CN219811169U - 计算设备 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种计算设备，包括主板和子板，主板上设置有连接器排座，子板与连接器排座对应插接；主板上还集成有功耗测试单元，功耗测试单元与连接器排座对应设置，连接器排座上设置有至少一个供电接口；主板上还设置有供电电源，供电电源用于经供电接口给子板供电，在需要测试子板的功耗时，供电接口经与该供电接口对应设置的功耗测试单元与供电电源电连接。本申请实施例提供的计算设备，通过将功耗测试单元集成在主板上，可以对与主板电连接的任一子板的功耗进行测试。

Description

计算设备

技术领域

本申请涉及服务器技术领域，尤其涉及一种计算设备。

背景技术

随着互联网、云计算等领域的快速发展，数据中心服务器的规模正在迅速增长。

服务器等计算设备在提供数据存储和计算能力的同时带来了较大的电力消耗。因此，需要对服务器的整机功耗进行准确的测试。服务器包括主板与主板电连接的多个功能子板，在确定服务器的功耗时，需要对服务器的各个功能子板的功耗均进行测试。相关技术中，可以通过外接测试夹具，来测试功能子板的功耗，但是测试夹具的安装受到服务器结构的限制，外接测试夹具难以与部分功能子板电连接，这些功能子板的功耗无法测定。

由此，服务器中部分功能子板的功耗难以进行测试，进而难以准确的计算服务器的整体功耗。

实用新型内容

本申请实施例提供一种计算设备，通过将功耗测试单元集成在主板上，可以对与主板电连接的任一子板的功耗进行测试。

本申请实施例第一方面提供一种计算设备，包括主板和子板，主板上设置有连接器排座，子板与连接器排座对应插接；主板上还集成有功耗测试单元，功耗测试单元与连接器排座对应设置，连接器排座上设置有至少一个供电接口；主板上还设置有供电电源，供电电源用于经供电接口给子板供电，在需要测试子板的功耗时，供电接口经与该供电接口对应设置的功耗测试单元与供电电源电连接。

在本实施例中，子板可以有一个或多个，当子板有多个时，连接器排座对应有多个，子板和连接器排座一一对应插接。

本申请实施例提供的计算设备，通过设置主板和子板，主板上设置有连接器排座，子板与连接器排座对应插接；主板上还设置有功耗测试单，功耗测试单元与连接器排座对应设置，连接器排座上设置有至少一个供电接口；主板上还设置有供电电源，在需要测试子板的功耗时，供电接口经与该供电接口对应设置的功耗测试单元与供电电源电连接，以将功耗测试单元串联在供电电源与供电接口之间，功耗测试单元在供电电源通过供电接口给子板供电的同时即可测试子板的功耗，也就是说，只要子板与主板电连接，功耗测试单元就可以测试该子板的功耗，由此，通过将功耗测试单元集成在主板上，可以对与主板电连接的任一子板的功耗进行测试。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试单元包括功耗测试板和设置在功耗测试板上并且与功耗测试板电连接的功耗测试芯片，供电接口和供电电源均与功耗测试板电连接，以使功耗测试芯片电连接在供电接口和供电电源之间；功耗测试芯片用于测试供电接口所在回路中的电压和电流，从而得出与该供电接口电连接的子板的功耗。通过功耗测试板转接功耗测试芯片和主板，可以减小对主板的布局的更改。此外，在不需要对子卡进行功耗测试时，直接从主板上拆除功耗测试板即可，功耗测试板的拆除难度小于功耗测试芯片的拆除难度。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试板上设置有第一电压输入焊盘和第一电压输出焊盘，主板上设置有第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘；功耗测试单元还包括至少两个连接端子，一连接端子位于第一电压输入焊盘和第二电压输入焊盘之间，以用于电连接第一电压输入焊盘和第二电压输入焊盘；另一连接端子位于第一电压输出焊盘和第二电压输出焊盘之间，以用于电连接第一电压输出焊盘和第二电压输出焊盘。连接端子在起到电连接作用的同时，还可以在主板与功耗测试板之间起到支撑的作用。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试单元还包括测试电阻，测试电阻的两端分别与第一电压输入焊盘和第一电压输出焊盘电连接；功耗测试芯片上设置有电压输入引脚和电压输出引脚，电压输入引脚与第一电压输入焊盘电连接，电压输出引脚与第一电压输出焊盘电连接；第二电压输入焊盘与供电电源电连接，第二电压输出焊盘与供电接口电连接。测试电阻两端的压降除以测试电阻本身的阻值即为测试电阻所在回路中的电流值。测试电阻的第二极处的第二电压值即为第一供电接口处的电压值。测试电阻所在回路中的电流值乘以第二电压值即为第一供电接口所在回路中的功耗。通过功耗测试芯片和测试电阻测试子板的功耗，使得子板的功耗测试过程较为简单。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试芯片上还设置有电压测试引脚，电压测试引脚与第一电压输出焊盘电连接。功耗测试芯片通过设置电压测试引脚，可以将功耗测试芯片内部的电压测试回路和电流测试回路分为两个单独的回路，使得功耗测试芯片所测得的电压值和电流值更为准确。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，主板上还设置有单板管理控制器，功耗测试芯片与单板管理控制器电连接。操作人员可以通过单板管理控制器的显示界面或者命令行查询子板的功耗值。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试板上设置有第一连接器，第一连接器与功耗测试芯片电连接；主板上设置有第二连接器，第二连接器与单板管理控制器电连接；计算设备还包括线缆，线缆的一端与第一连接器电连接，线缆的另一端与第二连接器电连接。通过设置第一连接器和第二连接器，并且通过线缆电连接第二连接器和第一连接器，可以减小对主板的布局的更改，并且使得功耗测试单元的拆除难度较小。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，功耗测试板上还包括第一接地焊盘，主板包括第二接地焊盘，功耗测试单元还包括接地端子，接地端子用于电连接第一接地焊盘和第二接地焊盘。通过接地端子可以将功耗测试芯片进行接地，进而可以提高功耗测试芯片使用过程中的安全性。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，在不需要测试子板的功耗时，供电电源与供电接口电连接。

在一种可能的实施方式中，本申请实施例提供的计算设备，主板上设置有第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘，计算设备还包括短接件，短接件两端分别与第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘电连接。

结合附图，根据下文描述的实施例，示例性实施例的这些和其它方面、实施形式和优点将变得显而易见。但应了解，说明书和附图仅用于说明并且不作为对本申请的限制的定义，详见随附的权利要求书。本申请的其它方面和优点将在以下描述中阐述，而且部分将从描述中显而易见，或通过本申请的实践得知。此外，本申请的各方面和优点可以通过所附权利要求书中特别指出的手段和组合得以实现和获得。

附图说明

图1为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图一；

图2为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图一；

图3为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图二；

图4为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图二；

图5为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图三；

图6为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图三；

图7为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图四；

图8为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图四；

图9为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图五；

图10为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图六；

图11为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图七；

图12为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图五；

图13为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图八；

图14为本申请实施例提供的计算设备中主板的结构示意图一；

图15为本申请实施例提供的计算设备中主板的结构示意图二。

附图标记说明：

100、主板；

110、连接器排座；

111、供电接口；1111-第一供电接口；1112-第二供电接口；

120、功耗测试单元；

121、功耗测试板；121a、第一面；121b、第二面；

1211、第一电压输入焊盘；1212、第一电压输出焊盘；1213、第一连接器；1214、第一接地焊盘；

122、功耗测试芯片；1221、电压输入引脚；1222、电压输出引脚；1223、电压测试引脚；1224、功耗输出引脚；

123、测试电阻；1231、第一极；1232、第二极；

124、连接端子；

125、接地端子；

130、供电电源；

131、供电引脚；1311、第一供电引脚；1312、第二供电引脚；

140、单板管理控制器；

150、第二连接器；

160、第二电压输入焊盘；

170、第二电压输出焊盘；

180、第二接地焊盘；

200、子板；

210、连接器插头；

300、线缆；

400、短接件。

具体实施方式

本申请的实施方式部分使用的术语仅用于对本申请的具体实施例进行解释，而非旨在限定本申请，下面将结合附图对本申请实施例的实施方式进行详细描述。

随着互联网、云计算等领域的快速发展，数据中心服务器的规模正在迅速增长。

服务器等计算设备在提供数据存储和计算能力的同时带来了较大的电力消耗。因此，需要对服务器的整机功耗进行准确的测试。

服务器包括主板与主板电连接的多个功能子板。具体的，主板上设置有处理器，处理器为服务器工作的核心工作部件。这些功能子板可以为硬盘子板、网卡子板、声卡子板或者视频卡子板等。主板上通常设置多个插座，功能子板插接在插座上以与主板上的处理器电连接。插座可以为PCIE插座(Peripheral Component Interconnect Express)，PCIE插座具有较高的传输速率。

主板通过PCIE插座给各功能子板供电，并且通过PCIE插座和各功能子板之间进行数据传输。

在确定服务器的功耗时，需要对服务器的各个功能子板的功耗均进行测试，以便于计算服务器的整体功耗。服务器中自带的测试软件可以对服务器的整体功耗进行测试，测试软件通过对比其中一个功能子板在插接前的功耗和插卡后的功耗来计算该功能子板的功耗，但是服务器整机功耗波动较大，通过这种方式所测得的功能子卡的功耗值不准确。

在一种实现方式中，部分功能子板上设置有功率传感器，通过功率传感器可以测试这些功能子板的功耗，但是部分功能子板上未设置功率传感器，因此，未设置功率传感器的这些功能子板的功耗无法测定。

在另一种实现方式中，可以通过外接测试夹具，来测试功能子板的功耗。具体的，测试夹具需要电连接在主板的PCIE插座与功能子板之间来测试功能子板的功耗。但是测试夹具的安装会受到服务器结构的限制，对于结构布局较为紧凑的服务器，主板与功能子板之间的间隙较小，不便于测试夹具的安装和电连接，使得测试夹具难以与功能子板电连接，这些功能子板的功耗难以测试

由此，服务器中部分功能子板的功耗难以进行测试，进而难以准确的计算服务器的整体功耗。

基于此，本申请实施例提供了一种计算设备，通过在主板上集成功耗测试单元，可以对与主板电连接的任一子板的功耗进行测试。

图1为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图一；图2为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图一。

参见图1和图2所示，计算设备包括主板100和子板200，主板100上设置有连接器排座110，子板200与连接器排座110对应插接；主板100上还集成有功耗测试单元120，功耗测试单元120与连接器排座110对应设置，连接器排座110上设置有至少一个供电接口111；主板100上还设置有供电电源130，供电电源130用于经供电接口111给子板200供电，在需要测试子板200的功耗时，供电接口111经与该供电接口111对应设置的功耗测试单元120与供电电源130电连接。

主板100上设置有处理器，处理器为计算设备进行运算的核心工作部件，各个子板200均与主板100电连接，从而通过主板100的内部走线与处理器电连接。

示意性的，主板100上设置有多个连接器排座110，连接器排座110可以为PCIE插座。图2中示出了四个连接器排座110，四个连接器排座110两两相对设置在主板100相对的两个板边上。连接器排座110还可以以其他方式排布在主板100上，具体根据计算设备的布局进行排布，本实施例对此不进行详细限定。

子板200与主板100相对的一端设置有连接器插头210，连接器插头210插接在连接器排座110中，以将子板200与主板100电连接，同时将子板200固定在主板100上。子板200可以为网卡子板、声卡子板或者视频卡子板。

连接器排座110上具有多个第一接口，连接器插头210具有与第一接口对应的多个第二接口，在连接器插头210与连接器排座110插接时，第一接口与第二接口一一对应电连接。

部分第一接口用于供电，部分第一接口用于与主板100的处理器进行传输数据。在本实施例中，将用于供电的第一接口称为供电接口111，在图2中仅示出了供电接口111。此外，图2所示的实施例突出了主板100和子板200供电的回路，为了清楚起见，未示出处理器以及处理器通过第一接口与各个子板200数据传输的回路。

连接器排座110中可以包括一个供电接口111，也可以包括两个或者两个以上的供电接口111。在图2所示的实施例中，连接器排座110为PCIE排座，连接器排座110中包括两个供电接口111，其中一个供电接口111的电压为3.3V，称为第一供电接口1111，另一个供电接口的电压为12V，称为第二供电接口1112。

供电电源130设置在主板100上，供电电源130上具有多个供电引脚131，供电引脚131与供电接口111一一对应设置，以通过供电接口111给子板200供电。

为了便于描述，将用于与第一供电接口1111电连接的供电引脚131称为第一供电引脚1311，第一供电引脚1311用于提供3.3V的电压，将用于与第二供电接口1112电连接的供电引脚131称为第二供电引脚1312，第二供电引脚1312用于提供12V的电压。

多个功耗测试单元120设置在主板100上，功耗测试单元120与连接器排座110一一对应设置，请继续参见图1和图2所示，功耗测试单元120靠近与其对应的连接器排座110设置，以便于测试与该连接器排座110插接的子板200的功耗。

在需要测试子板200的功耗时，第一供电接口1111经由功耗测试单元120与第一供电引脚1311电连接，第二供电接口1112经由功耗测试单元120与第二供电引脚1312电连接，由此，供电电源130可以给子板200供电。

也就是说，功耗测试单元120串联在供电电源130与供电接口111之间，功耗测试单元120在供电电源130通过供电接口111给子板200供电的同时即可测试子板200的功耗。因此，无论子板200上是否设置功率传感器，只要子板200与主板100电连接，功耗测试单元120便可测试子板200的功耗。

此外，通过在主板100上设置与连接器排座110一一对应的功耗测试单元120，也无需引入额外的测试夹具，在计算设备布局时，无论子板200与主板100之间的间隙是否满足连接测试夹具的间隙，只要子板200与主板100电连接，功耗测试单元120便可测试子板200的功耗。

需要说明的是，在不需要测试子板200的功耗时，可以移除功耗测试单元120，并将供电电源130上的供电引脚131直接与对应的供电接口111电连接对子板200进行供电即可。

本申请实施例提供的计算设备，通过设置主板100和子板200，主板100上设置有连接器排座110，子板200与连接器排座110对应插接；主板100上还设置有功耗测试单元120，功耗测试单元120与连接器排座110对应设置，连接器排座110上设置有至少一个供电接口111；主板100上还设置有供电电源130，在需要测试子板200的功耗时，供电接口111经与该供电接口111对应设置的功耗测试单元120与供电电源130电连接，以将功耗测试单元120串联在供电电源130与供电接口111之间，功耗测试单元120在供电电源130通过供电接口111给子板200供电的同时即可测试子板200的功耗，也就是说，只要子板200与主板100电连接，功耗测试单元120就可以测试该子板200的功耗，由此，通过将功耗测试单元120集成在主板100上，可以对与主板100电连接的任一子板200的功耗进行测试。

下面，对功耗测试单元120的具体结构和通过功耗测试单元120测试子板200的功耗的具体方式进行说明。

图3为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图二；图4为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图二。

参见图3和图4所示，功耗测试单元120包括功耗测试板121和设置在功耗测试板121上并且与功耗测试板121电连接的功耗测试芯片122，供电接口111和供电电源130均与功耗测试板121电连接，以使功耗测试芯片122电连接在供电接口111和供电电源130之间。

功耗测试板121为转接的电路板，功耗测试板121安装在主板100上。功耗测试板121可以通过引线与供电接口111和供电电源130电连接，功耗测试板121还可以通过金属插针与供电接口111和供电电源130电连接。

功耗测试芯片122焊接在功耗测试板121上，以与功耗测试板121电连接。功耗测试芯片122通过功耗测试板121的内部走线与供电接口111和供电电源130电连接。功耗测试芯片122用于测试与其对应的子板200的功耗。

通过功耗测试板121转接功耗测试芯片122和主板100，可以减小对主板100的布局的更改。此外，在不需要对子卡200进行功耗测试时，直接从主板100上拆除功耗测试板121即可，功耗测试板121的拆除难度小于功耗测试芯片122的拆除难度。

功耗测试芯片122用于读取供电接口111所在回路中的电压值和电流值。电压值乘以电流值即为供电接口111所在回路中的功耗，从而得出与该供电接口111电连接的子板200的功耗。

下面，对功耗测试板121在主板100上的设置方式以及功耗测试板121与主板100的电连接方式进行说明。

图5为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图三；图6为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图三。其中，为了清楚起见，图5和图6中仅示出了一个功耗测试单元120、一个连接器排座110和一个子板200。此外，在图6中，为了清楚的示出功耗测试单元120与主板100的电连接关系，将功耗测试单元120从主板100上移除，并通过虚线示出了功耗测试单元120与主板100的电连接关系。

参见图5和图6所示，功耗测试板121上设置有第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212，主板100上设置有第二电压输入焊盘160和第二电压输出焊盘170，功耗测试单元120还包括至少两个连接端子124，一连接端子124位于第一电压输入焊盘1211和第二电压输入焊盘160之间，以用于电连接第一电压输入焊盘1211和第二电压输入焊盘160；另一连接端子124位于第一电压输出焊盘1212和第二电压输出焊盘170之间，以用于电连接第一电压输出焊盘1212和第二电压输出焊盘170。

请继续参见图5所示，功耗测试板121设置有第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212的一面称为第一面121a，沿功耗测试板121的厚度方向与第一面121a相对的一面称为第二面121b。

将功耗测试板121的第一面121a朝向主板100上设置有第二电压输入焊盘160和第二电压输出焊盘170的一面，并且使得第一电压输入焊盘1211和第二电压输入焊盘160相对，第一电压输出焊盘1212和第二电压输出焊盘170相对。

连接端子124可以为铜柱，一个连接端子124的一端可以与第一电压输入焊盘1211焊接，该连接端子124的另一端与第二电压输入焊盘160焊接。

另一个连接端子124的一端可以与第一电压输出焊盘1212焊接，该连接端子124的另一端与第二电压输出焊盘170焊接。

连接端子124在起到电连接作用的同时，还可以在主板100与功耗测试板121之间起到支撑的作用。

连接端子124电连接主板100和功耗测试板121，功耗测试芯片122通过功耗测试板121的内部走线与第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212电连接。功耗测试芯片122可以设置在第一面121a上，也可以设置在第二面121b上，只要功耗测试芯片122通过功耗测试板121的内部走线与第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212电连接即可。在图5所示的实施例中，功耗测试芯片122位于第二面121b上。

需要说明的是，在功耗测试芯片122位于第一面121a上时，连接端子124凸出第一面121a的高度需大于功耗测试芯片122凸出第一面121a的高度。

功耗测试芯片122通过测试电压值和电流值来计算子板200的功耗，下面，对功耗测试芯片122测试电流值和电压值的过程进行说明。

图7为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图四；图8为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图四。

参见图7和图8所示，功耗测试单元120还包括测试电阻123，测试电阻123的两端分别与第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212电连接。

功耗测试芯片122上设置有电压输入引脚1221和电压输出引脚1222，电压输入引脚1221与第一电压输入焊盘1211电连接，电压输出引脚1222与第一电压输出焊盘1212电连接；

第二电压输入焊盘160与供电电源130电连接，第二电压输出焊盘170与供电接口111电连接。

首先，对电流值的测量方式进行说明。

功耗测试芯片122通过测试电阻123来计算供电电源130与供电接口111之间的电流。功耗测试电阻123的数量与供电接口111的数量相同。在图7和图8所示的实施例中，第一供电接口1111所在的供电回路中电连接有的测试电阻123，第二供电接口1112所在的供电回流中也电连接有测试电阻123，以分别测试第一供电接口1111所在回路的电流和第二供电接口1112所在的回路的电流。其中，测试电阻123为精密电阻，精密电阻的阻值误差小，由此，通过精密电阻所计算的电流值的误差也较小。

下面，以第一供电接口1111所在的回路为例来进行说明测试电阻123测试回路中电流的方式。

具体的，请继续参见图7和图8所示，测试电阻123具有相对的第一极1231和第二极1232，测试电阻123的第一极1231与第一电压输入焊盘1211焊接，测试电阻123的第二极1232与第一电压输出焊盘1212电连接。

供电电源130上的第一供电引脚1311通过主板100内的布线与第二电压输入焊盘160电连接；已知第二电压输入焊盘160通过连接端子124与第一电压输入焊盘1211电连接；第一电压输入焊盘1211通过测试电阻123与第一电压输出焊盘1212电连接；已知第一电压输出焊盘1212通过连接端子124与第二电压输出焊盘170电连接；第二电压输出焊盘170通过主板100内布线与第一供电接口1111电连接。

供电电源130上的第一供电引脚1311、第二电压输入焊盘160、第一电压输入焊盘1211、测试电阻123的第一极1231、测试电阻123的第二极1232、第一电压输出焊盘1212、第二电压输出焊盘170和第一供电接口1111依次电连接，由此，测试电阻123串联在第一供电接口1111所在的供电回路中。测试电阻123中流过的电流值即为第一供电接口1111所在的供电回路中的电流值。

第一电压输入焊盘1211通过功耗测试板121的内部走线与电压输入引脚1221电连接，第一电压输出焊盘1212通过功耗测试板121的内部走线与电压输出引脚1222电连接。也就是说，测试电阻123通过第一电压输入焊盘1211和第一电压输出焊盘1212与功耗测试芯片122并联。

功耗测试芯片122通过测试电阻123两端的压降以及测试电阻123本身的阻值即可计算出测试电阻123所在的回路中的电流值，这个电流值就是第一供电接口1111所在的回路中的电流值。

具体的，功耗测试芯片122通过电压输入引脚1221读取测试电阻123的第一极1231处的第一电压值，通过电压输出引脚1222读取测试电阻123的第二极1232处的第二电压值，第一电压值与第二电压值之差的绝对值即为测试电阻123两端的压降。测试电阻123两端的压降除以测试电阻123本身的阻值即为测试电阻123所在回路中的电流值。

然后对第一供电接口1111所在的供电回路中的电压值的测量方式进行说明。

测试电阻123的第二极1232与第一供电接口1111之间未设置其他器件，因此，第二极1232处的第二电压值即为第一供电接口1111处的电压值。测试电阻123所在回路中的电流值乘以第二电压值即为第一供电接口1111所在回路中的功耗。

第二供电接口1112所在回路中的功耗的计算方式与第一供电接口1111所在回路中的功耗的计算方式相同，将第二供电接口1112所在回路中的功耗与第一供电接口1111所在回路中的功耗相加，即为子板200的功耗。

功耗测试芯片122还可以设置电压测试引脚1223来读取测试电阻123的第二极1232处的第二电压值。

图9为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图五。

参见图9所示，功耗测试芯片122上还设置有电压测试引脚1223，电压测试引脚1223与第一电压输出焊盘1212电连接。

功耗测试芯片122的电压测试引脚1223通过功耗测试板121的内部走线与第一电压输出焊盘1212电连接，使得功耗测试芯片122可以通过电压测试引脚1223读取测试电阻123的第二极1232处的第二电压值。功耗测试芯片122通过设置电压测试引脚1223，可以将功耗测试芯片122内部的电压测试回路和电流测试回路分为两个单独的回路，使得功耗测试芯片122所测得的电压值和电流值更为准确。

图10为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图六。

参见图10所示，在图9所示的实施例的基础上，主板100上还设置有单板管理控制器140，功耗测试芯片122与单板管理控制器140电连接。

功耗测试芯片122上还设置有功耗输出引脚1224，功耗测试芯片122通过功耗输出引脚1224与单板管理控制器140电连接，以将功耗测试芯片122所测得的电压值和电流值传输给单板管理控制器140。

单板管理控制器140通过电压值乘以限流值即可计算出给第一供电接口1111所在的回路中子板200的功耗值。单板管理控制器140以同样的方式计算出第二供电接口1112所在的回路中子板200的功耗值。单板管理控制器140将第一供电接口1111所在的回路中子板200的功耗值和第二供电接口1112所在的回路中子板200的功耗值相加，即可得出子板200的功耗。

子板200的功耗值存储在单板管理控制器140中，操作人员可以通过单板管理控制器140的显示界面或者命令行查询子板200的功耗值。

图11为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图七。

参见图11所示，在图10所示的实施例的基础上，功耗测试板121上设置有第一连接器1213，第一连接器1213与功耗测试芯片122电连接；主板100上设置有第二连接器150，第二连接器150与单板管理控制器140电连接。

计算设备还包括线缆300，线缆300的一端与第二连接器150电连接，线缆300的另一端与第一连接器1213电连接。

第二连接器150可以焊接在主板100上，并通过主板100的内部走线与单板管理控制器140电连接，第一连接器1213可以焊接在功耗测试板121上，并通过功耗测试板121的内部走线与功耗测试芯片122电连接。第二连接器150和第一连接器1213均可以为SMBus接口(System Management Bus,系统管理总线)。

线缆300的两端均具有连接器插头，线缆300一端上的连接器插头插接在第二连接器150内，线缆300的另一端上的连接器插头插接在第一连接器1213内，由此，通过线缆300电连接第二连接器150和第一连接器1213，进而电连接功耗测试芯片122和单板管理控制器140。

在不需要对子卡200进行功耗测试时，从主板100上拆除功耗测试板121，将线缆300从第二连接器150和第一连接器1213上拔除即可。由此，通过线缆300电连接功耗测试芯片122和单板管理控制器140，使得功耗测试单元120的拆除难度较小。此外，通过线缆300电连接功耗测试芯片122和单板管理控制器140，可以减小对主板100的布局的更改。

图12为本申请实施例提供的计算设备的结构示意图五；图13为本申请实施例提供的计算设备的电连接方式示意图八。

参见图12和图13所示，功耗测试板121上还包括第一接地焊盘1214，主板100包括第二接地焊盘180，功耗测试单元120还包括接地端子125，接地端子125用于电连接第一接地焊盘1214和第二接地焊盘180。

接地端子125用于将功耗测试单元120通过主板100接地。具体的，第一接地焊盘1214也位于第一面121a上，将第一接地焊盘1214与第二接地焊盘180相对，接地端子125的一端与第一接地焊盘1214焊接，接地端子125的另一端与第二接地焊盘180焊接。

接地端子125可以为铜柱，接地端子125凸出第一面121a的高度与连接端子124凸出第一面121a的高度相同。通过接地端子125可以将功耗测试芯片122进行接地，进而可以提高功耗测试芯片122使用过程中的安全性。

在一些使用环境中，插接在部分连接器排座110上的子板200不需要测试功耗。下面，对不需要测试子板200的功耗时，供电电源130给子板200供电的方式。

图14为本申请实施例提供的计算设备中主板的结构示意图一。

参见图14所示，在不需要测试子板200的功耗时，供电电源130与供电接口111电连接。

具体的，供电电源130中的第一供电引脚1311与第一供电接口1111电连接，供电电源130中的第二供电引脚1312与第二供电接口1112电连接。

图15为本申请实施例提供的计算设备中主板的结构示意图二。

参见图15所示，主板100上设置有第二电压输入焊盘160和第二电压输出焊盘170，计算设备还包括短接件400，短接件400两端分别与第二电压输入焊盘160和第二电压输出焊盘170电连接。

具体的，仍以第一供电接口1111所在的回路为例，来说明在不需要测试子板200的功耗时，供电电源130通过连接器排座110给子板200供电的具体过程。

短接件400可以为零欧姆短接电阻，也可以为保险管，短接件400的一端与第二电压输入焊盘160焊接，短接件400的另一端与第二电压输出焊盘170焊接，从而通过短接件400电连接第二电压输入焊盘160和第二电压输出焊盘170；第二电压输入焊盘160与供电电源130中的第一供电引脚1311通过主板100中的布线电连接；第二电压输出焊盘170和第一供电接口1111通过主板100中的布线电连接。由此，供电电源130中的第一供电引脚1311、第二电压输入焊盘160、短接件400、第二电压输出焊盘170和第一供电接口1111依次。供电电源130可以通过第一供电接口1111给子板200供电。

当使用环境改变，插接在这些连接器排座110上的子板200又需要测试功耗情况时，拆除短接件400，然后通过连接端子124将第一电压输入焊盘1211焊接在第二电压输入焊盘160上，将第一电压输出焊盘1212焊接在第二电压输出焊盘170上，并且通过接地端子125将第一接地焊盘1214焊接在第二接地焊盘180上。

在本申请实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应作广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或者两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。

本申请实施例的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本申请实施例的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本申请实施例进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请实施例各实施例技术方案的范围。

Claims (10)

1.一种计算设备，其特征在于，包括主板和子板，所述主板上设置有连接器排座，所述子板与所述连接器排座对应插接；

所述主板上还集成有功耗测试单元，所述功耗测试单元与所述连接器排座对应设置，所述连接器排座上设置有至少一个供电接口；

所述主板上还设置有供电电源，所述供电电源用于经所述供电接口给所述子板供电，在需要测试所述子板的功耗时，所述供电接口经与该所述供电接口对应设置的所述功耗测试单元与所述供电电源电连接。

2.根据权利要求1所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试单元包括功耗测试板和设置在所述功耗测试板上并且与所述功耗测试板电连接的功耗测试芯片，所述供电接口和所述供电电源均与所述功耗测试板电连接，以使所述功耗测试芯片电连接在所述供电接口和所述供电电源之间；

所述功耗测试芯片用于测试所述供电接口所在回路中的电压和电流，从而得出与该所述供电接口电连接的所述子板的功耗。

3.根据权利要求2所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试板上设置有第一电压输入焊盘和第一电压输出焊盘，所述主板上设置有第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘；

所述功耗测试单元还包括至少两个连接端子，一所述连接端子位于所述第一电压输入焊盘和所述第二电压输入焊盘之间，以用于电连接所述第一电压输入焊盘和第二电压输入焊盘；另一所述连接端子位于所述第一电压输出焊盘和所述第二电压输出焊盘之间，以用于电连接所述第一电压输出焊盘和所述第二电压输出焊盘。

4.根据权利要求3所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试单元还包括测试电阻，所述测试电阻的两端分别与所述第一电压输入焊盘和第一电压输出焊盘电连接；

所述功耗测试芯片上设置有电压输入引脚和电压输出引脚，所述电压输入引脚与所述第一电压输入焊盘电连接，所述电压输出引脚与所述第一电压输出焊盘电连接；

所述第二电压输入焊盘与所述供电电源电连接，所述第二电压输出焊盘与所述供电接口电连接。

5.根据权利要求4所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试芯片上还设置有电压测试引脚，所述电压测试引脚与所述第一电压输出焊盘电连接。

6.根据权利要求2至5任一项所述的计算设备，其特征在于，所述主板上还设置有单板管理控制器，所述功耗测试芯片与所述单板管理控制器电连接。

7.根据权利要求6所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试板上设置有第一连接器，所述第一连接器与所述功耗测试芯片电连接；

所述主板上设置有第二连接器，所述第二连接器与所述单板管理控制器电连接；

所述计算设备还包括线缆，所述线缆的一端与所述第一连接器电连接，所述线缆的另一端与所述第二连接器电连接。

8.根据权利要求2至5任一项所述的计算设备，其特征在于，所述功耗测试板上还包括第一接地焊盘，所述主板包括第二接地焊盘，所述功耗测试单元还包括接地端子，所述接地端子用于电连接所述第一接地焊盘和所述第二接地焊盘。

9.根据权利要求1所述的计算设备，其特征在于，在不需要测试所述子板的功耗时，所述供电电源与所述供电接口电连接。

10.根据权利要求9所述的计算设备，其特征在于，所述主板上设置有第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘，所述计算设备还包括短接件，所述短接件两端分别与所述第二电压输入焊盘和第二电压输出焊盘电连接。