JPH0661954B2 - 中間調記録方法および装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は，感熱記録や熱転写記録における中間調記録
方法および装置，特に環境温度や発熱抵抗体の抵抗値の
バラツキおよびサーマルヘッドの熱蓄積に起因する記録
濃度変化を補正し，各階調レベルの濃度が忠実に再現で
きるようにした中間調記録方法および装置に関するもの
である。

［従来の技術］ 感熱記録装置や熱転写記録装置は，その構成が比較的簡
単であることから，プリンタや複写機，あるいは，ファ
クシミリ等の記録手段として広く使用されている。その
中で中間調を記録するための方法としては，例えば昇華
型インクシートを用いた熱転写記録がある。この記録方
式は，サーマルヘッドの加熱量に対応して染料インクを
昇華させて受像紙へ熱転写記録するものであり，加熱量
は発熱抵抗体に印加するものであり，加熱量は発熱抵抗
体に印加するパルス数あるいはパルス幅により制御され
る。

この記録方式は簡単な制御方式で良好な中間調記録が得
られるが，各階調レベルの記録濃度を決定する主要因が
サーマルヘッドの発熱抵抗体の温度であるため，環境温
度の変化，発熱抵抗体の抵抗値のバラツキ等に起因する
温度変動が記録濃度に大きな影響を与えて忠実な記録を
困難にするという問題があった。このため多くの補正方
法が考案されている。

第１６図および第１７図は，例えば特開昭６０−９２７
１号公報に示された従来の中間調記録方式を示したもの
で、第１６図はサーマルヘッドを通電するためのパルス
信号（以下，この信号をストロープ信号という）の波形
を示す図，第１７図は温度とストローブ信号との関係を
示した図である。第１６図において，（ｔ_ｗ）はストロ
ーブ信号のパルス幅，（ｔ_ｐ）はその繰り返し周期，
（Ｎ）はパルス数である。所定の階調レベルの濃度を得
るために第１６図では３個のパルスを使用している。こ
のようなパルス数は各階調レベルの濃度に対応して予め
設定する。ところが，任意の階調レヘルを得るためにパ
ルス数を一定にしても，環境温度の影響によって記録濃
度が変化するので同一の階調レベルの記録濃度が変化し
てしまう。そこで，温度等の変動に対しては，サーミス
タ等の温度検出素子を参照して第１７図に示すようにス
トローブ信号のパルス幅（ｔ_ｗ）を制御して同一のパル
ス数で同一の記録濃度を得るように補正していた。

次に，発熱抵抗体の抵抗値のバラツキに起因する記録濃
度のむらについて述べる。

中間調記録装置に使用されるサーマルヘッドでは，ヘッ
ドの構造上発熱抵抗体の均一化には限度があり，どうし
ても各発熱抵抗体毎の抵抗値にある程度のバラツキが生
じる。例えば，発熱抵抗体を厚膜で形成する場合，通常
はその抵抗値に２０％〜３０％のバラツキを生じ，また
上記発熱抵抗体を薄膜で形成する場合であっても５％〜
２０％の抵抗値のバラツキが生じる。

ところで、サーマルヘッドの各発熱抵抗体の発熱量は
〔Ｖ^２／Ｒ〕（ただし，Ｖ：印加電圧，Ｒ：抵抗値）に
比例するため，発熱抵抗体に抵抗値のバラツキがある
と，記録濃度に縦縞のむらが生じる。従って，発熱抵抗
体の抵抗値のバラツキをいかにして小さくするかが大き
な問題となっていた。

従来から知られている抵抗値のバラツキ補正法として
は、サーマルヘッド上のすべての発熱抵抗体が飽和温度
まで上昇するのに十分なパルス幅を設定して供給するい
わゆる飽和領域駆動方式をとったり，中間調用サーマル
ヘッドには発熱抵抗体の抵抗値のバルツキが実用上支障
のない範囲（２％〜３％以内）となるようにサーマルヘ
ッドを選別して使用していた。

［発明が解決しようとする問題点］ 上記のような従来の中間調記録装置では、サーミスタ等
で温度を検出した結果によりパルス幅を制御し，環境温
度や蓄熱現象を補正しているが，サーミスタの時定数は
数秒程度であり，数ｍｓの時定数で変化するサーマルヘ
ッドの発熱温度を制御するのは不可能であった。また，
高速記録が要求される場合，例えば記録周期が１０ｍｓ
前後と極めて短い場合，前の記録における熱履歴の影
響，印字ラインにおける隣接発熱抵抗体の熱影響が無視
できなくなる。即ち，このような高速記録ではサーミス
タ等の温度検出による補正を行っても，充分な効果は得
られず，各階調レベル毎の濃度を忠実に再現できないと
いう問題点があった。

また，発熱抵抗体の抵抗値のバラツキ補正については，
上記飽和領域駆動方式では発熱抵抗体の抵抗値の最大の
ものを基準としてパルス幅を決めているので発熱抵抗体
の抵抗値が小さい発熱抵抗体においては必要以上に加熱
されることになり，寿命が低下するという問題点があっ
た。

また，中間調用サーマルヘッドを選別して使用する方法
では，当然コスト上昇を招くといういずれも大きな問題
点があった。

この発明は，かかる問題点を解決するためになされたも
ので，環境温度や蓄熱現象および発熱抵抗体の抵抗値の
バラツキ等の諸要因に起因する濃度変動を補正し，各階
調レベル毎の濃度が忠実に再現できる中間調記録方法お
よび装置を得ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この発明に係る中間調記録方法は，過去の発熱抵抗体の
記録パターンおよび現在の隣接発熱抵抗体の記録パター
ンにおける各階調レベルをそれぞれ参照し，予め設定さ
れた基準値以上の場合のみ有意データ「１」，基準値未
満の場合は有意データ「０」と判定し，前記有意データ
「１」，「０」の組み合わせを参照して得られた結果に
基づいて同一階調の記録濃度が一定となるように現在の
記録ラインの着目発熱抵抗体に印加するエネルギーを最
適化するようにしたものである。

また，この発明は別の発明に係る中間調記録装置は，サ
ーマルヘッドの環境温度を検出する温度検出器と、前記
環境温度を所定数のグループに分け各グループに対応し
た第１の補正係数を記憶し、前記温度検出器の出力に応
じた前記第１の補正係数に基づいて入力した階調レベル
信号を補正する温度補正ＲＯＭと、予め前記複数の発熱
抵抗体の抵抗値を測定し、前記測定した抵抗値を所定数
のグループに分け各発熱抵抗体毎にグループ番号を記憶
し、カウンタの出力に応じたグループ番号を出力する抵
抗値格納ＲＯＭと、前記グループ番号に対応した、抵抗
値のバラツキを補正する第２の補正係数を記憶し、前記
抵抗値格納ＲＯＭの出力に応じた前記第２の補正係数に
基づいて前記温度補正ＲＯＭから出力された階調レベル
信号を補正する抵抗値補正ＲＯＭと、前記抵抗値補正Ｒ
ＯＭから出力された１ライン分の階調レベル信号を格納
する第１のラインメモリと、前記第１のラインメモリに
格納された階調レベル信号の１ライン前の１ライン分の
階調レベル信号を格納する第２のラインメモリと、前記
第１のラインメモリの出力が基準値以上の場合は有意デ
ータ「１」を、基準値未満の場合には有意データ「０」
を出力する第１のコンパレータと、前記第２のラインメ
モリの出力が基準値以上の場合は有意データ「１」を、
基準値未満の場合には有意データ「０」を出力する第２
のコンパレータと、前記第１のコンパレータから出力さ
れる隣接発熱抵抗体の有意データを格納する第１のシフ
トレジスタと、前記第２のコンパレータから出力される
前ラインの発熱抵抗体の有意データを格納する第２のシ
フトレジスタと、前記有意データ「１」の組み合わせを
所定数のグループに分け各グループに対応した第３の補
正係数を記憶し、前記第１及び第２のシフトレジスタの
出力に応じた前記第３の補正係数に基づいて前記第１の
ラインメモリから出力される階調レベル信号を補正する
蓄熱補正ＲＯＭと、前記蓄熱補正ＲＯＭから出力された
各階調レベル信号に対応したパルス数あるいはパルス幅
を発生するパルス発生手段とを備えたものである。

［作用］ この発明においては，中間調の忠実な再現を困難にして
いた環境温度，発熱抵抗体の抵抗値，蓄熱の変化に対し
て，階調レベル信号を補正することにより，同一階調レ
ベルの濃度変動の発生を防止し，均一な記録濃度を得
る。

また，この発明の別の発明においては，まず環境温度の
変化に対し階調レベル信号を補正し，次いで発熱抵抗体
の抵抗値のバラツキに対しては，予め全発熱抵抗体の抵
抗値を実測し，抵抗値と記録濃度の関係を求めておき，
この関係に従って全発熱抵抗体の発熱エネルギーが等し
くなるように各階調レベル信号を補正する。また，熱蓄
積に対しては，現在および過去の印字パターンを検出
し，その熱履歴や熱影響等の蓄熱現象を推定して階調レ
ベル信号を補正して，このようにして得られた補正信号
に基づいてパルス信号数あるいはパルス幅の最適値を印
加してサーマルヘッドを制御する。

［実施例］ 第１図はこの発明の一実施例による中間調記録装置を示
すブロツク図である。図において，（１）は６ビットで
入力される階調レベル信号が入力される階調レベル信号
入力端子，（２）は発熱抵抗体（図示せず）の近傍に配
設したサーミスタ等の温度検出器であって，この検出信
号をＡ／Ｄ変換を行って３ビットの温度情報を出力す
る。（３）は温度補正ＲＯＭであって，その入力側が階
調レベル信号入力端子（１）および温度検出器（２）と
接続され，温度検出器（２）の情報に従って階調レベル
信号入力端子（１）からの階調レベル信号を補正する。
（４）はカウンタであって，サーマルヘッドの発熱抵抗
体の個数分だけ計数できる。（５）は抵抗値格納ＲＯＭ
であって，その入力側がカウンタ（４）の出力側と接続
され，このカウンタ（４）から出力される１１ビットの
アドレス信号に従って抵抗値を補正するための３ビット
の信号を出力する。（６）は抵抗値補正ＲＯＭであっ
て，その入力側が温度補正ＲＯＭ（３）および抵抗値格
納ＲＯＭ（５）と接続され，抵抗値を参照して，この温
度補正ＲＯＭ（３）からの補正された階調レベル信号を
更に補正する。（７）は第１のラインメモリであって，
その入力側が抵抗値補正ＲＯＭおよび後述のアドレス制
御部（１１）の出力側と接続され，補正された階調レベ
ル信号を１ライン分格納する。（８）は第２のラインメ
モリであって，その入力側が第１のラインメモリ（７）
および後述のアドレス制御部（１１）の出力側と接続さ
れ，この第１のラインメモリ（７）の内容が１ライン分
遅延され，記憶される。（９）は第１のコンパレータで
あって，その入力側が第１のラインメモリ（７）および
後述の基準レベル発生器（１２）の出力側と接続され、
第１のラインメモリ（７）からの出力信号と基準階調レ
ベル信号とを比較し，基準階調レベル信号以上であるか
どうかを判定する。（１０）は第２のコンパレータであ
って，その入力側が第２のラインメモリおよび後述の基
準レベル発生器（１２）の出力側と接続され，第２のラ
インメモリ（８）からの出力信号と基準階調レベル信号
とを比較し、基準階調レベル信号以上であるかどうかを
判定する。アドレス制御部（１１）は第１および第２の
ラインメモリ（７），（８）を制御する。基準レベル発
生器（１２）は第１および第２のコンパレータ（９），
（１０）に対して基準階調レベル信号を出力する。（１
３）は第１のシフトレジスタであって，その入力側が第
１のコンパレータ（９）の出力側と接続される。（１
４）は第２のシフトレジスタであって，その入力側が第
２のコンパレータ（１０）の出力側と接続される。（１
５）は蓄熱補正ＲＯＭであって，その入力側が第１のラ
インメモリ（７）の出力側と第１および第２のシフトレ
ジスタ（１３），（１４）の出力側とそれぞれ接続され
ている。（１６）はパルス発生手段であって，その入力
側が蓄熱補正ＲＯＭ（１５）の出力側と接続され，この
蓄熱補正ＲＯＭ（１５）からの出力信号に従った階調レ
ベル信号に対応したパルス数を発生する。（１７）はサ
ーマルヘッドであって，パルス発生手段（１６）の出力
側と接続され、例えば２０４８個の発熱抵抗体から構成
される。

第２図〜第１１図はこの発明に係る中間調記録方法の動
作を説明するための図である。

第２図はパルス数と発熱抵抗体の温度との関係の一例を
示す特性図である。図において、ｔ_ｗはパルス幅，ｔ_ｐ
はその一周期，Ｎはパルス数である。

第３図はパルス数と記録濃度（階調レベル）との関係を
示す特性図である。

第４図は環境温度の変化に伴って記録濃度が変化するこ
とを示す図である。図において，Ｔ_１〜Ｔ_３は環境温度
を示す。ここで，Ｔ_１＜Ｔ_２＜Ｔ_３である。

第５図は発熱抵抗体の熱影響を示す図である。図におい
て，（ａ）は着目発熱抵抗体，（ｂ），（ｃ）は着目発
熱抵抗体（ａ）の左右の隣接発熱抵抗体，（ｅ）は着目
発熱抵抗体（ａ）の１ライン前の発熱抵抗体，（ｄ），
（ｆ）は発熱抵抗体（ｅ）の左右の発熱抵抗体であり，
○印の中の数値は記録の階調レベルを示す。

第６図は記録パターンの相違による温度上昇の違いを示
す図，第７図は，第８図の記録パターンで発熱させた場
合の着目発熱抵抗体の温度上昇を示す図，第９図は各発
熱抵抗体に与える基準階調レベルを示す図，第１０図は
記録パターンを示す図，第１１図は着目発熱抵抗体
（ａ）に対する各発熱抵抗体の熱影響を示す図である。

上記のように構成された中間調記録装置において，動作
を説明する前にこの発明の中間調記録方法の原理につい
て説明する。

熱転写記録の場合には，通常１ドットの記録のために数
百ｎｓ〜数ｍｓの通電が必要であるが，ここではまずデ
ィジタル処理が可能なパルス数制御について説明する。
パルス数制御では数ｎｓ〜数十μｓのパルス幅（ｔ_ｗ）
の印加パルスを一定の繰り返し周期（ｔ_ｐ）で発熱抵抗
体に与えると，発熱抵抗体の温度は第２図のように立ち
上がる。この場合，繰り返し周期（ｔ_ｐ）を一定にして
パルス幅（ｔ_ｗ）を変えるか，パルス幅（ｔ_ｗ）を一定
にして繰り返し周期（ｔ_ｐ）を変えるかにより温度上昇
の特性は異なるが，第３図に示すようにパルス数と記録
濃度の関係がほぼ直線となるようにパルス幅（ｔ_ｗ）と
繰り返し周期（ｔ_ｐ）を選ぶ。

ところが，一般的に記録濃度の低い部分と高い部分は傾
きが緩やかであるため，一次関数的に階調レベル（記録
濃度）とパルス数の関係を決定することはできない。そ
こで，記録濃度（階調レベル）を均一に区切り，階調レ
ベル１には１０パルス，階調レベル２には１６パルス，
・・・・，階調レベル６４には２５０パルスのように各
階調に対応したパルス数を決定し，各階調レベルの記録
濃度を再現できるように印加パルスを予め設定する。以
下の実施例では６４階調の場合について説明する。この
時の階調レベルとパルス数の関係を表にすると第１２図
に示すようになる。

次に，環境温度の変化の補正方法について説明する。第
４図に示すようにパルス幅（ｔ_ｗ），繰り返し周期（ｔ
_ｐ）を一定にし，環境温度がＴ_１〜Ｔ_３（Ｔ_１＜Ｔ_２＜
Ｔ_３）のように変化するとこの上昇曲線の傾きが変化す
るため同一階調の記録濃度が変動する。この対策とし
て，各ライン毎にサーミスタ等で環境温度を検出し，環
境温度の変化を補正すればよいわけであるが前述した通
りサーミスタでは充分な補正は不可能である。そこで，
この発明においてはカラー記録の場合は，各色の記録開
始直前に，モノクロの場合は１ページの記録開始直前に
サーミスタで環境温度を検出し，温度変化分だけ階調レ
ベルを補正することで対応する。具体的には第１３図の
表で示されるように環境温度を８種類のグループに分
け，各グループに対して補正係数を決めておく。例え
ば，環境温度が４０℃の場合はグループ番号６に属する
ので補正係数は０．９４となり，温度補正を行った後の
階調レベルは入力された階調レベルの０．９４倍とな
る。

次に，発熱抵抗体の抵抗値のバラツキの補正方法につい
て説明する。

以下の実施例では，２０４８個の発熱抵抗体を有するサ
ーマルヘツドを使用しているので，まず予め２０４８個
の発熱抵抗体の抵抗値を測定し，次いで前記抵抗値を第
１４図に示すように８種類のグループに分け，抵抗値の
バラツキを補正する補正係数を前述の温度補正と同じ方
法で決定する。

すなわち，抵抗値が３５０Ωの発熱抵抗体の補正係数は
１．０４となり，前述の温度補正の結果と総合すると抵
抗値補正後の階調レベルは入力階調レベルの０．９４×
１．０４＝０．９８倍となる。

最後に，記録パターンに基づく熱影響およびその補正方
法について説明する。

さて，第５図の着目発熱抵抗体（ａ）は，各発熱抵抗体
（ｂ）〜（ｆ）から熱影響を受け，これが記録濃度不均
一の原因となる。この理由を第６図および第７図を用い
て説明する。

第６図は，着目発熱抵抗体（ａ）の温度波形を示した図
で，図において，（６０１）は，通電時間（ｔ_ｗ），繰
り返し周期（ｔ_ｐ）の通電パルス，（６０２）は着目発
熱抵抗体（ａ）の隣接発熱抵抗体（ｂ）〜（ｆ）が全て
階調レベル６４で発熱した場合の温度波形，（６０３）
は着目発熱抵抗体（ａ）と１ライン前の発熱抵抗体
（ｅ）およびその両隣の発熱抵抗体（ｄ），（ｆ）が同
じ階調レベル６４で発熱した場合の温度波形，（６０
４）は着目発熱抵抗体（ａ）のみが発熱した場合の温度
波形をそれぞれ示す。このように過去および現在の記録
パターンに従って着目発熱抵抗体の温度が変化すること
が上記記録濃度不均一の原因である。

第７図は第８図に示した記録パターンで発熱させた場合
の着目発熱抵抗体（ａ）の温度波形で，（６０５）は着
目発熱抵抗体（ａ）を階調レベル６４で，その他の発熱
抵抗体を階調レベル１０で発熱させた場合の温度波形，
（６０６）は着目発熱抵抗体（ａ）を階調レベル６４
で，発熱抵抗体（ｄ）〜（ｆ）を階調レベル１０で発熱
させた場合の温度波形，（６０７）は着目発熱抵抗体
（ａ）のみを階調レベル６４で発熱させた場合の温度波
形を示す。第６図と第７図を比較すると第７図の場合，
各発熱抵抗体を低い階調レベルで発熱させているので各
発熱抵抗体からの熱影響が少なくこのような場合には，
記録パターンの依存性を考慮しなくてもよいことを示し
ている。この発明はこの現象に着目したもので、前ライ
ンおよび左右５個の発熱抵抗体の記録パターンの各階調
レベルを参照し，基準値以上の場合にのみ着目発熱抵抗
体に熱影響を及ぼすものと考えて補正を行うものであ
る。

上記基準値については，着目発熱抵抗体に対する相対位
置や発熱抵抗体の熱応答特性および記録周期等により異
なるが，簡単な実験により，あるいは熱計算結果からも
容易に求めることができる。

第９図は上記基準値の一例で，６４階調レベルを解像度
８ドット／ｍｍ，記録速度５ｍｓ／ラインで記録する場
合である。着目発熱抵抗体（ａ）に対する熱影響は発熱
抵抗体（ｅ）が最も大きく，そのため基準値として１５
が与えられている。一方，発熱抵抗体（ｄ），（ｆ）は
着目発熱抵抗体（ａ）に対する熱影響は少なく基準値と
して４８が与えられている。第１０図は記録パターンの
一例を示す図で，各発熱抵抗体が○印の中に示された階
調レベルで記録される場合を示す。第１１図は第１０図
の記録パターンで各発熱抵抗体を発熱させた場合，着目
発熱抵抗体（ａ）への熱影響の有無を示したもので， が有り， が無しを示す。なお，この判定は第９図に示した基準値
と第１０図の階調レベルを各発熱抵抗体毎に比較するこ
とによって得られた結果である。例えば，発熱抵抗体
（ｅ）の記録すべき階調レベルは２０（第１０図参照）
であるが，この値は第９図から与えられる基準値１５を
超えるので，着目発熱抵抗体（ａ）に熱影響を与えるも
のと推定されるので第１１図では が与えられる。以上の結果から，着目発熱抵抗体（ａ）
に熱影響を及ぼす組み合わせパターンは３２通り（＝２
^５）となるが，熱分布の対称性を考慮すると同一パター
ンとみなしてよいものがあり，結局８種類に分類するこ
とができる。第１５図は，熱影響を与える発熱抵抗体の
組み合わせに対する補正係数を表にして示したもので，
この表に従って，記録パターンに基づく熱影響を補正す
る。例えば，第１０図の記録パターンの場合，熱影響を
与えるパターンは第１１図で示され，補正係数は０．８
８となる。

以上，温度補正，抵抗値補正，記録パターンに基づく熱
影響の補正の結果を総合すると，最終的な補正係数は
０．９４＊１．０４＊０．８８＝０．８６となる。従っ
て，階調レベル６４を得るための発熱抵抗体に印加する
パルス数は第１２図から２５０＊０．８６＊＝２１５で
与えられる。

次に，この発明の別の発明の動作を第１図を用いて説明
する。

この発明では，初期状態としてまず第１のラインメモリ
（７），第２のラインメモリ（８），第１のシフトレジ
スタ（１３）および第２のシフトレジスタ（１４）の内
容をいずれも“０”にし，またカウンタ（４）の初期値
を“０”とする。１〜６４の階調を表わす階調レベル信
号は，温度検出器（２）の検出結果と共に順次，温度補
正ＲＯＭ（３）にアドレス情報として入力される。例え
ば，環境温度が３０℃であれば第１３図の表よりグルー
プ番号５が選択され，温度検出器（２）から“５”とい
う情報がアドレスの一部として温度補正ＲＯＭ（３）に
入力される。温度補正ＲＯＭ（３）では，入力された階
調レベル信号に補正係数０．９７をかけて温度変化分の
補正を行った階調レベル信号を出力する。

温度補正された階調レベル信号は続いて抵抗値補正ＲＯ
Ｍ（６）に入力される。カウンタ（４）は，発熱抵抗体
の個数分（２０４８）を計数できるもので図示しないク
ロック信号により動作する。具体的には，第１番目の階
調レベル信号が入力されると，カウンタ（４）は“０”
→“１”を示し，抵抗値格納ＲＯＭ（５）のアドレス情
報として“１”が入力されれる。抵抗値格納ＲＯＭ
（５）のアドレス１番地に対応する内容は，予め測定さ
れた第１番目の発熱抵抗体の抵抗値のグループ番号であ
り，このグループ番号が抵抗値補正ＲＯＭ（６）に入力
される。例えば第１番目の発熱抵抗体の抵抗値が２６５
Ωであれば，第１４図の表よりグループ番号６が選択さ
れ，“６”という情報が抵抗値補正ＲＯＭ（６）のアド
レスとして入力される。抵抗値補正ＲＯＭ（６）では
“６”という情報をもとに入力された階調レベル信号に
補正係数０．９６をかけて第１のラインメモリ（７）に
格納される。次いで，第２番目の階調レベル信号が入力
される時，カウンタ（４）は“１”→“２”に動作し，
抵抗値格納ＲＯＭ（５）からは第２番目の発熱抵抗体の
抵抗値に対するグループ番号の情報が抵抗値補正ＲＯＭ
（６）に入力され，抵抗値に対応して階調レベル信号が
補正され，第１のラインメモリ（７）に格納される。同
様にして順次，１ライン分が第１のラインメモリ（７）
に格納される。ここで，格納する番地はアドレス制御部
（１１）によって制御されるわけであるが具体的にはラ
インメモリの１番地から２０４８番地まで順序よく格納
されている。アドレス制御部（１１）は，階調レベル信
号を格納する場合の他，格納されている内容を出力する
場合にも使用される。第１のラインメモリ（７）に出力
された階調レベル信号は第１のコンパレータ（９），第
２のラインメモリ（８）および蓄積補正ＲＯＭ（１５）
に入力される。ここで，第１のコンパレータ（９）に入
力するのは隣接発熱抵抗体の熱影響が有るか無いかを判
定するためのもので階調レベル信号が基準レベル発生器
（１２）から出力される基準値以上であれば有意情報
“１”を，未満であれば“０”の情報を第１のシフトレ
ジスタ（１３）に入力する。また，第２のラインメモリ
（８）に入力するのは１ライン分遅延するためのもの
で，具体的には前ラインの階調レベル信号を１ライン分
記憶する。そして前ラインの階調レベル信号は第２のコ
ンパレータ（１０）に入力され，前ラインの３つの発熱
抵抗体の熱影響がそれぞれ有るか無いかを判定し，階調
レベル信号が基準値以上の時，有意情報“１”をそれ以
外の時は“０”の情報を第２のシフトレジスタ（１４）
に出力する。

第１のシフトレジスタ（１３）および第２のシフトレジ
スタ（１４）はそれぞれ３段構成となっており，各段の
，，，，から出力される信号は蓄熱補正ＲＯ
Ｍ（１５）の入力端子のアドレス部にそれぞれ供給され
る。なお，各シフトレジスタの配置は第５図の発熱抵抗
体の配置と対応する。すなわち，蓄熱補正ＲＯＭ（１
５）には，着目発熱抵抗体（ａ）に供給する階調レベル
信号とこの着目発熱抵抗体（ａ）の隣接発熱抵抗体の熱
影響の有無の情報と前ラインの熱影響の有無情報が入力
され，蓄熱量に応じて第１５図の表の如く階調レベル信
号を補正する。そして，蓄熱補正ＲＯＭ（１５）から出
力された階調レベル信号は，パルス発生手段（１６）に
入力され，階調レベル信号に対応したパルス数でサーマ
ルヘッドを制御する。以上のように，１ラインの記録を
行うが，次ラインの記録を行う場合はカウンタ（４）を
初期状態に戻して記録を繰り返すことにより忠実な中間
調記録を得ることができる。なお，１ページの記録終了
後，カウンタ（４），第１のラインメモリ（７），第２
のラインメモリ（８），第１のシフトレジスタ（１３）
および第２のシフトレジスタ（１４）をそれぞれ初期状
態に戻す。

なお，上記実施例では隣接発熱抵抗体および前ラインに
おける発熱抵抗体の計５個を参照する場合について説明
したが参照数は上述した値に限定されない。

また，上記実施例では各補正手段における補正するグル
ープ数を８と設定したが，サーマルヘッドの特性等によ
り異なり自由に設定可能である。

また，上記実施例ではパルス発生手段から発生するパル
ス信号をパルス数として説明したがパルス数の代わりに
パルス幅を階調レベル信号に対応させてサーマルヘッド
を制御しても同様の効果を奏する。

［発明の効果］ この発明は以上説明したとおり，過去の発熱抵抗体の記
録パターンおよび現在の隣接発熱抵抗体の記録パターン
における各階調レベルをそれぞれ参照し，予め設定され
た基準値以上の場合のみ有意データ「１」，基準値未満
の場合は有意データ「０」と判定し，前記有意データ
「１」，「０」の組み合わせを参照して得られた結果に
基づいて同一階調の記録濃度が一定となるように現在の
記録ラインの着目発熱抵抗体に印加するエネルギーを最
適化するようにし，中間調記録の忠実な再現を困難にし
ていた環境温度，抵抗値，蓄熱の諸要因を補正して，階
調レベル信号を得るようにしたので，同一階調レベルの
記録濃度変動の発生を防止し，均一な記録濃度を得ら
れ，充分に正確な階調記録を行うことができるという優
れた効果がある。

また，この発明の別の発明は，サーマルヘッドの環境温
度を検出する温度検出器と、前記環境温度を所定数のグ
ループに分け各グループに対応した第１の補正係数を記
憶し、前記温度検出器の出力に応じた前記第１の補正係
数に基づいて入力した階調レベル信号を補正する温度補
正ＲＯＭと、予め前記複数の発熱抵抗体の抵抗値を測定
し、前記測定した抵抗値を所定数のグループに分け各発
熱抵抗体毎にグループ番号を記憶し、カウンタの出力に
応じたグループ番号を出力する抵抗値格納ＲＯＭと、前
記グループ番号に対応した、抵抗値のバルツキを補正す
る第２の補正係数を記憶し、前記抵抗値格納ＲＯＭの出
力に応じた前記第２の補正係数に基づいて前記温度補正
ＲＯＭから出力された階調レベル信号を補正する抵抗値
補正ＲＯＭと、前記抵抗値補正ＲＯＭから出力された１
ライン分の階調レベル信号を格納する第１のラインメモ
リと、前記第１のラインメモリに格納された階調レベル
信号の１ライン前の１ライン分の階調レベル信号を格納
する第２のラインメモリと、前記第１のラインメモリの
出力が基準値以上の場合は有意データ「１」を、基準値
未満の場合には有意データ「０」を出力する第１のコン
パレータと、前記第２のラインメモリの出力が基準値以
上の場合は有意データ「１」を、基準値未満の場合には
有意データ「０」を出力する第２のコンパレータと、前
記第１のコンパレータから出力される隣接発熱抵抗体の
有意データを格納する第１のシフトレジスタと、前記第
２のコンパレータから出力される前ラインの発熱抵抗体
の有意データを格納する第２のシフトレジスタと、前記
有意データ「１」の組み合わせを所定数のグループに分
け各グループに対応した第３の補正係数を記憶し、前記
第１及び第２のシフトレジスタの出力に応じた前記第３
の補正係数に基づいて前記第１のラインメモリから出力
される階調レベル信号を補正する蓄熱補正ＲＯＭと、前
記蓄熱補正ＲＯＭから出力された各階調レベル信号に対
応したパルス数あるいはパルス幅を発生するパルス発生
手段とを備えているので，上述した効果と同一の効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例における中間調記録装置を
示すブロック図，第２図はパルス数と発熱抵抗体の温度
との関係の一例を示す特性図，第３図はパルス数と記録
濃度（階調レベル）との関係を示す特性図，第４図は環
境温度の変化に伴って記録濃度が変化する状態を示す
図，第５図は発熱抵抗体の熱影響を示す図，第６図は記
録パターンの相違による温度上昇の違いを示す図，第７
図は，第８図の記録パターンで発熱させた場合の着目発
熱抵抗体の温度上昇を示す図，第８図は記録パターンを
示す図，第９図は各発熱抵抗体に与える基準階調レベル
を示す図，第１０図は記録パターンを示す図，第１１図
は着目発熱抵抗体に対する各発熱抵抗体の熱影響を示す
図，第１２図は階調レベルとパルス数との関係表を示す
図，第１３図はグループ別の環境温度と補正係数との関
係表を示す図，第１４図はグループ別の発熱抵抗体の抵
抗値と補正係数との関係表を示す図，第１５図はグルー
プ別の熱影響を与える発熱抵抗体の組み合わせと補正係
数との関係表を示す図，第１６図および第１７図は従来
の中間調記録方式を示す図である。 図において，（１）……階調レベル信号入力端子，
（２）……温度検出器，（３）……温度補正ＲＯＭ，
（４）……カウンタ，（５）……抵抗値格納ＲＯＭ，
（６）……抵抗値補正ＲＯＭ，（７）……第１のライン
メモリ，（８）……第２のラインメモリ，（９）……第
１のコンパレータ，（１０）……第２のコンパレータ，
（１１）……アドレス制御部，（１２）……基準レベル
発生器，（１３）……第１のシフトレジスタ，（１４）
……第２のシフトレジスタ，（１５）……蓄熱補正ＲＯ
Ｍ，（１６）……パルス発生手段，（１７）……サーマ
ルヘッドである。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】複数の発熱抵抗体を配設したサーマルヘッ
   ドと、過去の記録と現在の記録における熱影響を補正す
   る蓄熱補正手段とを備えた中間調記録装置において、 過去の発熱抵抗体の記録パターンおよび現在の隣接発熱
   抵抗体の記録パターンにおける各階調レベルをそれぞれ
   参照し、予め設定された基準値以上の場合のみ有意デー
   タ「１」、基準値未満の場合は有意データ「０」と判定
   し、前記有意データ「１」、「０」の組み合わせを参照
   して得られた結果に基づいて同一階調の記録濃度が一定
   となるように現在の記録ラインの着目発熱抵抗体に印加
   するエネルギーを最適化するようにしたことを特徴とす
   る中間調記録方法。
2. 【請求項２】サーマルヘッドを構成する複数の発熱抵抗
   体の選択的通電制御により１ラインずつ熱的な記録を行
   い、中間調記録を得る中間調記録装置において、 前記サーマルヘッドの環境温度を検出する温度検出器
   と、 前記環境温度を所定数のグループに分け各グループに対
   応した第１の補正係数を記憶し、前記温度検出器の出力
   に応じた前記第１の補正係数に基づいて入力した階調レ
   ベル信号を補正する温度補正ＲＯＭと、 予め前記複数の発熱抵抗体の抵抗値を測定し、前記測定
   した抵抗値を所定数のグループに分け各発熱抵抗体毎に
   グループ番号を記憶し、カウンタの出力に応じたグルー
   プ番号を出力する抵抗値格納ＲＯＭと、 前記グループ番号に対応した、抵抗値のバルツキを補正
   する第２の補正係数を記憶し、前記抵抗値格納ＲＯＭの
   出力に応じた前記第２の補正係数に基づいて前記温度補
   正ＲＯＭから出力された階調レベル信号を補正する抵抗
   値補正ＲＯＭと、 前記抵抗値補正ＲＯＭから出力された１ライン分の階調
   レベル信号を格納する第１のラインメモリと、 前記第１のラインメモリに格納された階調レベル信号の
   １ライン前の１ライン分の階調レベル信号を格納する第
   ２のラインメモリと、 前記第１のラインメモリの出力が基準値以上の場合は有
   意データ「１」を、基準値未満の場合には有意データ
   「０」を出力する第１のコンパレータと、 前記第２のラインメモリの出力が基準値以上の場合は有
   意データ「１」を、基準値未満の場合には有意データ
   「０」を出力する第２のコンパレータと、 前記第１のコンパレータから出力される隣接発熱抵抗体
   の有意データを格納する第１のシフトレジスタと、 前記第２のコンパレータから出力される前ラインの発熱
   抵抗体の有意データを格納する第２のシフトレジスタ
   と、 前記有意データ「１」の組み合わせを所定数のグループ
   に分け各グループに対応した第３の補正係数を記憶し、
   前記第１及び第２のシフトレジスタの出力に応じた前記
   第３の補正係数に基づいて前記第１のラインメモリから
   出力される階調レベル信号を補正する蓄熱補正ＲＯＭ
   と、 前記蓄熱補正ＲＯＭから出力された各階調レベル信号に
   対応したパルス数あるいはパルス幅を発生するパルス発
   生手段と を備えたことを特徴とする中間調記録装置。