JP3821879B2 - ゴムシールの検査装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、文字が刻印されているゴムシールの表面キズを自動的に判定するゴムシールの検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
ベアリングに使用される平板リング状のゴムシールには、その製造時において、図21の(a)に示すように、ゴムシール1の外径2や内径3にバリ4や欠け5が発生する。
【0003】
従って、製造時において、ゴムシール1を検査して、バリ4や欠け5のあるゴムシール1を不良品として排除する必要がある。
【0004】
このゴムシール1の検査においては、平板リング状のゴムシール1に対して図21の(b)及び(c)に示すように、バリ検査ウィンドウ7、欠け検査ウィンドウ9を設定し、これらの各ウィンドウの範囲以外にデータが存在する場合にバリ4又は欠け5があると判別し、不良品として排除していた。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、ゴムシール1は、図22に示すように、芯金10に製造番号、会社名等の文字が刻印されたゴム部材12を圧着して製造するのが一般的であり、このゴム部材12の圧着に伴って、表面キズ13が形成される場合がある。
【0006】
ところが、従来のゴムシールの検査においては、ゴムシール1のバリ4や欠け5があるかどうかのみを判別しているので、表面キズ13があっても不良品として排除することができないという問題点があった。
【0007】
本発明は以上の問題点を解決するためになされたもので、ゴムシールに文字が刻印されてあっても、表面キズがあるかどうかを容易に検査できるゴムシールの検査装置を得ることを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
第1の発明は、文字が刻印された円形状のゴムシールが検査台に載置されたとき、ゴムシールを光学系によって撮像し、この画像からゴムシールの微分画像を画像処理部により作成させて、この微分画像からゴムシールの良否を検査するゴムシールの検査装置において、微分画像からゴムシールの文字が刻印されている文字領域を認識し、文字領域以外に表面キズがあるときは、ゴムシールを不良品と判定する表面キズ判定部を備え、ゴムシールに文字が刻印されてあっても、表面キズがあったときは、不良品のゴムシールと判定する。
【0009】
前記文字領域以外に表面キズがあるときは、前記ゴムシールを不良品と判定する表面キズ有無判定手段を有することを要旨とする。
【0010】
前記検査ウィンドウを前記微分画像の内径と外径との間にかけ、この検査ウィンドウの窓内の画像の濃度値を移動平均して、前記文字領域を明瞭にすることを要旨とする。
【0012】
前記表面キズ有無判定手段は、
前記入力画像パターンの文字領域がマスクされると、前記入力画像パターンに所定レベル以上のパターンがあるかどうかを検索し、前記所定レベル以上のパターンを検出したときは、前記所定レベルのパターンが一定数個の前記窓数以上連続しているとき表面キズと判定することを要旨とする。
【0013】
前記パターン比較手段は、
前記入力画像パターンが前記登録画像パターンに対して一周したとき、予め登録されている移動数以下の数だけ、前記入力画像パターンを前後に移動させて、前記両方のパターンの論理積を再度求めて前記検査ウィンドウの窓に対応させて記憶することを要旨とする。
【0014】
前記表面キズ有無判定部は、
前記検査ウィンドウを縮小又は拡大して前記ゴムシールの内周部又は外周部にかけ、前記検査ウィンドウの窓内に画像の濃度値を取込んで濃度変換した後に移動平均した移動平均結果データを読み、該移動平均結果データに所定レベル以上で連続している移動平均結果データがあったとき、不良品と判定することを要旨とする。
【0015】
【発明の実施の形態】
図1は第1の実施の形態を示す概略構成図である。図1に示すように、ゴムシール1の表面キズ検査装置は、光学的にゴムシール1を撮像する光学系15と、光学系15からの1画面分の画像信号からゴムシール1の画像を作成する画像処理部16と、ゴムシール1の画像から表面キズ13があるかどうかを判定する表面キズ判定部18と、ゴムシール1の画像を表示する画像モニタ19と、各種条件、データ等を設定する操作パネル20とから構成され、ゴムシール1の画像を光学系15によって撮像して、文字が刻印されているゴムシール1の文字領域を認識し、この認識した文字領域以外に表面キズ13を検出したときは、不良品と判定する。
【0016】
光学系部15は、検査台であるガラス板21に載置されたゴムシール1に対して所定角度で光を照射して、ゴムシール1の特徴箇所(文字、輪郭等)を輝かせると共に、この反射光をCCDカメラ23の受光レンズに結像させるリングストロボ照明部22と、受光レンズの結像光を光電変換した画像信号を出力するCCDカメラ23とから構成され、ガラス板21上のゴムシール1を撮像する。
【0017】
画像処理部16は、CCDカメラ23からの画像信号を取込んで、フィルタ等をかけてゴムシール1の画像を得る。そして、このゴムシール1の画像を縦横微分して図2の(a)に示すような、輪郭及び文字等からなる微分画像を作成して表面キズ判定部18及び画像モニタ19に出力する。
【0018】
【課題を解決するための手段】
請求項1は、文字が刻印された円形状のゴムシールが検査台に載置されたとき、前記ゴムシールを光学系によって撮像し、この画像から前記ゴムシールの微分画像を画像処理部により作成させて、前記微分画像から前記ゴムシールの良否を検査するゴムシールの検査装置において、
前記画像処理部からゴムシールの微分画像を取込み、複数の窓群で構成される前記ゴムシールの形状に対応した円形状の前記検査ウィンドウを、前記微分画像にかけて、これらの窓の画像の濃度値を濃度変換した後に、前記窓毎の濃度変換値を移動平均した移動平均結果データを作成する画像明瞭化手段と、前記移動平均結果データを予め登録されている閾値に基づいて2値化し、入力画像パターンとして前記検査ウィンドウの窓番号に対応させて記憶する入力画像パターン化手段と、
前記入力画像パターンを、予め設定されている前記窓の数分だけ移動させて一周させながら良品のゴムシールの登録画像パターンとの論理積の結果を前記窓の移動毎に前記検査ウィンドウの窓番号に対応させて記憶するパターン比較手段と、
前記一周したとき、前記パターン比較手段で記憶した記憶内容から、Hレベルが一定窓数分だけ連続している窓番号を読み、この番号に対応する前記入力画像パターンの領域を文字領域として認識し、この文字領域をマスクする文字領域マスク手段とを備えたことを要旨とする。
【0019】
表面キズ判定部18は、画像処理部16からのゴムシール1の微分画像の文字等の領域を明瞭にした後に、予め登録されているゴムシール1と同じ大きさの円形状で、同じ刻印箇所に同じ文字が刻印され、かつ表面にキズがない良品のゴムシールの微分画像と比較し、ゴムシール1の微分画像の文字領域を認識する。
【0020】
そして、図2の(b)に示すように、この文字領域をマスクして表面キズ13の有無を判定し、判定結果を外部に出力する。
【0021】
(表面キズ判定部18の具体的な構成)
図3は表面キズ判定部の具体例を示す概略構成図である。図3に示すように、表面キズ判定部18は、画像処理部16からの微分画像に主メモリ26の複数セクタからなる検査ウィンドウWをかけ、このセクタ内の文字、輪郭等を明瞭にする画像明瞭化手段27と、画像明瞭化手段27によって明瞭にされた微分画像を入力画像パターンに変換して主メモリ26に記憶する入力画像パターン化手段28と、入力画像パターンを登録画像パターンに対して予め設定されているセクタの移動数に基づいて順次移動させながら登録画像パターンとのAND結果を主メモリ26に記憶し、一周後に前後に少し移動させて登録画像パターンとのAND結果を主メモリ26に再度記憶するパターン比較手段と、これらのAND結果から入力画像パターンの文字領域を認識してマスクする文字領域マスク手段31と、文字領域以外に表面キズ13があるかどうかを判定する表面キズ有無判定手段32とから構成されている。
【0022】
表面キズ判定部18は、このような構成により、ゴムシール1の微分画像の入力画像パターンが図4の(a)に示すように、検査ウィンドウWをかけたときのセクタ番号に対応させられて配列され、この入力画像パターンが予め登録されている図4の(b)の登録画像パターンに対して移動させられながらAND結果が求められ、そのAND結果が図4の(c)に示すように、その移動毎に検査ウィンドウWに対応させられて記憶される。
【0023】
そして、図4の(c)に示すように、これらのAND結果の内で最も論理1が連続している領域Aのセクタ番号Ea〜Eai、領域Bのセクタ番号Eb〜Ebi及び領域Cのセクタ番号Ec〜Eciのセクタ番号が検出される。
【0024】
これらのセクタ番号が検出されると、図4の(a)に示すように、検出されたセクタ番号と同じ入力画像パターンのセクタ番号Ea〜Eai、セクタ番号Eb〜Ebi及びセクタ番号Ec〜Eciの領域が文字領域と認識されてマスクされて、入力画像パターンの文字領域以外に表面キズ13があるかどうかが判定される。
【0025】
(主メモリ26の詳細)
主メモリ26は、図3に示すように、検査ウィンドウWが記憶されるウィンドウ用メモリ33と、検査ウィンドウWの各セクタ内の濃度値である画像データが記憶される画像データ用メモリ34と、入力画像パターンが記憶される入力画像用メモリ35と、登録画像パターンが記憶される登録画像用メモリ36と、一周分のセクタの移動数Eに対応させられて設けられた複数の第1のAND結果用メモリ37a〜37mと、+方向に1セクタだけ移動させたときの第2のAND結果用メモリ38と、−方向に1セクタだけ移動させたときの第3のAND結果用メモリ39とが設けられている。
【0026】
主メモリ26のウィンドウ用メモリ33に記憶されている検査ウィンドウWは、図5の(a)に示すように、例えば180個のセクタに分割された円形状の検査ウィンドウWにされ、その中心がX−Y座標の原点にされていると共に、Y軸から時計回りに1番目のセクタ、2番目のセクタ、…180番目のセクタにされている。
【0027】
また、この検査ウィンドウWの大きさは、図5の(b)に示すように、ゴムシール1の微分画像の外径2と内径3との間の文字領域を覆う大きさの円形状にされている。
【0028】
一方、画像データ用メモリ34、入力画像用メモリ35、登録画像用メモリ36、第1のAND結果用メモリ37a〜37m、第2のAND結果用メモリ38、第3のAND結果用メモリ39は、図6に示すように検査ウィンドウWのセクタに対応して分割されている。
【0029】
また、登録画像用メモリ36には、ガラス板21に置かれたゴムシール1と同じ大きさの円形状で、かつ同じ大きさの文字で同じ製造国、同じ製造会社及び同じ製造番号が同じ位置に刻印されたキズが無い良品のゴムシール40の微分画像が図7に示すように、検査ウィンドウWがかけられて移動平均結果データに変換された後に、パターン化されて登録画像パターンとして予め登録されている。
【0030】
画像明瞭化手段27は、ゴムシール1の微分画像を画像処理部16から取込み、この微分画像の中心を図8の(a)に示すようにX−Y座標軸の原点に位置にさせた後に、図5の(a)に示す検査ウィンドウWを図8の(b)に示すように重ね、ゴムシール1の微分画像の文字領域が検査ウィンドウWに入るように位置を調整する。
【0031】
そして、図8の(c)に示すように、検査ウィンドウWの各セクタ毎の画像データを画像データ用メモリ34に取込み、濃度変換して移動平均化する。
【0032】
この濃度変換及び移動平均について説明する。画像明瞭化手段27は、内部に濃度変換テーブルを備え、例えば濃度を256段階の階調で表現したときは、図9に示すように設定値X(X=50)以下は「0」とすることによって、文字領域と文字領域以外の箇所が明瞭になるようにしている。
【0033】
しかし、濃度変換テーブルによって、文字と文字領域以外の箇所を明瞭にしたとしても、ゴムシール1の文字領域というのは、複数の文字を所定間隔毎に刻印して1つの文字領域を形成している。このため、文字領域全体を認識することが望ましい。
【0034】
そこで、画像明瞭化手段27は、図10に示すように、例えば5番目のセクタE5を例にすると、
【数1】
E5=E5−[(E2+E3+E4+E5+E6+E7+E8)÷7]……………(1)
6番目のセクタE6は、
【数2】
E6=E6−[(E3+E4+E5+E6+E7+E8+E9)÷7]……………(2)
7番目のセクタE7は
【数3】
E7=E7−[(E4+E5+E6+E7+E8+E9+E10)÷7]…………(3)
として各セクタ内の画像データ(濃度値)の移動平均を求める。すなわち、図11の(a)に示すような文字領域内が繋がった移動平均結果データを得ている。
【0035】
入力画像パターン化手段28は、移動平均化した移動平均結果データを操作パネル20によって設定された文字閾値によって図11の(a)に示すように移動平均結果データを切って、図11の(b)に示すように2値化(パターン化)し、文字領域及び文字領域以外の箇所を明確にした入力画像パターンを得て主メモリ26の入力画像用メモリ35に記憶する。また、同様にして登録画像パターンを登録画像用メモリ36に登録している。
【0036】
このパターン化によって、例えばゴムシール1に表面キズ13がある場合は、図11の(b)に示すように文字領域以外の箇所にも論理1(以下Hレベルという)のパターンがあることになる。
【0037】
パターン比較手段30は、入力画像パターンと登録画像パターンとのANDを求め、このAND結果を主メモリ26の第1のAND結果用メモリ37aに記憶した後に、例えば5セクタ分の移動数Eで一度に入力画像パターンを移動させ、この移動毎に同様に登録画像パターンとのAND結果を第1のAND結果用メモリ37b、第1のAND結果用メモリ37c、…、第1のAND結果用メモリ37mの順に記憶していく。
【0038】
また、この移動数Eというのは、移動させたとき最も効率良く登録画像パターンの文字領域に一致するようにされ、もし一致していなくとも±1セクタ程度のずれになるようにした移動数である。
【0039】
そして、入力画像パターンが一周したとき、±1セクタずらして再度ANDをとってAND結果を求め、+1セクタ移動したときの結果を第2のAND結果用メモリ38に記憶し、−1セクタ移動したときの結果を第3のAND結果用メモリ39に記憶する。このパターン比較手段30については後述するフローチャートによって、さらに詳細に説明する。
【0040】
文字領域マスク手段31は、パターン比較手段30によって、全てのAND結果用メモリにAND結果が記憶されると、第1のAND結果用メモリ37a〜37mと第2のAND結果用メモリ38と第3のAND結果用メモリ39とからHレベルが最も連続している3箇所を検出し、この3箇所を入力画像パターンの文字領域として認識する。
【0041】
そして、認識した文字領域のセクタ番号と同じ入力画像用メモリ35のセクタ番号の領域をマスクする。この文字領域マスク手段31のマスクの決定については、後述するフローチャートによって詳細に説明する。
【0042】
表面キズ有無判定手段32は、入力画像パターンがマスクされると、マスクされていない入力画像用メモリ35にHレベルのパターンがあるかどうかを判定し、Hレベルのパターンがあるときは、3セクタ連続しているかどうかを判定し、3セクタ連続しているときは、表面キズ13があるゴムシールであることを外部に知らせる。例えば、図11の(b)に示すように、文字領域と文字領域との間にHレベルを検出したとき、このHレベルの幅が3セクタ以上連続している場合は表面キズがあるゴムシールと判定する。
【0043】
次に、パターン比較手段30について図12のフローチャートを用いて詳細に説明する。
【0044】
本説明では、図7に示す登録画像パターンが登録画像用メモリ36に予め登録されている場合に、例えば、表面キズ13があるゴムシール1がガラス板21に置かれ、図11の(a)に示すような移動平均結果データが得られて入力画像パターンにされて入力画像用メモリ35に記憶されているとして説明する。
【0045】
入力パターン比較手段30は、入力画像パターン化手段28により、ゴムシール1の入力画像パターンが入力画像用メモリ35に記憶されたことが知らせられると、入力画像パターンをまだ移動させていないので、セクタの移動数Eを「0」と設定する(S1201)。
【0046】
次に、この入力画像パターンと予め登録されている登録画像パターンとのANDを求め(S1203)、このAND結果をセクタの移動数Eに「0」に対応する第1のAND用メモリ37aに記憶する(S1205)。
【0047】
例えば、入力画像パターンと登録画像パターンの配列関係が図13に示すような状態の場合は、AND結果用メモリ37aには図14の(a)に示すようなAND結果(以下AND結果パターンという)が記憶される。
【0048】
次に、セクタの移動数Eが一周分に対応するMAX(180)のセクタの移動数になったかどうかを判断し(S1207)、MAXのセクタの移動数Eになっていないときは、設定したセクタの移動数Eに5セクタだけ加算したセクタの移動数Eを設定する(S1209)。
【0049】
次に、入力画像パターンをこのセクタの移動数E分だけ一度に移動させて(S1211)、処理をステップS1203に戻して、上記の説明と同様に、移動させた入力画像パターンと登録画像パターンとのAND結果を求め、このAND結果を移動数に対応する第1のAND結果用メモリに記憶する。
【0050】
例えば、セクタの移動数SE=5の場合は図14の(b)に示すようなAND結果パターンが第1のAND結果用メモリ37bに記憶され、セクタの移動数E=10の場合は、図14の(c)に示すようなAND結果パターンが第1のAND結果用メモリ37cに記憶される。
【0051】
このような処理をMAXのセクタの移動数Eになるまで実施すると、いずれかの第1のAND結果用メモリ37c〜37mには、入力画像パターンに一致するAND結果パターン又は±1セクタずれたAND結果パターンが記憶されていることになる。
【0052】
例えば、図14の(k)に示すように、第1のAND結果用メモリ37kには、+1セクタずれたAND結果パターンが記憶される。
【0053】
そして、ステップS1207でセクタの移動数がMAXと判定したときは、一周後に入力画像パターンを+1セクタずらしたかどうかを判定し(S1213)、+1セクタずらしていないときは、MAXのセクタの移動数Eに1セクタ加算したセクタ移動数Eを設定して移動させて(S1215)、処理をステップS1303に移して上記の説明と同様に移動させた入力画像パターンと登録画像パターンとのANDを求め、このAND結果を第2のAND結果用メモリ38に記憶する。
【0054】
例えば、図15の(a)に示すように、+1セクタずらしたときには入力画像パターンに一致した結果が得られたとする。
【0055】
また、ステップS1217で+1セクタずらしたと判定したときは、−1セクタずらしたかどうかを判定し(S1217)、−1セクタずらしていないときは、MAXのセクタの移動数Eから1セクタ減算したセクタの移動数Eを設定して移動させて(S1219)、処理をステップS1203に戻して上記の説明と同様に、移動させた入力画像パターンと登録画像パターンとのANDを求め、この−1セクタ移動させたときのAND結果を図15の(b)に示すように第3のAND結果用メモリ39に記憶する。
【0056】
従って、これらのAND結果メモリのセクタ番号からゴムシール1の文字領域がどこにあるかを知ることができる。
【0057】
次に、マスク処理について図16のフローチャートを用いて説明する。文字領域マスク手段31は、全てのAND結果用メモリにAND結果が記憶されると、第1のAND結果用メモリ37a〜37mの内で、Hレベルが最も連続している領域を有するAND結果用メモリMiを検出する(S1601)。
【0058】
次に、これらのAND結果用メモリMiの内で、3箇所の領域が所定以上連続してHレベルを継続している領域を有するAND結果用メモリiを検出する(S1603)。例えば、図2の(a)のゴムシール1を例にすると、最も文字領域の幅が短い製造会社(ION)の文字領域以上の領域が連続してHレベルにされている領域を有するAND結果用メモリiを検出する。
【0059】
そして、このAND結果用メモリiのAND結果パターンと入力画像パターンとを比較し(S1605)、入力画像パターンとAND結果用メモリiのAND結果パターンの配列とが一致しているかどうかを判断する(S1607)。
【0060】
一致していない場合は、AND結果用メモリ38のAND結果パターンと入力画像パターンとを比較し(S1609)、同様に一致しているかどうかを判定する(S1611)。
【0061】
次に、AND結果用メモリ38のAND結果パターンと入力画像パターンとを比較しても一致していないときは、AND結果用メモリ39のAND結果パターンと入力画像パターンとを比較し(S1613)、処理をステップS1611に戻して、同様にAND結果用メモリiのAND結果パターンと入力画像パターンとを比較する。
【0062】
本例では図15に示すように、入力画像パターンを一周させた後に+1セクタだけ移動させたときのAND結果パターンを記憶したAND結果用メモリ38が入力画像パターンに一致するAND結果用メモリHとして検出される。
【0063】
また、ステップS1607又はステップS1611で、入力画像パターンとAND結果パターンの配列とが一致と判定したときは、一致したAND結果用メモリHのセクタ番号に対応する入力画像パターンのセクタ番号の領域を文字領域として認識してマスクする(S1615)。
【0064】
例えば、AND結果用メモリ38が一致するAND結果用メモリHと判定されると、図15の(a)に示すセクタ番号Ea〜Eai、セクタ番号Eb〜Ebi及びセクタ番号Ec〜Eciのセクタ番号と同じ入力画像パターンのセクタ番号の各領域が入力画像パターンの文字領域として認識され、図4の(a)に示すように入力画像パターンのセクタ番号Ea〜Eai、セクタ番号Eb〜Ebi及びセクタ番号Ec〜Eciの各領域がマスクされる。
【0065】
すなわち、図2の(a)に示す状態でゴムシール1の微分画像が得られたとすると、図2の(b)に示すように、製造国(JAPAN)、製造会社(ION)及び製造番号(6952V2)の各文字領域がマスクされる。
【0066】
従って、表面キズ有無判定手段32は、この各文字領域を除いた領域についてのみ表面キズ13の有無を判定することになるので、文字を誤って表面キズ13と判定することはない。
【0067】
図17は第2の実施の形態を示す概略構成図である。第2の実施の形態は、ゴムシール1の微分画像の内周部及び外周部を検査してゴムシール1が不良品かどうかを判定するものである。
【0068】
このため、図17に示すように、検査ウィンドウWを拡大してゴムシール1の微分画像の外周部又は縮小して内周部にかけて、上記と同様に移動平均結果データを作成して主メモリ26の画像データ用メモリ34に記憶する画像明瞭化手段45と、主メモリ26の画像データ用メモリ34に記憶された移動平均結果データに所定レベルのデータがあるかどうかを判定する表面キズ有無判定手段46とを備えている。
【0069】
画像明瞭化手段45は、表面キズ判定手段46から内周部を検索する指示があったときは、ゴムシール1の微分画像を画像処理部16から取込み、主メモリ26の検査ウィンドウWを縮小(以下縮小検査ウィンドウWSという)して、図18の(a)に示すように、このゴムシール1の微分画像の内周部にかける。
【0070】
また、画像明瞭化手段45は、表面キズ判定手段46から外周部を検索する指示があったときは、ゴムシール1の微分画像を画像処理部16から取込み、主メモリ26の検査ウィンドウWを拡大(以下拡大検査ウィンドウWKという)して図18の(b)に示すように、このゴムシール1の微分画像の外周部にかける。
【0071】
そして、図18の(b)に示すように、縮小検査ウィンドウWS又は拡大検査ウィンドウWKのセクタ内の画像データを上記の図9及び図10と同様にして濃度変換及び移動平均して内周部又は外周部の画像を明瞭にした移動平均結果データを得て画像データ用メモリ34に記憶する。
【0072】
この移動平均により、内周部及び外周部の表面キズが非常に小さくとも、所定レベル以上(大きく盛り上がっている場合又は深い場合等)の場合は、移動平均によってある程度の幅にされる。
【0073】
表面キズ有無判定手段46は、画像データ用メモリ34に内周部の移動平均結果データ又は外周部の移動平均結果データが記憶されると、図19に示すように予め記憶されている判定閾値以上のデータがあるかどうかを判定し、キズ判定閾値以上のデータ49があったときは、そのデータ49の幅が連続して3セクタ以上かどうかを判定する。
【0074】
そして、データ49が連続3セクタ以上の幅を有すると判定したときは、不良品と判定して外部に知らせる。
【0075】
従って、内周部又は外周部に表面キズ13があったときは、直ちに不良品と判定される。
【0076】
さらに、ゴム部材12を芯金10に圧着してゴムシール1を形成した場合は、図20の(a)に示すようにゴム部材12の内径3が破れて芯金10が露出した箇所50が形成されたり又は芯金10がゴム部材12の内径3に被った箇所51が形成される場合がある。
【0077】
また、図20の(b)に示すように外径2が破れて芯金10が露出した箇所52が形成されたり又は芯金10がゴム部材12の外径2に被った箇所53が形成される場合がある。しかし、内周部に縮小検査ウィンドウWSを、外周部に拡大検査ウィンドWKを、それぞれかけて各セクタの濃度を濃度変換した後に、移動平均結果データを得て、この移動平均結果データに所定レベル以上で所定セクタ以上連続している移動平均結果データがあったとき不良と判定しているので、ゴムシール1にゴム部材12の内径3又は外径2が破れて芯金10が露出しても若しくは芯金10がゴム部材12に被ったとしても、その箇所が所定レベル以上で所定セクタ以上連続した移動平均結果データとなるので直ちに不良品と判定される。
【0078】
なお、文字閾値については製造時の材料のばらつき等によってゴムシール1の反射率等が相違するため、ゴムシール1の画像が入力される毎に求めてもよい。さらに、上記説明では、複数の文字が刻印された文字領域を認識するとしたが、1文字が刻印されたゴムシールであってもよい。
【0079】
【発明の効果】
以上のように、ゴムシールの微分画像の移動平均結果データをパターン化した入力画像パターンを作成し、この入力画像パターンを登録画像のパターンに対して数セクタ分だけ一度に順次ずらして両方のパターンの論理積を検査ウィンドウに対応させて記憶しながら一周させ、これらの記憶内容から論理1が所定以上連続しているセクタ番号の領域を入力画像パターンの文字領域と判定することにより、ゴムシールが登録画像パターンを採取したときの状態と相違して検査台に置かれても、ゴムシールの文字領域を短時間で正確に認識させることができるという効果が得られている。
【0080】
文字が刻印された円形状のゴムシールが検査台に載置されると、このゴムシールの画像から文字及び輪郭を明瞭にした微分画像を得て、文字が刻印されている領域を文字領域として認識し、この文字領域以外の微分画像に表面キズがあるときは不良品と判定することにより、ゴムシールに文字が刻印されてあっても、表面キズがあったときは、不良品のゴムシールとして排除することができるという効果が得られている。
【0081】
また、文字領域以外に表面キズがあるとき、不良品のゴムシールとしているので、文字が誤って表面キズと判定されることがない。
【0082】
表面キズ判定部は、複数のセクタに分割された検査ウィンドウを微分画像にかけ、このセクタ内に存在する画像の濃度値を移動平均することにより、ゴムシールが所定数の文字を刻印して一つの文字領域を形成している場合又はこれらの文字領域を所定間隔でゴムシールに配列している場合は、文字領域内が繋がったデータとなるので、各文字領域の全体を容易に認識させることができるという効果が得られている。
【0083】
入力画像パターンの文字領域がマスクされると、入力画像パターンに所定レベル以上のパターンが所定セクタ以上連続しているとき表面キズと判定することにより、濃度のばらつき等によって文字領域以外に表面キズに類似するパターンが発生したとしても、数セクタ以上の連続していなければ、表面キズと判定しないので、本当に表面キズがあるゴムシールのみを不良品とすることができるという効果が得られている。
【0084】
入力画像パターンが登録画像のパターンに対して一周したとき、セクタ移動数以下の所定セクタ数だけ、入力画像パターンを前後に移動させて、両方のパターンの論理積を再度求める。そして、一周させたときの論理積の結果と、この前後に少し移動させたときの論理積の結果とから最も論理1が連続しているセクタ番号に対応する入力画像パターンの領域を文字領域として認識させるようにしたことにより、一周させたとき、多少のずれが発生しても、再度微調が取られるので、正確な文字領域を決定することができるという効果が得られている。
【0085】
検査ウィンドウをゴムシールの内周部及び外周部にかけて、移動平均結果データを得た後に、この移動平均結果データに所定レベル以上で所定セクタ以上連続している移動平均結果データがあったとき、表面キズと判定することにより、内周部又は外周部に表面キズがあるときは、この表面キズの幅が非常に小さくとも、検出できるという効果が得られている。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態のゴムシールの検査装置の概略構成図である。
【図2】第1の実施の形態の特徴を説明する説明図である。
【図3】第1の実施の形態の表面キズ判定部の詳細構成図である。
【図4】第1の実施の形態の詳細を説明する説明図である。
【図5】検査ウィンドウを説明する説明図である。
【図6】メモリ領域を説明する説明図である。
【図7】登録画像パターンの説明図である。
【図8】検査ウィンドウを微分画像にかけたときの説明図である。
【図9】濃度変換を説明する説明図である。
【図10】移動平均を説明する説明図である。
【図11】マスク処理を説明する説明図である。
【図12】パターン比較処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図13】パターン比較の入力画像パターンと登録画像パターンの説明図である。
【図14】数セクタ移動時のAND結果を説明する説明図である。
【図15】±1セクタ移動時のAND結果を説明する説明図である。
【図16】マスク処理の詳細を説明するフローチャートである。
【図17】第2の実施の形態のゴムシールの検査装置の概略構成図である。
【図18】第2の実施の形態の検査ウィンドウを説明する説明図である。
【図19】第2の実施の形態の不良品の判定を説明する説明図である。
【図20】第2の実施の形態の不良品の判定を説明する説明図である。
【図21】従来のゴムシールの判定を説明する説明図である。
【図22】問題点を説明する説明図である。
【符号の説明】
1 ゴムシール
2 外径
3 内径
10 芯金
13 表面キズ
15 光学系部
16 画像処理部
18 表面キズ判定部
27 画像明瞭化手段
28 入力画像パターン化手段
30 パターン比較手段
31 文字領域マスク手段
32 表面キズ判定手段
Claims (6)
- 文字が刻印された円形状のゴムシールが検査台に載置されたとき、前記ゴムシールを光学系によって撮像し、この画像から前記ゴムシールの微分画像を画像処理部により作成させて、前記微分画像から前記ゴムシールの良否を検査するゴムシールの検査装置において、
前記画像処理部からゴムシールの微分画像を取込み、複数の窓群で構成される前記ゴムシールの形状に対応した円形状の前記検査ウィンドウを、前記微分画像にかけて、これらの窓の画像の濃度値を濃度変換した後に、前記窓毎の濃度変換値を移動平均した移動平均結果データを作成する画像明瞭化手段と、
前記移動平均結果データを予め登録されている閾値に基づいて2値化し、入力画像パターンとして前記検査ウィンドウの窓番号に対応させて記憶する入力画像パターン化手段と、
前記入力画像パターンを、予め設定されている前記窓の数分だけ移動させて一周させながら良品のゴムシールの登録画像パターンとの論理積の結果を前記窓の移動毎に前記検査ウィンドウの窓番号に対応させて記憶するパターン比較手段と、
前記一周したとき、前記パターン比較手段で記憶した記憶内容から、Hレベルが一定窓数分だけ連続している窓番号を読み、この番号に対応する前記入力画像パターンの領域を文字領域として認識し、この文字領域をマスクする文字領域マスク手段とを有することを特徴とするゴムシールの検査装置。 - 前記文字領域以外に表面キズがあるときは、前記ゴムシールを不良品と判定する表面キズ有無判定手段を有することを特徴とする請求項1記載のゴムシールの検査装置。
- 前記検査ウィンドウを前記微分画像の内径と外径との間にかけ、この検査ウィンドウの窓内の画像の濃度値を移動平均して、前記文字領域を明瞭にすることを特徴とする請求項1又は2記載のゴムシールの検査装置。
- 前記表面キズ有無判定手段は、
前記入力画像パターンの文字領域がマスクされると、前記入力画像パターンに所定レベル以上のパターンがあるかどうかを検索し、前記所定レベル以上のパターンを検出したときは、前記所定レベルのパターンが一定数個の前記窓数以上連続しているとき表面キズと判定する
ことを特徴とする請求項1、2又は3記載のゴムシールの検査装置。 - 前記パターン比較手段は、
前記入力画像パターンが前記登録画像パターンに対して一周したとき、予め登録されている移動数以下の数だけ、前記入力画像パターンを前後に移動させて、前記両方のパターンの論理積を再度求めて前記検査ウィンドウの窓に対応させて記憶することを特徴とする請求項1、2、3、4記載のゴムシールの検査装置。 - 前記表面キズ有無判定部は、
前記検査ウィンドウを縮小又は拡大して前記ゴムシールの内周部又は外周部にかけ、前記検査ウィンドウの窓内に画像の濃度値を取込んで濃度変換した後に移動平均した移動平均結果データを読み、該移動平均結果データに所定レベル以上で連続している移動平均結果データがあったとき、不良品と判定することを特徴とする請求項1記載のゴムシールの検査装置。
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-
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