JPH01146769A - 中間調記録方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、感熱記録や熱転写記録における中間調記録
方法および装置、特に環境温度や発熱抵抗体の抵抗値の
バラツキおよびサーマルヘッドの熱蓄積に起因する記録
濃度変化を補正し、各階調レベルの濃度が忠実に再現で
きるようにした中間調方法および装置に関するものであ
る。

［従来の技術］ 感熱記録装置や熱転写記録装πは、そのｒ４成が比較的
簡単であることから、プリンタや複写機。

あるいは、ファクシミリ等の記録手段として広く使用さ
れている。その巾で中間調を記録するための方法として
は１例えば昇華型インクシートを用いた熱転写記録があ
る。この記録方式は、サーマルヘッドの加熱量に対応し
て染料インクを昇華させて受像紙へ熱転写記録するもの
であり、加熱Ｕは発熱抵抗体に印加するものであり、加
熱量は発熱抵抗体に印加するパルス数あるいはパルス幅
により制御される。

この記録方式は簡単な制御方式で良好な中間調記録が得
られるが、各階調レベルの記録濃度を決定する主要因が
サーマルヘッドの発熱抵抗体の温度であるため、環境温
度の変化１発熱抵抗体の抵抗値のバラツキ等に起因する
温度変動が記録濃度に大きな影響を与えて忠実な記録を
困難にするという問題があった。このため多くの補正方
法が考案されている。

第１６図および第１７゛図は９例えば特開昭６０−９２
７１号公報に示された従来の中間調記録方式を示したも
ので、第１６図はサーマルヘッドを通電するためのパル
ス信号（以下、この１＝号をストローブ信号という）の
波形を示す図、第１７図は温度とストローブ信号との関
係を示した図である。第１６図に・おいて、＜１．）は
ストローブ信号のパルス幅、（１，）はその縁り返し周
期、（Ｎ）はパルス数である。所定の階調レベルの濃度
を得るために第１６図では３個のパルスを使用している
。

このようなパルス数は各階調レベルの濃度に対応して予
め設定する。ところが、任意の階調レベルを得るために
パルス数を一定にしても、環境温度の影響によって記録
濃度が変化するので同一の階調レベルの記録濃度が変化
してしまう、そこで。

温度等の変動に対しては、サーミスタ等の温度検出素子
を参照して第１７図に示すようにストローブ信号のパル
ス幅（１，）を制御して同一のイ旬しス数で同一の記録
濃度を得るように補正していた。

次に１発熱抵抗体の抵抗値のバラツキに起因する記録濃
度のむらについて述べる。

中間調記録装置に使用されるサーマルヘッドでは、ヘッ
ドの構造上発熱抵抗体の均一化には限度があり、どうし
ても各発熱抵抗体毎の抵抗値にある程度のバラツキが生
じる１例えば１発熱抵抗体をＰＸＭで形成する場合１通
常はその抵抗値に２０％〜３０％のバラツキを生じ、ま
た」二足発熱抵抗体をｇＪ膜で形成する場合であっても
５％〜２０％の抵抗値のバラツキが生じる。

ところで、サーマルヘッドの各発熱抵抗体の発熱址は（
Ｖ２／Ｒ）（ただし、■：印加電圧、Ｒ：抵抗値）に比
例するため９発熱抵抗体に抵抗値のバラツキがあると、
記録濃度に縦縞のむらが生じる。従って９発熱抵抗体の
抵抗値のバラツキをいかにして小さくするかが大きな問
題となっていた。

従来から知られている抵抗値のバラツキ補正法としては
、サーマルヘッド上のすべての発熱抵抗体が飽和温度ま
で上昇するのに十分なパルス幅を設定して供給するいわ
ゆる飽和領域駆動方式をとったり、中間調用サーマルヘ
ッドには発熱抵抗体の抵抗値のバラツキが天川上支障の
ない範囲（２％〜３％以内）となるようにサーマルヘッ
ドを選別して使用していた。

［発明が解決しようとする問題点コ 上記のような従来の中間調記録装置では、サーミスタ等
で温度を検出した結果によりパルス幅と制御し、環境温
度や蓄熱現象を補正しているが。

サーミスタの時定数は数秒程度であり、数ｍｓの時定数
で変化するサーマルヘッドの発熱温度を制御するのは不
可能であった。また、高速記録が要求される場合１例え
ば記録周期が１０　ｍ　ｓ前後と０２めて５Ｈい場合、
前の記録における熱履歴の影響。

印字ラインにおける隣接発熱１ｊ（抗体の熱壽響が無視
できなくなる。即ち、このような高速記録ではサーミス
タ等の温度検出による補正を行っても。

充分な効果は得られず、各階調レベル毎の濃度を忠実に
再現できないという問題点があった。

また１発熱抵抗体の抵抗値のバラツキ補正については、
」二重飽和領域駆動力式では発熱抵抗体の抵抗値の最大
のものを基べちとしてパルス幅を決めているので発熱抵
抗体の抵抗値が小さい発熱抵抗体においては必要以上に
加熱されることになり。

）７命が低下するというｌ７Ｘ１題点があった。

また、中間調用サーマルヘッドを運別して使用する方法
では、当然コスト上昇を招くといういずれも大きな問題
点があった。

この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、環境温度や蓄熱現象および発熱抵抗体の抵抗値の
バラツキ等の諸要因に起因する濃度変動を補正し、各階
調レベル毎の濃度が忠実に再現できる中間調記録方法お
よび装置を得ることを目的とする。

Ｅ問題点を解決するための手段］ この発明に係る中間調記録方法は、過去の発熱抵抗体の
記録パターンおよび現在の隣接発熱抵抗体の記録パター
ンにおける各階調レベルをそれぞれ参照し、予め設定さ
れた基準値以上の場合のみ有意データ「１」、基準値未
満の場合は有意データ「０」と判定し、前記有意データ
ｒｌ」’、ｒｏ」の組み合わせを参照して得られた結果
に基づいて同一階調の記録濃度が一定となるように現在
の記録ラインの着目発熱抵抗体に印加するエネルギーを
最適化するようにしたものである。

また、この発明の別の発明に係る中間調記録装置は、サ
ーマルヘッドの基板温度を検出する温度検出手段と、前
記温度検出手段の出力信号と階調レベル信号とを入力し
て温度変化に対して階調レベル信号を補正する温度補正
手段と、予め発熱抵抗体の抵抗値を測定し、この抵抗値
を所定数のグループに分けて記憶する抵抗値記憶手段と
、前記抵抗値記憶手段からの出力信号と温度変化分を補
正した階調レベル信号とを入力して抵抗値のバラツキを
階調レベル信号を補正することにより等測的に少なくす
る抵抗値補正手段と、１ライン分以」二の１９！ユＩレ
ベル信号が格納可能な記憶手段と、前記記憶手段の各出
力信号がバネの階調レベル信号以」二であるかどうかを
判定する判定手段と、前記４゛す定手段の各出力信号を
入力する蓄積手段と、前記蓄積手段からの（ｉｒりと１
９＋ｊニルベル信号とをアドレス情報として入力して階
調レベル信号を補正することにより過去の記録における
熱履歴および現在の記録における熱影響を解消する蓄熱
補正手段と、前記蓄熱補正手段より出力された各階調レ
ベルに対応したパルス数あるいはパルス幅を発生ずるパ
ルス発生手段とを備えたものである。

［作用］ この発明においては、中間調の忠実な再現を困難にして
いた環境温度１発熱抵抗体の抵抗値、蓄熱の変化に対し
て１階調レベル信号を補正することにより、同−階調レ
ベルの濃度変動の発生を防止し、均一な記録濃度を得る
。

また、この発明の別の発明においては、まず環境温度の
変化に対し階調レベル信号を補正し１次いで発熱抵抗体
の抵抗値のバラツキに対しては。

予め全発熱抵抗体の抵抗値を実測し、抵抗値と記録濃度
の間部分求めておき、この関係に従って全発熱抵抗体の
発熱エネルギーが等しくなるように各階調レベル信号を
補正する。また、熱蓄積に対しては、現在および過去の
印字パターンを検出し。

その熱履歴や熱影響等の蓄熱現象を推定して階調レベル
信号を補正して、このようにして得られた補正信号に基
づいてパルス信号数あるいはパルス幅の最適（１αを印
加してサーマルヘッドを制御する。

［実施例］ 第１図はこの発明の一実施例による中間調記録装置を示
すブロック図である０図において、（１）は６ビツトで
入力される階調レベル信号が入力されるＮ調しベル信号
入力端子、（２）は発熱抵抗体（図示せず）の近傍に配
設したサーミスタ等の温度検出器であって、この検出信
号をＡ／Ｄ変換を行って３ビツトの温度情報を出力する
。（３）は温度補正ＲＯＭであって、その入力側が階調
レベル信号入力端子（１）および温度検出器（２）と接
続され。

温度検出器（２）の情報に従って階調レベル信号入力端
子（１）からの階調レベル信号を補正する。（４）はカ
ウンタであって、サーマルヘッドの発熱抵抗体の個数分
だけ計数できる。（５）は抵抗値格納ＲＯＭであって、
その入力側かカウンタ（４）の出力側と接続され、この
カウンタ（４）から出力される１１ビツトのアドレス信
号に従って抵抗値を補正するための３ビツトの信号を出
力する。（６）は抵抗値補正ＲＯＭであって、その入力
側が温度補正１１０　Ｍ　（３’）および抵抗値格納Ｒ
ＯＭ（５）と接続され、抵抗値を参照して、この温度補
正ＲＯＭ（３）からの補正された階調レベル信号を更に
補正する。

（７）は第１のラインメモリであって、その入力側が抵
抗値補正ＲＯＭおよび後述のアドレス制御部（１１）の
出力側と接続され、　ｆｉｇ正された階調レベル信号を
１ライン分格納する。（８）は第２のラインメモリであ
って、その入力側が第１のラインメモリ（７）および後
述のアドレス制御部（１１）の出力側と接続され、この
第１のラインメモリ（７）の内容が１ライン分遅延され
、記憶される。（９）は第１のコンパレータであって、
その入力側が第１のラインメモリ（７）および後述の基
準レベル発生器（１２）の出力側と接続され、第１のラ
インメモリ（７）からの出力信号と基準１ｔｌＪレベル
信号とを比較し９階調レベル信号以上であるかどうかを
判定する。（１０）は第２のコンパレータであって。

その入力側が第２のラインメモリおよび後述の基準レベ
ル発生器（１２）の出力側と接続され、第２のラインメ
モリ（８）からの出力信号と基準［Ｊレベル信号とを比
較し９階調レベル信号以上であるかどうかを判定する。

アドレス制御部（１１）は第１および第２のラインメモ
リ（７）、（８）を制御する。基準レベル発生器（１２
）は第１および第２のコンパレータ（９）、（１０）に
対して基準階調レベルを出力する。（１３）は第１のシ
フトレジスタであって、その入力側が第１のコンパレー
タ（９）の出力側と接続される。（１４）は第２のシフ
トレジスタであって、その入力側が第２のコンパレータ
（１０）の出力側と接続される。　（１５）は蓄熱補正
ＲＯＭであって、その入力側が第１のラインメモリ（７
）の出力側と第１および第２のシフトレジスタ（１３）
、　（１４）の出力側とそれぞれ接続されている。　（
１６）はパルス発生手段であって、その入力側が蓄熱補
正ＲＯＭ（１５）の出力側と接続され。

この蓄熱補正ＲＯＭ（１５）からの出力信号に従って階
調レベル信号に対応したパルス数を発生する。

（１７）はサーマルヘッドであ°つて、パルス発生手段
（１６）の出力側と接続され１例えば２０４８個の発熱
抵抗体から構成される。　　　　　−第２図〜第１１図
はこの発明に係る中１？１調記録方法の動作を説明する
ための図である。

第２図はパルス数と発熱抵抗体の温度との関係の一例を
示す特性図である０図において、ｔｗはパルス幅、ｔ、
はその−周期、Ｎはパルス数である。

第３図はパルス数と記録濃度（階調レベル）との関係を
示す特性図である。

第４図は環境温度の変化にｆｆ’って記録濃度が変化す
ることを示す図である６図において　／ｌ−１〜Ｔ、は
環境温度を示す、ここで、Ｔ、＜Ｔ２＜Ｔ、である。

第５図は発熱抵抗体の熱影響を示す図である。

図において、（ａ）は着目発熱１１（抗体、（ｂ）、（
ｃ）は着目発熱抵抗体（ａ＞の左右の隣接発熱抵抗体。

（ｅ）は着目発熱抵抗体（ａ）の１ライン前の発熱抵抗
体、（ｄ　）、（ｆ　）は発熱抵抗体（ｅ）の左右の発
熱抵抗体であり１．Ｏ印の中の数値は記録の階調レベル
を示す。

第６図は記録パターンの相違による温度」二昇の違いを
示す図、第７図は、第８図の記録パターンで発熱させた
場合の着目発熱抵抗体の温度上昇を示す図、第９図は各
発熱抵抗体に与える基２（−階ユｌレベルを示す図、第
１０図は記録パターンを示す図、第１１図は着目発熱抵
抗体（ａ）に対する各発熱抵抗体の熱影響を示す図であ
る。

上記のように構成された中間調記録装置において、＃Ｊ
作を説明する前にこの発明の中間調記録方法の原理につ
いて説明する。

熱転写記録の場合には１通常１ドツトの記録のために数
百ｎｓ〜数ｍ　Ｓの通電が必要であるが。

ここではまずディジタル処理が可能なパルス数制御につ
いて説明する。パルス数制御では数ｎｓ〜数十μｓのパ
ルス幅（１，）の印加パルスを一定の縁り返し周期（し
、）で発熱抵抗体に与えると１発熱抵抗体の温度は第２
図のように立ち上がる。この場合、繰り返し周期（シ、
）を一定にしてパルス幅（ｔ、）を変えるか、パルス幅
（ｔ、）を一定にして繰り返し周期（し、）を変えるか
により温度上昇の特性は異なるが、第３図に示すように
パルス数と記録濃度の関係がほぼ直線となるようにパル
ス幅（１，）と繰り返し周期（ｔ、）を選ぶ。

ところが、一般的に記録濃度の低い部分と高い部分は傾
きが緩やかであるため、−次間数的に階調レベル（記録
濃度）とパルス数の関係を決定することはできない、そ
こで、記録濃度（階調レベル）を均一に区切り０階調レ
ベル１には１０パルス。

階調レベル２には１６パルス、・・・・１階調レベル６
４には２５０パルスのように各階調に対応したパルス数
を決定し、各階調レベルの記録濃度を再現できるように
印加パルスを予め設定する。

以下の実施例では６４階調の場合について説明する。こ
のσ？のＩＶＦＪレベルとパルス数の関係を表にすると
第１２図に示すようになる。

次に、ｍ境温度の変化の補正方法について説明する。第
４図に示すようにパルス幅（１，）、繰り返し周期（ｔ
、）を一定にし、環境温度が′ｒ、〜Ｔ。

（Ｔ　、＜　Ｔ　ｔ　＜　Ｔ　ｓ　）のように変化する
とこの上昇曲線の傾きが変化するため同一階調の記録濃
度が変動する。この対策として、各ライン毎にサーミス
タ等で環境温度を検出し、環境温度の変化を補正すれば
よいわけであるが前述した通りサーミスタでは充分な補
正は不可能である。そこで、この発明においてはカラー
記録の場合は、各色の記録開始直前に、モノクロの場合
は１ページの記録開始直前にサーミスタで環境温度を検
出し、温度変化分だけ階調レベルを補正することで対応
する。具体的には第１４図の表で示されるように環境温
度を８種類のグループに分け、各グループに対してｈ［
１正係数を決めておく０例えば、環境温度が４０°Ｃの
場合はグループ番号６に属するので補正係数は０．９４
となり、温度補正を行った後の階調レベルは入力された
１借調レベルの０．９４倍となる。

次に１発熱抵抗体の抵抗値のバラツキの補正方法につい
て：（２明する。

以下の実施例では、２０４８個の発熱抵抗体を有するサ
ーマルヘッドを使用しているので、まず予め２０４８個
の発熱抵抗体の抵抗値を測定し。

次いで前記抵抗値を第１３図に示すように８′８類のグ
ループに分け、抵抗値のバラツキを補正する補正係数を
前述の温度補正と同じ方法で決定する。

すなわち、抵抗値が３５０Ωの発熱抵抗体の補正係数は
１．０４となり、前述の温度補正の結果と総合すると抵
抗値補正後の階調レベルは入力階調レベルの０．９４Ｘ
１．０４＝０．９８倍となる。

Ｍｆ＆に、記録パターンに基づく熱影響およびその補正
方法について説明する。

さて、第５図の着目発熱抵抗体（ａ）は、各発熱抵抗体
（ｂ）〜（ｆ）から熱影響を受け、これが記録濃度不均
一の原因となる。この理由を第６図および第７図を用い
て説明する。

第６図は、ｅ自発熱抵抗体（ａ）の温度波形を示した図
で１図において、（６０１）は１通電時間（１，）、繰
り返し周期（ｔ、）の通電パルス、（６０２＞は着目発
熱抵抗体（ａ）の隣接発熱抵抗体（Ｉ））〜（ｆ）が全
て階調レベル６４で発熱した場合の温度波形。

（ＧＯ３）は着目発熱抵抗体（ａ）と１ライン前の発熱
抵抗体（ｅ）およびその両隣の発熱抵抗体（ｄ）、（ｆ
）が同じ階調レベル６４で発熱した場合の温度波形、（
６０４）は着目発熱抵抗体（ａ）のみが発熱した場合の
温度波形をそれぞれ示す、このように過去および現在の
記録パターンに従って着目発熱抵抗体の温度が変化する
ことが上記記録濃度不均一の原因である。

第７ＵＩＩは第８図に示した記録パターンで発熱させた
場合の着目発熱抵抗体（ａ）の温度波形で、（６０５）
は着目発熱抵抗体（ａ）をｌ！ｌ？調レベ小レベル６４
の他の発熱抵抗体をじｒＮレベル１０で発熱させた場合
の温度波形、（６０（Ｊ　）は着目発熱抵抗体（ａ）を
階調レベル６４で１発熱抵抗体（ｄ）〜（ｆ）を階調レ
ベル１０で発熱させた場６の温度波形、（６０７）は着
目発熱抵抗体（ａ）のみを階調レベル６４で発熱させた
場合の温度波形を示す、第６図と第７図を比較すると第
７図の場合、各発熱抵抗体を低い階調レベルで発熱させ
ているので各発熱抵抗体からの熱影響が少なくこのよう
な場合には。

記録パターンの依存性を考慮しなくてもよいことを示し
ている。この発明はこの現象に着目したもので、前ライ
ンおよび左右５個の発熱抵抗体の記録パターンの各階調
レベルを参照し、基、＊値以上の場合にのみ着目発熱抵
抗体に熱影響を及ぼすものと博えて補正を行うものであ
る。

上記基準値については９着目発熱抵抗体に対する相対位
置や発熱抵抗体の熱応答特性および記録周期等により異
なるが　ｇ単な実験により、あるいは熱計算結果からも
容易に求めることができる。

第９図は上記基準値の一例で、６４階調レベルを解像度
８ドツト／　ｒｎ　ｍ　、記録速度５　ｍ　ｓ　／ライ
ンで記録する場合である０着［１発熱抵抗体（ａ）に対
する熱影響は発熱抵抗体（ｅ）が最も大きく、そのため
Ｊ！準値として１５が与えられている。−Ｊｊ。

発熱抵抗体（ｄ　＞、　（ｅ　）は着目発熱抵抗体（ａ
）に対する熱影響は少なく基準値として４８が与えられ
ている。第１０図は記録パターンの一例を示す［でで、
各発熱抵抗体が０印の中に示された階調レベルで記録さ
れる場合を示す、第１・１図は第１０図の記録パターン
で各発熱抵抗体を発熱させた場合。

着目発熱抵抗体（ａ＞への熱影響の有無を示したもので
、Δが有り、Δが無しを示す、なお、この判定は第９図
に示した基準値と第１０図の１９テ調レベルを各発熱抵
抗体毎に比較することによってｉ：）られな結果である
。１３ｉ’ｌえば０発熱抵抗体（ｅ）の記録すべき階調
レベルは２０（第１０図参照）であるが。

この値は第９図から与えられる基準値１５を超えるので
一１着目発熱抵抗体（ａ）に熱影響を与えるものと推定
されるので第１１図ではΔが与えられる。

以上の結果から１着目発熱抵抗体（ａ）に熱影響を及ぼ
す組み合わせパターンは３２通り（＝２Ｍとなるが、熱
分布の対称性を考慮すると同一パターンとみなしてよい
ものがあり、結局８８１類に分類することができる。第
１５［２１は、熱影響を与える発熱抵抗体の組み合わせ
に対する補正係数を表にして示したもので、この表に従
って、記録パターンに基づく熱影響を補正する１例えば
、第１０図の記録パターンの場合、熱影響を与えるパタ
ーンは第１１図で示され、　ｆ＋ｉ正係数は０，８８と
なる。

以上、温度補正、抵抗値補正、記録パターンに基づく熱
影響の補正の結果を総合すると、最終的な補正係数は０
．９４＊　１．０４＊ｏ、８８＝０．８６となる。従っ
て９階調レベル６４を得るための発熱抵抗体に印加する
パルス数は第１２図から２５０＊０．８６＝２１５で与
えられる。

次に、この・発明の別の発明の動作を第１図を用いて説
明する。

この発明では、初期状態としてまず第１のラインメモリ
（７）、第２のラインメモリ（８）、第１のシフトレジ
スタ（１３）および第２のシフトレジスタ（１４）の内
容をいずれも“０゛にし、またカウンタ（４）の初期値
を“０”とする、１〜６４の階調を表わすＩｖ調レベル
信号は、温度検出器（２）の検出結果と共に順次、温度
補正ＲＯＭ　（３）にアドレス情報として入力される０
例えば、環境温度が３０℃であれば第１３図の表よりグ
ループ番号５が選択され、温度検出器（２）から“５”
という情報がアドレスの一部として温度補正ＲＯＭ（３
）に入力される。温度補正ＲＯＭ（３）では、入力され
た階調レベル信号に補正係数０．９７をかけて温度変化
分の補正を行った階調レベル信号を出力する。

温度補正された階調レベル信号は続いて抵抗値補正ＲＯ
Ｍ（６）に入力される。カウンタ（４）は。

発熱抵抗体の個数分（２０４８）を計数できるもの゛で
図示しないクロック信号により動作する。県木的には、
第１番目の階調レベル信号が入力されると、カウンタ（
４）は“０”→“１°°を示し；　ｔｉｔ抗値格納ＲＯ
Ｍ（５）のアドレス情報として“１”が入力される。抵
抗値格納ＲＯＭ（５）のアドレス１番地に対応する内容
は、予め測定された第１番目の発熱抵抗体の抵抗値のグ
ループ番号であり、このグループ番号が抵抗値補正ＲＯ
Ｍ（６）に入力される１例えば第１番目の発熱抵抗体の
抵抗値が２６５Ωであれば、第１４図の表よりグループ
番号６が泗択され、“６”という情報が抵抗値補正ＲＯ
Ｍ（６）のアドレスとして入力される。抵抗値補正ＲＯ
Ｍ（６）では°゛６”という情報をもとに入力された階
調レベル信号に補正係数０，９６をかけて第１のライン
メモリ（７）に格納される０次いで。

第２番目の階調レベル信号が入力される時、カウンタ（
４）は°゛１゛°→゛２”に動作し、抵抗値格納ＲＯＭ
（５）からは第２番目の発熱抵抗体の抵抗値に対するグ
ループ番号のｆｉ′７報が抵抗値補正ＲＯＭ（６）に入
力され、に抗値に対応して階調レベル信号が補正され、
第１のラインメモリ（７）に格納される。同様にして順
次、１ライン分が第１のラインメモリ（７）に格納され
る。こ、二で、格納する番地はアドレス制御部（１１）
によって制御されるわけであるが具体的にはラインメモ
リの１番地から２０４８番地まで順序よく格納されてい
る。アドレスｉｔＩＩ１１ｊｇ部（１１）は１階調レベ
ル信号を格納する場合の他、格納されている内容を出力
する場合にも使用される。第１のラインメモリ（７）に
出力された階調レベル信号は第１のコンパレータ（９）
。

第２のラインメモリ（８）および蓄熱補正ＲＯＭ（１５
）に入力される。ここで、第１のコンパレータ（９）に
入力するのは隣接発熱抵抗体の熱１５ｅが有るか無いか
を判定するためのもので１ｑ・２調しベルｆＪ号が基準
レベル発生器（１２）から出力される基準値以上であれ
ば有意情報“ｌ”を１未満であれば“０″の情報を第１
のシフトレジスタ（１３）に入力する。また、第２のラ
インメモリ（８）に入力するのは１ライン分遅延するた
めのもので、具体的には前ラインの階調レベル信号を１
ライン分記憶する。そして前ラインのｒＪＦＪレベル信
号は第２のコンパレータ（１ｏ）に入力され、前ライン
の３つ＜７）　発ｐ抵抗体の熱影響がそれぞれ有るが無
いがを’Ｉ’１１定し、１９！調レベル信号が基準値以
上の時、有意情報゛１°°をそれ以外の時は０”の情報
を第２のシフトレジスタく１４）に出力する。

第１のシフトレジスタ（１３）および第２のシフトレジ
スタ＜１１１）はそれぞれ３段構成となっており、格段
の■、■、■、■、■から出力される信じは蓄熱補正Ｒ
ＯＭ（１５）の入力端子のアドレス部にそれぞれ供給さ
れる。なお、各シフトレジスタの配置は第５図の発熱抵
抗体の配置と対応する。

すなわち、蓄熱補正ＲＯＭ（１５）には１着目発熱低抗
体（ａ）に供給する階調レベル信号とこの着目発熱抵抗
体（ａ）の隣接発熱抵抗体の熱影響の有無のｆｉ？　？
Ｉｊと萌ラインの熱影響の有無情報が入力され。

蓄熱量に応じて第１５図の表の如く階調レベル信号をン
市正す−る。そして、蓄熱補正ＲＯＭ（１５）から出力
されたｌ’？￥　１ｉＪｉｌレベル信づは、パルス発生
手段（１Ｇ）に人力され１階調レベル信号に対応したパ
ルス数でサーマルヘッドを制御する１以上のように、■
ラインの記録を行うが１次ラインの記録を行う場合はカ
ウンタ（４）を初期状邪に戻して記録を繰り返すことに
より忠実な巾［７記録を得ることができる。なお、１ペ
ージの記録終了後、カウンタ（４）、第１のラインメモ
リ（７）、第２のラインメモリ（８）、第１のシフトレ
ジスタ（１３）および第２のシフトレジスタ（１４）を
それぞれ初期状態に戻す。

なお、上記実施例では隣接発熱抵抗体および前ラインに
おける発熱抵抗体の計５個を参照する場合について説明
したが参照数は上述した値に限定されない。

また、上記実施例では各補正手段における補正するグル
ープ数を８と設定したが、サーマルヘッドの特性等によ
り異なり自由に設定可能である。

また、上記実施例ではパルス発生手段がら発生ずるパル
ス信号をパルス数として説明したがパルス数の代わりに
パルス幅を階調レベル信号に対応させてサーマルヘッド
を制御しても同様の効果を奏する。

［発明の効果］ この発明は以上説明したとおり、過去の発熱抵抗体の記
録パターンおよび現在の隣接発熱抵抗体の記録パターン
における各ｌＩＪ調レ調歩ベルれぞれ参照し、予め設定
された基準値以上の場合のみ有意データ「１」、基準値
未満の場合は有意データ「０」と判定し、前記有意デー
タｒｌ」、’ＯＪの組み合わせを参照して得られた結果
に基づいて同一階調の記録濃度が一定となるように現在
の記録ラインの着目発熱抵抗体に印加するエネルギーを
１＆適化するようにし、中間調記録の忠実な再現を困難
にしていた環境温度、抵抗値、蓄熱の諸要因を補正して
１階調レベル信号を得るようにしたので、同一階調レベ
ルの記録濃度変動の発生を防止し、均一な記録濃度を得
られ、充分に正確な階調記録を行うことができるという
優れた効果がある。

また、この発明の別の発明は、サーマルヘッドの基板温
度を検出する温度検出手段と、前記温度検出手段の出力
信号と階調レベル信号とを入力して温度変化に対してｔ
ｉｌｌレベル信号を補正する温度補正手段と、予め発熱
抵抗体の抵抗値を測定し。

この抵抗値を所定数のグループに分けて記憶する抵抗値
記憶手段と、前・記抵抗値記憶手段からの出力信号と温
度変化分を補正したｌＩ！、ｔ　：Ａレベル信号とを入
力して抵抗値のバラツキを階調レベル信号を補正するこ
とにより等測的に少なくする抵抗値補正手段と、１ライ
ン分以上の階調レベル信号が格納可能な記憶手段と、前
記記憶手段の各出力信号が基準の階調レベル信号以上で
あるがどうかを判定する判定手段と、前記判定手段の各
出力信号を入力する蓄積手段と、前記蓄債手段からの信
号と階調レベル信号とをアドレス情報として入力して階
調レベル信号を補正することにより過去の記録における
熱Ｈ歴および現在の記録における熱影響を解消する蓄熱
補正手段と、前記蓄熱補正手段より出力された各階調レ
ベルに対応したパルス数あるいはパルス幅を発生するパ
ルス発生手段とを備えているので、上述した効果と同一
の効果がある６

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例における中間調記録装置を
示すブロック図、第２図はパルス数と発熱抵抗体の温度
との関係の一例を示す特性図、第３図はパルス数と記録
濃度（階調レベル）との関係を示す特性図、第４図は環
境温度の変化に伴って記録濃度が変化する状態を示す図
、第５図は発熱に抗体の熱影響を示す図、第６図は記録
パターンの相違による温度上昇の違いを示す図、第７図
は。 第８図の記録パターンで発熱させた場合の着目発熱抵抗
体の温度上昇を示す図、第８図は記録パターンを示す図
、第９ｒｉ！Ｉは各発熱抵抗体に与える基準階調レベル
を示す図、第１０図は記録パターンを示す図、第１１図
は着目発熱抵抗体に対する各発熱抵抗体の熱影響を示す
図、第１２図はＮｒ調レベルとパルス数との関係表を示
す図、第１３図はグループ別の環境温度と補正係数との
関係表を示す図、第１４図はグループ別の発熱抵抗体の
抵抗値と補正係数との関係表を示す図、第１５図はグル
ープ別の熱影響を与える発熱抵抗体の組み合わせと補正
係数との関係表を示す図、第１６図および第１７図は従
来の中間調記録方式を示す図である。 図において、（１）・・・階調レベル信号入力端子、（
２）・・・温度検出器、（３）・・・温度補正ＲＯＭ、
（４）・・・カウンタ、（５）・・・抵抗値格納ＲＯＭ
、（６）・・・抵抗値補正ＲＯＭ、（７）−・・第１の
ラインメモリ、（８）・・・第２のラインメモリ、（９
）・・・第１のコンパレータ、（１０）・・・第２のコ
ンパレータ１１１）・・・アドレス制御部、（１２）・
・・基準発生器、（１３）・・・第１のシフトレジスタ
、（１４）・・・第２のシフトレジスタ、（１５）・・
・蓄熱補正ＲＯＭ、（１６）・・・パルス発生手段、（
１７）・・・サーマルヘッ第　２　図　　　　　　　　
　第　４　図Ｈ ｐ 第　３　図 第　５　図 ｅｆ 第　６　図　　　　　　　第　７１ 第　８　図 ｅｆ ■ＯＯ ■Ｏ■ ｂａ・　　Ｃ 第９図 ｅｆ 口Ｅｌ口 「　　同 ａｃ 第１０図 ｄ　　　　ｅｆ 第１１図 ｅｆ ａｃ 第１２図 第１３図 第１４囚 第１５図 第１６図 ’ｒ−−ｔｐ≠ 第１７図 シ墓庖 手続ネ市正−，，１１ｊ： 特ＪＴ庁長官殿 １、事件の表示 昭和６２年特許願第３０３３４１号 ２、発明の名称 中間調記録方法および装置 ３゜補正をする者 事件との関係　　特許出願人 住　所　　　　　東ｙ；（都千代田区丸の内二丁ロ２番
３号名　称　　（６０１）三菱電機株式会社代表者志岐
守哉 ４、代理人 住　所　　　　　東京都千代田区丸の内二丁］」４番１
号丸の内ビルディング４トドｖ ５、補正の対象 （１）明細書の発明の詳細な説明の欄 ６、補正の内容 （１）明細書第１７頁第４行「第１４図」分「第１３図
」と補正する。 （２）同書同頁第１５行「第１３図」を［第１４図Ｊと
補正する。 （３ン同書第２１頁第２行「△が与えられる。」を「△
が与えられる。Ｊと補正する。 （４）同書第２５頁第６行「格段の」を「各段のｊと補
正する。 （５）図面第１図を別紙の通り補正する。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. （１）複数の発熱抵抗体を配設したサーマルヘッドと、
   過去の記録と現在の記録における熱影響を補正する蓄熱
   補正手段とを備えた中間調記録装置において、過去の発
   熱抵抗体の記録パターンおよび現在の隣接発熱抵抗体の
   記録パターンにおける各階調レベルをそれぞれ参照し、
   予め設定された基準値以上の場合のみ有意データ「１」
   、基準値未満の場合は有意データ「０」と判定し、前記
   有意データ「１」、「０」の組み合わせを参照して得ら
   れた結果に基づいて同一階調の記録濃度が一定となるよ
   うに現在の記録ラインの着目発熱抵抗体に印加するエネ
   ルギーを最適化するようにしたことを特徴とする中間調
   記録方法。
2. （２）サーマルヘッドを構成する複数の発熱抵抗体の選
   択的通電制御により１ラインずつ熱的な記録を行い、中
   間調記録を得る中間調記録装置において、前記サーマル
   ヘッドの基板温度を検出する温度検出手段と、前記温度
   検出手段の出力信号と階調レベル信号とを入力して温度
   変化に対して階調レベル信号を補正する温度補正手段と
   、予め発熱抵抗体の抵抗値を測定し、この抵抗値を所定
   数のグループに分けて記憶する抵抗値記憶手段と、前記
   抵抗値記憶手段からの出力信号と温度変化分を補正した
   階調レベル信号とを入力して抵抗値のバラツキを階調レ
   ベル信号を補正することにより等価的に少なくする抵抗
   値補正手段と、１ライン分以上の階調レベル信号が格納
   可能な記憶手段と、前記記憶手段の各出力信号が基準の
   階調レベル信号以上であるかどうかを判定する判定手段
   と、前記判定手段の各出力信号を入力する蓄積手段と、
   前記蓄積手段からの信号と階調レベル信号とをアドレス
   情報として入力して階調レベル信号を補正することによ
   り過去の記録における熱履歴および現在の記録における
   熱影響を解消する蓄熱補正手段と、前記蓄熱補正手段よ
   り出力された各階調レベルに対応したパルス数あるいは
   パルス幅を発生するパルス発生手段とを備え、前記パル
   ス発生手段の出力信号によって前記サーマルヘッドを制
   御するようにしたことを特徴とする中間調記録装置。
3. （３）蓄積手段は所定の段数を有するシフトレジスタで
   あることを特徴とする特許請求の範囲第２項記載の中間
   調記録装置。