JPH065813B2 - Mosパツフア回路 - Google Patents

Mosパツフア回路

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JPH065813B2
JPH065813B2 JP59111795A JP11179584A JPH065813B2 JP H065813 B2 JPH065813 B2 JP H065813B2 JP 59111795 A JP59111795 A JP 59111795A JP 11179584 A JP11179584 A JP 11179584A JP H065813 B2 JPH065813 B2 JP H065813B2
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JP
Japan
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mos transistor
gate
mos
transistor
circuit
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JP59111795A
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JPS60254920A (ja
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高 三井田
朗 武井
清 田代
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Fujitsu Ltd
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Fujitsu Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】 発明の技術分野 本発明はMOSダイナミックバッファ回路に関し、該バ
ッファ回路の出力が長時間に亘って保持されるようにし
ようとするものである。
従来技術と問題点 MOSダイナミック回路は第1図に示すようにMOSト
ランジスタのゲートをコンデンサCの電圧で突き上げる
即ちブートストラップ効果を利用する点が特徴である。
この図でQ〜Qはエンハンスメント型のnチャネル
MOS FETであり、VDD,VSSは電源、S,S
は信号である。ここでSはSに対してプリチャージ
期間分の遅延をもたすものとする。波形図の第3図(a)
を参照しながら説明すると、入力信号SがH(ハイ)
レベルであるとトランジスタQはオン、出力OUTは
L(ロー)レベルであり、この状態でプリチャージ用の
信号SがLになってトランジスタQがオフになる
と、プリチャージ期間にコンデンサCは電源VDD(VSS
はグランドレベル)に充電される。然るのち信号S
LレベルになるとトランジスタQはオフになり、トラ
ンジスタQはオンであるから出力OUTは電源VDD
電圧ヘプルアップされる。出力OUTがVDDへ向って上
昇するトランジスタQのゲートAはそれよりコンデン
サCの電圧だけ更に高いから該トランジスタQはトラ
イオード領域になり、Bすなわち出力OUTの電圧はV
DDまで上昇して、通常のnチャネルMOSトランジスタ
のようにVth(閾値電圧)だけ下るということはない。
これらの波形を第3図(b)に示す。
このようにMOSダイナミック回路は出力電圧を電源電
圧まで高めることができるという利点を持つが、MOS
キャパシタとして構成されるコンデンサCの電荷は長期
間保持することはできず、PNジャンクションのリーク
電流などにより次第に消滅するからコンデンサ電圧は漸
減し、従ってゲート電圧が不足してMOSトランジスタ
はVDD−2×Vthの電圧降下を生じるようになる。
MOSダイナミック回路の他の利点は出力の立上がり速
いということであり、Cを除いたスタティックな回路で
はMOSダイナミック回路ほどの速い出力の立上りは望
めない。
発明の目的 用途によっては出力のHレベルは若干低くしてもよいが
そのHレベルを長期間維持することができ、そして出力
の立上りは速やかであることが望まれることがある。本
発明はかゝる用途に好適な回路を提供しようとするもの
である。
発明の構成 本発明のMOSダイナミック回路は、第1,第2のMO
Sトランジスタを直列にして電源間に接続し、第1のM
OSトランジスタのゲート、ソース間にはブートストラ
ップ効果を生じるコンデンサを接続した第1の回路と、
第3,第4,第5のMOSトランジスタを直列にして電
源間に接続し、第3のMOSトランジスタはゲートをド
レインへ接続してその閾値電圧だけの電圧降下を生じさ
せるようにし、第4のMOSトランジスタのゲートは前
記第1のMOSトランジスタのゲートへ接続し、そして
第4と第5のMOSトランジスタの接続点を出力端とし
た第2の回路と、エンハンスメント型の第6のMOSト
ランジスタとディプリーション型の第7のMOSトラン
ジスタからなり、第6のMOSトランジスタは、高電位
側の電源と第1のMOSトランジスタのゲート間に接続
されるとともに、そのゲートをドレインへ接続して閾値
電圧だけの電圧降下を生じさせるようにし、第7のMO
Sトランジスタは、第6のMOSトランジスタと並列に
高電位側の電源と第1のMOSトランジスタのゲート間
に接続され、そのゲートを第1のMOSトランジスタの
ソースに接続した第3の回路とを備えてなることを特徴
とするが、次に実施例を参照しながらこれを説明する。
発明の実施例 第2図は本発明の実施例を示し、第1図と比べて、プリ
チャージ用のエンハンスメント型MOSトランジスタQ
に並列にディプリーション型MOSトランジスタQ
が接続されている点が大きく異なる。このトランジスタ
のゲートは、第1図では出力端のOUTであったノ
ードBに接続され、出力OUTは別に設けたエンハンス
メント型nチャネルMOS FET Q〜Qの、Q
とQの接続点とする。トランジスタQはゲートを
電源VDDへ接続してその閾値Vthだけ電圧降下させる素
子として使用し、トランジスタQはゲートをQと同
様にMOSキャピャシタCによりブーストされるノード
Aへ接続し、そしてトランジスタQのゲートへはQ
と同様に信号Sを入力する。この回路でもSはS
に対してプリチャージの期間分の遅延をもたすものとす
る。
第3図(a)の波形図を参照しながら第2図の回路の動作
を説明するに、信号SがHでトランジスタQ,Q
がオンであると出力OUTはLレベルであり、信号S
がLになるとコンデンサCは主としてトランジスタQ
を通して充電され、ノードAはA点へプリチャージさ
れる。かゝる状態で信号SがLレベルになるとトラン
ジスタQ,Qはオフになり、ノードBはオンである
トランジスタQにより電源VDDへチャージアップさ
れ、ノードBの電位の立上りでノードAは、充電されて
いるコンデンサCにより突き上げられ、図示のように更
に電位が上る。即ちブートストラップ効果が生じ、トラ
ンジスタQ,Qはトライオード領域になってノード
Bは電源VDDまで、出力OUTはトランジスタQによ
りVDDからVth1段落ちまでそれぞれ上昇する。
ノードAがブートストラップ効果で電源電圧以上に突き
上げられるとき、エンハンスメント型MOSトランジス
タQはカットオフ状態になるが、ディプリーション型
MOSトランジスタQはノーマリオンであるからコン
デンサCの電荷はノードBの電圧の上昇と共に該Q
通して電源VDDへ流出する。これは出力OUTが立ち上
がるまでは少なく抑える必要があるので、トランジスタ
にはgmの小さいものを使用する。MOSキャパシ
タCの電荷がトランジスタQを通して放電しキャパシ
タ電圧が下るが、Qのトランジスタはデプレション型
であるためノードAの電位はVDDに保たれる。この結果
トランジスタQ,Qは共にゲートがVDDに保たれて
いるので、出力OUTはVDDVthの値を保持してこれよ
り上ることも下ることもない。
この第2図の回路はCCD(電荷結合装置)の間けつ的
な電荷転送動作やアナログ信号処理を行いたい時などに
好適である。
発明の効果 以上説明したように本発明によれば、速やかに立上りそ
して立上り後は長期間そのHレベルを維持するMOSダ
イナミックバッファ回路が得られ、かゝる特徴を持つこ
とが望まれるCCDの電荷転送部の変動の少ない転送信
号を間けつ動作に求める場合や、アナログ信号としての
CCD信号出力のサンプル/ホールド回路に於いてサン
プル/ホールド期間を自由に選びたい場合などに用いて
有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図はMOSダイナミック回路の一例を示す回路図、
第2図は本発明の実施例を示す回路図、第3図は動作説
明用の波形図である。 図面でQ,Qは第1,第2のMOSトランジスタ、
Cはコンデンサ、Q,Q,Qは第3,第4,第5
のMOSトランジスタ、OUTは出力端、Q,Q
第6,第7のMOSトランジスタである。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−63935(JP,A) 特開 昭57−101425(JP,A) 特開 昭58−20034(JP,A) 特開 昭58−121830(JP,A)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1、第2のMOSトランジスタを直列に
    して電源間に接続し、第1のMOSトランジスタのゲー
    ト、ソース間にはブートストラップ効果を生じるコンデ
    ンサを接続した第1の回路と、 第3、第4、第5のMOSトランジスタを直列にして電
    源間に接続し、第3のMOSトランジスタはゲートをド
    レインへ接続してその閾値電圧だけの電圧降下を生じさ
    せるようにし、第4のMOSトランジスタのゲートは前
    記第1のMOSトランジスタのゲートへ接続し、そして
    第4と第5のMOSトランジスタの接続点を出力端とし
    た第2の回路と、 エンハンスメント型の第6のMOSトランジスタとディ
    プリーション型の第7のMOSトランジスタからなり、
    第6のMOSトランジスタは、高電位側の電源と第1の
    MOSトランジスタのゲート間に接続されるとともに、
    そのゲートをドレインへ接続して閾値電圧だけの電圧降
    下を生じさせるようにし、第7のMOSトランジスタ
    は、第6のMOSトランジスタと並列に高電位側の電源
    と第1のMOSトランジスタのゲート間に接続されると
    ともに、そのゲートを第1のMOSトランジスタのソー
    スに接続した第3の回路とを備えてなることを特徴とす
    るMOSバッファ回路。
JP59111795A 1984-05-31 1984-05-31 Mosパツフア回路 Expired - Lifetime JPH065813B2 (ja)

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JP59111795A JPH065813B2 (ja) 1984-05-31 1984-05-31 Mosパツフア回路

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JP59111795A JPH065813B2 (ja) 1984-05-31 1984-05-31 Mosパツフア回路

Publications (2)

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JPS60254920A JPS60254920A (ja) 1985-12-16
JPH065813B2 true JPH065813B2 (ja) 1994-01-19

Family

ID=14570342

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JP59111795A Expired - Lifetime JPH065813B2 (ja) 1984-05-31 1984-05-31 Mosパツフア回路

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5763935A (en) * 1980-10-03 1982-04-17 Mitsubishi Electric Corp Bootstrap circuit
JPS57101425A (en) * 1980-12-17 1982-06-24 Fujitsu Ltd Driver circuit
JPS5820034A (ja) * 1981-07-29 1983-02-05 Toshiba Corp 半導体集積回路
JPS58121830A (ja) * 1982-01-14 1983-07-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 出力駆動回路

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JPS60254920A (ja) 1985-12-16

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