JP2001516037A - 回路基板装置 - Google Patents

回路基板装置

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JP2001516037A JP2000510187A JP2000510187A JP2001516037A JP 2001516037 A JP2001516037 A JP 2001516037A JP 2000510187 A JP2000510187 A JP 2000510187A JP 2000510187 A JP2000510187 A JP 2000510187A JP 2001516037 A JP2001516037 A JP 2001516037A
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ネイザン チャオ
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Abstract

(57)【要約】 テスト回路(1)をテストする回路基板装置。回路装置は、単一回路基板、データ収集デバイス(4)および電源デバイス(5)を含む。データ収集デバイスおよび電源デバイスは、単一回路基板上に配置される。単一回路基板は、データ収集デバイス(4)がテスト回路から出力信号を受信できるよう、テスト回路に結合される。電源はテスト回路に電力を提供する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 (技術分野) 本発明は回路基板装置、特に少なくともデータ収集デバイスおよび電源を配置
する回路基板装置に関する。
【0002】 (背景技術) 従来のエレクトロニクス・テスト機構は3つの基本的機器を含む。データ収集
デバイス(例えばオシロスコープ、マルチメータなど)、信号発生器および電源
である。信号発生器は、テスト信号をテスト回路に提供し、したがってテスト回
路は出力信号を発生することができ、データ収集デバイスがテスト回路からの出
力信号を測定して、電源がテスト回路に電力を供給する。
【0003】 従来のデータ収集デバイスは、パーソナル・コンピュータに接続する専用の箱
に入れるか、パーソナル・コンピュータの通信スロットに直接配置することがで
きる単一の回路基板上に位置することが知られている。しかし、データ収集デバ
イスおよび電源は、以前は(他の所望のコンポーネントとともに)単一の回路基
板上には配置されなかった。
【0004】 米国特許第5,526,287号は、ディジタル形式またはアナログ形式で電
圧、抵抗および電流のデータを感知することができる携帯用データ収集デバイス
について記載している。データ収集デバイスは、外被、感知された情報に対応す
る入出力情報を制御するプロセッサ、情報を格納する格納デバイス、シリアル・
ポートおよび内部電源を含む。しかしこの広報には、この携帯用データ収集デバ
イスが電源とともに単一の回路基板上に配置されたことを示すものはない。
【0005】 本発明の目的の一つは、ディジタル・コンピュータとテスト回路との間に接続
された独立式デバイスを使用して、またはこの装置をディジタル・コンピュータ
の内部接続スロットとテスト回路との間に接続することによって、簡単にテスト
回路をテストできるよう、現在利用可能なコンポーネントを単一の回路基板上に
経済的に設けることである。
【0006】 (発明の開示) 本発明による回路装置は、単一の回路基板、データ収集デバイスおよび電源デ
バイスを含む。データ収集デバイスおよび電源デバイスは、それぞれ、単一の回
路基板上に配置される。回路基板装置はデータ収集デバイスがテスト回路からテ
スト出力信号を受信できるよう、テスト回路に接続される。電源はテスト回路に
電力を提供する。したがって、テスト回路からのテスト出力信号は、例えばディ
ジタル・コンピュータによって分析することができる。信号発生デバイスも、単
一の回路上に設けて、テスト回路からのテスト出力信号の発生をシミュレートす
ることができる。
【0007】 (発明を実施するための最良の形態) 図1および図2は、単一回路基板3、データ収集デバイス4(例えば多チャン
ネル・データ収集デバイス)および電源5(例えばフレキシブルな多電圧ユーザ
電源)を含む回路基板装置1の第1の実施形態を示す。データ収集デバイス4お
よび電源5は、単一回路基板3上に配置される。図1および図2は、専用外被2
内に位置する回路基板装置1も示す。データ収集デバイス4および電源5は、例
えば回路基板3上に直接設けるか、単一回路基板3上に装着した幾つかのドータ
ー回路(例えば3個以内のドーター回路)に設けることができる。ドーター回路
(図示せず)も、単一回路基板3上に設けることができる。ドーター回路を使用
する場合、これらのドーター回路は、例えば約6平方インチ(38.7mm2) という表面積を超えないことが好ましい。
【0008】 回路基板装置1は、さらに、装置1をディジタル・コンピュータ7(例えば汎
用コンピュータ、専用コンピュータなど)と操作可能な状態で結合するため、外
部からアクセス可能な通信ポート6(当技術分野で知られているように、ディジ
タル・コンピュータ7のシリアル・ポート、パラレル・ポート、またはUSBポ
ートに接続することができる)を含む。通信ポート6は、直接またはディジタル
制御システム8(例えばマイクロプロセッサ)を介して、例えば通信バスまたは
ハードワイヤード接続部を使用してデータ収集デバイス4および電源5に接続さ
れる。ディジタル制御システム8(別個の回路エレメントまたは集積回路を含ん
でもよい)は、単一回路基板3またはドーター基板上に配置することができる。
ディジタル制御システム8は、別個の回路エレメントでもよく、あるいはデータ
収集デバイス4または電源5に埋め込んでもよい。
【0009】 従来のデータ収集デバイス(例えばオシロスコープ、周波数計、電圧計、電流
計、ディジタル・マルチメータなど)は、当技術分野でよく知られている。単一
回路基板3上に設けたデータ収集デバイス4も、当技術分野で知られている。回
路基板装置1は、複数の外部からアクセス可能なデータ収集チャネル入力ポート
(AおよびB)12、外部からアクセス可能なスコープ・モード操作用のトリガ
入力部13、外部からアクセス可能なトリガ・レベル制御システム14、および
データ/電源出力部15も含む。データ収集チャネル入力ポート12およびトリ
ガ入力部13は、外部の電気テスト回路と結合することができる。したがって、
外部の電気テスト回路からのデータを、外部からアクセス可能なデータ・ポート
12を介してデータ収集デバイス4に提供することができる。トリガ・レベル制
御システム14は、直接またはディジタル制御システム8を介してデータ収集デ
バイス4に結合することができる。
【0010】 電源5は、例えば図8で示すような3重出力のユーザ制御電源17でもよい。
回路基板装置1は、外部からアクセス可能な電源コントローラ18と外部からア
クセス可能な電源入力部19を含む。電源コントローラ18は、直接またはディ
ジタル制御システム8を介して電源5に結合することができる。
【0011】 図3は、本発明による回路基板装置20の第2の実施形態を示す。回路基板装
置20は、単一回路基板3、データ収集デバイス4および電源5を含む。上述し
たように、データ収集デバイス4および電源5は、単一回路基板3上に配置され
る。この実施形態では、単一回路基板装置20は、ディジタル・コンピュータ(
図示せず)のケース内に配置される。単一回路基板3は、単一回路基板3とその
上に配置された回路エレメントとをディジタル・コンピュータに操作可能な状態
で結合するコンピュータ・コネクタ22を含む。コンピュータ・コネクタ22は
、ディジタル・コンピュータのマザーボードに接続された標準的データ・バス・
スロット(例えばEISA、ISA、PCI、VXIなど)を介してディジタル
・コンピュータとインタフェースをとる。データ収集デバイス4および電源5は
、単一回路基板3上に直接配置する(または直接取り付ける)か、単一回路基板
3上に装着された所定の数のドーター基板(例えば3個以内のドーター基板が好
ましい)上に配置することができる。ドーター基板を使用する場合、これらのド
ーター基板は、例えば約6平方インチ(38.7mm2)という表面積を超えな いことが好ましい。第2の実施形態による単一回路基板装置20は、上記で第1
の実施形態について述べたのと同様の外部からアクセス可能な入力ポート、出力
ポート、制御システム、および接続システムを含む。
【0012】 図4および図5は、データ収集デバイス4および電源5が単一回路基板3に配
置された、本発明による回路基板装置23の第3の実施形態を示す。回路基板装
置23の第3の実施形態は、図1に示した第1の実施形態に関して上述したのと
同様のエレメントを含み、さらに単一回路基板3または単一回路基板3上に配置
できるドーター基板上に信号発生器24を配置し、ディジタル制御システム8、
電源5よび/またはデータ収集デバイス4と直接的または間接的に通信すること
ができる。データ/電源出力部15も含まれるが、(信号発生器24が発生した
)信号で発生する出力も、この出力ポートを使用して提供することができる。信
号発生器24は、テスト信号(アナログまたはディジタル)をユーザ作成の(ま
たは予備作成された)テスト回路に提供することができ、これはこのようなテス
ト回路を刺激してテスト出力信号を提供するため、例えば電源5で電力を供給す
ることができる。次に、このテスト出力信号は、例えばデータ収集デバイス4で
測定することができる。信号発生器24は、例えば当技術分野で知られているよ
うな従来の信号発生器を含むことができる。回路基板装置23は、外部からアク
セス可能な信号出力ポート26も含み、これは直接またはディジタル制御システ
ム8を介して信号発生器24に接続される。
【0013】 図6は、単一回路基板3、データ収集デバイス4および電源5を含む、本発明
による単一回路基板装置28の第4の実施形態を示す。データ収集デバイス4お
よび電源5は、単一回路基板3上に配置される。回路基板装置28は、図3で示
したような第2の実施形態で上述したエレメントを含み、さらに単一回路基板3
上に、または単一回路基板3上に配置できるドーター基板上に信号発生器24を
設ける。回路基板装置28は、さらに、上記の第3の実施形態で述べ、図4およ
び図5で示したのと同じ外部からアクセス可能な信号出力ポート26を含む。
【0014】 データ収集デバイス4は、データ収集デバイス4と直接、またはディジタル制
御システム8を介して電気的に結合することができ外部からアクセス可能なトリ
ガ・レベル制御システム14を手動で調節することにより、構成することができ
る。電源5は、電源5に直接、またはこれもディジタル制御システム8を介して
電気的に結合することができ、外部からアクセス可能な電源コントローラ18を
手動で調節することにより、構成することができる。信号発生器24は、信号発
生器24に直接、またはディジタル制御システム8を介して電気的に結合するこ
とができ外部からアクセス可能な信号出力ポート26を手動で調節することによ
り、構成することができる。データ収集デバイス4、電源5および/または信号
発生器24は、例えばディジタル・コンピュータなどを使用して、自動的に調節
することもできる。特に、データ収集デバイス4は、ディジタル・コンピュータ
で作動するソフトウェア・プログラムで、または外部からアクセス可能なトリガ
・レベル制御システム14を調節することによって構成し、例えば二重チャンネ
ル格納オシロスコープ、周波数計、ディジタル・マルチメータ、またはスペクト
ル分析器として機能させることができる。電源5も、ディジタル・コンピュータ
で作動するソフトウェア・プログラムによって、または外部からアクセス可能な
電源コントローラ18を調節して、あるいはその両方により構成し、電圧および
/または電流の出力を制御することができる。電源5は、ディジタル電圧および
/または電流信号またはアナログ電圧および/または電流信号を発生することが
できる。信号発生器が発生する信号のタイプ(つまりディジタルまたはアナログ
)は、ソフトウェア・プログラムで構成するか、手動で構成することができる。
データ収集デバイス4、電源5および/または信号発生器24は、例えばディジ
タル制御システム8を使用して制御することもできる。当業者は、単一回路基板
3上に配置されたデータ収集デバイス4、電源5は、他の手段を使用して制御す
ることもできることを容易に認識できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明による単一回路基板装置の第1の実施形態の上面図の断面図を示す。
【図2】 本発明による単一回路基板装置の第1の実施形態の外被の前面図を示す。
【図3】 本発明による単一回路基板装置の第2の実施形態の上面図を示す。
【図4】 本発明による単一回路基板装置の第3の実施形態の上面図の断面図を示す。
【図5】 本発明による単一回路基板装置の第3の実施形態の外被の前面図を示す。
【図6】 本発明による単一回路基板装置の第4の実施形態の上面図を示す。
【手続補正書】特許協力条約第34条補正の翻訳文提出書
【提出日】平成12年2月17日(2000.2.17)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】特許請求の範囲
【補正方法】変更
【補正内容】
【特許請求の範囲】

Claims (20)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 テスト回路をテストする回路装置であって、 テスト回路に結合された単一回路基板と、 単一回路基板上に配置されたデータ収集デバイスとを備え、データ収集デバイ
    スはテスト回路からテスト出力信号を受信し、さらに、 単一回路基板上に配置された電源デバイスを備え、電源がテスト回路の作動を
    テストするためにテスト回路に電力を提供する回路装置。
  2. 【請求項2】 さらに、 単一回路基板上に位置する信号発生デバイスを備え、信号発生器は、テスト出
    力信号がテスト回路によって発生するよう、少なくとも1つのテスト信号をテス
    ト回路に提供する、請求項1記載の回路装置。
  3. 【請求項3】 さらに、 単一回路基板上に配置されたディジタル制御システムを備え、ディジタル制御
    システムは、データ収集デバイスおよび電源デバイスの少なくとも一方を制御す
    る、請求項1記載の回路装置。
  4. 【請求項4】 さらに、 単一回路基板上に配置されたディジタル制御システムを備え、ディジタル制御
    システムはデータ収集デバイス、電源デバイスおよび信号発生デバイスのうち少
    なくとも1つを制御する、請求項2記載の回路装置。
  5. 【請求項5】 さらに、 データ収集デバイスに結合され、ディジタル・コンピュータの接続ポートと接
    続するようになっている通信ポートを備え、ディジタル制御システムがテスト出
    力信号に対応するデータをディジタル・コンピュータに提供する、請求項1記載
    の回路装置。
  6. 【請求項6】 さらに、 データ収集デバイスと信号発生デバイスとの少なくとも一方に結合された通信
    ポートを備え、通信ポートはディジタル・コンピュータの接続ポートに接続する
    ようになっていて、ディジタル制御信号がテスト出力信号に対応するデータをデ
    ィジタル・コンピュータに提供する、請求項2記載の回路装置。
  7. 【請求項7】 さらに、 データ制御システムに結合され、ディジタル・コンピュータの接続ポートに接
    続するようになっている通信ポートを備え、ディジタル制御信号がテスト出力信
    号に対応するデータをディジタル・コンピュータに提供する、請求項3記載の回
    路装置。
  8. 【請求項8】 さらに、 データ制御システムに結合され、ディジタル・コンピュータの接続ポートに接
    続するようになっている通信ポートを備え、ディジタル制御信号がテスト出力信
    号に対応するデータをディジタル・コンピュータに提供する、請求項4記載の回
    路装置。
  9. 【請求項9】 さらに、 データ収集デバイスを構成するため、外部からアクセス可能なトリガ・レベル
    ・コントローラと、 電源デバイスを構成するため、外部からアクセス可能な電力レベル・コントロ
    ーラとを備える、請求項1記載の回路装置。
  10. 【請求項10】 データ収集デバイスと電源デバイスとの少なくとも一方が
    、ディジタル・コンピュータで作動するソフトウェア・プログラムを使用して構
    成される、請求項5記載の回路装置。
  11. 【請求項11】 データ収集デバイス、電源デバイスおよび信号発生デバイ
    スのうち少なくとも1つが、ディジタル・コンピュータで作動するソフトウェア
    ・プログラムを使用して構成される、請求項6記載の回路装置。
  12. 【請求項12】 ディジタル制御システムが、ディジタル・コンピュータで
    作動するソフトウェア・プログラムを使用して構成される、請求項7記載の回路
    装置。
  13. 【請求項13】 ディジタル制御システムが、ディジタル・コンピュータで
    作動するソフトウェア・プログラムを使用して構成される、請求項8記載の回路
    装置。
  14. 【請求項14】 データ収集デバイスおよび電源デバイスが、ディジタル・
    コンピュータの外部のケースに配置される、請求項5記載の回路装置。
  15. 【請求項15】 データ収集デバイスおよび電源デバイスがディジタル・コ
    ンピュータのケースの内側に配置される、請求項5記載の回路装置。
  16. 【請求項16】 ディジタル・コンピュータの接続ポートが、EISAポー
    ト、ISAポート、PCIポートおよびVXIポートのうち1つを含む、請求項
    15記載の回路装置。
  17. 【請求項17】 データ収集デバイス、電源デバイスおよび信号発生デバイ
    スが、ディジタル・コンピュータのケースの内側に配置される、請求項6記載の
    回路装置。
  18. 【請求項18】 データ収集デバイス、電源デバイスおよびデータ制御シス
    テムが、ディジタル・コンピュータのケースの内側に配置される、請求項7記載
    の回路装置。
  19. 【請求項19】 データ収集デバイス、電源デバイス、信号発生デバイスお
    よびデータ制御システムが、ディジタル・コンピュータのケースの内側に配置さ
    れる、請求項8記載の回路装置。
  20. 【請求項20】 さらに、 単一回路基板上に位置する少なくとも1つのドーター回路を備え、データ収集
    デバイスおよび電源デバイスの少なくとも一方が少なくとも1つのドーター基板
    上に位置する、請求項1記載の回路装置。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6745146B1 (en) * 1998-10-30 2004-06-01 Avaya Technology Corp. Automated test system and method for device having circuit and ground connections
US6385739B1 (en) * 1999-07-19 2002-05-07 Tivo Inc. Self-test electronic assembly and test system
AU2002319900A1 (en) * 2001-07-24 2003-02-17 University Of Delhi Multifunction interface device for use, inter alia, in laboratory procedures
CN1327350C (zh) * 2003-10-30 2007-07-18 英业达股份有限公司 数字信号的采集系统及方法
CN100517257C (zh) * 2005-10-28 2009-07-22 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 高速外围部件互连总线接口测试装置
CN101686414B (zh) * 2008-09-26 2013-06-05 深圳富泰宏精密工业有限公司 移动电话测试装置
US8161335B2 (en) * 2009-05-05 2012-04-17 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. System and method for testing a circuit
CN102645627B (zh) * 2012-03-09 2014-06-25 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 实时数字仿真系统中的模拟量板卡io通道信号闭环测试系统
EP3382408A1 (en) 2017-03-30 2018-10-03 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG Measurement device and method for measuring a device under test
US10620091B2 (en) 2017-11-17 2020-04-14 Hamilton Sundstrand Corporation Electronic control system tester
US11307061B2 (en) * 2018-03-08 2022-04-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Electrical measurement device

Family Cites Families (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4238784A (en) * 1975-01-23 1980-12-09 Colt Industries Operating Corp. Electronic measuring system with pulsed power supply and stability sensing
US4072851A (en) * 1976-03-26 1978-02-07 Norland Corporation Waveform measuring instrument with resident programmed processor for controlled waveform display and waveform data reduction and calculation
US4380764A (en) * 1981-03-12 1983-04-19 Data Translation, Inc. Data acquisition apparatus
US4571689A (en) * 1982-10-20 1986-02-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Multiple thermocouple testing device
US4747060A (en) * 1986-03-31 1988-05-24 Halliburton Company Data acquisition module and method
US4758779A (en) * 1986-04-07 1988-07-19 Tektronix, Inc. Probe body for an electrical measurement system
US4862067A (en) * 1987-06-24 1989-08-29 Schlumberger Technologies, Inc. Method and apparatus for in-circuit testing of electronic devices
JPH01180645A (ja) * 1988-01-13 1989-07-18 Hitachi Ltd 保守診断機構の自動検証方式
EP0347632A1 (de) * 1988-06-20 1989-12-27 Regeltron Computer Gmbh Gerät zur bedienungsfreien Erfassung und Speicherung von Messwerten
US5014226A (en) * 1988-09-29 1991-05-07 Lsi Logic Corporation Method and apparatus for predicting the metastable behavior of logic circuits
US5307290A (en) * 1988-10-18 1994-04-26 Fiat Auto S.P.A. System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles
US5003486A (en) * 1989-02-24 1991-03-26 Nero Technologies Ltd. Programmable safety electrical socket controller
IE80813B1 (en) * 1989-05-16 1999-03-10 Formia Limited Electronic test systems
US5058112A (en) * 1989-07-31 1991-10-15 Ag Communication Systems Corporation Programmable fault insertion circuit
US5345392A (en) * 1991-01-25 1994-09-06 International Business Machines Corporation Battery charge monitor for a personal computer
US5254992A (en) * 1991-10-31 1993-10-19 Fairbanks Inc. Low power electronic measuring system
US5396168A (en) * 1992-03-27 1995-03-07 Tandy Corporation Digital multimeter with microprocessor control
US5406495A (en) * 1993-02-01 1995-04-11 Systems Analysis And Integration, Inc. Substation load distribution monitor system
US5459671A (en) * 1993-02-19 1995-10-17 Advanced Micro Devices, Inc. Programmable battery controller
US5526287A (en) * 1994-07-01 1996-06-11 Ada Technologies, Inc. Portable data collection device
US5544107A (en) * 1994-08-22 1996-08-06 Adaptec, Inc. Diagnostic data port for a LSI or VLSI integrated circuit
US5852737A (en) * 1995-04-24 1998-12-22 National Semiconductor Corporation Method and apparatus for operating digital static CMOS components in a very low voltage mode during power-down
DE19603942A1 (de) * 1996-02-05 1997-08-07 Eps Electronic Production Schl Datenerfassungsvorrichtung
US5790839A (en) * 1996-12-20 1998-08-04 International Business Machines Corporation System integration of DRAM macros and logic cores in a single chip architecture

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Publication number Publication date
CN1161692C (zh) 2004-08-11
CN1276925A (zh) 2000-12-13
DE69832077D1 (de) 2005-12-01
EP1005708B1 (en) 2005-10-26
AU734069B2 (en) 2001-05-31
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EP1005708A4 (en) 2000-11-08
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US6094624A (en) 2000-07-25
CA2300162A1 (en) 1999-02-25
EP1005708A1 (en) 2000-06-07
DE69832077T2 (de) 2006-07-13
AU8830798A (en) 1999-03-08

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