KR200227818Y1 - 종합 전자 실험 장치 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 전기,전자 분야의 다양한 계측기와 전원 공급 장치를 통합하여 PC(Personal Computer)에서 각 부분들의 확인과 조작이 가능한 종합 전자 실험 장치에 관한 것이다. PC를 이용해서 사용자가 계측하려는 정보와 출력하려는 전원의 상태를 종합적으로 파악하는 것이 본 고안의 목적이다. 이를 위해 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치는, 외부에 직류 전원을 공급하는 DC 전원장치(10)와; 외부에 정현파,구형파,삼각파,톱니파등을 공급하는 파형 발생기(11)와; 외부 전기 회로의 전압, 전류, 저항의 크기를 측정하는데 사용되는 디지털 테스터(12)와; 외부 전기 신호의 파형을 측정하는데 사용되는 오실로스코프(13)와; 외부 전기 신호의 주파수 특성을 측정하는데 사용되는 주파수 분석기(14)와; 상기 각 부분과 PCI(Peripheral Component Interconnect/Interface) 보드(19)를 연결해 주면서 계측된 데이터와 제어신호를 관리하는 역할을 하는 통합 제어부(15)와; PCI 버스(18)를 통하여 PC 본체(20)와 통합 제어부(15)사이에 데이터를 주고 받는 PCI 보드(19)로 구성됨을 특징으로 한다. 본 고안에 의해서 각종 전자기기나 전자회로의 계측 및 실험시에 여러 장비의 동원이 필요하지 않고, PC에 다양한 계측된 데이터를 저장할 수도 있다.
Description
본 고안은 종합 전자 실험 장치에 관한 것으로, 각종 전자기기나 전자회로의 계측 및 실험시에 필요한 여러 장비를 하나로 통합하여 PC와 연결시킨 장치이다. 본 고안에 의해서 각종 전자 실험시 여러 장비의 동원이 필요하지 않고, PC에 계측된 데이터를 저장할 수도 있으며, PC 모니터를 통해서 각종 계측 정보 등을 쉽게 얻을 수도 있으며, 마우스나 키보드에 의해서 전원 출력 상태등을 입력 할수 있다.
종래에는 전자관련 실험시 DC 전원 공급장치, 파형 발생기, 오실로스코프, 테스터 등의 여러 장비들이 있어야만 했다. 이들은 부피 면에서도 너무 클뿐만 아니라 운반시에도 어려움이 많다.
본 고안은 다음과 같은 기술적인 면을 가지고 있다.
첫째, 각종 전자기기나 전자회로의 계측 및 실험시에 필요한 여러 장비를 하나로 통합하여 PC와 연결시킨 것이다.
둘째, PC에 계측된 데이터를 저장할 수 있으며, PC 모니터를 통해서 각종 계측 정보 등을 쉽게 얻을 수 있으며, 마우스나 키보드에 의해서 계측 방법이나 전원 출력 상태등을 조정할 수 있다.
도 1은 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치의 구성을 나타내는 블럭도.
도 2는 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치의 외부 모양을 나타낸 외형도.
＜ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >
10 : DC 전원 장치 11 : 파형 발생기
12 : 디지털 테스터 13 : 오실로스코프
14 : 주파수 분석기 15 : 통합 제어부
19 : PCI 보드
상기 목적을 달성하기 위한 본 고안의 특징은 외부에 직류 전원을 공급하는 DC 전원장치(10)와; 외부에 정현파,구형파,삼각파,톱니파등을 공급하는 파형 발생기(11)와; 외부 전기 회로의 전압, 전류, 저항의 크기를 측정하는데 사용되는 디지털 테스터(12)와; 외부 전기 신호의 파형을 측정하는데 사용되는 오실로스코프(13)와; 외부 전기 신호의 주파수 특성을 측정하는데 사용되는 주파수 분석기(14)와; 상기 각 부분과 PCI 보드(19)를 연결해 주면서 계측된 데이터와 제어 신호를 관리하는 역할을 하는 통합 제어부(15)와; PCI 버스(18)를 통하여 PC 본체(20)와 통합 제어부(15)사이에 데이터를 주고 받는 PCI 보드(19)로 구성됨을 특징으로 한다.
이하 첨부한 도면을 참조하여 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치의 구성을 상세히 설명한다.
도 1은 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치의 구성을 나타내는 블럭도로서 다양한 계측기 부분과 전원 공급 장치 부분이 PC와 연결되는 방법을 나타내고 있다.
PCI 보드(19)는 PCI 버스의 물리적인 통로인 PCI 슬롯에 삽입되는 인터페이스 카드로서 PC와 외부 장치를 연결시켜 주는 역할을 한다. PCI 버스 방식을 이용하면 빠르고 많은 데이터의 이동이 가능함으로 본 고안에서는 이 방식을 채택하였다.
통합 제어부(15)는 각각의 계측 부분과 전원 공급 부분들에게 적당한 시간들을 배분하여 이들로 부터 입력되는 데이터를 PC로 보내주는 역할을 한다. 또한 PC에서 나오는 각종 제어 신호들을 받아서 해당 부분에 보내주는 역할도 한다.
DC 전원 장치(10)는 직류 전압을 외부로 출력해 주는 부분으로서 PC 에서 사용자가 원하는 출력값을 마우스(16)나 키보드(17)로 입력하면 그와 동일한 값을 외부 전자기기나 회로에 출력해 준다. 이 부분은 통합 제어부에(15)서 나오는 제어 신호를 받아서 해당 전압을 출력하는 것과 동시에 현재 출력되고 있는 전압의 값을 통합 제어부(15)로 보내어 PC 모니터(21)에 나타나도록 한다.
파형 발생기(11)는 정현파, 구형파, 삼각파, 톱니파 등을 외부에 출력해 주는 부분으로서 PC에서 사용자가 원하는 신호파의 종류를 선택하면 그와 동일한 파형을 출력해 준다. 이 부분은 통합 제어부(15)에서 나오는 제어 신호를 받아서 해당 파형을 출력하는 것과 동시에 현재 출력되고 있는 파형의 상태를 통합 제어부(15)로 보내어 PC 모니터(21)에 나타나도록 한다.
디지털 테스터(12)는 외부에서 부터 입력되는 전압, 전류, 전기 저항 등을 측정하는 부분으로서 PC에서 사용자가 원하는 기능(전압,전류,전기 저항)을 선택하면 그 기능에 해당하는 상태로 전환한다. 이 부분은 통합 제어부(15)에서 나오는 제어 신호를 받아서 해당 기능을 선택하는 것과 동시에 현재 입력되고 있는 신호의 값을 통합 제어부(15)로 보내어 PC 모니터(21)에 나타나도록 한다.
오실로스코프(13)는 외부에서 부터 입력되는 전기 신호 파형을 측정하는 부분으로서 PC에서 사용자가 원하는 전압 및 주기등을 선택하면 그 기능에 맞는 상태로 전환된다. 이 부분은 통합 제어부(15)에서 나오는 제어 신호를 받아서 해당 기능을 선택하는 것과 동시에 현재 입력되고 있는 신호의 파형값을 통합 제어부(15)로 보내어 PC 모니터에 나타나도록 한다.
주파수 분석기(14)는 외부에서 부터 입력되는 전기 신호의 주파수 스펙트럼을 측정하는 부분으로서 PC에서 사용자가 원하는 대역폭등을 선택하면 그 기능에 맞는 상태로 전환된다. 이 부분은 통합 제어부(15)에서 나오는 제어 신호를 받아서 해당 기능을 선택하는 것과 동시에 현재 입력되고 있는 신호의 주파수 스펙트럼을 통합 제어부(15)로 보내어 PC 모니터(21)에 나타나도록 한다.
도 2는 본 고안에 따른 종합 전자 실험 장치의 외부 모양을 나타낸 외형도로서 DC 전원 장치, 파형 발생기, 디지털 테스터, 오실로스코프, 주파수 분석기가 하나의 케이스에 들어가 있는 모양을 나타내었다. 외부 통합 케이스(30)는 케이블을 통하여 PC(36)와 연결됨을 나타내고 있다.
외부 통합 케이스(30)에는 두개의 출력 포트를 가진 DC 전원 장치 판넬부(31)와, 한개의 출력 포트를 가진 파형 발생기 판넬부(32)와, 한개의 입력 포트를 가진 디지털 테스터 판넬부(33)와, 두개의 입력 채널을 가진 오실로스코프 판넬부(34)와, 한개의 입력 채널을 가진 주파수 분석기 판넬부(35)로 구성되어 있다.
상기 각 부분의 입,출력 포트 수나 채널 수는 가변될 수도 있다.
본 고안에 의해서 각종 전자기기나 전자회로의 계측 및 실험시에 장치들이 차지했던 공간이 줄어들 수 있으며, PC에 계측된 데이터를 저장할 수 있으며, PC 모니터를 통해서 각종 계측 정보 등을 쉽게 얻을 수 있으며, 마우스나 키보드에 의해서 계측 방법이나 전원 출력 상태등을 조정할 수 있는 장점이 있다.
Claims (1)
- 외부에 직류 전원을 공급하는 DC 전원장치(10)와; 외부에 정현파,구형파,삼각파,톱니파를 공급하는 파형 발생기(11)와; 외부 전기 회로의 전압, 전류, 저항의 크기를 측정하는데 사용되는 디지털 테스터(12)와; 외부 전기 신호의 파형을 측정하는데 사용되는 오실로스코프(13)와; 외부 전기 신호의 주파수 특성을 측정하는데 사용되는 주파수 분석기(14)와; 상기 각 부분과 PCI 보드(19)를 연결해 주면서 계측된 데이터와 제어 신호를 관리하는 역할을 하는 통합 제어부(15)와; PCI 버스(18)를 통하여 PC 본체(20)와 통합 제어부(15)사이에 데이터를 주고 받는 PCI 보드(19)로 구성되는 것을 특징으로 하는 종합 전자 실험 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2020010001963U KR200227818Y1 (ko) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | 종합 전자 실험 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2020010001963U KR200227818Y1 (ko) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | 종합 전자 실험 장치 |
Publications (1)
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|---|---|
| KR200227818Y1 true KR200227818Y1 (ko) | 2001-06-15 |
Family
ID=73062429
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2020010001963U KR200227818Y1 (ko) | 2001-01-29 | 2001-01-29 | 종합 전자 실험 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR200227818Y1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100360279B1 (ko) * | 2001-03-10 | 2002-11-09 | 주식회사 넥스컴 | 데이터 측정장치 |
-
2001
- 2001-01-29 KR KR2020010001963U patent/KR200227818Y1/ko not_active IP Right Cessation
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100360279B1 (ko) * | 2001-03-10 | 2002-11-09 | 주식회사 넥스컴 | 데이터 측정장치 |
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