JPH0677385B2 - テ−プクリ−ナ - Google Patents

テ−プクリ−ナ

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JPH0677385B2
JPH0677385B2 JP23227186A JP23227186A JPH0677385B2 JP H0677385 B2 JPH0677385 B2 JP H0677385B2 JP 23227186 A JP23227186 A JP 23227186A JP 23227186 A JP23227186 A JP 23227186A JP H0677385 B2 JPH0677385 B2 JP H0677385B2
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JP
Japan
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tape
tape cleaner
edge
cleaner
hard film
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雅弘 奥村
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Kyocera Corp
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコンピュータの磁気テープやオーディオテープ
などのテープドライブ装置に使用するテープクリーナに
関するものである。
〔従来の技術〕
テープドライブ装置には、磁気テープ表面のゴミなどの
付着物を取り除くため、第3図に示すようになテープク
リーナ10が備えられていた。このテープクリーナ10は、
単結晶サファイアや多結晶アルミナセラミックなどより
形成され、鋭いエッジ10aを有しており、該エッジ10aが
一定の角度でテープTと摺動するように配置されてい
た。この状態でテープTが矢印方向に送られると、テー
プT表面の付着物がエッジ10aによって取り除かれるよ
うになっていた。
また、テープクリーナ10の形状は、第3図に示した三角
柱のものに限らず、使用するテープドライブ装置に応じ
て、四角柱、六角柱などさまざまなものがあった。
〔従来技術の問題点〕
ところが、このようなテープクリーナ10は、多結晶アル
ミナセラミックより形成されたものは、テープTとの摺
動によるエッジ10aの摩耗が激しくまた単結晶サファイ
アより形成されたものは装置への取付時などにエッジ10
aに欠けが発生しやすかった。エッジ10aが摩耗したり、
欠けたりすると、テープTのクリーニングにムラができ
るだけでなく、テープTを傷つけてしまうため、新品と
交換しなければならず、寿命の短いものであった。
また、単結晶サファイア、多結晶アルミナセラミックと
もに導電性が悪いため、テープクリーニング中にエッジ
10aが静電気を帯びてしまいテープクリーナ10にゴミが
被着したり、テープTの記録内容に悪影響を及ぼす恐れ
があった。
〔問題点を解決するための手段〕
上記に鑑みて、本発明は非磁性体よりなる基体にエッジ
を形成するとともに、少なくとも該エッジの周辺部分に
硬質膜を被着させたことを特徴とするテープクリーナを
形成したものである。
〔実施例〕
以下、本発明の実施例を図によって説明する。
第1図および第2図(a)に示すようにテープクリーナ
1は、非磁性体よりなる三角柱状体で、鋭いエッジ1aを
有しており、このエッジ1a部分に硬質膜2を被着させて
あるため、エッジ1aの摩耗や欠けを少なくすることがで
きる。また、他の実施例として第2図(b)に示すよう
に、エッジ1aを形成する2つの斜面全体に硬質膜2を被
着させたものでもよい。なお、この実施例ではテープク
リーナ1が三角柱状のもののみを示したが、他の四角
柱、六角柱の形状のものでも同様である。
このテープクリーナ1を形成する材質は、単結晶サファ
イア、多結晶アルミナセラミック、非磁性の金属、樹脂
などであり、硬質膜2は、TiN,TiC,TiB2,WCなどを用い
る。これらの材質の電気抵抗率を第1表に示すように、
多結晶アルミナや単結晶サファイアにくらべ、TiN,TiC,
TiB2,WCは電気抵抗率が小さいため、この硬質膜2を被
着した本発明実施例に係るテープクリーナ1は、静電気
の発生を防止することができる。また、硬質膜2の材質
としては以上に示したもの以上に、電気抵抗率が10-2Ω
cm以下のものであれば同様の効果を奏することができ
る。
次に、以上に示した材質をさまざまに組み合わせて、テ
ープクリーナ1を試作し、実際にテープドライブ装置に
組み込んでテープを摺動させる実験を行った。テープク
リーナ1のエッジ1a部分の先端角は70゜、エッジ1aの長
さは20mmとし、硬質膜2は、第2図(b)に示すように
斜面全体に5μm程度の膜圧にCVD法で形成した。この
テープクリーナ1に1/2インチ巾のテープを3m/secの速
度で摺動させ半年後にエッジ1aの摩耗の大きさと、発生
した静電気によるテープクリーナ1へのゴミ等の付着物
の量を調べた結果は第2表に示す通りであった。
第2表より、本発明の実施例であるNo.3〜No.12のもの
は摩耗が小さく、付着物も少ないことがわかる。なかで
も、硬質膜2として、TiC,TiB2を用いたNo4,5,7,8,10,1
2のものが特に優れていた。
また、硬質膜2の膜厚は、種々の実験の結果、0.5μm
より小さいと、すぐに摩耗してしまい。逆に10μmより
大きいと、剥離しやすかった。即ち、硬質膜2の膜厚は
0.5〜10μmのものが優れていた。
このような硬質膜を形成する方法としては、前記したCV
D法の他にイオンプレーティング法、スパッタリング
法、イオンビームデポジション法等のPVD法を用いても
よい。また基体として樹脂を用いた場合は熱圧着法など
で形成してもよい。
さらに、従来の多結晶アルミナよりなるテープクリーナ
10の表面を第4図に、多結晶アルミナよりなるテープク
リーナにTiNを被着してなる本発明実施例に係るテープ
クリーナ1の表面を第5図にそれぞれ示すように、本発
明実施例に係るテープクリーナ1の表面は結晶が丸みを
帯びており、テープに傷をつけにくいことがわかる。
〔発明の効果〕
叙上のように、本発明によれば、非磁性体よりなる基体
に形成したエッジ部分に硬質膜を被着してテープクリー
ナを形成したことによって、エッジの耐摩耗性が大き
く、欠けの発生する恐れも少ないため、長期にわたって
良好なエッジ状態を維持できるだけでなく、表面の粒子
構造が丸みを帯びたなめらかなものとなるため、テープ
に傷をつけにくい。また、硬質膜の導電性が大きいた
め、静電気を帯びることがなく、テープクリーナにゴミ
が付着したり、テープの記録内容に悪影響を及ぼすこと
もないなど多くの特長を有したテープクリーナを提供す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例に係るテープクリーナを示す斜視
図、第2図(a)は第1図中のX−X線断面図、第2図
(b)は本発明の他の実施例を示す断面図である。 第3図は従来のテープクリーナを示す斜視図である。第
4図は従来のテープクリーナ表面の粒子構造を示す電子
顕微鏡写真、第5図は本発明実施例に係るテープクリー
ナ表面に被着した硬質膜の粒子構造を示す電子顕微鏡写
真である。 1、10……テープクリーナ 1a、10a……エッジ 2……硬質膜

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】非磁性体よりなる基体にエッジを形成する
    とともに、少なくとも該エッジ部分に硬質膜を被着させ
    たことを特徴とするテープクリーナ。
  2. 【請求項2】前記硬質膜がTiN,TiC,TiB2,WC等よりなる
    ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のテープク
    リーナ。
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JPH03292693A (ja) * 1990-04-10 1991-12-24 Hiroshi Ueda セラミックエッジによる磁気テープの鏡面処理,ゴミ除去方法並に装置
KR20060041442A (ko) 2004-11-09 2006-05-12 삼성전자주식회사 테이프 센싱장치 및 자기 기록/재생장치

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