７は、論
理指定であり、白を検出する場合は０、黒を検出する場
合は１をセットする。８は、ライン数指定であり、ラン
レングス符号化回路５の処理単位のライン数をセットす
る。９は、ランレングスバッファであり、容量は１２８
ＫＢで２系列あり、交互に使用する。１０は、ランレン
グスバッファ切替指定であり、ランレングス符号化回路
５が使用するランレングスバッファ９を切り換える。な
お、これと反対の系列が、連結性処理で使用するランレ
ングスバッファ９である。１３はＲＡＭ、１４はＲＯ
Ｍ、１５はＣＰＵである。１６はＧＰＩＢインターフェ
イスであり、ホストコンピュータ１７と、検査条件、検
査結果のデータ転送を行う。ホストコンピュータ１７で
は、画像処理装置２に対する検査条件の設定、検査結果
の表示などを行う。
ンパレータ４から出力された２値化データをランレング
ス符号化する。６は、画像処理装置２内のメモリであ
り、ＣＰＵ内の主メモリと同様に使用できる。７は、論
理指定であり、白を検出する場合は０、黒を検出する場
合は１をセットする。８は、ライン数指定であり、ラン
レングス符号化回路５の処理単位のライン数をセットす
る。９は、ランレングスバッファであり、容量は１２８
ＫＢで２系列あり、交互に使用する。１０は、ランレン
グスバッファ切替指定であり、ランレングス符号化回路
５が使用するランレングスバッファ９を切り換える。な
お、これと反対の系列が、連結性処理で使用するランレ
ングスバッファ９である。１３はＲＡＭ、１４はＲＯ
Ｍ、１５はＣＰＵである。１６はＧＰＩＢインターフェ
イスであり、ホストコンピュータ１７と、検査条件、検
査結果のデータ転送を行う。ホストコンピュータ１７で
は、画像処理装置２に対する検査条件の設定、検査結果
の表示などを行う。
【０００９】図２は本発明を不織布欠陥検査装置として
応用した場合の装置構成を示す図である。検査物１８は
矢印の方向に走行している。検査物１８は、照明１９
（三菱レイヨン製光ファイバ照明装置）で照明され、そ
の反射光をラインＣＣＤカメラ１で読み取る。検査物１
８の下方は、検査物１８の厚さ斑による反射率変化を防
止するため、表面が検査物１８と反射率が同程度である
テフロンからなるローラ２０を使用している。検査物１
８に欠陥があると、ホストコンピュータ１７からＮＧ信
号が出力され、マーキング装置２１が作動し、検査物１
８の周辺部にインクでマーキングが行われる。
応用した場合の装置構成を示す図である。検査物１８は
矢印の方向に走行している。検査物１８は、照明１９
（三菱レイヨン製光ファイバ照明装置）で照明され、そ
の反射光をラインＣＣＤカメラ１で読み取る。検査物１
８の下方は、検査物１８の厚さ斑による反射率変化を防
止するため、表面が検査物１８と反射率が同程度である
テフロンからなるローラ２０を使用している。検査物１
８に欠陥があると、ホストコンピュータ１７からＮＧ信
号が出力され、マーキング装置２１が作動し、検査物１
８の周辺部にインクでマーキングが行われる。
【００１０】図３は本発明で検査する欠陥とマーキング
の例を示す図である。測定位置からマーキング位置まで
の距離〔Ｄ（ｍ）〕、検査対象物の走行速度〔Ｓ（ｍ／
秒）〕、欠陥の長さ〔Ｌ（画素）〕）、ラインＣＣＤカ
メラの走査周期〔Ｔ（秒）〕により、マーキング時間
を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）から（Ｄ／Ｓ）と
し、マーキング位置２２1 、２２2 を欠陥２３1 、２３
2 の位置と一致させている。例えば、Ｄ：５ｍ、Ｓ：１
ｍ／秒、Ｌ：２０００画素、Ｔ：１０-3秒の場合、欠陥
検出後、３秒〜５秒までマーキングを行う。なお、欠陥
の長さが、測定位置からマーキング位置までの距離より
長い場合は、連結性処理の途中で予め指定されたサイズ
以上になった時点で、ＮＧ判定を行うことが必要とな
る。また、検査物１８を縦横にカットする場合は、欠陥
の上にマーキングするように、複数台のマーキング装置
を併設するか、マーキング装置を水平方向にトラバース
させてもよい。
の例を示す図である。測定位置からマーキング位置まで
の距離〔Ｄ（ｍ）〕、検査対象物の走行速度〔Ｓ（ｍ／
秒）〕、欠陥の長さ〔Ｌ（画素）〕）、ラインＣＣＤカ
メラの走査周期〔Ｔ（秒）〕により、マーキング時間
を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−ＬＴ）から（Ｄ／Ｓ）と
し、マーキング位置２２1 、２２2 を欠陥２３1 、２３
2 の位置と一致させている。例えば、Ｄ：５ｍ、Ｓ：１
ｍ／秒、Ｌ：２０００画素、Ｔ：１０-3秒の場合、欠陥
検出後、３秒〜５秒までマーキングを行う。なお、欠陥
の長さが、測定位置からマーキング位置までの距離より
長い場合は、連結性処理の途中で予め指定されたサイズ
以上になった時点で、ＮＧ判定を行うことが必要とな
る。また、検査物１８を縦横にカットする場合は、欠陥
の上にマーキングするように、複数台のマーキング装置
を併設するか、マーキング装置を水平方向にトラバース
させてもよい。
【００１１】図４は欠陥測定の流れを示す概略図であ
る。図４a)は検査物１８の一部を示している。矢印がラ
インＣＣＤカメラ１の読取位置であり、１個の異物の一
部が含まれている。図４b)は、図４a)に示した読取位置
の１行分のＣＣＤカメラ出力波形を示している。また、
ＣＣＤカメラ出力の下方に閾値を示している。図４c)
は、図４b)に示した閾値で２値化したデータを示してい
る。この２値化データより、ランレングス符号化され
る。ｓが欠陥の始点座標、ｅが終点座標である。このラ
ンレングス符号の連結性処理を行い、欠陥サイズを測定
し、その結果から、ＯＫとＮＧの判定を行う。
る。図４a)は検査物１８の一部を示している。矢印がラ
インＣＣＤカメラ１の読取位置であり、１個の異物の一
部が含まれている。図４b)は、図４a)に示した読取位置
の１行分のＣＣＤカメラ出力波形を示している。また、
ＣＣＤカメラ出力の下方に閾値を示している。図４c)
は、図４b)に示した閾値で２値化したデータを示してい
る。この２値化データより、ランレングス符号化され
る。ｓが欠陥の始点座標、ｅが終点座標である。このラ
ンレングス符号の連結性処理を行い、欠陥サイズを測定
し、その結果から、ＯＫとＮＧの判定を行う。
【００１２】図５は本発明の連結性処理の考え方を示す
図である。図５は、連続する２行分の欠陥データが４つ
のパターンに分類できることを示している。欠陥データ
は下記のようなランレングス符号で表されている。 ａis：ｎ−１行目のｉ番目の始点座標 ａie：ｎ−１行目のｉ番目の終点座標 ａia：ｎ−１行目のｉ番目の（終点座標−始点座標）の
合計値（面積に相当） ａimin：ｎ−１行目のｉ番目の始点座標の最小値 ａimax：ｎ−１行目のｉ番目の終点座標の最大値 ａil ：ｎ−１行目のｉ番目の連結性処理回数（長さに
相当） ｂjs ：ｎ行目のｊ番目の始点座標 ｂje ：ｎ行目のｊ番目の終点座標 ｂja ：ｎ行目のｊ番目の（終点座標−始点座標）の合
計値（面積に相当） ｂjmin：ｎ行目のｊ番目の始点座標の最小値 ｂjmax：ｎ行目のｊ番目の終点座標の最大値 ｂjl ：ｎ行目のｊ番目の連結性処理回数（長さに相
当） 但し、分散処理の場合はｎ−１行目のランレングス符号
（ａi ）に接続しているｎ行目の最初のランレングス符
号（ｂm ）と、分散と判定されたｎ行目のランレングス
符号（ｂj ）の演算を行い、結果を（ｂm ）にセットす
る。また、（ｂja）を０セットする。
図である。図５は、連続する２行分の欠陥データが４つ
のパターンに分類できることを示している。欠陥データ
は下記のようなランレングス符号で表されている。 ａis：ｎ−１行目のｉ番目の始点座標 ａie：ｎ−１行目のｉ番目の終点座標 ａia：ｎ−１行目のｉ番目の（終点座標−始点座標）の
合計値（面積に相当） ａimin：ｎ−１行目のｉ番目の始点座標の最小値 ａimax：ｎ−１行目のｉ番目の終点座標の最大値 ａil ：ｎ−１行目のｉ番目の連結性処理回数（長さに
相当） ｂjs ：ｎ行目のｊ番目の始点座標 ｂje ：ｎ行目のｊ番目の終点座標 ｂja ：ｎ行目のｊ番目の（終点座標−始点座標）の合
計値（面積に相当） ｂjmin：ｎ行目のｊ番目の始点座標の最小値 ｂjmax：ｎ行目のｊ番目の終点座標の最大値 ｂjl ：ｎ行目のｊ番目の連結性処理回数（長さに相
当） 但し、分散処理の場合はｎ−１行目のランレングス符号
（ａi ）に接続しているｎ行目の最初のランレングス符
号（ｂm ）と、分散と判定されたｎ行目のランレングス
符号（ｂj ）の演算を行い、結果を（ｂm ）にセットす
る。また、（ｂja）を０セットする。
【００１３】連結性処理は、ｎ−１行目とｎ行目の欠陥
データのパターンを比較し、連続、収束、分散の３つの
状態に分類して、下記の処理を行う。なお、消滅と判定
された場合は、その欠陥の測定を終了する。なお、（ａ
i ）が、測定値となる。
データのパターンを比較し、連続、収束、分散の３つの
状態に分類して、下記の処理を行う。なお、消滅と判定
された場合は、その欠陥の測定を終了する。なお、（ａ
i ）が、測定値となる。
【００１４】
【表１】
【００１５】図６は、このパターンを分類するために、
ｎ−１行目とｎ行目の欠陥データのパターンを比較し、
連続、収束、分散、消滅の４つのパターンに分類し、消
滅時にその欠陥の測定が終了する連結性処理のアルゴリ
ズムを示すフローチャートである。まず、ステップＳ１
においてｎ−１行目の欠陥を示すカウンタｉを「０」に
セットし、ｎ行目の欠陥を示すカウンタｊを「１」にセ
ットし、続くステップＳ２おいてカウンタｉを１つのイ
ンクリメントし、また、カウンタｊを１つのデクリメン
トする。
ｎ−１行目とｎ行目の欠陥データのパターンを比較し、
連続、収束、分散、消滅の４つのパターンに分類し、消
滅時にその欠陥の測定が終了する連結性処理のアルゴリ
ズムを示すフローチャートである。まず、ステップＳ１
においてｎ−１行目の欠陥を示すカウンタｉを「０」に
セットし、ｎ行目の欠陥を示すカウンタｊを「１」にセ
ットし、続くステップＳ２おいてカウンタｉを１つのイ
ンクリメントし、また、カウンタｊを１つのデクリメン
トする。
【００１６】そして、ｎ−１行目のｉ番目の欠陥の始点
座標ａiaがＣＣＤカメラ１の画素数＋１でない場合にス
テップＳ４以上に進み、連続、収束、分散、消滅の４つ
のパターンに分類する処理を実行する。なお、この処理
では上記ランレングレス符号に対して欠陥の幅が中間的
に用いられる。 ａia＝ａie−ａis（ｎ−１行目のｉ番目の欠陥の幅） ｂia＝ｂie−ｂis（ｎ行目のｊ番目の欠陥の幅） まず、ステップＳ４においてｎ行目のｊ番目の欠陥の幅
ｂjaが「０」か否かを判定し、「０」の場合にステップ
Ｓ５においてカウンタｊを１つのデクリメントしてステ
ップＳ４に戻り、カウンタｊが示す欠陥の幅ｂjaが
「０」でなくなるまでこの処理を繰返す。
座標ａiaがＣＣＤカメラ１の画素数＋１でない場合にス
テップＳ４以上に進み、連続、収束、分散、消滅の４つ
のパターンに分類する処理を実行する。なお、この処理
では上記ランレングレス符号に対して欠陥の幅が中間的
に用いられる。 ａia＝ａie−ａis（ｎ−１行目のｉ番目の欠陥の幅） ｂia＝ｂie−ｂis（ｎ行目のｊ番目の欠陥の幅） まず、ステップＳ４においてｎ行目のｊ番目の欠陥の幅
ｂjaが「０」か否かを判定し、「０」の場合にステップ
Ｓ５においてカウンタｊを１つのデクリメントしてステ
ップＳ４に戻り、カウンタｊが示す欠陥の幅ｂjaが
「０」でなくなるまでこの処理を繰返す。
【００１７】欠陥の幅が「０」でなくなると、ステップ
Ｓ６においてａi＝ｂjか否かを判別することにより上の
行の欠陥の幅ａjと等しいか否かを判別し、ａi＝ｂjの
場合にステップＳ７において収束パターンと判定し、ス
テップＳ１３に進む。なお、このステップＳ７では、後
述するような副走査方向の膨脹処理を主走査方向と同様
に共に行って判定する。ステップＳ６においてａi＝ｂj
でない場合には、ステップ８においてカウンタｊを１つ
のインクリメントした後、ステップＳ９において欠陥の
幅ｂjaが「０」か否かを判別し、「０」の場合にステッ
プＳ８に戻り、カウンタｊが示す欠陥の幅ｂjaが「０」
でなくなるまでこの処理を繰り返す。
Ｓ６においてａi＝ｂjか否かを判別することにより上の
行の欠陥の幅ａjと等しいか否かを判別し、ａi＝ｂjの
場合にステップＳ７において収束パターンと判定し、ス
テップＳ１３に進む。なお、このステップＳ７では、後
述するような副走査方向の膨脹処理を主走査方向と同様
に共に行って判定する。ステップＳ６においてａi＝ｂj
でない場合には、ステップ８においてカウンタｊを１つ
のインクリメントした後、ステップＳ９において欠陥の
幅ｂjaが「０」か否かを判別し、「０」の場合にステッ
プＳ８に戻り、カウンタｊが示す欠陥の幅ｂjaが「０」
でなくなるまでこの処理を繰り返す。
【００１８】欠陥の幅がｂjaが「０」でなくなると、ス
テップＳ１０においてステップＳ６に示す主走査方向と
副走査方向の膨脹処理を行った後ａi＝ｂjか否かを判別
し、ａi＝ｂjでない場合にステップＳ１１において消滅
パターンと判定し、ステップＳ２に戻る。ステップＳ１
０においてａi＝ｂjの場合には、続くステップＳ１２に
おいて連続パターンと判定する。次いで、ステップＳ１
３においてカウンタｊをインクリメントした後、ステッ
プＳ１４において欠陥の幅ｂjaが「０」か否かを判別
し、「０」の場合にステップＳ１３に戻り、カウンタｊ
が示す欠陥の幅ｂjaが「０」でなくなるまで繰り返す。
テップＳ１０においてステップＳ６に示す主走査方向と
副走査方向の膨脹処理を行った後ａi＝ｂjか否かを判別
し、ａi＝ｂjでない場合にステップＳ１１において消滅
パターンと判定し、ステップＳ２に戻る。ステップＳ１
０においてａi＝ｂjの場合には、続くステップＳ１２に
おいて連続パターンと判定する。次いで、ステップＳ１
３においてカウンタｊをインクリメントした後、ステッ
プＳ１４において欠陥の幅ｂjaが「０」か否かを判別
し、「０」の場合にステップＳ１３に戻り、カウンタｊ
が示す欠陥の幅ｂjaが「０」でなくなるまで繰り返す。
【００１９】欠陥の幅ｂjaが「０」でなくなると、ステ
ップＳ１５においてａi＝ｂjか否かを同様に判別し、ａ
i＝ｂjの場合にステップＳ１６において分散パターンと
判定する。ステップＳ１７においてカウンタｊをインク
リメントした後ステップＳ１５に戻り、ａi＝ｂjでない
場合にステップＳ１５からステップＳ２に戻り、ステッ
プＳ２〜Ｓ１７においてｎ行目のｊ番目の欠陥について
も処理を繰り返す。ステップＳ３においてｎ−１行目の
ｉ番目の欠陥の始点座標isがＣＣＤカメラ１の画素数＋
１になると、１行分の連結性処理を終了してステップＳ
３からステップＳ１８に分岐し、ｎ行目のランレングス
符号ｂjをｎ−１行目のランレングス符号ａiに移動す
る。図６においてａi＝ｂjは、ｎ行目のランレングス符
号ｂjをｎ−１行目のランレングス符号ａiが連結、即ち
１つの欠陥であることを示す。
ップＳ１５においてａi＝ｂjか否かを同様に判別し、ａ
i＝ｂjの場合にステップＳ１６において分散パターンと
判定する。ステップＳ１７においてカウンタｊをインク
リメントした後ステップＳ１５に戻り、ａi＝ｂjでない
場合にステップＳ１５からステップＳ２に戻り、ステッ
プＳ２〜Ｓ１７においてｎ行目のｊ番目の欠陥について
も処理を繰り返す。ステップＳ３においてｎ−１行目の
ｉ番目の欠陥の始点座標isがＣＣＤカメラ１の画素数＋
１になると、１行分の連結性処理を終了してステップＳ
３からステップＳ１８に分岐し、ｎ行目のランレングス
符号ｂjをｎ−１行目のランレングス符号ａiに移動す
る。図６においてａi＝ｂjは、ｎ行目のランレングス符
号ｂjをｎ−１行目のランレングス符号ａiが連結、即ち
１つの欠陥であることを示す。
【００２０】
【発明の効果】本発明は、欠陥の位置に正確にマーキン
グすることが可能であり、フィルムのフィッシュアイ検
査、不織布の汚れ検査などの分野で、検査装置として有
効である。
グすることが可能であり、フィルムのフィッシュアイ検
査、不織布の汚れ検査などの分野で、検査装置として有
効である。
【図１】図１は本発明の装置構成の一例を示すブロック
図である。
図である。
【図２】図２は本発明を不織布欠陥検査装置として応用
した場合の装置構成を示す図である。
した場合の装置構成を示す図である。
【図３】図３は本発明で検査する欠陥とマーキングの例
を示す図である。
を示す図である。
【図４】図４は欠陥測定の流れを示す概略図である。
【図５】図５は本発明の連結性処理の説明図である。
【図６】図６は、図５の状態を判定する部分のアルゴリ
ズムのフローチャートである。
ズムのフローチャートである。
【符号の説明】 １ ラインＣＣＤカメラ ２ 画像処理装置 ３ Ａ／Ｄコンバータ ４ コンパレータ ５ ランレングス符号化回路 ６ メモリ ７ 論理指定 ８ ライン数指定 ９ ランレングスバッファ １０ ランレングスバッファ切替 １１ 閾値メモリ １２ 基準値メモリ １３ ＲＡＭ １４ ＲＯＭ １５ ＣＰＵ １６ ＧＰＩＢ １７ ホストコンピュータ １８ 検査物 １９ 照明 ２０ ローラ ２１ マーキング装置 ２２1 、２２2 マーキング ２３1 、２３2 欠陥
フロントページの続き (72)発明者 田代 慎太郎 神奈川県川崎市多摩区登戸3816番地 三菱 レイヨン株式会社東京研究所内
Claims (1)
- 【請求項１】 ラインＣＣＤカメラと、前記ラインＣＣ
Ｄカメラのアナログ画像データの２値化手段と、前記２
値化画像データの変化点アドレスをランレングス符号と
するランレングス符号化手段と、前記ランレングス符号
の連結性処理を行い欠陥を測定する手段と、前記測定値
からＮＧ判定を行う手段と、測定位置からマーキング位
置までの距離（Ｄ）、検査対象物の走行速度（Ｓ）、欠
陥の長さ（Ｌ）、ラインＣＣＤカメラの走査周期（Ｔ）
により、マーキング時間を、欠陥検出後の（Ｄ／Ｓ−Ｌ
Ｔ）から（Ｄ／Ｓ）とし、マーキング位置を欠陥位置と
一致させる手段とを備えていることを特徴とする欠陥検
査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4233890A JPH0682385A (ja) | 1992-09-01 | 1992-09-01 | 欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4233890A JPH0682385A (ja) | 1992-09-01 | 1992-09-01 | 欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0682385A true JPH0682385A (ja) | 1994-03-22 |
Family
ID=16962174
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4233890A Pending JPH0682385A (ja) | 1992-09-01 | 1992-09-01 | 欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0682385A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002273309A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-09-24 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | カーテンコータにおける塗工液中の欠陥検出装置 |
| JP2008020321A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Purex:Kk | 欠陥マーキング装置付き欠陥布片検出装置 |
| JP2010272250A (ja) * | 2009-05-19 | 2010-12-02 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 連続する多孔質電極基材の外観欠陥自動検査方法とその記録媒体を有する多孔質電極基材の巻体 |
| KR101303604B1 (ko) * | 2011-12-09 | 2013-09-11 | 사단법인 전북대학교자동차부품금형기술혁신센터 | 고무 프로파일 표면불량검사장치 |
| JP6035375B1 (ja) * | 2015-06-02 | 2016-11-30 | 株式会社メック | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60103487A (ja) * | 1983-11-09 | 1985-06-07 | Ckd Corp | 形状認識装置 |
| JPS61245045A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | Nisshin Steel Co Ltd | 金属帯の表面欠陥自動検査方法 |
| JPS62235551A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-15 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 帯状物の欠陥位置表示方法 |
| JPS63222244A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-16 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
| JPS6484147A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Nippon Steel Corp | Internal quality inspecting method for metal piece |
-
1992
- 1992-09-01 JP JP4233890A patent/JPH0682385A/ja active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60103487A (ja) * | 1983-11-09 | 1985-06-07 | Ckd Corp | 形状認識装置 |
| JPS61245045A (ja) * | 1985-04-23 | 1986-10-31 | Nisshin Steel Co Ltd | 金属帯の表面欠陥自動検査方法 |
| JPS62235551A (ja) * | 1986-04-04 | 1987-10-15 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 帯状物の欠陥位置表示方法 |
| JPS63222244A (ja) * | 1987-03-12 | 1988-09-16 | Toshiba Corp | 表面検査装置 |
| JPS6484147A (en) * | 1987-09-28 | 1989-03-29 | Nippon Steel Corp | Internal quality inspecting method for metal piece |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002273309A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-09-24 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | カーテンコータにおける塗工液中の欠陥検出装置 |
| JP2008020321A (ja) * | 2006-07-13 | 2008-01-31 | Purex:Kk | 欠陥マーキング装置付き欠陥布片検出装置 |
| JP2010272250A (ja) * | 2009-05-19 | 2010-12-02 | Mitsubishi Rayon Co Ltd | 連続する多孔質電極基材の外観欠陥自動検査方法とその記録媒体を有する多孔質電極基材の巻体 |
| KR101303604B1 (ko) * | 2011-12-09 | 2013-09-11 | 사단법인 전북대학교자동차부품금형기술혁신센터 | 고무 프로파일 표면불량검사장치 |
| JP6035375B1 (ja) * | 2015-06-02 | 2016-11-30 | 株式会社メック | 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法 |
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