JPS643071Y2 - - Google Patents
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- JPS643071Y2 JPS643071Y2 JP1981164078U JP16407881U JPS643071Y2 JP S643071 Y2 JPS643071 Y2 JP S643071Y2 JP 1981164078 U JP1981164078 U JP 1981164078U JP 16407881 U JP16407881 U JP 16407881U JP S643071 Y2 JPS643071 Y2 JP S643071Y2
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- arithmetic circuit
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 15
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 1
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は電気抵抗法による検査装置に関するも
ので、被検査物に流す電流を低周波の交流電流に
することにより、従来の直流式のものが有してい
た通電方向切換用スイツチの接点劣化と、直流電
流のフラツキなどによる誤差などの発生をなく
し、信頼性、耐久性、精度の向上を図つたもので
ある。
ので、被検査物に流す電流を低周波の交流電流に
することにより、従来の直流式のものが有してい
た通電方向切換用スイツチの接点劣化と、直流電
流のフラツキなどによる誤差などの発生をなく
し、信頼性、耐久性、精度の向上を図つたもので
ある。
金属材料や製品を非破壊的に検査する方法とし
て、古くから電気抵抗法が利用されている。これ
は、たとえば溶接製品において溶接部のワレなど
の有無を調べるときに用いられる。この検査にお
いては、被検査物中に存在する起電力により測定
値に誤差を生ずるため、直流の通電々流の極性を
切換えることで、精度の向上を計つている。
て、古くから電気抵抗法が利用されている。これ
は、たとえば溶接製品において溶接部のワレなど
の有無を調べるときに用いられる。この検査にお
いては、被検査物中に存在する起電力により測定
値に誤差を生ずるため、直流の通電々流の極性を
切換えることで、精度の向上を計つている。
しかしながらこの方法では、電気接点が多くな
り、装置の信頼性、耐久性などに問題を生じてい
る。また、被検査物に流す電流値は測定値に直接
影響するため、精度の良い定電流電源が必要とな
り、設備構造上の問題となつた。
り、装置の信頼性、耐久性などに問題を生じてい
る。また、被検査物に流す電流値は測定値に直接
影響するため、精度の良い定電流電源が必要とな
り、設備構造上の問題となつた。
第1図について従来における検査装置を説明す
ると、1は被検査物である。この被検査物1には
適当な間隔を有して通電針2,3の先端が接して
いる。通電針2,3はスイツチボツクス4を介し
て定電流直流電源5に接続されている。スイツチ
ボツクス4は、定電流直流電源5の発生する直流
電流の極性切換を行なつて通電針2,3に供給す
るためのものである。
ると、1は被検査物である。この被検査物1には
適当な間隔を有して通電針2,3の先端が接して
いる。通電針2,3はスイツチボツクス4を介し
て定電流直流電源5に接続されている。スイツチ
ボツクス4は、定電流直流電源5の発生する直流
電流の極性切換を行なつて通電針2,3に供給す
るためのものである。
通電針2,3間には検出針6,7が配設され、
その先端が被検査物1に当接している。この検出
針6,7は、先端を接触させた被検査物1の2点
間の電位差を検出し、この電位差を抵抗測定器8
に加えて、抵抗値を測定するものである。抵抗測
定器8の出力側は演算回路9を介して判定・表示
部10に接続されている。
その先端が被検査物1に当接している。この検出
針6,7は、先端を接触させた被検査物1の2点
間の電位差を検出し、この電位差を抵抗測定器8
に加えて、抵抗値を測定するものである。抵抗測
定器8の出力側は演算回路9を介して判定・表示
部10に接続されている。
このような構成の従来の検査装置は、定電流直
流電源の発生する一定電流を、スイツチボツクス
4および通電針2,3を介して被検査物1に与え
て使用される。この通電中に検出針6,7間に発
生する電圧は抵抗測定器8によつて抵抗値として
測定され、スイツチボツクス4により通電々流の
方向を切換えたときの測定値が演算回路で求めら
れ、判定・表示部10で判定、表示されることに
なる。
流電源の発生する一定電流を、スイツチボツクス
4および通電針2,3を介して被検査物1に与え
て使用される。この通電中に検出針6,7間に発
生する電圧は抵抗測定器8によつて抵抗値として
測定され、スイツチボツクス4により通電々流の
方向を切換えたときの測定値が演算回路で求めら
れ、判定・表示部10で判定、表示されることに
なる。
この方法では、スイツチボツクス4の接点で、
発熱、摩耗、溶着が起り、装置の耐久性および信
頼性を著しく低下させるという問題を生じてい
る。また、測定値の精度は電源の電流値の変動の
影響を直接受けるため、高価な高精度電源が必要
となり、設備構成の面からも問題となつている。
発熱、摩耗、溶着が起り、装置の耐久性および信
頼性を著しく低下させるという問題を生じてい
る。また、測定値の精度は電源の電流値の変動の
影響を直接受けるため、高価な高精度電源が必要
となり、設備構成の面からも問題となつている。
本考案はこれらの問題を解決するために成され
たもので、従来、定電流直流電源を使用していた
検査装置を低周波の交流電流を使用するように改
良し、これによつて検査装置の耐久性、信頼性お
よび精度の向上をはかることを目的としたもので
ある。本考案はこの目的達成のための手段とし
て、被検査物に通電してその電位差による抵抗値
から被検査物の良否判定をする電気抵抗法による
検査装置において、前記被検査物に低周波の交流
電流を供給する交流電源および通電電極と、前記
被検査物に接する複数本の検出針および該検出針
間の電位差を検出して抵抗測定をする抵抗測定器
と、該抵抗測定器の出力値を前記交流電流の電流
方向における抵抗値に判別する演算回路と、該演
算回路の出力信号を判定表示する判定・表示部
と、前記交流電源と検出針との間に設けられた電
流モニターと、該電流モニターに入力側を接続
し、出力側は前記演算回路に接続された同期回路
とを具備する構成としたものである。このように
構成したことにより、極性切換のための接点を設
ける必要がなくなり、検査装置の耐久性と信頼性
を向上させることができることになる。そして電
流値をモニターしながら定められた電流値での抵
抗値を測定することにより、測定誤差を無くすこ
とができることになる。
たもので、従来、定電流直流電源を使用していた
検査装置を低周波の交流電流を使用するように改
良し、これによつて検査装置の耐久性、信頼性お
よび精度の向上をはかることを目的としたもので
ある。本考案はこの目的達成のための手段とし
て、被検査物に通電してその電位差による抵抗値
から被検査物の良否判定をする電気抵抗法による
検査装置において、前記被検査物に低周波の交流
電流を供給する交流電源および通電電極と、前記
被検査物に接する複数本の検出針および該検出針
間の電位差を検出して抵抗測定をする抵抗測定器
と、該抵抗測定器の出力値を前記交流電流の電流
方向における抵抗値に判別する演算回路と、該演
算回路の出力信号を判定表示する判定・表示部
と、前記交流電源と検出針との間に設けられた電
流モニターと、該電流モニターに入力側を接続
し、出力側は前記演算回路に接続された同期回路
とを具備する構成としたものである。このように
構成したことにより、極性切換のための接点を設
ける必要がなくなり、検査装置の耐久性と信頼性
を向上させることができることになる。そして電
流値をモニターしながら定められた電流値での抵
抗値を測定することにより、測定誤差を無くすこ
とができることになる。
以下、本考案の一実施例を第2図について、第
1図と同一のものには同一の符号を付して説明す
ると、11は交流電源であつて、直流電源の利点
である電流分布の均一性を失わない程度の比較的
低い周波数(たとえば数ヘルツないし30ヘルツ程
度)の交流電流を発生するものである。この交流
電源11には、電流モニター12が接続され、こ
の電流モニター12を介して通電針2,3に交流
電流を流すようになつている。
1図と同一のものには同一の符号を付して説明す
ると、11は交流電源であつて、直流電源の利点
である電流分布の均一性を失わない程度の比較的
低い周波数(たとえば数ヘルツないし30ヘルツ程
度)の交流電流を発生するものである。この交流
電源11には、電流モニター12が接続され、こ
の電流モニター12を介して通電針2,3に交流
電流を流すようになつている。
検出針6,7には前述と同様の抵抗測定器8が
接続されており、この抵抗測定器8の出力側には
演算回路9が接続されている。演算回路9には、
入力側を電流モニター12に接続した同期回路1
3も接続されている。演算回路9の出力側には、
判定・表示部10が接続されている。
接続されており、この抵抗測定器8の出力側には
演算回路9が接続されている。演算回路9には、
入力側を電流モニター12に接続した同期回路1
3も接続されている。演算回路9の出力側には、
判定・表示部10が接続されている。
このように構成されたこの検査装置は、通電針
2,3を介して、被検査物1に低周波の交流電流
が供給されて使用される。そして検出針6,7
は、この電流によつて生ずる電圧を抵抗測定器8
に与え、抵抗測定器8はこの電圧値の変化を演算
回路9に与える。演算回路9は通電々流が予め設
定された電流値+Is,−Is(第3図参照)と等しく
なつた時(t1,t2)に抵抗測定器8の値を取込
み、電流方向が変つたときの平均値を求めるため
時間t1,t2の時の電流値の差を求め、この値が一
定範囲内に入つているか否かを、予め定めた基準
値と比較することにより、被検査物1の欠陥の有
無を判定し、表示することになる。
2,3を介して、被検査物1に低周波の交流電流
が供給されて使用される。そして検出針6,7
は、この電流によつて生ずる電圧を抵抗測定器8
に与え、抵抗測定器8はこの電圧値の変化を演算
回路9に与える。演算回路9は通電々流が予め設
定された電流値+Is,−Is(第3図参照)と等しく
なつた時(t1,t2)に抵抗測定器8の値を取込
み、電流方向が変つたときの平均値を求めるため
時間t1,t2の時の電流値の差を求め、この値が一
定範囲内に入つているか否かを、予め定めた基準
値と比較することにより、被検査物1の欠陥の有
無を判定し、表示することになる。
演算回路9は、同期回路13により電流モニタ
ー12の出力信号に同期して演算することになる
ので、直流電源に比して電流分布の均一性の保持
が難しい交流電源を使用しても精度高く測定する
ことができる。
ー12の出力信号に同期して演算することになる
ので、直流電源に比して電流分布の均一性の保持
が難しい交流電源を使用しても精度高く測定する
ことができる。
この場合において、通電々流Iと測定電圧Vと
は、第4図に示すような関係になる。すなわち、
通電々流Iと測定電圧Vとは、直線的な関係にあ
り、この範囲の電流値を用いる限り、測定される
抵抗値は一定となる。この特性を利用し、通電電
流を特に設定しないで、両極性でのV/Iを演算
し、その値から抵抗値を求めることにより、通
電々流による測定誤差を無くすことができること
になる。
は、第4図に示すような関係になる。すなわち、
通電々流Iと測定電圧Vとは、直線的な関係にあ
り、この範囲の電流値を用いる限り、測定される
抵抗値は一定となる。この特性を利用し、通電電
流を特に設定しないで、両極性でのV/Iを演算
し、その値から抵抗値を求めることにより、通
電々流による測定誤差を無くすことができること
になる。
本考案は以上説明したように、直流電源の代り
に交流電源を使用することにより、極性切換のた
めの接点を不要とすることができるので、検査装
置の耐久性と信頼性を向上させることができるこ
とになる利点がある。また、電流値をモニターし
ながら定められた電流値での抵抗値を測定するこ
とにより、電流分布の均一性の保持が難しい交流
電源を使用するにもかかわらず、また特に精度の
高い定電流源を必要とせずに通電々流による測定
誤差を無くすことができる利点もある。さらに、
これらに関連して、検査時間が短縮され、検査装
置が安価になる等の効果も生ずる。
に交流電源を使用することにより、極性切換のた
めの接点を不要とすることができるので、検査装
置の耐久性と信頼性を向上させることができるこ
とになる利点がある。また、電流値をモニターし
ながら定められた電流値での抵抗値を測定するこ
とにより、電流分布の均一性の保持が難しい交流
電源を使用するにもかかわらず、また特に精度の
高い定電流源を必要とせずに通電々流による測定
誤差を無くすことができる利点もある。さらに、
これらに関連して、検査時間が短縮され、検査装
置が安価になる等の効果も生ずる。
第1図は従来における検査装置の系統図、第2
図は本考案の一実施例の系統図、第3図は第2図
のものの作用を説明する波形図、第4図は通電々
流と測定電圧との関係を示すグラフである。 1……被検査物、2,3……通電針、6,7…
…検出針、8……抵抗測定器、9……演算回路、
10……判定・表示部、11……交流電源、12
……電流モニター、13……同期回路。
図は本考案の一実施例の系統図、第3図は第2図
のものの作用を説明する波形図、第4図は通電々
流と測定電圧との関係を示すグラフである。 1……被検査物、2,3……通電針、6,7…
…検出針、8……抵抗測定器、9……演算回路、
10……判定・表示部、11……交流電源、12
……電流モニター、13……同期回路。
Claims (1)
- 被検査物に通電してその電位差による抵抗値か
ら被検査物の良否判定をする電気抵抗法による検
査装置において、前記被検査物に低周波の交流電
流を供給する交流電源および通電電極と、前記被
検査物に接する複数本の検出針および該検出針間
の電位差を検出して抵抗測定をする抵抗測定器
と、該抵抗測定器の出力値を前記交流電流の電流
方向における抵抗値に判別する演算回路と、該演
算回路の出力信号を判定表示する判定・表示部
と、前記交流電源と検出針との間に設けられた電
流モニターと、該電流モニターに入力側を接続
し、出力側は前記演算回路に接続された同期回路
とを具備する電気抵抗法による検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16407881U JPS5869273U (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 電気抵抗法による検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16407881U JPS5869273U (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 電気抵抗法による検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5869273U JPS5869273U (ja) | 1983-05-11 |
JPS643071Y2 true JPS643071Y2 (ja) | 1989-01-26 |
Family
ID=29956346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16407881U Granted JPS5869273U (ja) | 1981-11-02 | 1981-11-02 | 電気抵抗法による検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5869273U (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10543995B2 (en) | 2016-11-30 | 2020-01-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Sheet conveying apparatus, method for detaching rotation member unit from the sheet conveying apparatus, and image forming apparatus provided with the sheet conveying apparatus |
US10584006B2 (en) | 2016-11-30 | 2020-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Sheet conveying apparatus and image forming apparatus provided with the sheet conveying apparatus |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2643000B2 (ja) * | 1990-01-26 | 1997-08-20 | 三菱重工業株式会社 | 溶接熱影響部の高温損傷評価方法 |
DE102017100157A1 (de) * | 2017-01-05 | 2018-07-05 | Newfrey Llc | Verfahren zum Bewerten einer Schweißverbindung sowie Schweißverbindungs-Bewertungsvorrichtung |
JP2021503591A (ja) * | 2018-11-02 | 2021-02-12 | ハンズ レーザー テクノロジー インダストリー グループ カンパニー リミテッド | 品質検査装置、方法、システム及び一体型プローブ組立体 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5166885U (ja) * | 1974-11-22 | 1976-05-26 |
-
1981
- 1981-11-02 JP JP16407881U patent/JPS5869273U/ja active Granted
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10543995B2 (en) | 2016-11-30 | 2020-01-28 | Canon Kabushiki Kaisha | Sheet conveying apparatus, method for detaching rotation member unit from the sheet conveying apparatus, and image forming apparatus provided with the sheet conveying apparatus |
US10584006B2 (en) | 2016-11-30 | 2020-03-10 | Canon Kabushiki Kaisha | Sheet conveying apparatus and image forming apparatus provided with the sheet conveying apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5869273U (ja) | 1983-05-11 |
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