CN1276925A - 电路板设备 - Google Patents
电路板设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN1276925A CN1276925A CN98810316A CN98810316A CN1276925A CN 1276925 A CN1276925 A CN 1276925A CN 98810316 A CN98810316 A CN 98810316A CN 98810316 A CN98810316 A CN 98810316A CN 1276925 A CN1276925 A CN 1276925A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- digital computer
- circuit arrangement
- circuit
- data acquisition
- acquisition unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
- Diaphragms For Electromechanical Transducers (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
Abstract
一种用于检测测试电路(1)的电路板设备。该电路装置包括单电路板、数据采集装置(4)和电源装置(5)。数据采集装置和电源装置被配置在单电路板上。该单电路板被连接到测试电路,使得数据采集装置(4)能接收来自测试电路的测试输出信号。该电源向测试电路提供电力。
Description
发明领域
本发明涉及电路板设备,具体来说是有关其上至少配置数据采集装置和电源的电路板设备。
背景资料
通常的电子测试设施包括三种基本仪器:数据采集装置(比如示波器、万用表等)、信号发生器和电源。信号发生器给测试电路提供测试信号,使通过测试电路能产生输出信号,其中数据采集装置测量来自测试电路的输出信号,电源向测试电路提供电力。
已知通常的数据采集装置处于单电路板上,该电路板被固定在专用的盒子里,所述盒子被连接到个人计算计机或直接固定在个人计算机通信插槽中。然而,数据采集装置和电源不预先放置在单电路板(与其他想要的元件一起)上。
美国专利号5,526,287公开一种能以数字形式或模拟形式检测电压、电阻和电流数据的便携式数据收集装置。数据收集装置包括外壳,用于控制对应于检测信息的输入和输出信息的处理器,存储信息的存储器,串行口和内置电源。然而,在其中没有公开指示这移动式数据收集器与电源设置在单电路板上。
本发明的一个目的是提供一种在单电路板上目前可经济地使用的元件,以致使用在数字计算机和测试电路之间连接的独立装置或通过连接数字计算机内连插槽和测试电路之间的这种配置能容易地检验测试电路。
发明摘要
根据本发明的电路装置包括:单电路板,数据采集装置和电源装置。数据采集装置和电源装置分别被配置在单电路板上。电路板设备被连接到测试电路,以使数据采集装置能接收来自测试电路的测试输出信号。电源为测试电路提供电力。因此,通过例如数字计算机能分析来自测试电路的测试输出信号。在单回路上也可提供信号发生器,以从测试电路激励测试输出信号的产生。
附图简述
图1是根据本发明的单电路板装置第1实施例的顶视剖面图;
图2是根据本发明的单电路板装置第1实施例的外壳正视图;
图3是根据本发明的单电路板装置第2实施例的顶视图;
图4是根据本发明的单电路板装置第3实施例的顶视剖面图;
图5是根据本发明的单电路板装置第3实施例的外壳正视图;
图6是根据本发明的单电路板装置第4实施例的顶视图。
本发明的详细叙述
图1和图2是电路板装置1的第1实施例,其包括:单电路板3,数据采集装置4(例如多通道数据采集装置)以及电源5(例如灵活多电压用户电源)。数据采集装置4和电源5设置在单电路板3上。图1和图2还展示了处于专用外壳2中的电路板设备1。数据采集装置4和电源5例如可以直接装在电路板3或通过若干子板(例如不超过三块子板)被安装在单电路板3上。子板(未示出)也可装在单电路板3上。如果利用子板,则这些子板的表面积最好不超过例如约6平方英寸。
电路板装置1还包括:用于把装置1连接到数字计算机7(例如通用计算机、专用计算机等等)的外部可接入的通讯端口6(其能被连接到如在该技术领域中已知的数字计算机7的串行端口、并行端口、或USB端口)。通信端口6直接或通过用于如通信总线或硬连线连接的数字控制系统8(例如微处理器)被连接到数据采集装置4和电源5。数字控制系统8(其可包括分立电路元件或集成电路)可处于单电路板3或子板上。数字控制系统8可以是另一个分离电路元件或被嵌入数据采集装置4或电源5。
传统数据采集装置(如示波器、频率计、电压表、电流表、数字万用表等)在该领域中为公知技术。装在单电路板3上的数据采集装置4在该领域中也为公知技术。电路板装置1还包括:多个外部可接入的数据采集通道输入端口(A和B)12,用于辖域方式操作的外部可接入触发输入端13,外部可接入触发电平控制系统14,和数据/电源输出端15。数据采集通道输入端口12和触发输入端13可被连接到外部电测试电路。这样,来自外部电测试电路的数据通过外部可接入数据端口12可提供给数据采集装置4。触发电平控制系统14能直接或通过数字控制系统8连接到数据采集装置4。
电源5可以是如图8所示的三元组输出用户控制电源17。电路板装置1包括外部可接入电源控制器18和外部可接入电源输入端19。电源控制器18可直接或通过数字控制系统8连接到电源5。
图3展示根据本发明电路板装置20的第2实施例。电路板装置20包括:单电路板3、所述电路板3上的数据采集装置4和电源5。如上所述,数据采集装置4和电源5配置在单电路板3上。在该实施例中,单电路板装置20固定在数字计算机(未示出)的外壳内。单电路板3包括计算机连接器22,可操作地把单电路板3和设置在其上的电路元件连接到数字计算机。计算机连接器22通过标准数据总线插槽(如EISA、ISA、PCI、VXI等)与数字计算机联系,所述总线插槽被连接到数字计算机的母板上。数据采集装置4和电源5可直接或通过安装在单电路板3上的预定数量子板(例如最好是不超过三块子板)配置在(或直接附加到)单电路板3上。如果使用子板,则这些子板面积最好应该大致不超过6平方英寸。根据实施例2的单电路板装置20包括:如上述实施例1相同的外部可接入的输入端口,控制系统、和连接系统。
图4和5展示根据带有设置在单电路板3上的数据采集装置4和电源5的本发明电路板装置23的第3实施例。电路板装置23的第3实施例包括:如上述在图1所示第1实施例同样的元件,以及配置在单电路板3上或可位于单电路板3上的子板上的信号发生器24,而且能与数字控制系统8通信,直接或间接配置的电源5和/或数据采集装置4。还包括数据/电源输出端15,然而,利用这输出端口还可提供信号产生输出端(由信号发生器24产生)。为了激发提供测试输出信号这样的测试电路,信号发生器24可被用作向用户设置(或预制)的测试电路提供测试信号(模拟或数字),电力可通过如电源5供应。然后该测试输出信号可由如数据采集装置4测量。该信号发生器24可包括如在该技术领域公知的例如传统信号发生器。电路板装置23还包括外部可接入信号端口26,其直接或通过数字控制系统8被连接到信号发生器24。
图6展示根据本发明单电路板装置28的第4实施例,其包括:单电路板3、数据采集装置4和电源5。数据采集装置4和电源5被配置在单电路板3上。电路板装置28包括如图3所述的第2实施例中上述的元件,并且,进一步在单电路板3或可位于单块电路板3上的子板上装备信号发生器24。电路板装置28进一步包括如图4和5所示上面第3实施例所述的同样外部可接入信号输出端口26。
经手动调整外部可接入触发电平控制系统14,可形成数据采集装置4,该系统14可直接或通过数字控制系统8电连接到数据采集装置4。通过手动调整外部可接入电源控制器18可形成电源5,该控制器18可直接电连接到电源5,或也可通过数字控制系统8连接到电源5。由手动调整外部能触及的接入的信号输出端口26,可形成信号发生器24,该输出端口26可直连电连接到信号发生器24,或通过数字控制系统8连接到发生器24使用如数字计算机也可自动调整数据采集装置4、电源5和/或信号发生器24。尤其是,通过在数字计算机中运作的软件程序,或通过调节起到例如双通道存储示波器、频率计、数字万用表或频谱分析仪作用的外部可接入的触发电平控制系统14能形成数据采集装置4。利用在数字计算机中运作的软件程序和/或通过调整控制电压和/或电流输出的外部可接入电源控制器18也可形成电源5。电源5能产生数字电压和/或电流信号,或模拟电压和/或电流信号。通过软件程序或手动成形能形成由信号发生器产生的信号类型(即数字或模拟)。利用如数字控制系统8也可控制数据采集装置4、电源5和/或信号发生器24。该技术领域的普通技术人员能容易地认识到:利用其他方式也能控制位于单电路板上的数据采集装置4、电源5。
Claims (20)
1.一种用于检测测试电路的电路装置,包括:
单电路板,连接到测试电路;
数据采集装置,设置在单电路板上,接收来自测试电路的测试输出信号;以及,
电源装置,设置在单电路板上,为测试电路的检测操作而向测试电路提供电力。
2.根据权利要求1的电路装置,进一步包括:
信号发生器,位于单电路板上,至少向测试电路提供一个测试信号,使得通过测试电路产生测试输出信号。
3.根据权利要求1的电路装置,进一步包括:
数字控制系统,设置在单电路板上,至少控制数据采集装置和电源装置中的一种。
4.根据权利要求2的电路装置,进一步包括:
数字控制系统,设置在单电路板上,至少控制数据采集装置、电源装置和信号发生器中的一种。
5.根据权利要求1的电路装置,进一步包括:
通信端口,连接到数据采集装置,适合于连接到数字计算机的连接端口;数字控制系统向数字计算机提供与测试电路输出信号相应的数据。
6.根据权利要求2的电路装置,进一步包括:
通信端口,至少连接到数据采集装置和信号发生器中的一种,适合于连接到数字计算机的连接端口,数字控制系统向数字计算机提供相应于测试输出信号的数据。
7.根据权利要求3的电路装置,进一步包括:
通信端口,连接到数据控制系统,适合于连接到数字计算机的连接端口,数字控制系统向数字计算机提供相应于测试输出信号的数据。
8.根据权利要求4的电路装置,进一步包括:
通信端口,连接到数据控制系统,适合于连接到数字计算机的连接端口,数字控制系统向数字计算机提供相应于测试输出信号的数据。
9.根据权利要求1的电路装置,进一步包括:
外部可接入触发电平控制器,用于形成数据采集装置;和
外部可接入电源电平控制器,用于形成电源装置。
10.根据权利要求5的电路装置,其中,
利用数字计算机中的软件程序操作形成数据采集装置和电源装置中的至少一种。
11.根据权利要求6的电路装置,其中,利用数字计算机中软件程序操作,形成数据采集装置、电源装置和信号发生器中至少一个。
12.根据权利要求7的电路装置,其中,利用在数字计算机内的软件程序操作形成数字控制系统。
13.根据权利要求8的电路装置,其中,利用在数字计算机内的软件程序操作形成数字控制系统。
14.根据权利要求5的电路装置,其中,数据采集装置和电源装置位于数字计算机外面的壳体中。
15.根据权利要求5的电路装置,其中,数据采集装置和电源装置位于数字计算机外壳内。
16.根据权利要求15的电路装置,数字计算机连接端口包括EISA端口、ISA端口、PCI端口和VXI端口中的一个。
17.根据权利要求6的电路装置,其中,数据采集装置、电源装置和信号发生器位于数字计算机外壳内。
18.根据权利要求7的电路装置,其中,数据采集装置、电源装置和数据控制系统位于数字计算机外壳内。
19.根据权利要求8的电路装置,其中,数据采集装置、电源装置、信号发生器和数据控制系统位于数字计算机外壳内。
20.根据权利要求1的电路装置,进一步包括:位于单电路板上的至少一块子板,位于该至少一块子板上的至少一个数据采集装置和电源装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/914,413 | 1997-08-19 | ||
US08/914,413 US6094624A (en) | 1997-08-19 | 1997-08-19 | Electronic test facility |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN1276925A true CN1276925A (zh) | 2000-12-13 |
CN1161692C CN1161692C (zh) | 2004-08-11 |
Family
ID=25434329
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CNB988103168A Expired - Fee Related CN1161692C (zh) | 1997-08-19 | 1998-08-17 | 电路板设备 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6094624A (zh) |
EP (1) | EP1005708B1 (zh) |
JP (1) | JP2001516037A (zh) |
CN (1) | CN1161692C (zh) |
AT (1) | ATE308136T1 (zh) |
AU (1) | AU734069B2 (zh) |
CA (1) | CA2300162A1 (zh) |
DE (1) | DE69832077T2 (zh) |
WO (1) | WO1999009623A1 (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1327350C (zh) * | 2003-10-30 | 2007-07-18 | 英业达股份有限公司 | 数字信号的采集系统及方法 |
CN111077431A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-28 | 浙江力创自动化科技有限公司 | 一种控制电路板的电性能检测设备 |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6745146B1 (en) * | 1998-10-30 | 2004-06-01 | Avaya Technology Corp. | Automated test system and method for device having circuit and ground connections |
US6385739B1 (en) * | 1999-07-19 | 2002-05-07 | Tivo Inc. | Self-test electronic assembly and test system |
WO2003010612A2 (en) * | 2001-07-24 | 2003-02-06 | University Of Delhi | Multifunction interface device for use, inter alia, in laboratory procedures |
CN100517257C (zh) * | 2005-10-28 | 2009-07-22 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 高速外围部件互连总线接口测试装置 |
CN101686414B (zh) * | 2008-09-26 | 2013-06-05 | 深圳富泰宏精密工业有限公司 | 移动电话测试装置 |
US8161335B2 (en) * | 2009-05-05 | 2012-04-17 | Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. | System and method for testing a circuit |
CN102645627B (zh) * | 2012-03-09 | 2014-06-25 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 实时数字仿真系统中的模拟量板卡io通道信号闭环测试系统 |
EP3382408A1 (en) | 2017-03-30 | 2018-10-03 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Measurement device and method for measuring a device under test |
US10620091B2 (en) | 2017-11-17 | 2020-04-14 | Hamilton Sundstrand Corporation | Electronic control system tester |
US11307061B2 (en) * | 2018-03-08 | 2022-04-19 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Electrical measurement device |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4238784A (en) * | 1975-01-23 | 1980-12-09 | Colt Industries Operating Corp. | Electronic measuring system with pulsed power supply and stability sensing |
US4072851A (en) * | 1976-03-26 | 1978-02-07 | Norland Corporation | Waveform measuring instrument with resident programmed processor for controlled waveform display and waveform data reduction and calculation |
US4380764A (en) * | 1981-03-12 | 1983-04-19 | Data Translation, Inc. | Data acquisition apparatus |
US4571689A (en) * | 1982-10-20 | 1986-02-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force | Multiple thermocouple testing device |
US4747060A (en) * | 1986-03-31 | 1988-05-24 | Halliburton Company | Data acquisition module and method |
US4758779A (en) * | 1986-04-07 | 1988-07-19 | Tektronix, Inc. | Probe body for an electrical measurement system |
US4862067A (en) * | 1987-06-24 | 1989-08-29 | Schlumberger Technologies, Inc. | Method and apparatus for in-circuit testing of electronic devices |
JPH01180645A (ja) * | 1988-01-13 | 1989-07-18 | Hitachi Ltd | 保守診断機構の自動検証方式 |
EP0347632A1 (de) * | 1988-06-20 | 1989-12-27 | Regeltron Computer Gmbh | Gerät zur bedienungsfreien Erfassung und Speicherung von Messwerten |
US5014226A (en) * | 1988-09-29 | 1991-05-07 | Lsi Logic Corporation | Method and apparatus for predicting the metastable behavior of logic circuits |
US5307290A (en) * | 1988-10-18 | 1994-04-26 | Fiat Auto S.P.A. | System for the automatic testing, preferably on a bench, of electronic control systems which are intended to be fitted in vehicles |
US5003486A (en) * | 1989-02-24 | 1991-03-26 | Nero Technologies Ltd. | Programmable safety electrical socket controller |
IE80813B1 (en) * | 1989-05-16 | 1999-03-10 | Formia Limited | Electronic test systems |
US5058112A (en) * | 1989-07-31 | 1991-10-15 | Ag Communication Systems Corporation | Programmable fault insertion circuit |
US5345392A (en) * | 1991-01-25 | 1994-09-06 | International Business Machines Corporation | Battery charge monitor for a personal computer |
US5254992A (en) * | 1991-10-31 | 1993-10-19 | Fairbanks Inc. | Low power electronic measuring system |
US5396168A (en) * | 1992-03-27 | 1995-03-07 | Tandy Corporation | Digital multimeter with microprocessor control |
US5406495A (en) * | 1993-02-01 | 1995-04-11 | Systems Analysis And Integration, Inc. | Substation load distribution monitor system |
US5459671A (en) * | 1993-02-19 | 1995-10-17 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable battery controller |
US5526287A (en) * | 1994-07-01 | 1996-06-11 | Ada Technologies, Inc. | Portable data collection device |
US5544107A (en) * | 1994-08-22 | 1996-08-06 | Adaptec, Inc. | Diagnostic data port for a LSI or VLSI integrated circuit |
US5852737A (en) * | 1995-04-24 | 1998-12-22 | National Semiconductor Corporation | Method and apparatus for operating digital static CMOS components in a very low voltage mode during power-down |
DE19603942A1 (de) * | 1996-02-05 | 1997-08-07 | Eps Electronic Production Schl | Datenerfassungsvorrichtung |
US5790839A (en) * | 1996-12-20 | 1998-08-04 | International Business Machines Corporation | System integration of DRAM macros and logic cores in a single chip architecture |
-
1997
- 1997-08-19 US US08/914,413 patent/US6094624A/en not_active Expired - Lifetime
-
1998
- 1998-08-17 DE DE69832077T patent/DE69832077T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-17 CN CNB988103168A patent/CN1161692C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1998-08-17 JP JP2000510187A patent/JP2001516037A/ja active Pending
- 1998-08-17 AT AT98939969T patent/ATE308136T1/de not_active IP Right Cessation
- 1998-08-17 AU AU88307/98A patent/AU734069B2/en not_active Ceased
- 1998-08-17 CA CA002300162A patent/CA2300162A1/en not_active Abandoned
- 1998-08-17 WO PCT/US1998/017020 patent/WO1999009623A1/en active IP Right Grant
- 1998-08-17 EP EP98939969A patent/EP1005708B1/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1327350C (zh) * | 2003-10-30 | 2007-07-18 | 英业达股份有限公司 | 数字信号的采集系统及方法 |
CN111077431A (zh) * | 2019-12-30 | 2020-04-28 | 浙江力创自动化科技有限公司 | 一种控制电路板的电性能检测设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1005708A1 (en) | 2000-06-07 |
DE69832077D1 (de) | 2005-12-01 |
DE69832077T2 (de) | 2006-07-13 |
EP1005708B1 (en) | 2005-10-26 |
ATE308136T1 (de) | 2005-11-15 |
EP1005708A4 (en) | 2000-11-08 |
CA2300162A1 (en) | 1999-02-25 |
JP2001516037A (ja) | 2001-09-25 |
WO1999009623A1 (en) | 1999-02-25 |
CN1161692C (zh) | 2004-08-11 |
AU734069B2 (en) | 2001-05-31 |
AU8830798A (en) | 1999-03-08 |
US6094624A (en) | 2000-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN1987487B (zh) | 由主机控制的附属装置电压管理系统 | |
CN1161692C (zh) | 电路板设备 | |
CN105738836B (zh) | 一种dc/dc转换器自动化测试系统 | |
EP0754940A2 (en) | Modular wireless diagnostic, test, and information system | |
CN110187299B (zh) | 一种航空保障装备电学参数通用校准系统 | |
CN103713265A (zh) | 一种老炼检测系统 | |
CN1193237C (zh) | 一种用于辅助装置的测量测试仪表电压管理系统 | |
CN115032522A (zh) | 用于芯片测试的功能模组及芯片测试方法、装置、系统 | |
CN101122620A (zh) | 电源线 | |
CN108776295A (zh) | 一种高效etap自动化测试系统 | |
CN108008344A (zh) | 一种卡扣式三相四线电能表现场校验仪 | |
CN207689657U (zh) | 一种卡扣式单相电能表现场校验仪 | |
RU2340926C1 (ru) | Переносной диагностический комплекс | |
CN2706771Y (zh) | 电路板自动测试装置 | |
CN107015556A (zh) | 一种母线固态功率控制器测试装置 | |
CN215986249U (zh) | 一种电压和波形测量装置 | |
CN219224837U (zh) | 一种电路插件自动测试系统 | |
CN216670560U (zh) | 飞机加力箱控制回路可靠性原位快速检测装置 | |
WO2001053846A1 (en) | Power supply analyser | |
CN2735437Y (zh) | 主板usb接口测试装置 | |
CN212410773U (zh) | 核电站用便携式模拟量处理板件校验装置 | |
CN213780749U (zh) | 矿用电动轮卡车控制卡检测装置 | |
CN108152785A (zh) | 一种卡扣式三相三线电能表现场校验仪 | |
CN219811169U (zh) | 计算设备 | |
CN108008345A (zh) | 一种卡扣式单相电能表现场校验仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |