JP3265630B2 - 溶接抵抗の測定方法及びその測定方法が行われる溶接装置 - Google Patents
溶接抵抗の測定方法及びその測定方法が行われる溶接装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、溶接抵抗の測定方法、
さらにはその測定方法が行われる溶接装置の改良に関す
る。
さらにはその測定方法が行われる溶接装置の改良に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】抵抗溶接を行う場合、溶接中にワークの
表面状態等に起因してスパークやチリが発生する場合が
あり、その際には溶接が不良となる。その溶接不良を検
出するため、従来においては溶接時に溶接抵抗の変動を
モニタしている。これはスパークやチリが発生すると溶
接抵抗が増大するからである。そして、従来における溶
接抵抗の測定は、溶接通電中に電極間の電圧と電流とを
サイクル毎に計測し、電圧／電流の演算を行うことによ
り行っている。
表面状態等に起因してスパークやチリが発生する場合が
あり、その際には溶接が不良となる。その溶接不良を検
出するため、従来においては溶接時に溶接抵抗の変動を
モニタしている。これはスパークやチリが発生すると溶
接抵抗が増大するからである。そして、従来における溶
接抵抗の測定は、溶接通電中に電極間の電圧と電流とを
サイクル毎に計測し、電圧／電流の演算を行うことによ
り行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た溶接抵抗の測定方法では電極間の電流を計測する必要
があるので、正確な溶接抵抗が行えないという問題点が
あった。これは電流計がトロイダルコイル用いた構成で
あって電圧計に比して計測精度が十分でなく、とくに微
少な電流の変化があった際の計測が精度良く行われない
ことに起因する。
た溶接抵抗の測定方法では電極間の電流を計測する必要
があるので、正確な溶接抵抗が行えないという問題点が
あった。これは電流計がトロイダルコイル用いた構成で
あって電圧計に比して計測精度が十分でなく、とくに微
少な電流の変化があった際の計測が精度良く行われない
ことに起因する。
【０００４】
【０００５】
【０００６】本発明は、このような実情に着目してなさ
れたものであって、正確な溶接抵抗の測定ができるよう
にして、溶接良否判定が精度良く行われるようにするこ
とを目的とする。
れたものであって、正確な溶接抵抗の測定ができるよう
にして、溶接良否判定が精度良く行われるようにするこ
とを目的とする。
【０００７】
【０００８】
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項１の発明では、溶接抵抗の測定方法を、溶接
用の一方の電極と、その電極と同一の溶接電流回路内に
位置するとともに他方の電極を一方の電極との間に介在
させない一部位との間の抵抗値を予め疑似抵抗として測
定して抵抗値記憶手段に記憶しておく第１ステップと、
前記一方の電極と他方の電極との間の電圧および前記疑
似抵抗測定部分の両端間の電圧を測定する第２ステップ
と、前記抵抗値記憶手段に記憶されている疑似抵抗値と
前記第２ステップで測定した２種の電圧とから溶接抵抗
を求める第３ステップとからなる構成とした。
に、請求項１の発明では、溶接抵抗の測定方法を、溶接
用の一方の電極と、その電極と同一の溶接電流回路内に
位置するとともに他方の電極を一方の電極との間に介在
させない一部位との間の抵抗値を予め疑似抵抗として測
定して抵抗値記憶手段に記憶しておく第１ステップと、
前記一方の電極と他方の電極との間の電圧および前記疑
似抵抗測定部分の両端間の電圧を測定する第２ステップ
と、前記抵抗値記憶手段に記憶されている疑似抵抗値と
前記第２ステップで測定した２種の電圧とから溶接抵抗
を求める第３ステップとからなる構成とした。
【００１０】請求項２の発明では、溶接装置を、溶接用
の一方の電極と、その電極と同一の溶接電流回路内に位
置するとともに他方の電極を一方の電極との間に介在さ
せない当該装置の一部位との間の電圧を測定する第１電
圧測定手段と、前記一方の電極と他方の電極との間の電
圧を測定する第２電圧測定手段と、前記第１電圧測定手
段で両端間の電圧を測定する部分の抵抗値を記憶する抵
抗値記憶手段と、前記一方および他方の電極間の通電中
に前記第１電圧測定手段および前記第２電圧測定手段の
測定した電圧と前記抵抗値記憶手段が記憶している抵抗
値とから溶接抵抗を算出する演算手段とを有する構成と
した。
の一方の電極と、その電極と同一の溶接電流回路内に位
置するとともに他方の電極を一方の電極との間に介在さ
せない当該装置の一部位との間の電圧を測定する第１電
圧測定手段と、前記一方の電極と他方の電極との間の電
圧を測定する第２電圧測定手段と、前記第１電圧測定手
段で両端間の電圧を測定する部分の抵抗値を記憶する抵
抗値記憶手段と、前記一方および他方の電極間の通電中
に前記第１電圧測定手段および前記第２電圧測定手段の
測定した電圧と前記抵抗値記憶手段が記憶している抵抗
値とから溶接抵抗を算出する演算手段とを有する構成と
した。
【００１１】
【００１２】
【００１３】
【作用】請求項１と請求項２との発明によれば、疑似抵
抗と、一方の電極と他方の電極との間の電圧および疑似
抵抗測定部分の両端間の電圧とから溶接抵抗が測定され
る。
抗と、一方の電極と他方の電極との間の電圧および疑似
抵抗測定部分の両端間の電圧とから溶接抵抗が測定され
る。
【００１４】
【００１５】
【００１６】
【実施例】以下本発明の実施例を示す。図１は溶接装置
の全体構成を示し、溶接装置は溶接装置本体Ａに制御装
置Ｂが接続されて構成されている。溶接装置本体Ａは、
制御装置Ｂからの指令信号により電源１からの駆動電流
を供給する駆動部２と、駆動部２からの駆動電流により
溶接電流を発生するトランス部４と、トランス部４から
の溶接電流により溶接を行う溶接部５とから構成され
る。溶接部５は一対の溶接アーム７，８と、それらの端
部に取り付けられる固定電極９と可動電極１０とからな
り、溶接アーム７，８の基部それぞれがトランス部４側
に接続され、溶接アーム８は可動電極１０とともに変位
可能に設けられている。１２は固定電極９と可動電極１
０間に積層状態に配置される被溶接物としてのワークで
ある。
の全体構成を示し、溶接装置は溶接装置本体Ａに制御装
置Ｂが接続されて構成されている。溶接装置本体Ａは、
制御装置Ｂからの指令信号により電源１からの駆動電流
を供給する駆動部２と、駆動部２からの駆動電流により
溶接電流を発生するトランス部４と、トランス部４から
の溶接電流により溶接を行う溶接部５とから構成され
る。溶接部５は一対の溶接アーム７，８と、それらの端
部に取り付けられる固定電極９と可動電極１０とからな
り、溶接アーム７，８の基部それぞれがトランス部４側
に接続され、溶接アーム８は可動電極１０とともに変位
可能に設けられている。１２は固定電極９と可動電極１
０間に積層状態に配置される被溶接物としてのワークで
ある。
【００１７】１５は上記溶接アーム８の変位を検出する
変位量検出手段としての変位計、１６は両電極９，１０
間の電圧を測定する第１電圧測定手段としての第１電圧
計、１７は溶接アーム８の基部と端部間の電圧を測定す
る第２電圧測定手段としての第２電圧計である。
変位量検出手段としての変位計、１６は両電極９，１０
間の電圧を測定する第１電圧測定手段としての第１電圧
計、１７は溶接アーム８の基部と端部間の電圧を測定す
る第２電圧測定手段としての第２電圧計である。
【００１８】制御装置Ｂは、マイクロコンピュータによ
り構成されるＣＰＵ２０と制御動作プログラム、測定デ
ータ等が記憶されるメモリ２１とから構成され、制御装
置Ｂには操作部２３が接続されている。上記ＣＰＵ２０
が演算手段、溶接不良検出手段、位置ズレ検出手段のそ
れぞれを構成し、メモリ２１が抵抗値記憶手段、溶接抵
抗データ記憶手段を構成する。
り構成されるＣＰＵ２０と制御動作プログラム、測定デ
ータ等が記憶されるメモリ２１とから構成され、制御装
置Ｂには操作部２３が接続されている。上記ＣＰＵ２０
が演算手段、溶接不良検出手段、位置ズレ検出手段のそ
れぞれを構成し、メモリ２１が抵抗値記憶手段、溶接抵
抗データ記憶手段を構成する。
【００１９】以下、上記溶接装置の動作を、図１の構成
図、さらには制御装置ＢのＣＰＵ２０の動作を示す図２
のフローチャートを参照して説明する。
図、さらには制御装置ＢのＣＰＵ２０の動作を示す図２
のフローチャートを参照して説明する。
【００２０】操作部２３における操作により制御装置Ｂ
から溶接装置本体Ａの駆動部２に始動指令信号が与えら
れると、駆動部２は所定の駆動電流をトランス部４に与
え、これによりトランス部４で発生した溶接電流が溶接
部５に与えられ、両電極９，１０を通してワーク１２に
電流が流されてワーク１２の溶接が開始される。
から溶接装置本体Ａの駆動部２に始動指令信号が与えら
れると、駆動部２は所定の駆動電流をトランス部４に与
え、これによりトランス部４で発生した溶接電流が溶接
部５に与えられ、両電極９，１０を通してワーク１２に
電流が流されてワーク１２の溶接が開始される。
【００２１】この溶接の開始に伴って第１電圧計１６で
は両電極９，１０間の電圧が測定され、第２電圧計１７
では溶接アーム８の基部と端部間の電圧が測定され、さ
らに、変位計１５により溶接アーム８の変位量が測定さ
れ、それぞれの測定値が経時的に制御装置Ｂ側に与えら
れる。
は両電極９，１０間の電圧が測定され、第２電圧計１７
では溶接アーム８の基部と端部間の電圧が測定され、さ
らに、変位計１５により溶接アーム８の変位量が測定さ
れ、それぞれの測定値が経時的に制御装置Ｂ側に与えら
れる。
【００２２】制御装置ＢのＣＰＵでは、第１電圧計１
６、第２電圧計１７それぞれから与えられる測定電圧値
Ｅ１，Ｅ２と、既知でありメモリ２１に記憶される溶接
アーム８の基部と端部間の疑似抵抗値Ｒ１とに基づい
て、下記の式により溶接抵抗値Ｒを算出する（ステップ
１）。
６、第２電圧計１７それぞれから与えられる測定電圧値
Ｅ１，Ｅ２と、既知でありメモリ２１に記憶される溶接
アーム８の基部と端部間の疑似抵抗値Ｒ１とに基づい
て、下記の式により溶接抵抗値Ｒを算出する（ステップ
１）。
【００２３】Ｒ＝（Ｅ１／Ｅ２）×Ｒ１ すなわち、既知である抵抗値Ｒ１と電圧比Ｅ１／Ｅ２と
から、溶接電流値を用いることなく溶接抵抗値Ｒを算出
するようにしている。
から、溶接電流値を用いることなく溶接抵抗値Ｒを算出
するようにしている。
【００２４】そして、上記のようにして得られる溶接抵
抗値Ｒを経時的に記憶することにより、図３に示すよう
な、縦軸を溶接抵抗値Ｒ、横軸を通電時間Ｔとする溶接
抵抗プロファイルをメモリ２１に記憶する（ステップ
２）。また、同様に変位計１５から与えられる変位量を
経時的に記憶することにより、図４に示すような、縦軸
を変位量Ｈ、横軸を通電時間Ｔとする変位量プロファイ
ルをメモリ２１に記憶する（ステップ３）。
抗値Ｒを経時的に記憶することにより、図３に示すよう
な、縦軸を溶接抵抗値Ｒ、横軸を通電時間Ｔとする溶接
抵抗プロファイルをメモリ２１に記憶する（ステップ
２）。また、同様に変位計１５から与えられる変位量を
経時的に記憶することにより、図４に示すような、縦軸
を変位量Ｈ、横軸を通電時間Ｔとする変位量プロファイ
ルをメモリ２１に記憶する（ステップ３）。
【００２５】次に、溶接時間（例えば３０ｍｓｅｃ）の
経過後（ステップ４）、上記において記憶される溶接抵
抗プロファイルに基づいて、溶接中におけるスパーク発
生判定とチリ発生判定とを行う。まず、溶接抵抗プロフ
ァイルにおいて溶接抵抗値Ｒの時間当たりの最大変化率
ＭＡＸｄｆ（ｔ）／ｄｔ［Ｒ＝ｆ（ｔ）］を求め（ス
テップ５）、その絶対値それぞれが設定値α，β（α＞
β）それぞれより大きいかどうかを判定し（ステップ
６，７）、大きい場合にはスパーク発生、チリ発生があ
ったと判定出力する（ステップ８，９）。
経過後（ステップ４）、上記において記憶される溶接抵
抗プロファイルに基づいて、溶接中におけるスパーク発
生判定とチリ発生判定とを行う。まず、溶接抵抗プロフ
ァイルにおいて溶接抵抗値Ｒの時間当たりの最大変化率
ＭＡＸｄｆ（ｔ）／ｄｔ［Ｒ＝ｆ（ｔ）］を求め（ス
テップ５）、その絶対値それぞれが設定値α，β（α＞
β）それぞれより大きいかどうかを判定し（ステップ
６，７）、大きい場合にはスパーク発生、チリ発生があ
ったと判定出力する（ステップ８，９）。
【００２６】図３おいて、プロファイルＡが良好な溶接
を、プロファイルＢがスパーク発生の場合の溶接を、プ
ロファイルＣがチリ発生の場合の溶接を、プロファイル
Ｄが溶接強度不足の場合の溶接をそれぞれ示すもので、
プロファイルそれぞれにおける傾き度合いが溶接抵抗値
Ｒの変化率（変化量の時間微分値）に相当する。例え
ば、プロファイルＢにおいて５〜７．５ｍｓｅｃ部分に
おいてプロファイルが大きく上方に突出する部分がスパ
ーク発生部分であり、この部分でのプロファイルの傾き
度合いが大きくなって溶接抵抗値Ｒの変化率（溶接抵抗
が増大する場合は正、減少する場合は負）もプロファイ
ル全体において最大となり、その値が上記設定値αを上
回ることとなる。また、同様にプロファイルＣにおいて
２３〜２７ｍｓｅｃ部分においてプロファイルが少し上
方に突出する部分がチリ（スパークの小さなもの）発生
部分とみなされ、この部分でのプロファイルの傾き度合
いも大きくなって溶接抵抗値Ｒの変化率もプロファイル
全体において最大となり、その値が上記設定値βを上回
ることとなる。
を、プロファイルＢがスパーク発生の場合の溶接を、プ
ロファイルＣがチリ発生の場合の溶接を、プロファイル
Ｄが溶接強度不足の場合の溶接をそれぞれ示すもので、
プロファイルそれぞれにおける傾き度合いが溶接抵抗値
Ｒの変化率（変化量の時間微分値）に相当する。例え
ば、プロファイルＢにおいて５〜７．５ｍｓｅｃ部分に
おいてプロファイルが大きく上方に突出する部分がスパ
ーク発生部分であり、この部分でのプロファイルの傾き
度合いが大きくなって溶接抵抗値Ｒの変化率（溶接抵抗
が増大する場合は正、減少する場合は負）もプロファイ
ル全体において最大となり、その値が上記設定値αを上
回ることとなる。また、同様にプロファイルＣにおいて
２３〜２７ｍｓｅｃ部分においてプロファイルが少し上
方に突出する部分がチリ（スパークの小さなもの）発生
部分とみなされ、この部分でのプロファイルの傾き度合
いも大きくなって溶接抵抗値Ｒの変化率もプロファイル
全体において最大となり、その値が上記設定値βを上回
ることとなる。
【００２７】そして、上記においてスパーク発生、チリ
発生がともになかったと判定された場合は、記憶される
変位量プロファイルに基づいて、溶接中における位置ズ
レ発生判定を行う。すなわち、変位量プロファイルにお
いて変位量Ｈの時間当たりの最大変化率 ＭＡＸｄｇ
（ｔ）／ｄｆ［Ｈ＝ｇ（ｔ）］を求め（ステップ１
０）、それが設定値γより大きいかどうかを判定し（ス
テップ１１）、大きい場合には位置ズレ発生と判定出力
する（ステップ１２）。
発生がともになかったと判定された場合は、記憶される
変位量プロファイルに基づいて、溶接中における位置ズ
レ発生判定を行う。すなわち、変位量プロファイルにお
いて変位量Ｈの時間当たりの最大変化率 ＭＡＸｄｇ
（ｔ）／ｄｆ［Ｈ＝ｇ（ｔ）］を求め（ステップ１
０）、それが設定値γより大きいかどうかを判定し（ス
テップ１１）、大きい場合には位置ズレ発生と判定出力
する（ステップ１２）。
【００２８】図４おいて、プロファイルＡが正常な状態
での溶接を、プロファイルＢが位置ズレ発生の場合の溶
接を、プロファイルＣが不安定な状態での溶接をそれぞ
れ示す。例えば、プロファイルＢにおいて１０〜１７ｍ
ｓｅｃ部分において変位量が大きく増大する部分が位置
ズレ発生部分であり、この部分でのプロファイルの傾き
度合いが大きくなって変位量Ｈの変化率もプロファイル
全体において最大となり、その値が上記設定値γを上回
ることとなる。
での溶接を、プロファイルＢが位置ズレ発生の場合の溶
接を、プロファイルＣが不安定な状態での溶接をそれぞ
れ示す。例えば、プロファイルＢにおいて１０〜１７ｍ
ｓｅｃ部分において変位量が大きく増大する部分が位置
ズレ発生部分であり、この部分でのプロファイルの傾き
度合いが大きくなって変位量Ｈの変化率もプロファイル
全体において最大となり、その値が上記設定値γを上回
ることとなる。
【００２９】そして、位置ズレと判定されなかった場合
には、最終的に溶接強度の判定を行う。
には、最終的に溶接強度の判定を行う。
【００３０】この溶接強度の判定は、図５に示すよう
に、溶接抵抗プロファイルＰと溶接抵抗プロファイルＰ
において経時的に得られる極小値ａ，ｂ，ｃを通るレベ
ルラインＬ１、Ｌ２、Ｌ３それぞれとによって囲まれる
斜線部面積の総和Ｓを算出し（ステップ１３）、その面
積総和Ｓが設定値δより小さい場合に強度不足と判定出
力する（ステップ１４，１５）。ここにおける強度不足
判定は、実験的に認識されたものである。面積総和Ｓの
算出式は次に示すようになる。
に、溶接抵抗プロファイルＰと溶接抵抗プロファイルＰ
において経時的に得られる極小値ａ，ｂ，ｃを通るレベ
ルラインＬ１、Ｌ２、Ｌ３それぞれとによって囲まれる
斜線部面積の総和Ｓを算出し（ステップ１３）、その面
積総和Ｓが設定値δより小さい場合に強度不足と判定出
力する（ステップ１４，１５）。ここにおける強度不足
判定は、実験的に認識されたものである。面積総和Ｓの
算出式は次に示すようになる。
【００３１】
【数１】
【００３２】このようにして、スパーク発生、チリ発
生、位置ズレ発生、強度不足の判定出力が順次行われ、
例えば、この判定出力によってそれぞれのランプを点灯
することにより溶接の良否が溶接時に即時に判定され
る。
生、位置ズレ発生、強度不足の判定出力が順次行われ、
例えば、この判定出力によってそれぞれのランプを点灯
することにより溶接の良否が溶接時に即時に判定され
る。
【００３３】
【００３４】
【００３５】
【００３６】
【００３７】
【００３８】
【００３９】
【００４０】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１と請求項
２との発明によれば、疑似抵抗と一方の電極と他方の電
極との間の電圧および疑似抵抗測定部分の両端間の電圧
とから溶接抵抗が測定され、従来のように電流を用いる
ことなく溶接抵抗の測定が行われるので、これにより正
確な溶接抵抗の測定ができるようになって、その結果、
溶接良否判定が精度良く行われるようになる。
２との発明によれば、疑似抵抗と一方の電極と他方の電
極との間の電圧および疑似抵抗測定部分の両端間の電圧
とから溶接抵抗が測定され、従来のように電流を用いる
ことなく溶接抵抗の測定が行われるので、これにより正
確な溶接抵抗の測定ができるようになって、その結果、
溶接良否判定が精度良く行われるようになる。
【００４１】
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の溶接装置の構成図。
【図２】本発明の溶接装置の動作説明のためのフローチ
ャート。
ャート。
【図３】溶接抵抗プロファイルの説明図。
【図４】変位量プロファイルの説明図。
【図５】溶接抵抗プロファイルの説明図。
１５ 変位計（変位量検出手段） １６ 第１電圧計（第１電圧測定手段） １７ 第２電圧計（第２電圧測定手段） ２０ ＣＰＵ（演算手段、溶接不良検出手段、位置
ヅレ検出手段） ２１ メモリ（抵抗値記憶手段、溶接抵抗データ記
憶手段）
ヅレ検出手段） ２１ メモリ（抵抗値記憶手段、溶接抵抗データ記
憶手段）
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−215284（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−228677（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−300078（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−97667（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−127985（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−56368（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−286688（ＪＰ，Ａ) 実公 昭58−28709（ＪＰ，Ｙ２) (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) B23K 11/25 B23K 11/24 G01N 27/00 G01R 27/02
Claims (4)
- 【請求項１】 溶接用の一方の電極と、その電極と同一
の溶接電流回路内に位置するとともに他方の電極を一方
の電極との間に介在させない一部位との間の抵抗値を予
め疑似抵抗として測定して抵抗値記憶手段に記憶してお
く第１ステップと、 前記一方の電極と他方の電極との間の電圧および前記疑
似抵抗測定部分の両端間の電圧を測定する第２ステップ
と、 前記抵抗値記憶手段に記憶されている疑似抵抗値と前記
第２ステップで測定した２種の電圧とから溶接抵抗を求
める第３ステップと、 をもつ溶接抵抗の測定方法。 - 【請求項２】 溶接用の一方の電極と、その電極と同一
の溶接電流回路内に位置するとともに他方の電極を一方
の電極との間に介在させない当該装置の一部位との間の
電圧を測定する第１電圧測定手段と、 前記一方の電極と他方の電極との間の電圧を測定する第
２電圧測定手段と、 前記第１電圧測定手段で両端間の電圧を測定する部分の
抵抗値を記憶する抵抗値記憶手段と、 前記一方および他方の電極間の通電中に前記第１電圧測
定手段および前記第２電圧測定手段の測定した電圧と前
記抵抗値記憶手段が記憶している抵抗値とから溶接抵抗
を算出する演算手段と、 を有する溶接装置。 - 【請求項３】 前記演算手段によって経時的に算出した
溶接抵抗データを記憶する溶接抵抗データ記憶手段と、 前記溶接抵抗データ記憶手段の記憶データに基づいて溶
接不良を検出する溶接不良検出手段と、 を設けたことを特徴とする請求項２の溶接装置。 - 【請求項４】 前記溶接不良検出手段はスパーク、チ
リ、強度不足の少なくとも一つを検出することを特徴と
する請求項３の溶接装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22276892A JP3265630B2 (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | 溶接抵抗の測定方法及びその測定方法が行われる溶接装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22276892A JP3265630B2 (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | 溶接抵抗の測定方法及びその測定方法が行われる溶接装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0663765A JPH0663765A (ja) | 1994-03-08 |
| JP3265630B2 true JP3265630B2 (ja) | 2002-03-11 |
Family
ID=16787594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22276892A Expired - Fee Related JP3265630B2 (ja) | 1992-08-21 | 1992-08-21 | 溶接抵抗の測定方法及びその測定方法が行われる溶接装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3265630B2 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4899175B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2012-03-21 | 株式会社不二越 | スポット溶接方法とスポット溶接システム |
| JP4772859B2 (ja) * | 2008-12-25 | 2011-09-14 | 本田技研工業株式会社 | チリ検出方法 |
| JP7468418B2 (ja) * | 2021-03-18 | 2024-04-16 | トヨタ自動車株式会社 | 溶着判定方法およびスポット溶接装置 |
| CN114535768B (zh) * | 2022-03-08 | 2023-05-26 | 东风汽车集团股份有限公司 | 电阻点焊飞溅识别方法、装置、设备及存储介质 |
-
1992
- 1992-08-21 JP JP22276892A patent/JP3265630B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0663765A (ja) | 1994-03-08 |
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