JPH0667988A - Ｒａｓ機能付半導体記憶装置 - Google Patents
Ｒａｓ機能付半導体記憶装置Info
- Publication number
- JPH0667988A JPH0667988A JP4221853A JP22185392A JPH0667988A JP H0667988 A JPH0667988 A JP H0667988A JP 4221853 A JP4221853 A JP 4221853A JP 22185392 A JP22185392 A JP 22185392A JP H0667988 A JPH0667988 A JP H0667988A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- memory
- semiconductor disk
- ras
- sum check
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- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】半導体ディスク装置の記憶データの正常性の確
認ができるようにして、この装置を用いたコンピュータ
システムの信頼性を高める。 【構成】半導体ディスク装置０１内に、本来のデータ格
納領域としての半導体ディスク１のほかに、ＲＡＳデー
タとしてのサムチェック２ａ，書込回数２ｂを格納する
ＲＡＳ用メモリ２を設ける。そしてＣＰＵ０２が半導体
ディスク１へデータを書込む際、予め書込回数２ｂを調
べ制限回数以下であることを確認したうえデータ書込み
を行って、ＲＡＳメモリ２内の書込回数２ｂの値をイン
クリメントし、同時に半導体ディスク１への書込データ
のサムチェック値を演算回路３を介して求め、メモリ２
にサムチェック２ａとして書込む。以後は周期的にディ
スク１内のデータとサムチェック２ａとを照合し、ディ
スク１内のデータの正常値を監視する。
認ができるようにして、この装置を用いたコンピュータ
システムの信頼性を高める。 【構成】半導体ディスク装置０１内に、本来のデータ格
納領域としての半導体ディスク１のほかに、ＲＡＳデー
タとしてのサムチェック２ａ，書込回数２ｂを格納する
ＲＡＳ用メモリ２を設ける。そしてＣＰＵ０２が半導体
ディスク１へデータを書込む際、予め書込回数２ｂを調
べ制限回数以下であることを確認したうえデータ書込み
を行って、ＲＡＳメモリ２内の書込回数２ｂの値をイン
クリメントし、同時に半導体ディスク１への書込データ
のサムチェック値を演算回路３を介して求め、メモリ２
にサムチェック２ａとして書込む。以後は周期的にディ
スク１内のデータとサムチェック２ａとを照合し、ディ
スク１内のデータの正常値を監視する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータ装置などの
補助記憶装置として使用される、いわゆる半導体ディス
ク装置としての半導体記憶装置、特に高信頼性を要求さ
れるＲＡＳ機能付の半導体記憶装置に関する。なおここ
でＲＡＳ機能とは記憶データの信頼性を維持するための
機能をいい、また以下ＲＡＳデータとはこの信頼性を確
認するためのデータをいう。
補助記憶装置として使用される、いわゆる半導体ディス
ク装置としての半導体記憶装置、特に高信頼性を要求さ
れるＲＡＳ機能付の半導体記憶装置に関する。なおここ
でＲＡＳ機能とは記憶データの信頼性を維持するための
機能をいい、また以下ＲＡＳデータとはこの信頼性を確
認するためのデータをいう。
【０００２】
【従来の技術】従来の『書込回数に制限があるメモリ』
や『内容を部分的に変更することができないメモリ』を
使用した半導体ディスク装置にはサムチェック機能や書
込回数管理機能等のＲＡＳ機能が搭載されていない。
や『内容を部分的に変更することができないメモリ』を
使用した半導体ディスク装置にはサムチェック機能や書
込回数管理機能等のＲＡＳ機能が搭載されていない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このように従来の半導
体ディスク装置にはサムチェック機能が無いために、半
導体ディスク装置内のデータが壊れてしまっている場合
でも、データの正否の判定ができずに、コンピュータ装
置などが異常な動作をする恐れがあった。また、書込回
数に制限があるメモリを使用する半導体ディスク装置で
は、書込回数管理機能が無いために、書込回数が制限回
数を越えている場合でもそれを判定することができなか
った。（なお書込回数に制限があるメモリは、制限回数
を越えた場合は、もし正常に書込できても将来的にその
データは保証されない。）そこで本発明はこの問題を解
消できるＲＡＳ機能付半導体記憶装置を提供することを
課題とする。
体ディスク装置にはサムチェック機能が無いために、半
導体ディスク装置内のデータが壊れてしまっている場合
でも、データの正否の判定ができずに、コンピュータ装
置などが異常な動作をする恐れがあった。また、書込回
数に制限があるメモリを使用する半導体ディスク装置で
は、書込回数管理機能が無いために、書込回数が制限回
数を越えている場合でもそれを判定することができなか
った。（なお書込回数に制限があるメモリは、制限回数
を越えた場合は、もし正常に書込できても将来的にその
データは保証されない。）そこで本発明はこの問題を解
消できるＲＡＳ機能付半導体記憶装置を提供することを
課題とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】前記の課題を解決するた
めに、請求項１の半導体記憶装置は、書込回数に制限が
あるメモリを（半導体ディスク１などとして）使用した
半導体記憶装置であって、このメモリの劣化を判定する
ために、前記メモリへの書込回数（２ｂなど）を格納す
るＲＡＳ用メモリ（２など）を備えたものとする。
めに、請求項１の半導体記憶装置は、書込回数に制限が
あるメモリを（半導体ディスク１などとして）使用した
半導体記憶装置であって、このメモリの劣化を判定する
ために、前記メモリへの書込回数（２ｂなど）を格納す
るＲＡＳ用メモリ（２など）を備えたものとする。
【０００５】また請求項２の半導体記憶装置は、内容を
部分的に変更することができないメモリを（半導体ディ
スク１などとして）使用した半導体記憶装置であって、
このメモリ内のデータの信頼性を確認するために、（演
算回路３などを介して求めた）前記データのサムチェッ
ク（２ａなど）を格納するＲＡＳ用メモリ（２など）を
備えたものとする。
部分的に変更することができないメモリを（半導体ディ
スク１などとして）使用した半導体記憶装置であって、
このメモリ内のデータの信頼性を確認するために、（演
算回路３などを介して求めた）前記データのサムチェッ
ク（２ａなど）を格納するＲＡＳ用メモリ（２など）を
備えたものとする。
【０００６】
【作用】半導体ディスク装置にデータを書込む時に、書
込データのサムチェック値を計算し記録する。また書込
回数も同時に記録する。この書込んだサムチェック値と
半導体ディスク装置のデータを周期的に比較し、データ
の正常性を確認する。また書込回数は、再度半導体ディ
スク装置に書込みを行う時に読込み、制限回数を越えて
いないか確認する。このようにサムチェック機能を使用
する事により、半導体ディスク装置内のデータの正常性
の判定ができる。また書込回数管理機能を使用すること
により、半導体ディスク装置の寿命（書込制限回数オー
バ）の判定ができる。
込データのサムチェック値を計算し記録する。また書込
回数も同時に記録する。この書込んだサムチェック値と
半導体ディスク装置のデータを周期的に比較し、データ
の正常性を確認する。また書込回数は、再度半導体ディ
スク装置に書込みを行う時に読込み、制限回数を越えて
いないか確認する。このようにサムチェック機能を使用
する事により、半導体ディスク装置内のデータの正常性
の判定ができる。また書込回数管理機能を使用すること
により、半導体ディスク装置の寿命（書込制限回数オー
バ）の判定ができる。
【０００７】
【実施例】図１は本発明の一実施例としての構成を示
す。同図において、０１は半導体ディスク装置、０２は
このディスク装置０１の読み書きを行うＣＰＵである。
次に半導体ディスク装置０１内において、１は本来のデ
ータ格納領域としての半導体ディスク、２はＲＡＳデー
タとしてのサムチェック２ａ，同じくＲＡＳデータとし
ての書込回数２ｂ等を格納する領域としてのＲＡＳ用メ
モリ、３はサムチェック等を演算するための演算回路、
４はデータバスである。
す。同図において、０１は半導体ディスク装置、０２は
このディスク装置０１の読み書きを行うＣＰＵである。
次に半導体ディスク装置０１内において、１は本来のデ
ータ格納領域としての半導体ディスク、２はＲＡＳデー
タとしてのサムチェック２ａ，同じくＲＡＳデータとし
ての書込回数２ｂ等を格納する領域としてのＲＡＳ用メ
モリ、３はサムチェック等を演算するための演算回路、
４はデータバスである。
【０００８】次に図１の動作を説明する。以下〜は
この動作の手順を示す。 ＣＰＵ０２はデータバス４を介し半導体ディスク装置
０１内の半導体ディスク１に書込みを行う前に先ず、Ｒ
ＡＳ用メモリ２内の書込回数２ｂのデータを読込む。そ
して この読込んだ回数データにより、半導体ディスク１が
書込制限回数を越えていない事を確認する。但し書込制
限回数を越えている場合には書込みを中止する。
この動作の手順を示す。 ＣＰＵ０２はデータバス４を介し半導体ディスク装置
０１内の半導体ディスク１に書込みを行う前に先ず、Ｒ
ＡＳ用メモリ２内の書込回数２ｂのデータを読込む。そ
して この読込んだ回数データにより、半導体ディスク１が
書込制限回数を越えていない事を確認する。但し書込制
限回数を越えている場合には書込みを中止する。
【０００９】次に半導体ディスク１にデータの書込み
を行う。この時、書込データのサムチェック値を演算回
路３で計算しＲＡＳ用メモリ２内にサムチェック２ａと
して書込む。 そしてＲＡＳ用メモリ２内の書込回数２ｂに１を加算
する。 また周期的にＲＡＳ用メモリ２内のサムチェック２ａ
値と半導体ディスク１のデータを照合し正常であること
を確認する。
を行う。この時、書込データのサムチェック値を演算回
路３で計算しＲＡＳ用メモリ２内にサムチェック２ａと
して書込む。 そしてＲＡＳ用メモリ２内の書込回数２ｂに１を加算
する。 また周期的にＲＡＳ用メモリ２内のサムチェック２ａ
値と半導体ディスク１のデータを照合し正常であること
を確認する。
【００１０】
【発明の効果】本発明によれば、半導体ディスク装置０
１内に半導体ディスク１とは別にＲＡＳ用メモリ２を設
けて、半導体ディスク１の書込データについてのサムチ
ェック値２ａや半導体ディスク１の書込回数２ｂなどを
格納するようにしたので、コンピュータ装置等でこの半
導体ディスク装置を使用する場合、半導体ディスク１内
の書込データとサムチェック２ａとの照合により、該書
込データの正常性を常に監視することができるので、も
し半導体ディスク１内のデータが破壊されている時にも
事前に異常を検知してＣＰＵ０２の誤動作を防ぐ事がで
きる。また書込回数２ｂをチェックすることで半導体デ
ィスク１の劣化を事前に判断し異常が発生する前に交換
等の対処をすることができる。
１内に半導体ディスク１とは別にＲＡＳ用メモリ２を設
けて、半導体ディスク１の書込データについてのサムチ
ェック値２ａや半導体ディスク１の書込回数２ｂなどを
格納するようにしたので、コンピュータ装置等でこの半
導体ディスク装置を使用する場合、半導体ディスク１内
の書込データとサムチェック２ａとの照合により、該書
込データの正常性を常に監視することができるので、も
し半導体ディスク１内のデータが破壊されている時にも
事前に異常を検知してＣＰＵ０２の誤動作を防ぐ事がで
きる。また書込回数２ｂをチェックすることで半導体デ
ィスク１の劣化を事前に判断し異常が発生する前に交換
等の対処をすることができる。
【図１】本発明の一実施例としての構成図
０１ 半導体ディスク装置 ０２ ＣＰＵ １ 半導体ディスク ２ ＲＡＳ用メモリ ２ａ サムチェック ２ｂ 書き込み回数 ３ 演算回路 ４ データバス
Claims (2)
- 【請求項１】書込回数に制限があるメモリを使用した半
導体記憶装置であって、このメモリの劣化を判定するた
めに、前記メモリへの書込回数を格納するＲＡＳ用メモ
リを備えたことを特徴とするＲＡＳ機能付半導体記憶装
置。 - 【請求項２】内容を部分的に変更することができないメ
モリを使用した半導体記憶装置であって、このメモリ内
のデータの信頼性を確認するために、前記データのサム
チェックを格納するＲＡＳ用メモリを備えたことを特徴
とするＲＡＳ機能付半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4221853A JPH0667988A (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Ｒａｓ機能付半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4221853A JPH0667988A (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Ｒａｓ機能付半導体記憶装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0667988A true JPH0667988A (ja) | 1994-03-11 |
Family
ID=16773217
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4221853A Pending JPH0667988A (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | Ｒａｓ機能付半導体記憶装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0667988A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113345476A (zh) * | 2020-03-03 | 2021-09-03 | 株式会社东芝 | 磁盘装置以及磁盘装置的存储管理方法 |
-
1992
- 1992-08-21 JP JP4221853A patent/JPH0667988A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113345476A (zh) * | 2020-03-03 | 2021-09-03 | 株式会社东芝 | 磁盘装置以及磁盘装置的存储管理方法 |
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