JP2008145133A - 放射温度計 - Google Patents
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Abstract
【課題】 環境温度等の変化によるドリフトや長期使用に伴う感度の劣化、光学系の汚れが生じたとしても、測温用赤外線検出器の出力値を高精度に校正して所定の温度分布の計測精度を著しく向上できる放射温度計を提供する。
【解決手段】 測定対象物が放射する赤外線を受光し、その受光赤外線の温度に応じて抵抗値又は電圧値が変化するサーミスタボロメータ型赤外線検出素子31からなる測温用赤外線検出器3の視野を断続的に遮断・開放するシャッター5の移動経路上に、自己発熱がなく、かつ、シャッター5が放射する赤外線を直接に受光し、その受光赤外線の温度から該シャッター5の表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器6を設け、この補償用赤外線検出器6の計測出力値により測温用赤外線検出器3の出力値を校正するように構成している。
【選択図】 図2
【解決手段】 測定対象物が放射する赤外線を受光し、その受光赤外線の温度に応じて抵抗値又は電圧値が変化するサーミスタボロメータ型赤外線検出素子31からなる測温用赤外線検出器3の視野を断続的に遮断・開放するシャッター5の移動経路上に、自己発熱がなく、かつ、シャッター5が放射する赤外線を直接に受光し、その受光赤外線の温度から該シャッター5の表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器6を設け、この補償用赤外線検出器6の計測出力値により測温用赤外線検出器3の出力値を校正するように構成している。
【選択図】 図2
Description
本発明は、例えばサーミスタボロメータ等のように、熱を持った測定対象物から放射される赤外線を受光して、そのエネルギー量に応じて抵抗値又は電圧値が変化する複数の赤外線素子からなる測温用赤外線検出器を用いて、測定対象物のイメージを撮像するとともに、その測定対象物の温度分布を計測するように構成されている放射温度計に関する。
この種の放射温度計においては、電源スイッチの投入直後などに測温用赤外線検出器が過渡的に自己発熱して温度上昇したり、あるいは、環境温度の変化によって前記測温用赤外線検出器が温度変動したりすることがある。このような測温用赤外線検出器自体の発熱に伴う温度上昇や環境温度の変化に伴う温度変動によって動作が不安定となり、出力値がドリフトして計測誤差を発生しやすい。また、長期使用に伴う感度劣化や光学系の汚れなども加わって、測定対象物の温度及び温度分布を正確に計測することができないという問題がある。
このような問題を解決する手段として、従来、測温用赤外線検出器の視野を断続的(周期的または非周期的)にシャッターにより遮断し、このシャッターの表面温度を観測するとともに、シャッターの近傍位置にサーミスタや白金などの周囲(環境)温度を測定する測温体を配置し、この測温体により測定された環境温度を前記シャッターの表面温度に代用して前記測温用赤外線検出器の出力値を校正する手段を採用した放射温度計(赤外線カメラ)が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
しかし、上記した従来提案の放射温度計では、シャッターと測温体との間に空気層が存在し、また、両者間に別の発熱体が存在する可能性もあって、シャッターの表面温度と該シャッター近傍の測温体の温度とに差があり、測温体の測定温度がシャッターの表面温度を必ずしも正確かつ厳密に反映したものでないために、測温用赤外線検出器の出力値を放射温度計として要求される精度にまで校正することができず、その結果、測定対象物に対する温度及び温度分布の計測精度を十分に上げることができないという問題があった。また、校正する温度が環境温度に近い常温付近に限定されるために、例えば測定対象物の温度が常温に対して高低差を有するものでは、校正精度、ひいては所定の計測精度が一層低下することは避けられないという問題もあった。
本発明は上述の実情に鑑みてなされたもので、その目的は、環境温度等の変化によるドリフトや、長期使用に伴う感度の劣化、光学系の汚れが生じたとしても、測温用赤外線検出器の出力値を高精度に校正して所定の温度及び温度分布の計測精度を著しく向上することができる放射温度計を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明に係る放射温度計は、測定対象物が放射する赤外線を受光し、その受光赤外線の温度に応じて抵抗値又は電圧値が変化する複数個の赤外線検出素子からなる測温用赤外線検出器と、この測温用赤外線検出器の視野を断続的に遮断・開放すべく位置移動するシャッターとを備え、このシャッターにより視野を遮断した状態で前記測温用赤外線検出器の出力値を校正するように構成されている放射温度計であって、前記シャッターの位置移動経路上に、自己発熱がなく、かつ、前記シャッターが放射する赤外線を直接に受光し、そのエネルギー量から該シャッターの表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器を設け、この補償用赤外線検出器の計測出力値により前記測温用赤外線検出器の出力値を校正するように構成していることを特徴としている。
上記のような特徴構成を有する本発明によれば、自己発熱がない補償用赤外線検出器によりシャッターが放射する赤外線を直接に受光し、そのエネルギー量から該シャッターの表面温度を正確に計測することが可能であり、その正確に計測したシャッター表面温度を用いて、自己発熱や環境温度の変化によりドリフトが生じたり、長期使用に伴う感度劣化、光学系の汚れが生じていたりしている測温用赤外線検出器の出力値を校正することによって、当該測温用赤外線検出器に対して高精度な校正を行うことができ、これによって、放射温度計による測定対象物の温度及び温度分布の計測精度の著しい向上を達成することができるという効果を奏する。
本発明に係る放射温度計において、前記測温用赤外線検出器としては、量子型、熱型のいずれであってもよいが、熱型の場合、サーミスタボロメータから構成され、かつ、前記補償用赤外線検出器としては、環境温度の補償性能を有するサーモパイルから構成されているものが最も実用的である(請求項2)。
また、本発明に係る放射温度計において、前記シャッターとしては、赤外線透過がなく、表面の赤外線放射率が1または1に近くなるように黒化処理されているものを使用することが望ましい(請求項3)。この場合は、補償用赤外線検出器によるシャッターの表面温度を、環境温度などに一切左右されることなく、正確に計測することが可能で、校正精度、ひいては、温度及び温度分布の計測精度の一層の向上を図ることができる。
さらに、本発明に係る放射温度計において、前記シャッターの表面温度が、例えば前記補償用赤外線検出器の計測出力値に応じて制御可能に構成されている場合(請求項4)は、常温に限らず、例えば測定対象物の温度に近い温度域での校正も可能となり、多種多様な測定対象物に対する温度及び温度分布の計測精度をより一層高めることができる。
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
図1は本発明の実施の形態に係る放射温度計1の全体概略平面図、図2は要部の拡大縦断面図である。この放射温度計1は、測定対象物(被写体)2が放射する赤外線を受光して、その受光赤外線(入射赤外線)の温度に応じて抵抗値が変化する複数個の赤外線検出素子からなる測温用赤外線検出器3と、この測温用赤外線検出器3の視野を断続的に遮断・開放すべく図示省略のモータを介して支点軸4の周りに往復揺動運動(位置移動)可能に枢支されたシャッター5と、このシャッター5の揺動運動経路上に配置されてこのシャッター5が放射する赤外線を直接に受光し、その受光赤外線の温度から該シャッター5の表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器6とを備え、これら各部材を前記測温用赤外線検出器3に対応する箇所に赤外集光用レンズ7を固定保持したケース8内に収容して構成されている。
図1は本発明の実施の形態に係る放射温度計1の全体概略平面図、図2は要部の拡大縦断面図である。この放射温度計1は、測定対象物(被写体)2が放射する赤外線を受光して、その受光赤外線(入射赤外線)の温度に応じて抵抗値が変化する複数個の赤外線検出素子からなる測温用赤外線検出器3と、この測温用赤外線検出器3の視野を断続的に遮断・開放すべく図示省略のモータを介して支点軸4の周りに往復揺動運動(位置移動)可能に枢支されたシャッター5と、このシャッター5の揺動運動経路上に配置されてこのシャッター5が放射する赤外線を直接に受光し、その受光赤外線の温度から該シャッター5の表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器6とを備え、これら各部材を前記測温用赤外線検出器3に対応する箇所に赤外集光用レンズ7を固定保持したケース8内に収容して構成されている。
前記測温用赤外線検出器3は、図2に示しているように、測定対象物2から放射された赤外線hv1(図6,7参照)が透過する赤外線透過窓9を取り付けたキャップ10とステム11により形成されるパッケージ12内で前記赤外集光用レンズ7及び赤外線透過窓9に対峙する位置に、例えばシリコン基板等の基板(後述する)上にサーミスタボロメータ型赤外線検出素子31を配置して構成されている。
詳述すると、前記測温用赤外線検出器3は、図4に明示するように、例えばシリコン基板等の基板32上に配置された赤外線受光部31Aを、2本の支脚31a,31aを介して前記基板32との間に数μm程度の熱絶縁用空間31bが確保されるように前記基板32に対して中空に浮かせたブリッジ構造に構成されている。このようなブリッジ構造の赤外線受光部31Aが前記基板32上に、図3に示すように、複数個、例えば64×64個の二次元アレイ状に配置されており、前記赤外線透過窓9を通して入射される赤外線を受光し吸収することにより得られる微弱な熱を電圧の変化として出力し、その出力信号をボンディングワイヤ13及び前記ステム11に貫通して設けたピン状端子14を介して演算部15に入力して前記測定対象物2の温度を算出し、その算出温度を表示部25に出力するように構成されている。
一方、前記補償用赤外線検出器6は、図2に示しているように、前記シャッター5から放射された赤外線hv2(図7参照)のみが透過する赤外線透過窓16を取り付けたキャップ17とステム18により形成されるパッケージ19内で前記赤外集光用レンズ7には対峙しない位置で前記赤外線透過窓16に対峙する位置に、サーモパイルからなる赤外線検出素子61の受光部61Aを基板(後述する)上に絶縁支持させて構成されている。
詳述すると、前記補償用赤外線検出器6は、図5に明示するように、基板20上に絶縁膜21を介して支持された赤外線検出素子1の受光部61A直下の基板20の中央部分をエッチング等により除去して熱絶縁のために薄肉化されたダイヤアラム構造に構成されており、前記シャッター5から放射され前記赤外線透過窓16を通して入射される赤外線hv2(図7参照)を受光部61Aで受光し吸収することにより得られる微弱な熱を電圧の変化として出力し、その出力信号をボンディングワイヤ22及び前記ステム18に貫通して設けたピン状端子23を介して前記演算部15に入力して前記シャッター5の表面温度を算出するように構成されている。なお、基板20の厚み20aは、例えば300μmと十分に厚く、前記測温用赤外線検出器3における赤外線受光部31Aと基板32との間の絶縁用空間31bに比べて熱絶縁性が十分に高くなっている。
また、前記シャッター5は、赤外線の透過がなく、その表面の赤外線放射率が1または1に近くなるように、熱伝導率の高い金属類の表面を黒化処理して形成されており、前記支点軸4周りでの往復揺動運動によって、図1の点線で示すように、前記測温用赤外線検出器3の視野を開放し、かつ、補償用赤外線検出器6の視野を遮断する通常の計測動作状態と、図1の仮想線で示すように、前測温用赤外線検出器3の視野を遮断し、かつ、補償用赤外線検出器6の視野を開放する校正動作状態とに択一切替自在に構成されている。
上記のように構成された本実施の形態に係る放射温度計1において、通常は、図6に示すように、前記測温用赤外線検出器3の視野がシャッター5により開放されており、測定対象物2から放射された赤外線hv1が赤外集光用レンズ7、赤外線透過窓9を経て測温用赤外線検出器3におけるサーミスタボロメータ型赤外線検出素子31の赤外線受光部31Aに受光されて前記測定対象物2のイメージが撮像されるとともに、その受光赤外線の吸収により得られる微弱な熱を抵抗の変化として検出し、その出力信号が演算部15に入力されることで前記測定対象物2の温度を算出して測定対象物2の温度分布が計測され、その計測された温度分布が表示部25に表示される。
この通常の温度分布計測動作時においては、前記シャッター5が補償用赤外線検出器6の視野を遮断する状態にあり、この視野が遮断された補償用赤外線検出器6は、シャッター5から放射され前記赤外線透過窓16を通して入射される赤外線hv2を受光し吸収することにより得られる微弱な熱を電圧の変化として出力し、その出力信号が前記演算部15に入力されることで前記シャッター5の表面温度が算出(計測)され、かつ、演算部15に設けられたメモリ(図示省略)に記憶される。
このような通常の温度分布計測動作が数回繰り返される毎に断続的(定期的もしくは非定期的)に、前記シャッター5は支点軸4の周りで揺動されて、図1の点線及び図7に示すように、前記測温用赤外線検出器3の視野がシャッター5により遮断された校正動作状態に切替えられる。この校正動作状態に切替えられると、前記シャッター5から放射された赤外線hv2のみが前記赤外線透過窓9を経て測温用赤外線検出器3におけるサーミスタボロメータ型赤外線検出素子31の赤外線受光部31Aに受光され、その受光赤外線の吸収により得られる微弱な熱を抵抗の変化として検出し、その出力信号が演算部15に入力されて前記シャッター5の表面温度が算出される。
そして、演算部15において、前記の校正動作時に算出されたシャッター5の表面温度と、前記通常の温度分布計測時に補償用赤外線検出器6により計測されメモリに記憶されているシャッター5の表面温度とが比較演算され、それら両表面温度が一致するようにゲイン調整することにより、測温用赤外線検出器3の出力値が校正される。
以上のように、自己発熱がない補償用赤外線検出器6を用いてシャッター5が放射する赤外線hv2を直接に受光して該シャッター5の表面温度を正確に計測し、その正確に計測したシャッター表面温度を用いて測温用赤外線検出器3の出力値を校正することによって、電源スイッチの投入直後などの過渡的な自己発熱や環境温度の変化に伴うドリフト、さらには、長期使用に伴う感度劣化、光学系(赤外集光用レンズ7、赤外線透過窓8等)の汚れを容易に発見する自己診断機能を発揮できるとともに、その自己診断結果を用いて測温用赤外線検出器3の出力値を高精度に校正することができる。これによって、放射温度計1による測定対象物2の温度及び温度分布の計測精度を著しく向上することができるとともに、その高い計測精度を長期間に亘って安定維持することができる。
特に、表面の赤外線放射率が1または1に近くなるように、かつ、熱伝導率の高い金属類の表面を黒化処理して形成されたシャッター5を用いることによって、補償用赤外線検出器6によるシャッター5の表面温度を、環境温度などに一切左右されることなく、正確に計測することが可能で、校正精度、ひいては、放射温度計1による温度及び温度分布の計測精度を一層向上することができる。
なお、上記実施の形態では、前記シャッター5の表面温度が一定のもので説明したが、前記補償用赤外線検出器6により計測された表面温度に基づいて該シャッター5の表面温度を、例えば内蔵ヒータなどにより制御可能に構成してもよい。この場合は、校正温度が周囲温度(常温成り行き)に限らず、例えば測定対象物2の温度に近い温度域での校正も可能となり、多種多様な測定対象物に対する温度及び温度分布の計測にも利用でき、かつ、常に高い計測精度を確保することができる。
また、上記実施の形態では、赤外集光用レンズ7を固定保持したケース8内に測温用赤外線検出器3とシャッター5並びに補償用赤外線検出器6を収容したもので説明したが、該ケース8内に演算部15も収容し、表示部25をケース8の外面に取付けて各構成部材を一体化したものであってもよい。
1 放射温度計
2 測定対象物
3 測温用赤外線検出器
31 サーミスタボロメータ型赤外線検出素子
31A 赤外線受光部
5 シャッター
6 補償用赤外線検出器
61 サーモパイルからなる赤外線検出素子
61A 受光部
15 演算部
hv1,hv2 赤外線
2 測定対象物
3 測温用赤外線検出器
31 サーミスタボロメータ型赤外線検出素子
31A 赤外線受光部
5 シャッター
6 補償用赤外線検出器
61 サーモパイルからなる赤外線検出素子
61A 受光部
15 演算部
hv1,hv2 赤外線
Claims (4)
- 測定対象物が放射する赤外線を受光し、その受光赤外線の温度に応じて抵抗値又は電圧値が変化する複数個の赤外線検出素子からなる測温用赤外線検出器と、この測温用赤外線検出器の視野を断続的に遮断・開放すべく位置移動するシャッターとを備え、このシャッターにより視野を遮断した状態で前記測温用赤外線検出器の出力値を校正するように構成されている放射温度計であって、
前記シャッターの位置移動経路上に、自己発熱がなく、かつ、前記シャッターが放射する赤外線を直接に受光し、そのエネルギー量から該シャッターの表面温度を非接触で計測する補償用赤外線検出器を設け、この補償用赤外線検出器の計測出力値により前記測温用赤外線検出器の出力値を校正するように構成していることを特徴とする放射温度計。 - 前記測温用赤外線検出器が、サーミスタボロメータから構成され、かつ、前記補償用赤外線検出器がサーモパイルから構成されている請求項1に記載の放射温度計。
- 前記シャッターは、赤外線透過がなく、表面の赤外線放射率が1または1に近くなるように黒化処理されている請求項1または2に記載の放射温度計。
- 前記シャッターの表面温度が、制御可能に構成されている請求項1ないし3のいずれかに記載の放射温度計。
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