JPH0666124U - 定電圧回路 - Google Patents

定電圧回路

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JPH0666124U
JPH0666124U JP422293U JP422293U JPH0666124U JP H0666124 U JPH0666124 U JP H0666124U JP 422293 U JP422293 U JP 422293U JP 422293 U JP422293 U JP 422293U JP H0666124 U JPH0666124 U JP H0666124U
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JP
Japan
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voltage
constant voltage
under test
output
voltage circuit
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JP422293U
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English (en)
Inventor
弘幸 塩塚
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被試験ＩＣの出力端子に所望の定電電圧を与
えた状態で被試験ＩＣが出力する電圧波形を電圧比較器
に取込む部分の回路において、電圧比較器に与える波形
からオーバーシュートを除去し、電圧比較誤差を小さく
することができる定電圧回路を提供する。 【構成】 任意の電圧を発生することができる直流電圧
源の電圧を被試験ＩＣの出力端子に与える定電圧回路
と、この定電圧回路の出力点に被試験ＩＣが出力する信
号の逆位相の信号を与える第２の定電圧回路を設け、こ
の第２の定電圧回路から与えられる逆位相信号によって
電圧比較器に入力する信号のオーバーシュートを除去す
る構造とした。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は例えばオープンエミッタ型のロジックＩＣを試験する場合等に用い ることができる定電圧回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】
図３に従来の定電圧回路を示す。図中１０は定電圧回路、２０はこの定電圧回 路１０に任意の入力電圧ＶINを与える直流電圧源、３０は被試験ＩＣを示す。定 電圧回路１０は演算増幅器１１と、抵抗器Ｒ1 ，Ｒ2 ，Ｒ3 と、位相調整用コン デンサＣ1 と平滑回路を構成するコンデンサＣ2 とによって構成される。被試験 ＩＣ３０は例えばオープンエミッタ出力型式のＩＣとすることができ、ＩＣ内の 動作により図４Ａに示す出力信号ＰA を出力する。この出力信号ＰA は別に接続 した電圧比較器ＣＰに与えられ、所定のＬ論理又はＨ論理の電圧を具備している か否かを判定し、電圧比較器ＣＰを通じてＩＣ試験装置１００に被試験信号とし て取込を行なう。従って定電圧回路１０は被試験ＩＣ３０の出力端子に一定のバ イアス電圧を与える働きと、被試験ＩＣ３０の負荷としても作用している。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
被試験ＩＣ３０が信号ＰA を出力したとき、出力点Ａの電圧が図４Ｂに示すよ うに変動する欠点がある。この変動ＰB が発生すると電圧比較器ＣＰに取込まれ る信号ＰC に図４Ｃに示すようにオーバーシュートＯB が付加される。このオー バーシュートＯB が付加されることにより、電圧比較動作に誤動作を与える欠点 が生じる。
【０００４】 つまりオーバーシュートＯB の部分で電圧比較動作すると、正規の論理波形の 電圧を比較したことにならなくなり、大きな誤差を生じる。 Ａ点に発生する電圧の変動ＰB は可及的に小さいことが望ましい。このため変 動ＰB を小さくする方法の一つとして平滑用コンデンサＣ2 の容量を大きくする ことが考えられる。然し乍ら、平滑用コンデンサＣ2 の容量を大きくすると、入 力電圧ＶINを変化させ、出力点Ａの電位を変更する場合に、出力点Ａの電圧が変 更後の電圧に安定することに時間が掛り、試験に要する時間が長くなる欠点があ る。
【０００５】 つまり定電圧回路１０から被試験ＩＣ３０の出力端子に与える電圧ＶINを少し ずつ変化させ、各電圧を与えた状態において、被試験ＩＣ３０が正常な信号を出 力するか否かを試験する。従って定電圧回路１０の出力電圧が目標値に達するま でに時間が掛ると、それだけ試験に要する時間が長くなる不都合がある。 この考案の目的は出力点Ａの電圧変動を抑え、然も入力電圧ＶINの変化に対し ても短時間に変更後の電圧に変化することができる定電圧回路を提供しようとす るものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
この考案では、直流電圧源の電圧を被試験ＩＣの出力端子に与える定電圧回路 に加えて、被試験ＩＣの出力端子の電圧を検出して、その被試験ＩＣの出力電圧 を位相反転させて出力点Ａに与える第２の定電圧回路設けた構造にしたものであ る。
【０００７】 この考案の構造によれば被試験ＩＣの出力電圧は位相反転されて出力点Ａに与 えられるから、出力点Ａの電位変動は相殺される。この結果、電圧比較器に与え る信号にオーバーシュートが付与されることはない。よって比較誤差の発生を除 去することができ、信頼性の高い試験を行なうことができる。
【０００８】
【実施例】
図１にこの考案の一実施例を示す。この考案では直流電圧源２０の電圧ＶINを 被試験ＩＣ３０の出力端子に与えるための定電圧回路１０に加えて、被試験ＩＣ ３０から出力される出力信号を検出し、この出力信号の極性を反転して定電圧回 路１０の出力点Ａに逆位相の信号ＰD を与える第２の定電圧回路４０を設けた構 造を特徴とするものである。
【０００９】 第２の定電圧回路４０は演算増幅器４１と抵抗器Ｒ4 ，Ｒ5 ，Ｒ6 と、位相調 整用コンデンサＣ3 とによって構成することができる。演算増幅器４１は反転入 力端子に被試験ＩＣ３０の出力信号を入力抵抗器Ｒ6 を通じて与える。第２の定 電圧回路４０の出力電圧は平滑用コンデンサＣ2 を通じて定電圧回路１０の出力 点Ａに与える。
【００１０】 この逆位相信号ＰD （図２Ｂ）を出力点Ａに与えることにより、出力点Ａの電 圧は図２Ｃに示すように電圧変動は極く小さい電圧変動ＰB ′に抑えられる。こ の結果、電圧比較器ＣＰに与えられる電圧信号ＰC は図２Ｄに示すようにオーバ ーシュート量が小さくなり、比較誤差を充分小さい値に抑えることができる。
【００１１】
【考案の効果】
以上説明したように、この考案によれば電圧比較器ＣＰに取込まれる電圧波形 にオーバーシュートを与えないから、比較誤差を小さくすることができる。この 結果、信頼性の高い試験を行なうことができる。 また出力点Ａの電圧変動を抑えることができるから、平滑用コンデンサＣ2 の 容量を小さくすることができる。この結果、直流電圧源２０の電圧ＶINを変更し た場合に、時間遅れなく出力点Ａの電圧が変化する。よって試験時間が長くなる ことはない。
【図面の簡単な説明】
【図１】この考案の一実施例を示す接続図。
【図２】この考案の動作を説明するための波形図。
【図３】従来の技術を説明するための接続図。
【図４】従来の技術の動作を説明するための波形図。
【符号の説明】
１０ 定電圧回路 ２０ 直流電圧源 ３０ 被試験ＩＣ ４０ 第２の定電圧回路 ＣＰ 電圧比較器 １００ ＩＣ試験装置

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】 任意の電圧を発生することができる直流
    電圧源の電圧を被試験ＩＣの出力端子に与える定電圧回
    路において、被試験ＩＣの出力信号を位相反転して上記
    定電圧回路の出力点に与える第２の定電圧回路を設け、
    上記被試験ＩＣの出力波形の電圧を正規の論理レベルに
    入るか否かを判定するために設けられる電圧比較器に入
    力する上記出力波形のオーバーシュートを除去するよう
    に構成した定電圧回路。
JP422293U 1993-02-12 1993-02-12 定電圧回路 Withdrawn JPH0666124U (ja)

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JPH0666124U true JPH0666124U (ja) 1994-09-16

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010226692A (ja) * 2009-02-26 2010-10-07 Oki Semiconductor Co Ltd 出力回路及び表示装置の駆動回路

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Legal Events

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A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19970508