JPH0677827A - Ａ／ｄ変換器評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 汎用性のあるＡ／Ｄ変換器評価装置を提供す
る。 【構成】 被測定Ａ／Ｄ変換器の動作に必要な制御信号
と出力される変換データを測定することとし、制御信号
が入力されると、被測定Ａ／Ｄ変換器の制御信号形式や
変換データ出力形式を示す特徴データと制御信号とを比
較することで同期を取りながら制御信号と変換データを
入力するようにした。被測定Ａ／Ｄ変換器の種類毎に特
徴データを予め保持しておき、被測定Ａ／Ｄ変換器の種
類を指定して測定を開始するだけで、指定した被測定Ａ
／Ｄ変換器との同期を取って測定のための入力を行う構
成とした。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、Ａ／Ｄ変換器のスタテ
ィック特性及びダイナミック特性等の測定及び評価を行
うためのＡ／Ｄ変換器評価装置に関し、特に、電子機器
に組込まれた状態のＡ／Ｄ変換器の特性評価をも特別な
ツールを必要とせずに実施することができるようにした
汎用性を有するＡ／Ｄ変換器評価装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、ディジタル信号処理技術の発展に
伴って、Ａ／Ｄ変換器を内蔵する電子機器が急増してお
り、これらの電子機器の性能がＡ／Ｄ変換器の特性に左
右されることから、Ａ／Ｄ変換器のスタティック特性及
びダイナミック特性等の測定及び評価を行うためのＡ／
Ｄ変換器評価装置の必要性が高まってきている。

【０００３】従来は、半導体メーカー等が専用のＡ／Ｄ
変換器評価装置を所有しており、単品のＡ／Ｄ変換器を
Ａ／Ｄ変換器評価装置に装着することによって製品出荷
前の特性試験等を行う場合があるが、あくまでも商品と
しての特定品種のＡ／Ｄ変換器を単品で評価するに止ま
っている。したがって、例えば、Ａ／Ｄ変換器を購入し
て使用するユーザー等が自己開発等した電子機器に一体
に組込まれて特有の使われ方をしているＡ／Ｄ変換器を
評価することができるような汎用性のあるＡ／Ｄ変換器
評価装置は開発されていなかった。

【０００４】そこで、ユーザー等は、自己の電子機器に
のみ適用される専用測定ツールを自己開発して使用して
いるのが現状であり、測定すべき電子機器の仕様が変わ
ればその度に仕様変更に応じた他の専用測定ツールを開
発しなければならないという煩雑さがあった。

【０００５】このような専用測定ツールの従来の一般的
構成を述れば、電子機器に組込まれているＡ／Ｄ変換器
のアナログ入力端子又は電子機器内の所定の端子に発生
する電圧を測定する高精度の直流電圧計と、該Ａ／Ｄ変
換器が出力する変換データを読取るマイクロコンピュー
タ等を内蔵した測定用デジタル回路とを備え、上記直流
電圧計の計測値とデジタル回路の読取り値との一致性等
を比較・評価することによって特性の良否を判断するよ
うにしていた。このような測定ツールは、高分解能の特
性評価を必要とせず、又、スタティック特性のみを測定
する場合には簡易な手段と言える。

【０００６】しかし、分解能、分解精度、周波数応答特
性、雑音特性等のダイナミック特性を評価する場合に
は、更に高度の測定ツールの開発技術が要求される。こ
れに対処するためには、電子機器に組込まれているＡ／
Ｄ変換器のアナログ入力端子又は電子機器内の所定の端
子に発生する電圧を高精度の直流電圧計で測定すると共
に、該Ａ／Ｄ変換器のデジタル出力をマイクロコンピュ
ータ等を内蔵した測定用デジタル回路で読取り、上記直
流電圧計の計測値と測定用デジタル回路の読取り値との
一致性等を有効ビット数の範囲内で比較・評価すること
によってスタティック特性を評価し、更に、電圧及び周
波数設定精度の優れた信号発生器を用いて、許容振幅及
び規定周波数範囲内の適宜の正弦波信号等をＡ／Ｄ変換
器のアナログ入力端子等に供給して、Ａ／Ｄ変換された
デジタル出力をマイクロコンピュータ等を適用した測定
用デジタル回路で読取り、更に、デジタル高速フーリエ
変換（ＤＦＦＴ）演算を行うことによってスペクトラム
を求め、このスペクトラム分布に基いてダイナミック特
性を評価するようにしていた。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
に、スタティック特性は比較的簡単な回路構成の測定ツ
ール等を適用することができるが、他方のダイナミック
特性を測定するための測定ツールは、例えば、Ａ／Ｄ変
換器特有の仕様と上記測定用デジタル回路に内蔵されて
いるマイクロコンピュータの仕様との整合性をとる等の
ための専用インターフェースを開発したり、種類の異な
るＡ／Ｄ変換器の最大スパン（入力信号の最大振幅）に
対応した上記ＤＦＦＴ演算を行うことができる測定用デ
ジタル回路を開発する必要がある等、回路設計者や保守
管理者等のユーザーにとって大きな負担となっていた。

【０００８】本発明は、このような従来の解決すべき課
題に鑑みて成されたものであり、Ａ／Ｄ変換器を、種類
に関わらず且つ電子機器に組み付けられたものであって
も、高精度且つ簡易に測定評価することができる汎用性
を有するＡ／Ｄ変換器評価装置を提供することを目的と
する。

【０００９】

【課題を解決するための手段】被測定Ａ／Ｄ変換器の種
類に対応する特徴データを予め保持する手段と、被測定
Ａ／Ｄ変換器を動作させるための制御信号を測定データ
として入力するコントロールバッファ手段と、被測定Ａ
／Ｄ変換器の変換データを測定データとして入力するデ
ータバッファ手段と、被測定Ａ／Ｄ変換器を動作させる
ための制御信号を入力し、該制御信号と上記特徴データ
を比較することによって被測定Ａ／Ｄ変換器の動作と同
期を取り、上記コントロールバッファ手段とデータバッ
ファ手段による測定データの入力タイミングを逐次設定
するタイミング制御手段と、上記コントロールバッファ
手段とデータバッファ手段に逐次入力された測定データ
を保持する記憶手段と、該記憶手段に保持された測定デ
ータを所定のデータ形式に変換し、該変換された測定デ
ータについて所定の演算を行う信号制御手段とを少なく
とも備える構成とした。

【００１０】

【作用】かかる構成によると、タイミング制御手段が上
記特徴データに基づいて被測定Ａ／Ｄ変換器の動作に同
期することとなり、更に、タイミング制御手段によって
上記コントロールバッファ手段とデータバッファ手段の
測定データの入力タイミングが被測定Ａ／Ｄ変換器の動
作に同期することとなるので、被測定Ａ／Ｄ変換器の測
定が可能となる。そして、被測定Ａ／Ｄ変換器の種類に
応じた特徴データによってかかる同期が取られるので、
被測定Ａ／Ｄ変換器の種類を問わず測定が可能となり、
極めて汎用性に富んでいる。

【００１１】

【実施例】以下、本発明によるＡ／Ｄ変換器評価装置の
一実施例を図面と共に説明する。

【００１２】まず、外観構造を図１に基いて説明する
と、箱型で携帯可能な大きさの装置本体２の一側端は操
作パネル部４となっており、後述するデジタル信号制御
回路２２がデジタル高速フーリエ変換（ＤＦＦＴ）によ
り求めたスペクトラム等を表示するための液晶ディスプ
レー６と、ユーザーが各種の測定条件を設定するための
操作ボタンやスイッチ類等が設けられている。

【００１３】装置本体２の他端には、後述するデータサ
ンプリング同期回路３６に接続されている多ピンコネク
タ（図示せず）を介して測定用プローブユニット８が着
脱可能に連結されるようになっている。即ち、測定用プ
ローブユニット８は、装置本体２の他端に設けられてい
る上記の多ピンコネクタに着脱可能に連結されるケーブ
ル１０と、ケーブル１０の先端に接続されるインターフ
ェースユニット１２と、インターフェースユニット１２
から延設されたコネクタピン群１４で構成されている。
ここで、ケーブル１０は多数配線を有するフラットケー
ブル等が適用され、データサンプリング同期回路３６と
インターフェースユニット１２との間で多チャンネルの
データ転送を行うようになっている。又、この実施例で
は、図２中の符号Ａ〜Ｅ，Ｄ０〜Ｄ15，ＧＮＤで示され
るように、コネクタピン群１４は２２本のコネクタピン
から成っており、被測定Ａ／Ｄ変換器１６の制御入力端
子と変換データを出力するデータ出力端子等に接続させ
易くするためのフック機構等が夫々の先端部に設けられ
ている。尚、上記符号付けされた各コネクタピンを１４
_A 〜１４_E ，１４_D0〜１４_D15 ，１４_GND として以下に
説明する。

【００１４】更に、装置本体２の他端に設けられたＲＳ
２３２Ｃ規格等の接続端子を介してパーソナルコンピュ
ータ等の外部機器１８を接続することができるようにな
っている。

【００１５】次に装置本体２の内部回路の構成を図２に
基いて説明する。

【００１６】内部回路は、信号処理部２０とアナログ信
号処理部３４を備え、信号処理部２０は、デジタル信号
制御回路（例えば、モトローラ社製デジタルシグナルプ
ロセッサ、製品番号Ｍ５６００１等のＩＣ及び付属素子
で構成される）２２と、読出し専用メモリ（ＲＯＭ）２
６、ランダムアクセスメモリ（ＲＡＭ）２８、操作パネ
ル部４に設けられた液晶ディスプレー６及び操作ボタン
等の間でデータの授受を行うための操作パネルインター
フェース回路３０、外部機器１８の間でデータの授受を
行うためのＲＳ２３２Ｃ規格のインターフェース回路３
２、データサンプリング同期回路３６等を有し、夫々、
データバスとアドレスバス及びコントロールバス（以
下、単にバスという）２４を介して相互に接続されてい
る。又、バス２４にはアナログ信号処理部３４も接続さ
れている。

【００１７】更に、デジタル信号制御回路２２にはＲＯ
Ｍ３８とＲＡＭ４０が接続され、ＲＯＭ３８には、デジ
タル信号制御回路２２の動作用プログラムと、ＤＦＦＴ
演算を行うための所定の演算プログラムと、被測定Ａ／
Ｄ変換器の種類毎の特徴データを予め記憶している。こ
こで、被測定Ａ／Ｄ変換器の種類の違いによって、その
Ａ／Ｄ変換器の動作制御を行うための制御信号の形式の
違いと、最大スパンに対応する変換データのビット数の
違い、変換データのビット配列の違い、複数分割して変
換データを出力したり、変換データをシリアル又はパラ
レル出力する等の様々な出力形式の違いがあるので、こ
れらの制御信号の形式と変換データの出力形式の情報を
被測定Ａ／Ｄ変換器の種類毎に特徴データとしてＲＯＭ
３８に予め記憶している。尚、これらの特徴データは市
場に出回っているカタログデータ等に基いて作成され
る。一方、ＲＡＭ４０は、ＤＦＦＴ演算を行う際に被演
算データや演算途中のデータを格納したり、演算結果の
スペクトラムデータを格納する等に用いられる。

【００１８】ＲＯＭ２６は、デジタル信号制御回路２２
が装置全体の動作を制御するためのシステムプログラム
が予め記憶されている。ＲＡＭ２８は、測定時に被測定
Ａ／Ｄ変換器から入力される変換データを記憶するため
にある。そして、低雑音スイッチング電源回路４２が商
用交流電源から所定電圧の駆動電源を発生して装置全体
に供給するようになっている。

【００１９】次に、測定用プローブユニット８の回路構
成を説明する。まず、インターフェースユニット１２の
構成を図３に基いて述べると、コネクタピン１４_A 〜１
４_E，１４_D0〜１４_D15 ，１４_GND が一対一に対応して
接続される高抵抗Ｒ_A 〜Ｒ_E，Ｒ_D0〜Ｒ_D15 ，Ｒ_GND を
有し、図示するように、高抵抗Ｒ_GND を除く他の高抵抗
Ｒ_A 〜Ｒ_E ，Ｒ_D0〜Ｒ_D15 の出力側接点が、不要な高周
波ノイズを除去するための高域除去フィルタ４４_A 〜４
４_E ，４４_D0〜４４_D15 を介して比較器４６_A〜４
６_E ，４６_D0〜４６_D15 の非反転入力接点に接続されて
いる。

【００２０】一方、高抵抗Ｒ_GND の出力側接点がグラン
ドレベル検出回路４８に接続され、グランドレベル検出
回路４８の出力接点が基準電圧発生回路５０に接続さ
れ、基準電圧発生回路５０の出力接点が比較器４６_A 〜
４６_E ，４６_D0〜４６_D15 の反転入力端子に接続されて
いる。

【００２１】ここで、コネクタピン１４_A 〜１４_E は、
被測定Ａ／Ｄ変換器の動作を制御するために被測定電子
機器で発生される制御信号を測定するために使用され、
測定の際には、例えば被測定Ａ／Ｄ変換器の制御信号入
力端子等に接続される。一方、コネクタピン１４_D0〜１
４_D15 は、被測定Ａ／Ｄ変換器の変換データを測定する
ために使用され、測定の際には、例えば被測定Ａ／Ｄ変
換器の変換データ出力端子等に接続される。コネクタピ
ン１４_GND は被測定Ａ／Ｄ変換器のグランドに接続され
る。このように、コネクタピン１４_A 〜１４_E ，１４_D0
〜１４_D15 ，１４_GND の用途が決められている。

【００２２】そして、コネクタピン１４_A 〜１４_E ，１
４_D0〜１４_D15 ，１４_GND を被測定Ａ／Ｄ変換器の上記
所定の端子等に接続して、被測定電子機器及びこれに内
蔵されている被測定Ａ／Ｄ変換器を動作させた状態で測
定を行うと、コネクタピン１４_GND に接続されているグ
ランドレベル検出回路４８が、被測定Ａ／Ｄ変換器のグ
ランドレベルと装置本体２のグランドレベルとの電位差
を計測し、基準電圧発生回路５０がこの電位差（即ち、
オフセット電位）を補償した基準電圧Ｖ_REF を発生し、
比較器４６_A 〜４６_E ，４６_D0〜４６_D15 が、コネクタ
ピン１４_A 〜１４_E ，１４_D0〜１４_D15 及び高域除去フ
ィルタ４４_A 〜４４_E ，４４_D0〜４４_D15 を介して入力
される夫々の測定データを基準電圧Ｖ_REF に基いて２値
化することにより波形整形を行う。即ち、グランドレベ
ル検出回路４８と基準電圧発生回路５０は、被測定Ａ／
Ｄ変換器のグランドレベルとＡ／Ｄ変換器評価装置のグ
ランドレベルとの差分を補償するための補償手段として
機能する。尚、この実施例では、基準電圧Ｖ_REF をＴＴ
Ｌレベルに設定することによって、ＴＴＬレベルの信号
処理を行うようになっている。

【００２３】次に、データサンプリング同期回路３６の
構成を説明すると、インターフェースユニット１２の比
較器４６_A 〜４６_E の出力接点Ｑ_A 〜Ｑ_E がケーブル１
０及び前記多ピンコネクタの所定の配線経路を介してコ
ントロールバッファ回路５２及びタイミング制御回路５
４の入力接点Ｐ_A 〜Ｐ_E に接続され、比較器４６_D0〜４
６_D15 の出力接点Ｑ_D0〜Ｑ_D15 がケーブル１０及び前記
多ピンコネクタの他の所定配線経路を介してデータバッ
ファ回路５６の入力接点Ｐ_D0〜Ｐ_D15 に接続されてい
る。

【００２４】ここで、コントロールバッファ回路５２
は、入力接点Ｐ_A 〜Ｐ_E を介して入力される制御信号に
関する測定データを、タイミング制御回路５４からのス
トローブ信号ＳＴ１に同期して並列にラッチしてバス２
４へ並列に出力するフリップフロップ回路を内蔵し、デ
ータバッファ回路５６は、入力接点Ｐ_D0〜Ｐ_D15 を介し
て入力される変換データに関する測定データを、タイミ
ング制御回路５４からのストローブ信号ＳＴ２に同期し
て並列にラッチしてバス２４へ並列に出力するフリップ
フロップ回路を内蔵している。

【００２５】タイミング制御回路５４は、入力接点Ｐ_A
〜Ｐ_E を介して入力される制御信号に関する測定データ
からストローブ信号ＳＴ１，ＳＴ２を発生する機能と、
制御信号に関する測定データを受信したことをデジタル
信号制御回路２２へ知らせるための割込み信号ＩＲＱを
発生する機能を有する。即ち、タイミング制御回路５４
は、ユーザーが被測定Ａ／Ｄ変換器の種類を操作パネル
４から指定して測定開始の指示を行うと、デジタル信号
制御回路２２からバス２４を介して転送されてくる被測
定Ａ／Ｄ変換器固有の特徴データＣＮＴを内部レジスタ
（図示せず）に保持し、この特徴データＣＮＴと入力接
点Ｐ_A 〜Ｐ_E から入力される測定データとを比較するこ
とによって被測定Ａ／Ｄ変換の動作タイミングと同期を
とって割込み信号ＩＲＱを出力し、更に、被測定Ａ／Ｄ
変換の制御信号の発生タイミングに同期したストローブ
信号ＳＴ１を発生することによって制御信号に関する測
定データをコントロールバッファ回路５２に保持させる
と共に、変換データの発生タイミングに同期したストロ
ーブ信号ＳＴ２を発生することによって変換データに関
する測定データをデータバッファ回路５６に保持させ
る。そして、コントロールバッファ回路５２とデータバ
ッファ回路５６は、ストローブ信号ＳＴ１，ＳＴ２が発
生する毎に新規の測定データを保持してバス２４へ出力
し、デジタル信号制御回路２２が、割込み信号ＩＲＱに
同期した指定タイミングでこれらの測定データをＲＡＭ
２８に順次に記憶させるアドレッシング制御を行う。し
たがって、図４に示すようなタイミングでコントロール
バッファ回路５２及びデータバッファ回路５６による測
定データの授受が行われる。そして、ユーザーが測定終
了を操作パネル４から指示すると、デジタル信号制御回
路２２がタイミング制御回路５４に対して割込み制御信
号ＣＮＴとストローブ信号ＳＴ１，ＳＴ２の発生を停止
させ、測定を終了するようになっている。

【００２６】更に、測定が完了すると、デジタル信号制
御回路２２が、ＲＯＭ４０に予め記憶されている被測定
Ａ／Ｄ変換器の特徴データに基いて、ＲＡＭ２８の夫々
の測定データを、信号処理可能な所定のデータ形式のデ
ータに編集して再び記憶させ、変換データの出力形式が
Ａ／Ｄ変換器の種類によって異なっていても、統一され
たデータ形式の変換データがＲＡＭ２８に蓄えられるこ
ととなる。

【００２７】そして、ユーザーがスペクトラム解析を操
作パネル４から指示すると、デジタル信号制御回路２２
が、ＲＡＭ２８の変換データについてＤＦＦＴ演算し、
これによって得られるスペクトラム分布のデータをＲＡ
Ｍ３８に記憶させると共に、周波数に対するスペクトラ
ム分布を液晶ディスプレー６に表示させる。尚、表示方
法は、仕様あるいは用途に応じて変更することができる
ようにＲＯＭ２６の表示用プログラムが予め記憶され、
ユーザーが操作パネル１２から指定することができるよ
うになっている。

【００２８】又、スペクトラム解析だけでなく、ＲＡＭ
２８に蓄えられている変換データを時間軸上のデータと
して液晶ディスプレー６に表示させたり、被測定Ａ／Ｄ
変換器の制御信号と変換データとを、測定プローブユニ
ット８で測定したタイミングに合わせて同時に液晶ディ
スプレー６に表示させることにより、ユーザーに被測定
Ａ／Ｄ変換器の動作を解析させる等の機能も備えてい
る。

【００２９】更に、パーソナルコンピュータ等の外部機
器１８からの指示にしたがって、ＲＡＭ２８，３８のデ
ータをインターフェース回路３２を介して外部機器１８
へ転送したり、逆に、外部機器１８からこれらのＲＡＭ
２８，３８へデータを転送する等の各種の信号処理を行
うことができる機能を備えている。

【００３０】次に、アナログ信号処理部３４を説明す
る。図２において、このアナログ信号処理部３４は、出
力チャネルと入力チャネルを備え、出力チャネルは、バ
ス２４からフォトカプラ５８を介して入力されるバイナ
リデータをアナログ信号に変換する１８ビットのＤ／Ａ
変換器６０と、該アナログ信号を増幅する出力バッファ
回路６２を有し、出力バッファ回路６２が発生するアナ
ログ信号を出力プローブ６４を介して出力するようにな
っている。一方、入力チャネルは、入力プローブ６６を
介して入力されるアナログ信号を増幅する入力バッファ
回路６８と、入力バッファ回路６８の出力をデジタルの
バイナリデータに変換する１８ビットＡ／Ｄ変換器７０
と、Ａ／Ｄ変換器７０から出力されるバイナリデータを
バス２４へ転送するフォトカプラ７２を有している。
又、信号処理部２０とは別電源を備えており、直流電圧
変換器（ＤＣ−ＤＣコンバータ）７４が、バス２４から
フォトカプラ７６を介して供給される電圧制御データＶ
ｇに対応する電圧を発生して、Ｄ／Ａ変換器６０と出力
バッファ回路６２と入力バッファ回路６８とＡ／Ｄ変換
器７０に供給する。更に、出力バッファ回路６２と入力
バッファ回路６８の増幅率が、バス２４からフォトカプ
ラ７８を介して供給される制御データＶｓによって可変
調整することができるようになっている。尚、制御デー
タＶｇ，Ｖｓはユーザーが操作パネル４から指定するこ
とができるようになっている。又、Ｄ／Ａ変換器６０に
供給するバイナリーデータは、外部機器１８から供給し
たり、所定のデータをＲＡＭ２８に格納しておいて操作
パネル４から起動をかけることによって順次に読出して
供給したり、操作パネル４からデジタル信号制御回路２
２へ指定すると適宜の振幅及び周波数の各種波形のアナ
ログ信号を形成することができるデータをデジタル信号
制御回路２２が供給するようになっており、夫々選択可
能となっている。一方、Ａ／Ｄ変換器７０からバス２４
を介して入力されるデジタルデータは、デジタル信号制
御回路２２によるアドレッシング制御に基いてＲＡＭ２
８に格納される。

【００３１】尚、このアナログ信号処理部３４は、被測
定機器に所望のアナログ信号を供給する信号供給源とし
て使用したり、被測定機器内に発生するアナログ信号を
Ａ／Ｄ変換して測定する等の一般的な計測に使用するも
のである。これに対して測定プローブユニット８は、被
測定機器内の被測定Ａ／Ｄ変換器から出力される変換デ
ータと制御信号をあくまでも受動的に測定するために使
用されるものである。

【００３２】次に、かかるＡ／Ｄ変換器評価装置の使用
態様を図５に基いて説明する。尚、本発明に係わる測定
用プローブユニット８を用いる場合を説明する。まず、
装置本体２の電源をオンにした後、ステップ１００にお
いて、ユーザーが、測定用プローブユニット８のコネク
タピン１４_A 〜１４_E ，１４_D0〜１４_D15 を被測定Ａ／
Ｄ変換器の所定の制御入力端子と変換データの出力端子
に接続すると共に、コネクタピン１４_GND を被測定電子
機器のグランド端子に接続する。次に、ステップ１１０
において、ユーザーが操作パネル４から被測定Ａ／Ｄ変
換器の種類と測定項目（例えば、ＤＦＦＴの演算結果を
表示する等）の指示を行う。このような操作後に測定開
始を指示すると、ステップ１２０において、デジタル信
号制御回路２２が、データサンプリング同期回路３６の
タイミング制御回路５４に被測定Ａ／Ｄ変換器に関連す
る特徴データＣＮＴを転送し、被測定Ａ／Ｄ変換器に対
する固有の測定動作を開始する。即ち、ステップ１３０
において、被測定Ａ／Ｄ変換器の制御信号及び変換デー
タに関する測定データを入力し、ユーザーが測定停止を
指示するまで測定データをＲＡＭ２８に記憶していく。
そして、ステップ１４０において、測定停止を検出する
と、ステップ１５０において、デジタル信号制御回路２
２がＲＡＭ２８の測定データを所定のデータ形式に変換
し、更に、上記測定項目で指定された信号処理を行い、
処理結果を液晶ディスプレー６に表示させる。例えば、
スペクトラム解析によって被測定Ａ／Ｄ変換器のダイナ
ミック特性を測定するように指定した場合には、ＲＡＭ
２８の測定データについてＤＦＦＴ演算を行い、その演
算結果であるスペクトラム分布を液晶ディスプレー６に
表示させる。

【００３３】このように、この実施例によれば、被測定
Ａ／Ｄ変換器の種類を指定して、そのＡ／Ｄ変換器の制
御信号入力端子と変換データの出力端子に測定プローブ
ユニットを接続するだけで、特性評価のための測定が可
能となることから、極めて簡単な操作で済む。更に、被
測定Ａ／Ｄ変換器に対して何等の信号をも供給すること
なく測定が可能となるので、被測定Ａ／Ｄ変換器が電子
機器内に組込まれた状態でしかも電子機器の実際の動作
状態での精度の良い測定が可能となる。又、被測定Ａ／
Ｄ変換器の種類を指定するだけで特定のＡ／Ｄ変換器か
らの変換データを採取できるので汎用性に富み、従来の
ような専用測定ツールを製作する等の手間を省くことが
可能となる。

【００３４】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、被
測定Ａ／Ｄ変換器の種類に対応する特徴データを予め保
持する手段と、被測定Ａ／Ｄ変換器を動作させるための
制御信号を測定データとして入力するコントロールバッ
ファ手段と、被測定Ａ／Ｄ変換器の変換データを測定デ
ータとして入力するデータバッファ手段と、被測定Ａ／
Ｄ変換器を動作させるための制御信号を入力し、該制御
信号と上記特徴データを比較することによって被測定Ａ
／Ｄ変換器の動作と同期を取り、上記コントロールバッ
ファ手段とデータバッファ手段による測定データの入力
タイミングを逐次設定するタイミング制御手段と、上記
コントロールバッファ手段とデータバッファ手段に逐次
入力された測定データを保持する記憶手段と、該記憶手
段に保持された測定データを所定のデータ形式に変換
し、該変換された測定データについて所定の演算を行う
信号制御手段とを少なくとも備える構成としたので、タ
イミング制御手段が特徴データに基づいて被測定Ａ／Ｄ
変換器の動作に同期することとなり、更に、タイミング
制御手段によって上記コントロールバッファ手段とデー
タバッファ手段の測定データの入力タイミングが被測定
Ａ／Ｄ変換器の動作に同期することとなるので、被測定
Ａ／Ｄ変換器の測定が可能となる。そして、被測定Ａ／
Ｄ変換器の種類に応じた特徴データによってかかる同期
が取られるので、被測定Ａ／Ｄ変換器の種類を問わず測
定が可能となり、極めて汎用性に富んだＡ／Ｄ変換器評
価装置を実現することができる。

【００３５】更に、被測定Ａ／Ｄ変換器に対して何等か
の制御信号等を供給することなく、被測定Ａ／Ｄ変換器
又は被測定電子機器で発生される制御信号及び変換デー
タを測定するので、あくまでも受動的に測定することが
できる。したがって、被測定Ａ／Ｄ変換器又は被測定電
子機器に対して何等の影響も与えず、実際の動作状態で
の測定・評価を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の外観構造を示す斜視図であ
る。

【図２】一実施例の回路構成を示すブロック図である。

【図３】測定プローブユニットに設けられているインタ
ーフェースユニットの構成を示すブロック図である。

【図４】測定プローブユニットが接続されるデータサン
プリング同期回路の構成を示すブロック図である。

【図５】データサンプリング同期回路の動作を説明する
ためのタイミングチャートである。

【図６】実施例の使用手順の一例を説明するためのフロ
ーチャートである。

【符号の説明】

２…装置本体、４…操作パネル、６…液晶ディスプレ
ー、８…測定プローブユニット、１０…ケーブル、１２
…インターフェースユニット、１４…コネクタピン群、
２２…デジタル信号制御回路、２４…バス、３６…デー
タサンプリング同期回路、１４_A 〜１４_E ，１４_D0〜１
４_D15 ，１４_GND …コネクタピン、Ｒ_A 〜Ｒ_E ，Ｒ_D0〜
Ｒ_D15 ，Ｒ_GND …高抵抗、４４_A 〜４４_E ，４４_D0〜４
４_D15 …高域除去フィルタ、４６_A 〜４６_E ，４６_D0〜
４６_D15 …比較器、４８…グランドレベル検出回路、５
０…基準電圧発生回路、５２…コントロールバッファ回
路、５４…タイミング制御回路、５６…データバッファ
回路。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 被測定Ａ／Ｄ変換器の種類に対応する特
   徴データを予め保持する手段と、 被測定Ａ／Ｄ変換器を動作させるための制御信号を測定
   データとして入力するコントロールバッファ手段と、 被測定Ａ／Ｄ変換器の変換データを測定データとして入
   力するデータバッファ手段と、 被測定Ａ／Ｄ変換器を動作させるための制御信号を入力
   し、該制御信号と上記特徴データを比較することによっ
   て被測定Ａ／Ｄ変換器の動作と同期を取り、上記コント
   ロールバッファ手段とデータバッファ手段による測定デ
   ータの入力タイミングを逐次設定するタイミング制御手
   段と、 上記コントロールバッファ手段とデータバッファ手段に
   逐次入力された測定データを保持する記憶手段と、 該記憶手段に保持された測定データを所定のデータ形式
   に変換し、該変換された測定データについて所定の演算
   を行う信号制御手段と、 を具備したことを特徴とするＡ／Ｄ変換器評価装置。
2. 【請求項２】 前記コントロールバッファ手段とデータ
   バッファ手段に入力される測定データに対して、被測定
   Ａ／Ｄ変換器のグランドレベルと装置本体のグランドレ
   ベルとの差分を補償する補償手段を備えることを特徴と
   する請求項１記載のＡ／Ｄ変換器評価装置。
3. 【請求項３】 被測定Ａ／Ｄ変換器の制御信号入力端子
   と変換データの出力端子に装着されるように使用され、
   夫々の入力端子及び出力端子に発生する測定データを前
   記コントロールバッファ手段とデータバッファ手段に転
   送するコネクタピンを具備することを特徴とする請求項
   １記載のＡ／Ｄ変換器評価装置。
4. 【請求項４】 前記コネクタピンと、前記コントロール
   バッファ手段とデータバッファ手段の間に、測定データ
   中の高域雑音を除去するためのフィルタが設けられてい
   ることを特徴とする請求項２記載のＡ／Ｄ変換器評価装
   置。
5. 【請求項５】 前記信号制御手段は、前記変換された測
   定データについてデジタル高速フーリエ変換の演算を行
   うことを特徴とする請求項１記載のＡ／Ｄ変換器評価装
   置。
6. 【請求項６】 更に、前記信号制御手段の演算結果を表
   示するディスプレー手段を備えることを特徴とする請求
   項１記載のＡ／Ｄ変換器評価装置。