JPH0666639A - 赤外線温度計 - Google Patents

赤外線温度計

Info

Publication number
JPH0666639A
JPH0666639A JP4245557A JP24555792A JPH0666639A JP H0666639 A JPH0666639 A JP H0666639A JP 4245557 A JP4245557 A JP 4245557A JP 24555792 A JP24555792 A JP 24555792A JP H0666639 A JPH0666639 A JP H0666639A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
temperature
infrared
detection element
output
thermometer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4245557A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsutomu Shinagawa
勉 品川
Takeshi Uno
武志 宇野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyota Central R&D Labs Inc
Original Assignee
Toyota Central R&D Labs Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyota Central R&D Labs Inc filed Critical Toyota Central R&D Labs Inc
Priority to JP4245557A priority Critical patent/JPH0666639A/ja
Publication of JPH0666639A publication Critical patent/JPH0666639A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 環境温度が大きく急変するような場所で当該
環境温度の影響を受けずに効率良く、適正に温度計測し
得る赤外線温度計を提供する。 【構成】 赤外線検出素子1の温度を測定し当該温度を
補償する温度補償用検出素子2の出力から求めた赤外線
検出素子1の温度変化率を基に赤外線検出素子1の温度
が過渡変化時に生ずる赤外線検出素子1の出力誤差を補
正し、出力補正後の赤外線検出素子1の出力と温度補償
用検出素子2の出力により赤外線検出素子1の補償を行
い、測温対象物温度を求めることにより、環境温度が大
きく急変するような場所で当該環境温度の影響を受けず
に適正に温度計測する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、環境温度が大きく急変
する様な場所で、環境温度の影響を受けず精度良く、簡
易に温度計測を行なうことのできる赤外線温度計に関す
る。
【0002】
【従来の技術】従来、測温対象の温度を非接触に検出す
るものとして、赤外線温度計が開発されている。当該赤
外線温度計は、物体がその絶対温度に応じて放出する輻
射エネルギーをレンズ等の光学系で集光して赤外線検出
素子に受け、電気信号に変換して測温対象の温度を検出
している。赤外線検出素子は大きく量子型と熱型に大別
される。量子型は、半導体の光量子効果を利用したもの
で感度、応答性の点で優れているが、素子温度を使用し
ている半導体のキュリー温度以下に冷却する必要があ
り、メンテナンス、価格、ランニング・コスト等の点で
工業的には実用的でない。これに比べ、熱型は測定対象
と検出素子との間の輻射伝熱により生ずる検出素子のわ
ずかな温度変化を物理量変化に変換して赤外線を検出し
ている。したがって、熱型では冷却等は原理的に必要無
く、メンテナンス等の点で優れている。
【0003】熱型赤外線検出素子のうち、サーモパイル
は、図4、図5に示すように、測定対象が放射する赤外
線エネルギーを赤外線受感部に集光させ、熱吸収で生じ
た赤外線受感部とヒートシンクの働きをするSi基盤と
の間の温度差を熱電対により熱起電力として検出する赤
外線検出素子である。赤外線受感部の金黒は、Si基盤
を異方性エッチングして製造した薄い絶縁膜上に形成さ
れ、その周りを取り囲むように熱電材(InSbとT
e)を蒸着することで、温接点にあたる金黒と冷接点に
あたるSi基盤の間に熱電対を形成している。赤外線受
感部を膜構造とすることで、温接点の熱容量を小さくし
て応答速度を速め、かつ赤外線受感部(温接点)からS
i基盤(冷接点)への熱伝導を抑えて感度を向上させて
いる。 しかし、測温対象と検出素子間の輻射伝熱を利
用しているため、温度計として測定対象温度の絶対値を
求める場合、検出素子の温度を補償する必要がある。
【0004】これを原理的に式によって示すと以下のよ
うになる。測温対象と赤外線受感部間の輻射伝熱および
赤外線受感部(温接点の金黒)から冷接点のSi基盤へ
の熱伝導ロスを考慮し、熱的平衡状態に達した時の検出
素子の温度バランスは、ステファン・ボルツマンの法則
から次式で表される。ここで、赤外線温度計を構成する
レンズ系及び赤外線検出素子がほぼ等しい温度と仮定
し、サーモパイル内の気体との伝導および対流による熱
ロスは無視し、金黒のふく射率は1としている。 Q=σ・εW・κR・TW 4−σ・κR・Tf 4=k(Tf−TS
・・・(1)
【0005】ここで、 Q:入射赤外線エネルギ σ:ステファン・ボルツマン定数 εW:測定対象の輻射率 κR:実験的に求める輻射伝熱係数 TW:測定対象の絶対温度[K] Tf:赤外線検出素子の赤外線受感部の絶対温度[K] k:温接点と冷接点間の熱コンダクタンス サーモパイルの出力は温接点にあたる赤外線受感部と冷
接点にあたるSi基盤との温度差から生ずる熱起電力で
次式で表される。 ES=α(Tf−TS) ・・・・ (2) ここで、ES:赤外線検出素子の出力 α:サーモパイルを構成する熱電材のゼーベック係数
f:赤外線検出素子の赤外線受感部の絶対温度[K]
S:赤外線検出素子内の冷接点にあたるSi基盤の絶
対温度[K]=tS+273.15 ここで、tS:Si基盤温
度[℃]式(1),(2)より、測温対象温度は、次式
で表される。
【0006】
【数1】
【0007】したがって、測温対象の温度の絶対値を求
めるためには、赤外線検出素子の温度Tfを補償する必
要がある。このため、検出素子近くに、サーミスタや白
金抵抗体を設置したり、検出素子のパッケージ内のSi
基盤近くに、基盤温度を測定し補償を行うための冷接点
温度補償用ダイオードを設けたりしている。環境温度が
変化する条件で赤外線温度計を使用する場合、環境温度
の変化に伴い赤外線温度計の温度も変化し、赤外線検出
素子内の冷接点にあたる基盤の温度も変化するため赤外
線検出素子出力は変化する。この環境温度変化に伴う冷
接点温度のドリフトの影響については、冷接点に直列に
つないだニッケル抵抗と定電流供給装置から成る温度補
償回路により、冷接点温度の変化に伴う出力変動を補う
赤外線温度計(特開昭55-37917)や冷接点部にペルチエ
効果を利用した熱電素子を接合し、冷接点近傍に設けた
温度補償用ダイオードの出力信号により熱電素子の冷却
面温度を任意の温度に制御する非接触式温度検出装置
(特開昭60-133329号)がある。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来の赤外線温度計
(特開昭55-37917号)は、環境温度の変化に伴う、赤外
線検出素子(サーモパイル)の冷接点温度の変化により
発生する出力変動を、冷接点に直列につないだニッケル
抵抗体と定電流供給装置から成る温度補償回路で補正し
ている。これは、ニッケル抵抗体の温度による抵抗変化
分を定電流供給装置により電圧変化に変え、出力補正を
行うもので、冷接点温度の変化の速度としては、0.2
℃/分程度のゆっくりとした温度変化しか補正出来な
い。また、この程度のゆっくりした温度変化ならば、環
境温度と測温対象温度の設定を変えて、環境温度と赤外
線温度計(赤外線検出素子)の温度変化が等しくなった
状態、いわゆる定常状態での検定から式(3)の実験定
数を求め、赤外線検出素子の温度を測定して式(3)を
使用することで十分赤外線検出素子温度は補償すること
ができる。
【0009】しかし、急激に温度が変化する(検出素子
温度変化率:2℃/分)場合、通常の赤外線検出素子の
温度を測定する補正では解決できない誤差を生ずる。図
6は、温度補償用検出素子(Si)基盤近くに設けた冷
接点温度補償用ダイオード)により赤外線検出素子温度
を測定し、冷接点温度補償を行う赤外線温度計と測温対
象の均熱板を恒温槽内に入れ、均熱板温度をほぼ35℃
一定にして、恒温槽内の環境温度を60℃から25℃ま
で約25分で変えた時の赤外線温度計出力を表してい
る。赤外線温度計の出力は、検出素子温度の急変により
大きく測温対象温度からズレ、赤外線検出素子温度が環
境温度と等しくなると再び測温対象温度に一致してお
り、赤外線検出素子温度の急変する場合には、単純な定
常状態で行った検定による冷接点温度の補償では誤差を
生じ、補償しきれないことがわかる。したがって、従来
の温度補償方法では、赤外線検出素子の温度が環境温度
と等しくなってから使用する(事実上、環境温度の変化
する条件では使用できない)か、外線検出素子温度が急
変しないよう、断熱材や真空断熱構造のような複雑な断
熱機構を使用して断熱する必要があり、赤外線温度計を
簡素化し小型化することが出来ない欠点があった。
【0010】また、ペルチエ効果を利用した熱電素子と
冷接点近傍に設けた温度補償用ダイオードの出力信号に
より熱電素子の冷却面温度を任意の温度に制御する非接
触式温度検出装置(特開昭60-133329号)では、熱電素
子により冷接点温度を制御することで、冷接点と温接点
の温度差を取り温度検出能力を増大するとしているが、
この温度計の構成では、熱電素子の放熱側に当たる冷却
フィンが温度計ハウジング(パッケージも兼ねている)
の一部を構成し、パッケージに熱が伝わる構造になって
いる。
【0011】赤外線は、絶対零度でない限り全ての物体
からその絶対温度に応じて放射されている。サーモパイ
ルの温接点と冷接点の温度差は、わずかなため冷接点と
サーモパイルのパッケージおよび光学系の温度が等しい
場合、パッケージや光学系からの赤外線は相殺されて、
ほとんど影響されない。しかし、パッケージ温度とサー
モパイルの冷接点温度に差があるとハウジング(パッケ
ージ)内面から放射される赤外線の影響を受けることに
なる。常温付近の比較的温度の低い対象物の温度を計測
する場合、この影響は無視できなくなる。したがって、
実際に温度計として使用するには、パッケージおよび光
学系(鏡筒)を含めサーモパイルと輻射伝熱を行う温度
計の構成部が同じ温度になるよう熱電素子で制御する必
要がある。環境温度の急変する負荷の大きな所で使用す
る場合、この方法では熱電素子を有効に作用させるた
め、放熱を十分行う必要性があり、自然対流による放熱
からファン等による強制対流や水冷による放熱に切り替
えることになり、装置自体が大がかりになり実用的でな
い。また、このような制御方法でも目標温度に到達する
までに、赤外線検出素子に急激な温度変化を起こした場
合には、やはり従来の温度補償では誤差を生じ、補償し
きれないという実用上解決すべき欠点があった。
【0012】
【発明の目的】本発明は、前記従来技術の問題点を解消
するもので、環境温度が大きくかつ急激に変化する条件
下でも、常温近辺の測定対象の温度を精度良く測定で
き、かつ取扱が容易でメンテナンスを必要としない赤外
線温度計を提供することを目的とする。
【0013】
【問題解決のための着眼点】環境温度が急変する時、赤
外線検出素子を使った温度計で計測精度が上がらない
(事実上計測出来ない)理由は、検出素子自身の温度
が急変するため、熱型赤外線検出素子内部の温度バラン
スが崩れることから出力値の変動をきたすため、定常時
に得た検定結果に基づく温度補償で対応できない事、
環境温度急変により光学系を構成する鏡筒と検出素子の
間に温度差が発生し、鏡筒自身から射出される赤外線を
検出素子が感知してしまう事が主要因である。につい
ては構造上、光学系を構成する鏡筒と赤外線検出素子温
度が等しくなる構造とすることで対応できる。本発明
は、に関する対策として、赤外線検出素子温度が急変
する過渡変動時に発生する出力変動量が赤外線検出素子
の温度変化率(単位時間当たりの温度変化量)に比例す
ることに着目し、赤外線検出素子の温度を測定する温度
補償用検出素子の出力から求めた赤外線検出素子の温度
変化率により、赤外線検出素子の出力に出力補正を行う
ことで温度が急変する過渡変動時に発生する出力変動の
影響を排除し、定常温度で行った検定から求めた温度計
の特性式と温度補償用検出素子出力により温度補償を可
能にした点が着眼点である。
【0014】赤外線温度計は、物体がその絶対温度に応
じて放出する輻射エネルギーをレンズ等の光学系で集光
して赤外線検出素子に受け、電気信号に変換して測温対
象の温度を検出している。赤外線検出素子のうち、熱型
は測定対象と検出素子との間の輻射伝熱により生ずる検
出素子のわずかな温度変化を物理量変化に変換して赤外
線を検出している。このうち、サーモパイルは、測定対
象が放射する赤外線エネルギーを赤外線受感部に集光さ
せ、熱吸収で生じた受感部とヒートシンクの働きをする
Si基盤との間の温度差を熱電対により熱起電力として
検出する赤外線検出検出素子である。赤外線受感部の金
黒は、Si基盤を異方性エッチングして造った薄い絶縁
膜上に形成され、その周りを取り囲むように熱電材(I
nSbとTe)を蒸着することで、温接点にあたる金黒と
冷接点にあたるSi基盤の間に熱電対を形成している。
赤外線受感部を膜構造とすることで、温接点の熱容量を
小さくして応答速度を速め、かつ赤外線受部(温接点)
からSi基盤(冷接点)への熱伝導を抑えて感度を向上
させている。したがって、冷却等は原理的に必要無く、
メンテナンス等の点で優れている。しかし、測温対象と
検出素子間の輻射伝熱を利用しているため、温度計とし
て測定対象温度の絶対値を求める場合には検出素子の温
度を補償する必要がある。
【0015】これを原理的に式によって示すと以下のよ
うになる。測温対象と赤外線受感部間の輻射伝熱および
受感部( 温接点の金黒)から冷接点のSi基盤への熱
伝導ロスを考慮し、熱的平衡状態に達した時の検出素子
の温度バランスは、ステファン・ボルツマンの法則から
次式で表される。ここで、赤外線温度計を構成するレン
ズ系および赤外線検出素子( サーモパイル)がほぼ等
しい温度と仮定し、サーモパイル内の気体との伝導およ
び対流による熱ロスは無視し、金黒の輻射は1として求
ている。 Q=σ・εW・κR・TW 4−σ・κR・Tf 4=k(Tf−TS
・・・(1) ここで、 Q:入射赤外線エネルギ σ:ステファン・ボルツマン定数 εW:測定対象の輻射率 κR:実験的に求める輻射伝熱係数 TW:測定対象の絶対温度[K] Tf:サーモパイルの赤外線受感部の絶対温度[K] k:温接点と冷接点間の熱コンダクタンス サーモパイルの出力は温接点にあたる赤外線受感部と冷
接点にあたるSi基盤との温度差から生ずる熱起電力の
ため次式で表される。 ES=α(Tf−TS) ・・・・(2) ここで、ES:赤外線検出素子の出力 α:サーモパイルを構成する熱電材のゼーベック係数 Tf:サーモパイルの赤外線受感部の絶対温度[K] TS:サーモパイル内の冷接点にあたるSi基盤の絶対温
度[K]=tS+273.15 ここで、tS:Si基盤温度
[℃] 式(1),(2)より、測温対象温度は、次式で表され
る。
【0016】
【数2】
【0017】したがって、測温対象の温度の絶対値を求
めるためには、サーモパイルの温度Tsを補償する必要
がある。このため、検出素子近くに、サーミスタや白金
抵抗体を設置したり、サーモパイルのパッケージ内のS
i基盤近くに、基盤温度を測定し補償を行うための冷接
点温度補償用ダイオードを設けたりして、サーモパイル
の温度を補償している。環境温度しいてはサーモパイル
自身の温度が急変する場合、サーモパイル内の熱移動は
パッケージを伝わってSi基盤から赤外線受感部へと進
み、温度変化は通常の逆、即ちSi基盤温度が変化した
後、受感部温度が変わる。サーモパイルは、赤外線受感
部を膜構造とすることで、赤外線受感部(温接点)から
Si基盤(冷接点)への熱伝導を抑えて感度を向上させ
ている。このため、赤外線受感部とSi基盤の間の熱抵
抗が大きいため、基盤温度が急変した場合、定常状態で
達成される温度バランスに達するのに時間を要し、図7
に示すようなサーモパイル内部温度のレベル変化を起こ
す。一方、温度計の検定は定常状態で行っており、この
温度バランスのズレに相当する温度差が、サーモパイル
温度を急変させた時、生ずる出力誤差として現れるので
ある。
【0018】サーモパイル温度が急変する時に発生する
出力変動誤差は、赤外線受熱部とSi基盤との間の過渡
温度変化時の温度バランスのズレに相当する温度差であ
る。この温度バランスのズレは、サーモパイル温度の変
化速度に大きく依存する。図8は、環境試験データ(環
境温度変化:Tair=60℃→25℃/15分,25℃
→60℃/15分)を基に、赤外線検出素子(サーモパ
イル)温度の変化率とサーモパイルの出力誤差△Es
の関係を調べた結果である。図8の横軸は温度補償用検
出素子(ダイオード)の信号Edから求めたサーモパイ
ル温度の変化率 △Ts/△τ、縦軸はサーモパイル出力
の誤差△Esである。サーモパイルの出力誤差△Esは、
定常時の検定により求めた特性式 Tw=f(Es,Ed
の逆関数 Es=g(Tw,Ed)と環境試験データ(測温
対象温度Twとダイオード信号Edの実測値)を基に算出
した準定常時にサーモパイルが出力すると推定される出
力Es.calと環境試験で測定したサーモパイル出力Es
の差である。温度変化率で整理した出力誤差△Esは、
ほぼ一本の直線上に集まり強い相関を示し、サーモパイ
ルの温度変化率に比例した出力誤差を生ずる。したがっ
て、あらかじめ定常時の検定により特性式(式(3)の
係数)を求め、次に、温度計の遭遇する最も急激な温度
変化を想定した環境試験からサーモパイル温度の変化率
と出力誤差△Esとの関係を調べておけば、温度変化率
△Ts/△τからサーモパイル出力の誤差△Esを推定
し、サーモパイルの出力を補正することで、サーモパイ
ル温度の過渡変化時の誤差を排除でき、定常時の検定に
より求めた特性式で、赤外線検出素子(サーモパイル)
の温度補償が可能になる。
【0019】図9,図10,図11は、環境温度を60
℃→25℃に変える環境温度試験において、環境温度
(恒温槽内温度)の変化時間を15,40,60minに
変えて、従来の定常時の検定により求めた特性式のみで
データ処理した場合とサーモパイルの温度変化率による
出力補正を行った後、検定により求めた特性式で処理し
た場合について測温誤差を比較した結果である。従来の
データ処理方法では、環境温度の変化時間が短いほどサ
ーモパイル温度の変化が激しくなり、測温誤差が大きく
なっている。サーモパイルの温度変化率による出力補正
を行った処理では、環境温度の変化速度に関わらず、測
温誤差を約±0.5℃以下に低減でき、赤外線検出素子
(サーモパイル)温度変化率による補正の有効なことを
実証している。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明の赤外線温度計
は、測温対象物の絶対温度に応じて放出する輻射エネル
ギーを光学系で集光し電気信号に変換して測温対象の温
度を検出する赤外線検出素子と、該赤外線検出素子の温
度を測定し当該温度を補償する温度補償用検出素子と、
当該温度補償用検出素子の出力から求めた赤外線検出素
子の温度変化率(単位時間あたりの温度変化量)を基に
赤外線検出素子温度が過渡変化のする時生ずる赤外線検
出素子の出力誤差を補正し、出力補正後の赤外線検出素
子出力と温度補償用検出素子の出力により検出素子温度
の補償を行って、測温対象物温度を求める演算処理回路
とからなる構成である。
【0021】
【発明の作用・効果】上記構成からなる本発明の赤外線
温度計は、環境温度が急変し、赤外線温度計ならびに赤
外線検出素子(サーモパイル)の温度もこれにつれて急
変する場合、発生する赤外線検出素子の出力変動誤差
が、赤外線検出素子自身の温度が急変することで、赤外
線検出素子内部の温度バランスが崩れることが原因であ
ることがわかった。即ち、環境温度が急変し当該赤外線
検出素子自身の温度が急変する場合、赤外線検出素子内
の熱移動は検出素子パッケージを伝わってSi基盤から
赤外線受感部へと進み、温度変化は通常の逆、即ちSi
基盤温度が変化した後、受感部温度が変わる。サーモパ
イルは、赤外線受感部を膜構造とすることで、赤外線受
感部(温接点)からSi基盤(冷接点)への熱伝導を抑
えて感度を向上させている。このため、赤外線受感部と
Si基盤の間の熱抵抗が大きいため、基盤温度が急変し
た場合、定常状態で達成される温度バランスに達するの
に時間を要し、図7に示すような赤外線検出素子内部温
度のレベル変化を起こす。一方、温度計の検定は定常状
態で行っており、この温度バランスのズレに相当する温
度差が、赤外線検出素子温度を急変させた時生ずる出力
誤差として現れるのである。
【0022】この赤外線検出素子内部の温度バランスの
崩れは、赤外線検出素子がどれほど急激に温度変化した
かに依存する。図8は、環境試験データ(環境温度変
化:Tair=60℃→25℃/15分,25℃→60℃
/15分)を基に、赤外線検出素子温度の変化率と赤外
線検出素子の出力誤差△Esとの関係を調べた結果であ
る。図8の横軸は温度補償用検出素子(ダイオード)の
信号Edから求めた赤外線検出素子温度の変化率(単位
時間あたりの温度変化量)△Ts/△τ、縦軸は赤外線
検出素子出力の誤差△Esである。赤外線検出素子の出
力誤差△Esは、定常時の検定により求めた特性式Tw
f(Es,Ed)の逆関数Es=g(Tw,Ed)と環境試験
データ(測温対象温度Twとダイオード信号Edの実測
値)を基に算出した準定常時に赤外線検出素子が出力す
ると推定される赤外線検出素子出力Es.calと環境試験
で測定した赤外線検出素子出力Esとの差である。温度
変化率で整理した赤外線検出素子の出力誤差△Esは、
ほぼ一本の直線上に集まり強い相関を示し、赤外線検出
素子の温度変化率に比例した出力誤差を生ずる。
【0023】そこで、あらかじめ環境温度と測温対象温
度の設定を変えて、環境温度と赤外線温度計(赤外線検
出素子)の温度が等しくなった定常状態で行った検定に
より温度補償のための特性式(式(3)の係数)を求
め、次に、温度計の遭遇する最も急激な温度変化を想定
した環境試験から赤外線検出素子温度の変化率と赤外線
検出素子の出力誤差△Esとの関係を調べておき、温度
補償用検出素子の出力から求めた温度変化率△Ts/△
τから赤外線検出素子出力の誤差△Esを推定し、赤外
線検出素子出力を補正することで、赤外線検出素子温度
の過渡変化時の誤差を排除でき、定常時の検定により求
めた特性式と温度補償用検出素子の出力により赤外線検
出素子の温度補償が可能になる。これにより、これまで
不可能だった環境温度の変化する条件で、室温近くの低
温物体の温度を精度良く計測できる赤外線温度計を提供
できる。また、赤外線検出素子の温度変化をそれほど緩
やかに抑える必要が無くなったため、従来のような大き
な断熱層や複雑な断熱機構が必要なくなり、赤外線温度
計の簡素化および小型化を行うことができ、安価な赤外
線温度計を提供できる。
【0024】
【実施例】以下に、本発明における赤外線温度計の代表
的な実施例を図面に基づき説明する。本実施例は、図1
乃至図5、図12に示すように、赤外線温度計を車両乗
員の顔皮膚温測定に供し、この車両乗員の顔皮膚温によ
り車室内温度を制御する車両用空調装置に適用したもの
である。赤外線温度計の検出部100は、ルームミラー
101あるいはダッシュボード部102に取り付けら
れ、常に乗員の顔中央付近を測定視野として測温してい
る。図1は赤外線温度計の検出部100の断面図で、図
2は測温対象温度を算出する演算処理回路200のブロ
ック図である。検出部100は、赤外線を検出して電気
的な信号を出力する赤外線検出素子(サーモパイル)1
と当該赤外線検出素子1の温度を測定するための温度補
償用検出素子2と温度計の測定視野を絞り、かつ赤外線
を集光するための赤外線透過レンズ3と赤外線検出素子
1の出力信号を増幅するプリアンプ4とこれらを保持す
るセンサホルダ5とレンズ3の前方に赤外線透過窓6を
有したケース7から構成され、演算処理回路200はプ
リアンプ回路4で増幅された赤外線検出素子1の信号と
温度補償用検出素子2の信号をデジタル信号に変換する
A/D変換器8と得られたデジタル信号から測温対象温
度を算出する中央演算装置9とメモリー10および測温
結果を空調装置に送るインターフェース11から構成さ
れている。
【0025】赤外線検出素子1の温度を補償するための
温度補償用検出素子2は、赤外線検出素子1の温度を精
度良く測定するため、センサホルダ5内の赤外線検出素
子1近くに、サーミスタや白金抵抗体を設置したり、赤
外線検出素子1のパッケージ内に、温度補償用ダイオー
ドを設けたりしている。測温対象(乗員の顔)から射出
された赤外線は、レンズ3で集光され赤外線検出素子1
によって電気信号に変換される。この信号は、プリアン
プ回路4で増幅され、赤外線検出素子1の温度を測定す
る温度補償用検出素子2の出力信号と共に処理回路20
0に送られる。 処理回路200では、A/D変換器8
により入力信号をデジタル信号に変換後、中央演算装置
9により演算処理する。演算処理は図3に示すフローチ
ャートに従い以下の順序で行われる。
【0026】温度補償用検出素子2の出力信号を基に
赤外線検出素子1の温度TSを算出し、メモリー10に
記憶してある過去(時刻△τ前)の赤外線検出素子1の
温度TS(τ−△τ)Soldと共に赤外線検出素子1の温
度変化率△TS/△τ=TS(τ)−TS (τ−△τ)
/△τを算出する。 あらかじめ、調べてあった赤外線検出素子1が温度変
化する時発生する出力変動誤差△ESと赤外線検出素子
1の温度変化率△TS/△τの関係を基に、赤外線検出
素子1の温度変化率△TS/△τから出力変動誤差△ES
を推定する。 赤外線検出素子1の出力信号ESから推定した出力変
動誤差△ESを差し引き、過渡温度変化時に発生する誤
差を排除する。 赤外線検出素子1の温度を補償するため、環境温度一
定の定常時の検定により求めた特性式を用い、赤外線検
出素子1の温度TSと補正された赤外線検出素子1の出
力(ES−△ES)から測温対象の温度TWを算出する。 最後に、次の時刻△τ後のデータ処理に使用するた
め、今回使用した過去の赤外線検出素子1の温度T
S(τ−△τ)の代わりに現時刻の赤外線検出素子1の
温度TS(τ)をメモリー10上で記憶しておく。 以上の演算処理により得られた測温対象温度(乗員顔皮
膚温)TWは、各種インターフェース11(D/A変換
器もしくはデジタルI/O)を介して車両用空調装置の
コントローラに送られ乗員顔皮膚温に応じて、車室内温
度を制御している。
【0027】これにより、これまで不可能だった車両環
境のような環境温度の急激に変化する条件で、室温近く
の低温物体の温度(乗員の顔皮膚温)を精度良く計測す
ることができる。また、赤外線検出素子1の温度変化を
それほど緩やかに抑える必要が無いため、従来のような
大きな断熱層や複雑な断熱機構が必要なくなり、赤外線
温度計の簡素化および小型化を行うことができ、安価な
赤外線温度計を提供できる。測温対象温度を算出する演
算処理に使用した特性式は、環境温度と測温対象温度の
設定を変え、環境温度と赤外線温度計の温度が等しくな
った定常時に行った検定により求める。また、赤外線検
出素子1が温度変化する時生ずる出力変動誤差△ES
赤外線検出素子1の温度変化率△TS/△τの関係は、
温度計の遭遇する最も急激な温度変化を想定した環境試
験により、急激に温度変化している時の赤外線検出素子
1の出力信号ESと温度補償用検出素子2の出力信号Ed
および測温対象に付けた熱電対の出力信号を同時に測定
し、特性式の逆算により、温度補償用検出素子2の出力
信号と測温対象に付けた熱電対の出力信号即ち測温対象
の実測温度TWから赤外線検出素子1の温度が一定の定
常時に赤外線検出素子1が出力すると推定される出力信
号ES.calを求め、出力変動誤差△ES=ES.cal-ESを算
出する。
【0028】赤外線検出素子1は、図1、図4、図5の
赤外線受感部がレンズ3の光軸上の焦点位置に位置する
ようにセンサホルダ5によって保持されている。レンズ
3の焦点距離fは、温度計から測温対象(乗員の顔)ま
での距離Lと必要とする測定視野Dおよび赤外線受感部
寸法dSを基に、D/L=dS/fの距離係数の関係から
決定する。赤外線透過レンズ3およびケース7に付けた
赤外線透過窓6の材質 、測定対象の放射する赤外線の
波長帯から決定され、本発明では乗員顔皮膚温を計測す
るため8〜11μmの赤外線を透過するBa2,C
a2,Si,Ge材のいずれかを使用する。Si,Ge材を
使用する場合、反射損失を低減するためレンズ表面に反
射防止コーティングを行う。 また、測定対象に当たっ
た太陽光の乱反射を温度計が感知しなようにするため、
レンズ3、赤外線検出素子1の透過窓あるいはケース先
端に設けた赤外線透過窓6のいずれかに6μm以上の長
波長赤外線のみを通す長波長透過フィルタ(ロングパス
フィルタ)を使用する。レンズ3で集光された赤外線を
赤外線検出素子1まで導く途中のセンサホルダ5の内面
5−1には、高輻射率の塗料が塗布されている。これに
より測定視野以外からレンズ3を通って入射した赤外線
を吸収し、赤外線検出素子1に到達することを防ぎ、射
出絞りの働きをしている。レンズ3と赤外線検出素子1
を保持するセンサホルダ5は、熱伝導率の高い材料(ア
ルミあるいは銅製)で作製してなり、赤外線検出素子1
のパッケージとセンサホルダの間には熱伝導性の高い充
填材(ドータイト)が詰められている。これにより、環
境温度の変化に伴い赤外線温度計の温度が変化する場
合、センサホルダ5と赤外線検出素子1およびレンズ3
の温度が等しく変化し、温度差が生じないため光学系
(レンズ3やセンサホルダ内面5−1)から射出される
赤外線の影響を受けず、誤差を低減できる。
【0029】赤外線検出素子1の出力信号を増幅するプ
リアンプ回路4には、温度変化に伴うプリアンプ自身の
ドリフト変動の影響を小さくするため、チョッパアンプ
のような低ドリフトタイプのアンプを使用する。センサ
ホルダ5およびプリアンプ回路4は、熱伝導率の小さな
材料(本実施例では、加工性に優れ、熱伝導率の小さな
ポリアセタール系樹脂[熱伝導率λ=0.2kcal/mh℃]
を使用)を使用したケース7内に一体収納してある。ま
たケース7の先端には透過窓6は、外気がレンズ3に当
たることを防ぎ、レンズ3しいてはセンサホルダ5が局
部的に冷却あるいは加熱され温度分布を生ずることを防
止している。これにより、環境温度が急変し大きな熱負
荷が加えられてもセンサホルダ5およびプリアンプ回路
4の温度差を小さくでき、赤外線検出素子1とセンサホ
ルダ5の温度差を減少させると共に、プリアンプ回路4
の温度ドリフトも小さく抑えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る赤外線温度計の検出部を
示す断面図。
【図2】本発明の実施例に係る赤外線温度計の演算処理
回路を示す断面図。
【図3】本発明の実施例に係る赤外線温度計の演算処理
のフローチャートを示す線図。
【図4】本発明の実施例に係る赤外線検出素子を示す平
面図。
【図5】本発明の実施例に係る赤外線検出素子を示す断
面図。
【図6】従来の温度補償例に係る温度計の出力を示す線
図。
【図7】温度変化する時の検出素子内部の温度レベル変
化を示す平面図。
【図8】本発明の実施例に係る赤外線温度計の温度変化
率と出と出力誤差の関係示す線図。
【図9】従来の温度補償と温度変化率補正との誤差の比
較を示す線図。
【図10】従来の温度補償と温度変化率補正との誤差の
比較を示す線図。
【図11】従来の温度補償と温度変化率補正との誤差の
比較を示す線図。
【図12】本発明の実施例に係る赤外線温度計の適用例
を示す平面図。
【符号の説明】
1・・・赤外線温度計、2・・・温度補償用検出素子、
3・・・レンズ、4・・・プリアンプ回路、5・・・セ
ンサホルダ、6・・・赤外線透過窓、7・・・ケース

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測温対象物の絶対温度に応じて放出する
    輻射エネルギーを光学系で集光し電気信号に変換して測
    温対象の温度を検出する赤外線検出素子と、該赤外線検
    出素子の温度を測定し当該温度を補償する温度補償用検
    出素子と、当該温度補償用検出素子の出力から求めた赤
    外線検出素子の温度変化率(単位時間あたりの温度変化
    量)を基に赤外線検出素子温度が過渡変化時に生ずる赤
    外線検出素子の出力誤差を補正し、出力補正後の赤外線
    検出素子出力と温度補償用検出素子の出力により前記赤
    外線検出素子における温度の補償を行って測温対象物温
    度を求める演算処理回路とから成ることを特徴とする赤
    外線温度計。
JP4245557A 1992-08-20 1992-08-20 赤外線温度計 Pending JPH0666639A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245557A JPH0666639A (ja) 1992-08-20 1992-08-20 赤外線温度計

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4245557A JPH0666639A (ja) 1992-08-20 1992-08-20 赤外線温度計

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0666639A true JPH0666639A (ja) 1994-03-11

Family

ID=17135480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4245557A Pending JPH0666639A (ja) 1992-08-20 1992-08-20 赤外線温度計

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0666639A (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2002029332A1 (en) * 2000-10-04 2002-04-11 Sharp Kabushiki Kaisha Air conditioner and temperature detector
US6386757B1 (en) 1997-07-16 2002-05-14 Terumo Kabushiki Kaisha Ear type clinical thermometer
JP2003070750A (ja) * 2001-08-31 2003-03-11 Advanced Medical Kk 耳式体温計の温度補正装置
JP2006259744A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Toshiba Corp 定着装置、加熱装置制御方法および非接触温度検出装置
JP2007101513A (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Seiko Npc Corp 赤外線センサ
JP2007198745A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Seiko Npc Corp 温度検出装置及び温度検出方法
KR101221403B1 (ko) * 2011-04-26 2013-01-11 주식회사 가스디엔에이 비접촉식 적외선 온도 측정장치
JP2015519542A (ja) * 2012-03-22 2015-07-09 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 熱センサ補正
JP2015190833A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 セイコーエプソン株式会社 回路装置、温度検出装置、電子機器及び温度検出方法
JP2015215177A (ja) * 2014-05-08 2015-12-03 セイコーエプソン株式会社 回路装置、温度検出装置、電子機器及び温度検出方法
JP2017198912A (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 温度検出装置、画像形成装置、温度検出方法
US10674897B2 (en) 2015-05-12 2020-06-09 270 Surgical Ltd. Dynamic field of view endoscope

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6386757B1 (en) 1997-07-16 2002-05-14 Terumo Kabushiki Kaisha Ear type clinical thermometer
WO2002029332A1 (en) * 2000-10-04 2002-04-11 Sharp Kabushiki Kaisha Air conditioner and temperature detector
JP2003070750A (ja) * 2001-08-31 2003-03-11 Advanced Medical Kk 耳式体温計の温度補正装置
JP2006259744A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Toshiba Corp 定着装置、加熱装置制御方法および非接触温度検出装置
JP2007101513A (ja) * 2005-10-07 2007-04-19 Seiko Npc Corp 赤外線センサ
JP2007198745A (ja) * 2006-01-23 2007-08-09 Seiko Npc Corp 温度検出装置及び温度検出方法
KR101221403B1 (ko) * 2011-04-26 2013-01-11 주식회사 가스디엔에이 비접촉식 적외선 온도 측정장치
JP2015519542A (ja) * 2012-03-22 2015-07-09 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 熱センサ補正
JP2015190833A (ja) * 2014-03-28 2015-11-02 セイコーエプソン株式会社 回路装置、温度検出装置、電子機器及び温度検出方法
JP2015215177A (ja) * 2014-05-08 2015-12-03 セイコーエプソン株式会社 回路装置、温度検出装置、電子機器及び温度検出方法
US10674897B2 (en) 2015-05-12 2020-06-09 270 Surgical Ltd. Dynamic field of view endoscope
US11490795B2 (en) 2015-05-12 2022-11-08 270 Surgical Ltd. Dynamic field of view endoscope
JP2017198912A (ja) * 2016-04-28 2017-11-02 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 温度検出装置、画像形成装置、温度検出方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5178464A (en) Balance infrared thermometer and method for measuring temperature
EP0391128B1 (en) Infrared thermometry system and method
JP2826337B2 (ja) 放射体温計
US6751497B2 (en) Infrared thermometer
JP2704672B2 (ja) キャリブレーションマッピングを利用した赤外線体温計
KR100205384B1 (ko) 적외선 센서 및 그의 온도 보상방법
WO1999015866A1 (fr) Thermometre de mesure du rayonnement et procede de reglage
JP2008145133A (ja) 放射温度計
JPH0666639A (ja) 赤外線温度計
US6637931B2 (en) Probe for use in an infrared thermometer
TW200936996A (en) Temperature sensing module
JP2828258B2 (ja) 放射体温計
US6437331B1 (en) Bolometer type infrared sensor with material having hysterisis
JP2003294526A (ja) レーザパワー検出装置
JP3099470B2 (ja) 遠心分離機用非接触式温度計測システム
JPH03273121A (ja) 放射体温計
JPH04299225A (ja) 体温計
JPH03202733A (ja) 赤外線温度計
JP3176798B2 (ja) 輻射熱センサ
JP2813331B2 (ja) 放射温度計
JPH09126896A (ja) サーモパイルの温度補償方法
JP2008026179A (ja) 輻射熱センサーと輻射熱の測定方法
JP3338456B2 (ja) 放射温度計及び放射温度計の温度測定方法
JPS60107117A (ja) 恒温装置
JP3175775B2 (ja) 放射温度計の温度測定方法及び放射温度計