JPH0644528Y2 - 抵抗溶接測定装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本考案は、抵抗溶接における溶接電流を測定する装置に
関する。

［従来の技術］ 抵抗溶接制御装置は、溶接電流，通電時間，加圧等の抵
抗溶接条件を制御する装置である。それら抵抗溶接条件
の中でもとりわけ重要なのは溶接電流であり、設定通り
の溶接電流が流れないと溶接不良を起こしやすい。その
ような事情から、電源電圧の変動等に影響されず溶接電
流を一定に維持する定電流制御方式の抵抗溶接制御装置
が広く使われている。

一方、抵抗溶接測定装置は、主に溶接電流と通電時間ま
たはサイクルを測定する装置で、それらの測定値を表示
したり、それらの測定値が許容範囲内に入っているか否
かの判定（良否判定）を行い、その判定結果を表示した
りする。上述のような制御装置によって溶接電流を制御
しても、実際には設定値から大きくずれた溶接電流が流
れることもあるので、溶接結果を確認する意味で、測定
装置も併用されている。

［考案が解決しようとする課題］ 上述のように抵抗溶接制御装置と抵抗溶接測定装置は同
じ抵抗溶接機に対して併用されることが多いのである
が、それぞれ独立のユニットとして機能するものである
ため、や通電時間等の溶接条件を設定するための入力作
業は別個に行わなければならない。従来のこの種装置に
おける入力作業は、前面パネルのキーボード上のディジ
タル・スイッチまたはタッチ・スイッチ等を操作して各
設定値ないし基準値について１つ１つ入力するものであ
った。

しかし、一回の設定で済めばそれほど問題ないが、何回
も設定し直すような場合には入力作業が大変であった。
例えば、溶接回数または打点数が所定値に達する度に溶
接電流の磨耗を補償するようステップ的に溶接電流を増
大させる、いわゆるステップ・アップ機能が制御装置に
設けられている場合、溶接電流のステップ・アップの度
毎に測定装置に対して溶接電流の変更値（再設定値）と
良否判定のための上限しきい値および下限しきい値とを
キーボードより手動操作で再入力しなければならず、非
常に煩わしかった。そして、このような入力作業の煩わ
しさは、制御装置，測定装置の設置台数が多くなる程深
刻な問題となり、また入力ミスを招く原因の１つともな
っていた。

本考案は、かかる問題点に鑑みてなされたもので、抵抗
溶接制御装置で溶接電流や通電時間等の溶接条件の設定
値を変更したときに、極簡単な操作でその新たな設定値
に対応した所定の基準値、特に溶接良否判定のための基
準値を設定できるようにした抵抗溶接測定装置を提供す
ることを目的とする。

［課題を解決するための手段］ 上記の目的を達成するために、本考案の抵抗溶接測定装
置は、抵抗溶接制御装置で溶接電流や通電時間等の溶接
条件設定値を書き込まれた非磁気的なメモリカードを着
脱可能に装填し、前記メモリカードより溶接回数が所定
値に達する度に更新された溶接電流の設定値を読み取る
メモリカード読取手段と、前記メモリカードより読み取
られた溶接電流設定値の更新値に基づいて溶接良否判定
のための上限しきい値または下限しきい値を演算し再設
定する基準値設定手段とを具備する構成とした。

［作用］ 本考案の抵抗溶接測定装置では、溶接回数が所定値に達
する度に溶接電流の設定値を更新されるメモリカードが
用いられる。そのようなメモリカードにおける溶接電流
設定値の更新は、メモリカード・インタフェースを備え
た抵抗溶接制御装置で行われる。そして、基準値設定手
段は、その読み取られた溶接電流設定値の更新値に基づ
いて溶接良否判定のための上限しきい値または下限しき
い値を演算し再設定する。したがって、抵抗溶接制御装
置においてステップ・アップ機能によって溶接電流の設
定値が度々更新されても、メモリカードを通じて当該抵
抗溶接測定装置においても自動的に上下限しきい値が更
新される。

なお、抵抗溶接は大電流を扱うため、溶接現場には非常
に強い磁界が発生しており、磁気記録媒体では記憶デー
タが容易に破壊してしまう。しかし、本考案で使用する
メモリカードは非磁気式の記憶媒体であるから、そのよ
うなデータ破壊のおそれはない。

［実施例］ 以下、添付図を参照して本考案の一実施例を説明する。

先ず第４図に、この実施例を適用したシステムの概要を
示す。同図において、抵抗溶接測定装置10と抵抗溶接制
御装置40は同じ抵抗溶接機に併用される独立のユニット
で、同一のスタート信号STに応動してそれぞれの機能
（制御機能・測定機能）を実行する。この実施例では、
両装置にメモリカードI/F（インタフェース）26,56が備
えられ、両装置はメモリカード100を通じて溶接条件を
合わせることができるようになっている。メモリカード
100は、データ書込・消去可能な非磁性のカード、例え
ばRAMカード,ICカード等で、溶接電流や通電時間等の設
定値その他のデータを記憶する。

第３図は、抵抗溶接機の回路構成と抵抗溶接制御装置40
の回路構成を示す。

抵抗溶接機70において、入力端子72,74には商用交流電
圧Ｅが入力される。この商用交流電圧Ｅは、一対のサイ
リスタ76,78からなるコンタクタを介して溶接トランス8
0の一次側コイルに印加され、トランス80の二次側コイ
ルより溶接電流Ｉが一対の溶接電流82,84を介して被溶
接材86,88に供給されるようになっている。溶接電流Ｉ
の電流値および通電時間は、制御回路40のサイリスタ点
弧回路64からのサイリスタ点弧信号Ga,Gbによって制御
される。

制御装置40において、内部バス42には、CPU44,RAM46,RO
M48,パネルコントローラ50,メモリカード・リーダ／ラ
イタ56,タイミング回路58,A/D変換器60,入出力インタフ
ェース（I/F）62がそれぞれ接続される。

CPU44は、ROM48に格納されたプログラムにしたがって装
置各部および全体の動作を制御する。特に、この実施例
では、溶接回数をカウントし、その累積値が所定値（例
えば1000,2000,3000…）に達する度に溶接電流を所定値
（例えば20％）増分するようにサイリスタ点弧回路64を
制御する。

RAM46は、パネルコントローラ50を介して入出力される
データや，メモリカード・リーダ／ライタ56を介して入
出力されるデータを格納し、また上記のようにCPU44で
生成された演算データやステップ・アップ後の溶接電流
の設定値のデータ等も格納する。

メモリカード・リーダ／ライタ56は、第４図のメモリカ
ードI/Fに相当するものであって、書込モード時にはCPU
44より溶接電流の設定値等を受け取ってそれをメモリカ
ード100に書き込み、読取モード時にはメモリカード100
から設定値等のデータを読み出してそれをCPU44へ転送
する。

パネルコントローラ50は、パネルキー52より入力される
データ、表示器54に表示されるデータについての制御を
行う。I/F62は、CPU44からの制御信号をサイリスタ点弧
回路64へ送り、溶接機操作部（図示せず）からのスター
ト信号STを入力してそれをCPU44へ送る。A/D変換器60
は、電流センサ、例えばトロイダルコイル66および波形
復元回路68より得られたアナログの溶接電流検出信号を
ディジタル信号に変換してCPU44へ送る。タイミング回
路58は、装置各部に動作タイミング信号を供給するとと
もに、電流センサ66からの出力信号に基づいて通電時間
のタイミングを検出してその検出データをCPU44へ送
る。

このような制御装置40において、メモリカード・リーダ
／ライタ56にメモリカード100を差し込んだ状態にして
おくと、上記のようなステップ・アップ等によって溶接
電流等の設定値が更新される度に、CPU44より新たな設
定値がリーダ／ライタ56を介してメモリカード100に書
き込まれる。また、メモリカード100を随時差し込んで
パネルキー22の所定のボタンを押すことで、その時点で
の溶接電流設定値をメモリカード100に書き込むことも
できる。

さて、第１図は、抵抗溶接測定装置10の回路構成を示
す。この測定装置10において、内部バス12には、CPU14,
RAM16,ROM18,パネルコントローラ20,メモリカード・リ
ーダ／ライタ26,タイミング回路28,A/D変換器30,入出力
インタフェース（I/F）36がそれぞれ接続される。

CPU14は、ROM18に格納されたプログラムにしたがって装
置各部および全体の動作を制御する。特に、この実施例
では、メモリカード100より読み取られた溶接電流の設
定値を基に良否判定の上限しきい値（例えば設定値に対
して＋10％の値）および下限しきい値（例えば設定値に
対して−10％の値）を演算し、それらの基準値をRAM16
に格納する。そして、抵抗溶接が行われると、溶接電流
の測定値をそれら上下限しきい値と比較し、測定値がし
きい値の範囲内にあれば「良」の判定結果を、いずれか
のしきい値を越えたときは「否」の判定結果を表示器24
に表示せしめる。

RAM16は、パネルコントローラ20を介して入出力される
データやメモリカード・リーダ／ライタ26を介して入出
力されるべきデータを一時的に格納する。また、上記の
ようにCPU14において生成された上限および下限しきい
値をも格納する。

メモリカード・リーダ／ライタ26は、第４図のメモリカ
ードI/Fに相当するものであって、書込モード時にはCPU
14より溶接電流の設定値等を受け取ってそれをメモリカ
ード100に書き込み、読取モード時にはメモリカード100
から溶接データを読み出してそれをCPU14へ転送する。

パネルコントローラ20,パネルキー22,表示器24,タイミ
ング回路28,A/D変換器30,電流センサ32,波形復元回路34
は，それぞれ抵抗溶接制御装置40内の対応するもの（同
じ名称の構成要素）と同様な構成を有し同様な機能を実
行する。I/F36は、溶接機操作部（図示せず）からのス
タート信号STを入力してそれをCPU14へ送ったり、外部
の装置とデータのやりとりを行う。

このような測定装置10に対して、制御装置40でデータを
書き込んだメモリカード100を装着すると、リーダ／ラ
イタ26を介して溶接電流設定値等の記憶データが読み取
られ、RAM16に格納される。CPU14は、読み取った溶接電
流等の設定値に基づいて溶接良否判定用の上限しきい値
および下限しきい値を演算する。

第２図は、所定の溶接打点数毎に制御装置40でステップ
的に増分される溶接電流設定値と、測定装置10で再設定
される上限しきい値および下限しきい値を示す。この実
施例では、このような両装置40,10におけるステップ・
アップ機能をメモリカード100を通じて自動的に連動さ
せることができる。したがって、従来のようにステップ
・アップが行われる度毎に測定装置に溶接電流の変更値
（再設定値）と良否判定のための上限しきい値および下
限しきい値とを逐一手動操作で再入力する作業は不要と
なり、作業員の煩わしさは解消される。また、設置台数
が多い場合でも、各々に対してメモリカードを装着し所
定のボタンを押すだけで良いので、煩わしいことはな
い。

なお、測定装置10側のパネルキー22より設定入力した溶
接電流等の溶接条件をメモリカードを通じて制御装置40
側に設定入力することも可能である。

［考案の効果］ 本考案は、上述したような構成を有することより、次の
ような効果を奏する。

溶接回数が所定値に達する度に抵抗溶接制御装置で溶接
電流の設定値が更新されると、メモリカードを介して溶
接電流設定値の更新値が抵抗溶接測定装置に入力され、
抵抗溶接測定装置においてその更新値に応じた溶接良否
判定のための上限しきい値または下限しきい値が自動的
に再設定されるので、抵抗溶接制御装置のステップ・ア
ップ機能によって溶接電流設定値が度々更新されても、
作業者の手を煩わすことがなく、設置台数が多くても入
力作業は簡単に行える。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本考案の一実施例による抵抗溶接測定装置の
回路構成を示すブロック図、 第２図は、実施例において所定の溶接打点数毎に抵抗溶
接制御装置でステップ的に増分される溶接電流設定値
と、抵抗溶接測定装置で再設定される上限しきい値およ
び下限しきい値を示す図、 第３図は、一実施例による抵抗溶接制御装置の回路構成
を示すブロック図、 第４図は、実施例を適用したシステムの概要を示すブロ
ック図である。 図面において、 10……抵抗溶接測定装置、 14,44……CPU、 16,46……RAM、 18,48……ROM、 26,56……メモリカード・リーダ／ライタ、 40……抵抗溶接制御装置、 100……メモリカード。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】抵抗溶接制御装置で溶接電流や通電時間等
   の溶接条件設定値を書き込まれた非磁気的なメモリカー
   ドを着脱可能に装填し、前記メモリカードより溶接回数
   が所定値に達する度に更新された溶接電流の設定値を読
   み取るメモリカード読取手段と、 前記メモリカードより読み取られた溶接電流設定値の更
   新値に基づいて溶接良否判定のための上限しきい値また
   は下限しきい値を演算し再設定する基準値設定手段と、 を具備することを特徴とする抵抗溶接測定装置。