JPH0675813A - 外部記憶装置の疑似障害発生方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は外部記憶装置の疑似障害発生方法に
関し、ＣＰＵから指定した条件に従って、外部記憶装置
内で、任意に疑似障害を発生できるようにすることを目
的とする。 【構成】 ＣＰＵ１の発行した疑似障害発生条件設定用
のコマンドを、外部記憶装置２が受信した際、ＣＰＵ１
が指定した疑似障害発生条件を、内部のメモリ７に設定
すると共に、条件設定完了を、ＣＰＵ１に報告すること
により、疑似障害発生モードとし、その後のアクセス時
に、メモリ７に設定してある疑似障害発生条件を参照
し、条件が一致した場合、指定された条件により、疑似
的に障害を発生する。また、ＣＰＵ１が指定する疑似障
害発生条件を、チャネルパス毎、及び記憶デバイス８毎
に、別々に指定するようにした。更に、疑似障害の発生
を、ＣＰＵ１から指定された回数だけ発生させた後、疑
似障害発生モードを解除するように構成した。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、例えば磁気ディスク装
置等の外部記憶装置に利用されるものであり、特に、中
央処理装置（ホストシステム）から指定された条件に従
って、疑似障害を発生させることにより、中央処理装
置、及びオペレーティングシステムの試験及び、障害調
査を可能にした外部記憶装置の疑似障害発生方法に関す
るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、一般に、中央処理装置（以下「Ｃ
ＰＵ」という）及びオペレーティングシステムには、外
部記憶装置内で障害が発生した場合に、それを救済する
機能が用意されていた。

【０００３】しかし、これらの障害救済機能を試験する
場合には、外部記憶装置内で実際に障害を発生させ、上
記救済機能が正常に動作するかどうかを、確認する必要
がある。

【０００４】しかし、外部記憶装置は、なるべく障害が
発生しないように設計されているため、障害を発生させ
るためには何らかの手段を講じる必要があるが、従来
は、このような障害発生の手段は用意されてなかった。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 （１）、外部記憶装置内部で障害を発生させるために、
内部のバスの一部をショートさせる等の方法も考えられ
るが、このような方法では、期待される障害が実際に発
生するかどうかは、不明である。しかもこの場合、他の
致命的な障害が併発して、外部記憶装置が故障すること
もあり、上記の方法は、実質的に使用出来ない。

【０００６】（２）、上記以外に、外部記憶装置内部で
障害を発生させるための方法は、考えられているが、ど
の方法でも、期待される障害を、確実に発生させるため
には、多大な工数と、経験が必要である。

【０００７】本発明は、このような従来の課題を解決
し、ＣＰＵから指定した条件に従って、外部記憶装置内
で、任意に疑似障害を発生できるようにすることを目的
とする。

【０００８】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図であり、図１中、１はＣＰＵ（中央処理装置）、２は
外部記憶装置、３はマイクロプロセッサ（以下「ＭＰ
Ｕ」という）、４は疑似障害管理テーブル、７はメモ
リ、８はデバイス（記憶デバイス）を示す。

【０００９】本発明は上記の課題を解決するため、次の
ように構成した。 （１）、ＣＰＵ１に接続された外部記憶装置２の疑似障
害発生方法であって、上記ＣＰＵ１の発行した疑似障害
発生条件設定用のコマンドを、上記外部記憶装置２が受
信した際、上記ＣＰＵ１が指定した疑似障害発生条件
を、内部のメモリ７に設定すると共に、疑似障害発生条
件の設定完了を、ＣＰＵ１に報告することにより、疑似
障害発生モードとし、その後のアクセス時に、上記メモ
リ７に設定してある疑似障害発生条件を参照し、条件が
一致した場合、指定された条件により、疑似的に障害を
発生させるようにした。

【００１０】（２）、上記構成（１）において、ＣＰＵ
１が指定する疑似障害発生条件を、チャネルパス毎、及
び上記外部記憶装置２の各記憶デバイス８毎に、別々に
指定するようにした。

【００１１】（３）、上記構成（１）又は（２）におい
て、上記疑似障害の発生を、ＣＰＵ１から指定された回
数だけ発生させた後、上記疑似障害発生モードを解除す
るようにした。

【００１２】

【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図１に基づ
いて説明する。 −１：ＣＰＵ１では、サブシステムコマンド（疑似障
害発生を指示する記憶装置制御用のコマンド）を発行し
て、外部記憶装置２内に、疑似障害発生条件を設定させ
る。

【００１３】−２：上記コマンドにより、外部記憶装
置２内では、ＣＰＵ３が、疑似障害管理テーブル４を作
成し、ＣＰＵ１に対して、設定完了を報告（正常応答）
する。以後、外部記憶装置２は、疑似障害発生モードと
なる。

【００１４】−３：続いて、ＣＰＵ１から通常のアク
セスが行われるが、先に設定した条件を満たさないアク
セスについては、外部記憶装置２内で通常の処理が行わ
れる（正常応答）。

【００１５】−４：ＣＰＵ１からのアクセスが、先に
設定した条件を満たす場合には、外部記憶装置２内で特
別な処理を行い、ＣＰＵ１に対して、先に指定されたエ
ラーを疑似的に報告する（指定エラー報告）。

【００１６】−５：次に、ＣＰＵ１から発行されるエ
ラー収集コマンドにより、先に発生させたエラーの詳細
情報が、報告される（指定センス報告）。 −６：ＣＰＵ１では、上記情報を使用して、ＣＰＵ１
内で障害の救済処理を行う。

【００１７】−７：以上のようにして、設定された疑
似障害発生モードは、ＣＰＵ１から指定された回数だけ
疑似障害を発生すると、自動的に解除する。 −８：疑似障害発生モードが解除されると、外部記憶
装置２は、従来と同様に運用される。

【００１８】このようにすれば、ＣＰＵから指定した条
件で、任意に、かつ自動的に、疑似障害を発生すること
が可能となる。また、疑似障害発生モードは、接続され
るチャネルパス毎、及びデバイス（記憶デバイス）８毎
に、別々に設定する事が可能である。従って、１台の外
部記憶装置２を、多種多様な条件下で運用する事が出来
る。

【００１９】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図９は、本発明の実施例を示した図であ
り、図２〜図９中、図１と同じものは、同一符号で示し
てある。また、２Ａは磁気ディスク制御装置（ＭＤＣ）
５はインターフェース制御部、６はデバイス制御部を示
す。

【００２０】：磁気ディスクサブシステムの構成の説
明・・・図２参照 本実施例は、磁気ディスクサブシステムに適用した例で
あり、該磁気ディスクサブシステムの構成を図２に示
す。

【００２１】図示のように、この磁気ディスクサブシス
テムは、磁気ディスク制御装置（ＭＤＣ）２Ａと、複数
台のデバイス（デバイス♯０〜デバイス♯ｎ−１）８で
構成されており、該磁気ディスク制御装置（ＭＤＣ）２
ＡがＣＰＵ１に接続される。

【００２２】なお、実際には、磁気ディスク制御装置
（ＭＤＣ）２Ａがチャネル装置に接続されるが、該チャ
ネル装置は、図示省略してある。そして、上記磁気ディ
スク制御装置（ＭＤＣ）２Ａには、ＭＰＵ３、インター
フェース制御部５、デバイス制御部６、メモリ７等が設
けてあり、該メモリ７には、疑似障害管理テーブル４が
設定出来るようになっている。

【００２３】上記インターフェース制御部５は、ＣＰＵ
１（実際にはチャネル装置）と、物理的に接続されてお
り、ＣＰＵ１とＭＰＵ３とのデータ等のやり取りを制御
するものである。

【００２４】ＭＰＵ３は、ＣＰＵ１から転送されたコマ
ンドを解析し、指定されたリード／ライト等の動作を、
デバイス制御部６に指示する等の各種制御を行うもので
ある。メモリ７は、ＭＰＵ３を動作させるために必要な
プログラムを格納したり、上記のように、疑似障害管理
テーブル４を設定したりするメモリである。

【００２５】デバイス制御部６は、ＭＰＵ３からの指示
に従い、デバイス（磁気ディスク装置）８内の磁気ディ
スクに対するデータの読み書き（リード／ライト）等の
制御を行うものである。

【００２６】：磁気ディスクサブシステムの動作の説
明・・・図２参照 −１：通常のデータ読み込み時は、ＣＰＵ１からのリ
ードコマンドが、インターフェース制御部５を通じてＭ
ＰＵ３に伝えられ、ＭＰＵ３は、デバイス制御部６に対
して、ＣＰＵ１から指示された領域の読み込みを、デバ
イス制御部６に指示する。

【００２７】−２：上記指示を受けたデバイス制御部
６は、指定された領域のデータを、デバイス８内の磁気
ディスクから読み込み、ＭＰＵ３に転送する。 −３：ＭＰＵ３は、デバイス制御部６から受け取った
データを、インターフェース制御部５を介してＣＰＵ１
に転送し、転送終了後に、リードコマンドの終了をＣＰ
Ｕ１に報告する。

【００２８】−４：通常のデータ書き込み時も同様
に、ＣＰＵ１→インターフェース制御部５→ＭＰＵ３→
デバイス制御部６→磁気ディスクの経路で、データが転
送され、転送終了後に、ライトコマンドの終了をＣＰＵ
１に報告する。

【００２９】−５：疑似障害発生モード設定時は、Ｃ
ＰＵ１から、設定コマンドが、ＭＰＵ３に伝えられ、Ｍ
ＰＵ３は、コマンドと同時に転送されたパラメータ等を
基に、メモリ７内に、疑似障害管理テーブル４を作成す
る。

【００３０】そして、この処理が終了すると、ＣＰＵ１
に対して、終了報告をする。 −６：以降のアクセス時は、ＣＰＵ１からの各種コマ
ンドを、ＭＰＵ３で処理する際に、メモリ７内の疑似障
害管理テーブル４を参照し、現在処理しているコマンド
で、疑似障害を発生させるか、否かを判断する。

【００３１】：疑似障害管理テーブル４の説明・・・
図３参照 上記疑似障害管理テーブル４の１例を、図３に示す。疑
似障害管理テーブル４は、上記磁気ディスクサブシステ
ムに設けられたデバイス（磁気ディスク装置）８の台数
分、すなわち、デバイス♯０〜デバイス♯ｎ−１に対応
した数（ｎ台）だけの疑似障害管理テーブルを用意す
る。各フィールドは次の通りである。

【００３２】−１：「モードフラグ」は、障害発生モ
ードかどうかを管理するフラグである。例えば、モード
フラグのビット３が、「１」の時、デバイス♯３が障害
発生モードであることを示す。

【００３３】−２：「発生コマンド」は、エラーを発
生させるチャネルコマンドコードを指定する。 −３：「発生シーケンス」は、エラーを発生させるタ
イミングを指定する。 この指定により、通常の処理中に、このテーブルを何時
参照するかが決まる。

【００３４】−４：発生頻度は、条件が何回一致した
ら、エラーを発生させるかを指定する。 −５：「発生回数」は、エラーを発生させる回数を指
定する。

【００３５】−６：「シリンダ番号」は、エラーを発
生させるシリンダ／ヘッド番号を指定する。 −７：「条件カウンタ」は、初期値は「０」であり、
指定された条件が一致した時、＋１される。この値が、
上記発生頻度の値と一致した時に、エラーを発生させ
る。

【００３６】−８：「エラーカウンタ」は、初期値は
「０」であり、エラーを発生した時に、＋１される。こ
の値が、上記の発生回数と、一致した時に、そのデバイ
スのモードフラグをリセットする。

【００３７】：実施例の処理説明・・・図４参照 図４は、実施例の処理説明図である。 −１：ＣＰＵ１では、サブシステムコマンド（記憶装
置制御用のコマンド）により、磁気ディスク制御装置内
に、疑似障害発生条件を設定させる。この場合、ＣＰＵ
１では、新たに設けた記憶装置制御用のコマンドを使用
して行う。設定する内容は、上記の通り（図３参照）で
ある。

【００３８】−２：上記コマンドの発行により、磁気
ディスク制御装置２Ａ内で、疑似障害管理テーブル４Ａ
を作成すると、該磁気ディスク制御装置２Ａから、ＣＰ
Ｕ１に対して、設定完了を報告する（正常応答）。以
後、磁気ディスク制御装置２Ａは、疑似障害発生モード
となる。

【００３９】−３：続いて、ＣＰＵ１から通常のアク
セスが行われるが、先に設定した条件を満たさないアク
セスについては、磁気ディスク制御装置２Ａ内で通常の
処理を行なう（正常応答）。

【００４０】−４：ＣＰＵ１からのアクセスが、先に
設定した条件を満たす場合には、磁気ディスク制御装置
２Ａ内で特別な処理を行ない、ＣＰＵ１に対して、先に
指定されたエラーを疑似的に報告する（指定エラー報
告）。

【００４１】−５：次に、ＣＰＵ１から発行されるエ
ラー収集コマンドにより、先に発生させたエラーの詳細
情報を報告する（指定センス報告）。 −６：ＣＰＵ１では、上記情報を使用して、ＣＰＵ１
内で障害の救済処理を行なう。

【００４２】−７：以上のようにして、設定された磁
気ディスク制御装置２Ａの疑似障害発生モードは、ＣＰ
Ｕ１から指定された回数だけ疑似障害を発生すると、自
動的に解除する。

【００４３】また、上記コマンドにより、強制的に解除
する事も可能である。 −８：疑似障害発生モードを解除すると、磁気ディス
ク制御装置２Ａは、従来と同様に運用する。

【００４４】実施例の処理は以上の通りであるが、上記
の指定によって、磁気ディスク制御装置２Ａが致命的な
エラー状態に陥った場合、ＣＰＵ１から、磁気ディスク
制御装置２Ａをリセットすることにより、エラー状態か
ら回復させることが出来る。

【００４５】この時、疑似障害発生モード自体は、上記
リセットでは解除されないので、リセット後、引き続き
疑似障害発生モードで運用する事が出来る。また、疑似
障害発生モードは、接続されるチャネルパス毎、及びデ
バイス（磁気ディスク装置）８毎に、別々に設定する事
が可能である。従って、１台の磁気ディスク制御装置２
Ａを、多種多様な条件下で運用する事が出来る。

【００４６】：フローチャートに基づく疑似障害発生
モードの条件設定処理の説明・・・図５参照 図５は、疑似障害発生モードの条件設定処理フローチャ
ートであり、以下この図に基づいて説明する。なお、図
５は、磁気ディスク制御装置２Ａ内の処理であり、Ｓ１
〜Ｓ８は、各処理番号を示す。

【００４７】−１：疑似障害発生モードの条件設定処
理時には、先ず、ＭＰＵ３は、疑似障害発生モードの解
除指示かどうかを調べる（Ｓ１）。その結果、解除が指
示されていれば、疑似障害管理テーブル４をクリア（Ｓ
７）して、正常終了報告をする（Ｓ６）。

【００４８】−２：上記疑似障害発生モードが解除指
示でない場合（Ｓ１）には、ＭＰＵ３は、モード設定の
指示かどうかを調べる（Ｓ２）。その結果、モード設定
の指示でなければ、異常終了報告を行う（Ｓ８）。

【００４９】−３：モード設定の指示がなされていた
場合には（Ｓ２）、ＭＰＵ３は、疑似障害管理テーブル
４のパラメータをチェックし（Ｓ３）、異常があるかど
うかを調べる（Ｓ４）。もし、異常があれば、異常終了
報告を行う（Ｓ８）。

【００５０】−４：パラメータ異常がなければ、疑似
障害管理テーブル４を作成し（Ｓ５）、正常終了報告を
行う（Ｓ６）。 ：フローチャートに基づく疑似障害発生時の処理説明
・・・図６参照 図６は、疑似障害発生時の処理フローチャートであり、
以下この図に基づいて説明する。なお、図６は、磁気デ
ィスク制御装置２Ａの処理であり、Ｓ２１〜Ｓ３０は、
各処理番号を示す。

【００５１】−１：磁気ディスク制御装置２Ａが、Ｃ
ＰＵ１からのコマンドを受信した場合、ＣＰＵ３は、疑
似障害発生モードかどうかを調べる（Ｓ２１）。その結
果、疑似障害発生モードでなければ、正常処理を行う
（Ｓ３０）。

【００５２】−２：しかし、疑似障害発生モードにな
っていた場合は、ＣＰＵ３は、コマンドの一致を調べ
（Ｓ２２）、一致していなければ、正常処理を行う（Ｓ
３０）。

【００５３】−３：コマンドが一致していた場合に
は、シリンダ／ヘッド番号等の一致を調べる（Ｓ２
３）、一致していなければ、正常処理を行う（Ｓ３
０）。 −４：シリンダ／ヘッド番号等が一致した場合は、条
件一致回数を＋１して（Ｓ２４）、条件が指定の回数か
どうかを調べる（Ｓ２５）。

【００５４】その結果、条件が指定回数に達していなけ
れば、正常処理を行う（Ｓ３０）。 −５：条件が指定回数に達していた場合には、指定の
エラー報告を行い（Ｓ２６）、エラー発生回数を、＋１
する（Ｓ２７）。

【００５５】−６：エラー発生回数が指定回数に達し
たら（Ｓ２８）、障害発生モードをクリアして（Ｓ２
９）処理を終了する。 ：外部記憶装置制御用コマンドのフォーマット例の説
明・・・図７参照 上記外部記憶装置制御用コマンドのフォーマット例を、
図７に示す。

【００５６】このコマンドは、バイト「０」〜「１５」
の１６バイトで構成され、各バイトの値により、内容が
異なっている。なお、図の各バイトの値は、１６進数で
示してある。

【００５７】例えば、バイト「３」の値が「（８
０）₁₆」であれば、条件設定であり、バイト「３」の値
が「（４０）₁₆」であれば、条件解除である。また、バ
イト「５」は、チャネルコマンドコード（詳細は、図９
に示す）であり、バイト「８」は、デバイス機番であ
る。

【００５８】更に、バイト「１０」は発生エラー内容
（詳細は、図８に示す）であり、バイト「１２」はシリ
ンダ番号である。このように、各バイトにより、異なっ
た内容のコマンドとなっている。このコマンドは、ＣＰ
Ｕ１（実際はチャネル）から磁気ディスク制御装置へ送
られるが、バイト「０」から１バイトづつ順番に送られ
る。

【００５９】：発生可能なエラー内容の説明・・・図
８参照 上記図７のコマンドにおいて、バイト「１０」は、発生
エラー内容であるが、その例を、図８に示す。なお、図
８の「値」は、それぞれ上記バイト「１０」の値（図で
は１６進数で表示してある）である。

【００６０】このコマンドは、磁気ディスク制御装置２
ＡからＣＰＵ１へ報告するエラー（疑似障害）である。
例えば、値が「（０１）₁₆」であれば、エラー内容は
「ＣＨＡＮＥＬＬ ＥＮＤ ＴＩＭＥ ＯＵＴ」であ
る。

【００６１】：チヤネルコマンドの説明・・・図９参
照 上記バイト「５」のチャネルコマンドは、その値（１６
進数で表示してある）により、図９のようになる。

【００６２】例えば、上記バイト「５」の値が、「（０
７）₁₆」であれば、チャネルコマンドは、「ＳＥＥＫ」
である。 （他の実施例）以上実施例について説明したが、本発明
は次のようにしても実施可能である。

【００６３】（１）、上記磁気ディスクサブシステムの
外、他の同様な外部記憶装置に適用可能である。 （２）、上記疑似障害管理テーブルの構成は、任意でよ
い。

【００６４】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 （１）、ＣＰＵから指定した条件に従って、期待される
疑似障害を、外部記憶装置内で、任意に、かつ、確実に
発生させることが出来る。

【００６５】（２）、ＣＰＵ及び、オペレーティングシ
ステムの試験や、障害調査にかかる工数を、大幅に削減
出来る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理説明図である。

【図２】本発明の実施例における磁気ディスクサブシス
テムの構成図である。

【図３】本発明の実施例における疑似障害管理テーブル
例である。

【図４】本発明の実施例の処理説明図である。

【図５】本発明の実施例における疑似障害発生モードの
条件設定処理フローチャートである。

【図６】本発明の実施例における疑似障害発生時の処理
フローチャートである。

【図７】本発明の実施例における外部記憶装置制御用コ
マンドのフォーマット例である。

【図８】本発明の実施例における発生可能なエラー内容
を示した図である。

【図９】本発明の実施例におけるチャネルコマンドの種
類を示した図である。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ ２ 外部記憶装置 ３ ＭＰＵ ４ 疑似障害管理テーブル ７ メモリ ８ デバイス

フロントページの続き (51)Int.Cl.⁵ 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｍ 3/26 Ｇ 8426−5Ｋ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 中央処理装置（ＣＰＵ）（１）に接続さ
   れた外部記憶装置（２）の疑似障害発生方法であって、 上記中央処理装置（１）の発行した疑似障害発生条件設
   定用のコマンドを、上記外部記憶装置（２）が受信した
   際、 上記中央処理装置（１）が指定した疑似障害発生条件
   を、内部のメモリ（７）に設定すると共に、 疑似障害発生条件の設定完了を、中央処理装置（１）に
   報告することにより、疑似障害発生モードとし、 その後のアクセス時に、上記メモリ（７）に設定してあ
   る疑似障害発生条件を参照し、 条件が一致した場合、指定された条件により、疑似的に
   障害を発生させることを特徴とした外部記憶装置の疑似
   障害発生方法。
2. 【請求項２】 上記中央処理装置（１）が指定する疑似
   障害発生条件を、 チャネルパス毎、及び上記外部記憶装置（２）の各記憶
   デバイス（８）毎に、別々に指定することを特徴とした
   請求項１記載の外部記憶装置の疑似障害発生方法。
3. 【請求項３】 上記疑似障害の発生を、中央処理装置
   （１）から指定された回数だけ発生させた後、 上記疑似障害発生モードを解除することを特徴とした請
   求項１又は２記載の外部記憶装置の疑似障害発生方法。