JPH0637558A - 増幅回路 - Google Patents

増幅回路

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JPH0637558A
JPH0637558A JP4192454A JP19245492A JPH0637558A JP H0637558 A JPH0637558 A JP H0637558A JP 4192454 A JP4192454 A JP 4192454A JP 19245492 A JP19245492 A JP 19245492A JP H0637558 A JPH0637558 A JP H0637558A
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transistor
transistors
current
circuit
terminal
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JP4192454A
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Inventor
Mamoru Kondo
衛 近藤
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JFE Engineering Corp
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NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 回路に使用するトランジスタの破壊が少く、
信号源が電流型信号源であっても計測感度が良く、且つ
ゲート電圧の調節手段を必要としない増幅回路。 【構成】 電源端子1と信号入力端子2との間に、#1
トランジスタ11と、中間端子4と、#3トランジスタ
13とを直列接続し、また前記電源端子1と信号入力端
子3との間に、#2トランジスタ12と、信号出力端子
5と、#4トランジスタ14とを直列接続し、前記トラ
ンジスタ11と12の電流比を1対nとするカレントミ
ラー回路または定電流回路と、前記13と14の電流比
を前記1対nと同一比率とするカレントミラー回路とを
備えたものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばホール素子やS
RAMのメモリセル等から出力される微小な電圧差信号
を増幅することができる増幅回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図21は、従来技術の例1として示す従
来の微小電圧を増幅する差動増幅器の回路図である。同
図において、11,12はそれぞれPMOS(P形酸化
被膜半導体)トランジスタ、13,14,19はそれぞ
れNMOS(N形酸化被膜半導体)トランジスタであ
る。なお、PMOSトランジスタには三角記号をつけ、
NMOSトランジスタには三角記号をつけないで、両者
を識別できるようにしている。また端子1には直流電源
の正電圧VDDが印加され、PMOSトランジスタ19の
ソースは電源の基準電位(0V)に接地される。そして
端子2,3には増幅の対象となる電圧V2 ,V3 が与え
られるが、この電圧V2 とV3 の差は微小であるものと
する。
【0003】図21の動作を説明する。MOSトランジ
スタには、ゲートに電圧を加えないと動作しないエンハ
ンスメント(Enhancement,E)形と、電圧
を加えないときに動作するデプレッション(Deple
tion,D)形とあり、図21のトランジスタ13,
14,19はE形である。従ってトランジスタ19のゲ
ートにクロック信号SCとして、しきい値より高い電圧
が加えられると、トランジスタ19は導通状態となり、
1つの抵抗器と同様に作用する。いま端子2,3から電
圧V2 ,V3 が印加され、これらの電圧がトランジスタ
13,14のしきい値より高ければ、トランジスタ1
3,14は導通し、電源VDDから、トランジスタ11及
び13と、トランジスタ12及び14を通ってそれぞれ
電流が流れる。従ってトランジスタ13,14のコモン
ソース6の電位が上昇する。
【0004】いまトランジスタ13,14のしきい値が
等しければ、コモンソース6の電位上昇により、端子2
と3の電位のいずれか低い方のトランジスタが先に遮断
状態になる。以下端子2が端子3より高電位(V2 >V
3 )であるものとして説明する。この場合、トランジス
タ13は導通で、トランジスタ14は遮断状態になる。
トランジスタ13と14の両方が遮断すると、コモンソ
ース6の電位が下るので両方のトランジスタが遮断する
ことはない。トランジスタ13には電流が流れるので、
そのドレインである端子4の電圧V4 は、電源電圧VDD
より下る。一方トランジスタ14には電流が流れないの
で、そのドレインである端子5の電圧V5 は上昇し、電
源電圧VDDとほぼ等しくなる。このようにして入力電圧
2 とV3 の間の微小電圧差は、増幅されて端子4の電
圧V4 と端子5の電圧V5 との間に大きな電圧差が得ら
れ、この電圧差が出力信号として取り出される。
【0005】また従来技術として、微小な電流の有無を
検出する回路として、カレントミラー回路を利用したセ
ンス回路がある。図22は、従来技術の例2として、特
開平1−198112号公報に示された従来のセンス増
幅器の回路図である。同図において、5Nは出力信号を
取り出すための節点、11,12はPMOSトランジス
タであり、ソース側が電源VDDに接続されている。1
3,14,19はNMOSトランジスタ、30はインバ
ータ、C1 〜C3 は回路の分布容量である。図22の端
子2は電流入力端子であり、端子2から電流が流出する
電流信号源に接続される。また節点5Nから出力信号が
取り出される。この図22の回路はトランジスタ19に
流れる微小電流(ドレイ電流=ソース電流)ic が存在
するが否かを検出する回路である。
【0006】図22の動作を説明する。トランジスタ1
9のゲートにはクロック信号SCとして、しきい値電圧
よりも高い電圧が与えられる。そしていま、トランジス
タ19に電流ic が流れ、端子2から電流が流出する
と、インバータ30の入力は負電位となり、その出力は
正電位となるので、トランジスタ13が導通し、電流i
c はトランジスタ11を流れる。トランジスタ11と1
2はゲートが共通に11のドレインに結線されており、
これがカレントミラーといわれる回路である。このトラ
ンジスタ11と12のゲートが共にトランジスタ11の
ドレインに接続されているため、トランジスタ11,1
2のソースとゲート間電圧は等しく、2つのトランジス
タの増幅特性が等しければ、トランジスタ11に流れる
電流と等しい電流がトランジスタ12にも流れることに
なる。従ってトランジスタ12に流れる電流iP はトラ
ンジスタ11に流れる電流ic にほぼ等しい。トランジ
スタ12の負荷としてのトランジスタ14は高インピー
ダンスのため電流が流れにくいが、電流iP はトランジ
スタ12で増幅作用を受けるので、電流iP はほぼic
に近い値を保つ。
【0007】図22の回路では、トランジスタ14を流
れる電流iN はiP の1/2になるように、トランジス
タ14のゲート電圧Vr を調整するようにしている。従
ってトランジスタ19に電流ic が流れると、トランジ
スタ12に電流iPが流れ、電流iN よりiP の方が電
流値が大きいので、節点5Nの電位が上昇し、結果とし
て電流ic が存在することが検出できる。またトランジ
スタ19に電流ic が流れなければ、節点5Nの電位が
下降するので、電流ic の不存在が判別できる。即ち電
流ic の有無に対応して節点5Nから高,低2つの電圧
信号を取り出すことができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら図21で
示した従来の差動増幅回路においては、まず入力信号を
トランジスタのゲートに印加している。しかしトランジ
スタのゲートは過電圧に対して破壊しやすいため、過大
な入力信号が印加されると、トランジスタの破壊事故が
生じやすいという問題点があった。さらに、この回路は
入力電圧が小さい時に感度が低い欠点がある。特に測定
対象である信号源の出力インピーダンスが低い時に、こ
の欠点が著しい。このような出力インピーダンスが低い
信号源は、一般に電流型信号源といわれる。この電流型
信号源からは、測定のために取り出すことができる電力
が一定であっても、電流が大きく電圧が小さい信号とな
るので、ゲートへの入力信号電圧が小さく、検出感度が
低いという問題点があった。
【0009】また図22で示した従来のセンス増幅回路
においては、トランジスタ11と12がカレントミラー
を形成し、電流型信号源に対して検出感度が大きくなる
ように形成されている。しかし、この回路は14のゲー
ト電圧Vr を適当な値に設定する必要があるという欠点
がある。図23は図22の回路の動作点の変化による信
号入出力特性を説明する図である。図23を参照し、上
記回路の欠点を説明する。図22の回路においては、ト
ランジスタ14を流れる電流iN をic の2分の1にす
るようにゲート電圧Vr を調整すると、感度が最大にな
る。入力電流icが0の時は、カレントミラーの作用で
P =ic =0となるので節点5Nに流入する電流は−
N =−ic /2となり、分布容量C1 〜C3 があって
も、節点5Nの電位は時間と共に低下する。一方、入力
電流が一定値ic である時は、節点5Nに流入する電流
はiP +iN =ic −ic /2=+ic /2となり、節
点5Nの電位は時間と共に上昇する。したがって、入力
電流の0とic を感度よく区別できる。この場合の信号
入出力特性が、図23の(a)に示されている。図23
は上記電流の変化を入出力電圧の変化として示してある
が、等価な特性である。図23の(a)においては、入
力電圧Vinが零のときの動作点Pは、増幅率の大きい
(即ち勾配の大きい)B、C部の中心位置となるように
調整されているので、この中心位置の附近における入力
電圧の変動による感度は大きい。
【0010】しかし、iN をic の1/2にするには、
次の困難がある。それはic は測定対象であり、いわば
未知の量である。従って未知の量ic を測定するのに、
トランジスタ14の電流iN をその2分の1にあらかじ
め調節しておくことはできない。この図22の回路を集
積回路メモリの中でセンスアンプとして使用するような
場合には、ic の大きさをあらかじめ別の方法で測定し
ておいて、iN をその2分の1になるように設計するこ
とは可能であるが、それにはVr 調節回路を別途作成す
る必要があるという問題点がある。またトランジスタ1
4のしきい値電圧VT やゲート幅Wを正確に製造する技
術が必要である。もし製造のバラツキのためにVr がV
T より小さくなればiN は0となり、正しい測定ができ
ない。またVr が大きすぎてiN がiP より大きいと、
節点5Nの電位はいつでも低下してしまう。上記製造時
に生じるしきい値電圧VT のバラツキ等に起因するオフ
セットを、この回路は、ゲート電圧Vr の調節で除去し
ようとするものであるが、信号電流ic が小さく、オフ
セット電流値に接近すると、この調節はあまり容易でな
い。さらに一度調節しても、周囲温度が変化すると、ト
ランジスタのドリフトにより動作点がずれてしまうこと
が多い。この場合の信号入出特性が図23の(b)に示
されている。即ちオフセットやドリフトにより、入力電
圧が零のときの動作点がCを越えたPや、Bを越えた
P′にずれると、これらの動作点の附近では感度が無く
なり、入力電流ic の有無を検出することはできないと
いう問題点があった。
【0011】本発明はかかる問題点を解決するためにな
されたもので、回路に使用するトランジスタの破壊が少
く、信号源が電流型信号源であっても計測感度が良く、
且つゲート電圧の調節手段を必要としない増幅回路を得
ることを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本請求項1の発明に係る
増幅回路は、電源端子1と、信号入力端子2及び3と、
電源端子1と信号入力端子2との間に中間端子4と、電
源端子1と信号入力端子3との間に信号出力端子5とを
それぞれ設け、前記端子1と4の間に第1のトランジス
タ、前記端子1と5の間に第2のトランジスタ、前記端
子4と2の間に第3のトランジスタ、前記端子5と3の
間に第4のトランジスタがそれぞれ接続される増幅回路
において、前記第1のトランジスタと第2のトランジス
タに流れる電流比を1対nとするカレントミラー回路ま
たは定電流回路によりそれぞれ構成される第1及び第2
のトランジスタ回路と、前記第3のトランジスタと第4
のトランジスタに流れる電流比を前記1対nと同一比率
とするカレントミラー回路によりそれぞれ構成される第
3及び第4のトランジスタ回路とを備えたものである。
【0013】本請求項2の発明に係る増幅回路は、前記
請求項1の発明に係る増幅回路の前記第1乃至第4のト
ランジスタがMOSトランジスタであるものである。
【0014】本請求項3の発明に係る増幅回路は、前記
請求項1の発明に係る増幅回路の前記第1乃至第4のト
ランジスタがバイポーラトランジスタであるものであ
る。
【0015】本請求項4の発明に係る増幅回路は、前記
請求項1乃至請求項3のいずれかの発明に係る増幅回路
の前記第1及び第2のトランジスタと前記第3及び第4
のトランジスタとが互に相補なトランジスタであるもの
である。
【0016】本請求項5の発明に係る増幅回路は、信号
入力端子に入力インピーダンスが直列に接続され、前記
信号入力端子と信号出力端子の間に帰還インピーダンス
が接続されて演算機能を有する反転増幅器に含まれる前
記請求項1乃至請求項4のいずれかに記載の増幅回路で
ある。
【0017】本請求項6の発明に係る増幅回路は、前記
請求項1乃至請求項4のいずれかの発明に係る増幅回路
を2組と、前記2組の一方の増幅回路の信号入力端子2
と3を、それぞれ他方の増幅回路の信号入力端子3と2
とに接続して構成する一対の信号入力端子と、前記2組
の一方の増幅回路の信号出力端子5と、他方の増幅回路
の信号出力端子5との間の差信号を出力する一対の信号
出力端子とを備えたものである。
【0018】本請求項7の発明に係る増幅回路は、前記
信号入力端子2と3を、SRAMのメモリセルの2つの
信号出力端子にそれぞれ接続する接続手段を備えた前記
請求項1乃至請求項4または請求項6のいずれかに記載
の増幅回路である。
【0019】本請求項8の発明に係る増幅回路は、前記
信号入力端子2と3を、ホール素子の2つの信号出力端
子にそれぞれ接続する接続手段を備えた前記請求項1乃
至請求項4または請求項6のいずれかに記載の増幅回路
である。
【0020】
【作用】本請求項1に係る発明においては、電源端子1
と、信号入力端子2及び3と、電源端子1と信号入力端
子2との間に中間端子4と、電源端子1と信号入力端子
3との間に信号出力端子5とをそれぞれ設け、前記端子
1と4の間に第1のトランジスタ、前記端子1と5の間
に第2のトランジスタ、前記端子4と2の間に第3のト
ランジスタ、前記端子5と3の間に第4のトランジスタ
がそれぞれ接続される増幅回路において、第1及び第2
のトランジスタ回路は、前記第1のトランジスタと第2
のトランジスタに流れる電流比を1対nとするカレント
ミラー回路または定電流回路によりそれぞれ構成され
る。第3及び第4のトランジスタ回路は、前記第3のト
ランジスタと第4のトランジスタに流れる電流比を前記
1対nと同一比率とするカレントミラー回路によりそれ
ぞれ構成される。
【0021】本請求項2に係る発明においては、前記請
求項1に係る発明における前記第1乃至第4のトランジ
スタがMOSトランジスタにより形成される。
【0022】本請求項3に係る発明においては、前記請
求項1に係る発明に係る前記第1乃至第4のトランジス
タがバイポーラトランジスタにより形成される。
【0023】本請求項4に係る発明においては、前記請
求項1乃至請求項3のいずれかの発明に係る前記第1及
び第2のトランジスタと前記第3及び第4のトランジス
タとが互に相補なトランジスタにより形成される。
【0024】本請求項5に係る発明においては、前記請
求項1乃至請求項4のいずれかの発明に係る増幅回路が
反転増幅器に含まれ、該反転増幅器の信号入力端子に直
列に入力インピーダンスが接続され、前記信号入力端子
と前記反転増幅器の信号出力端子の間に帰還インピーダ
ンスが接続されて演算増幅器が構成される。そして、前
記帰還インピーダンスと入力インピーダンスの比に等し
い信号増幅率が得られる。
【0025】本請求項6に係る発明においては、前記請
求項1乃至請求項4のいずれかの発明に係る増幅回路を
2組有し、前記2組の一方の増幅回路の信号入力端子2
と3を、それぞれ他方の増幅回路の信号入力端子3と2
とに接続して一対の信号入力端子を構成し、前記2組の
一方の増幅回路の信号出力端子5と、他方の増幅回路の
信号出力端子5とを一対の信号出力端子とし、該信号出
力端子間の差信号を出力するので、1組の増幅回路の場
合の2倍の信号増幅率が得られる。
【0026】本請求項7に係る発明においては、前記請
求項1乃至請求項4または請求項6のいずれかの発明に
係る増幅回路を用い、接続手段により前記増幅回路の信
号入力端子2と3を、SRAMのメモリセルの2つの信
号出力端子にそれぞれ接続して、メモリセンス用の増幅
回路が得られる。
【0027】本請求項8に係る発明においては、前記請
求項1乃至請求項4または請求項6のいずれかの発明に
係る増幅回路を用い、接続手段により前記増幅回路の信
号入力端子2と3を、ホール素子の2つの信号出力端子
にそれぞれ接続して、磁気検出用の増幅回路が得られ
る。
【0028】
【実施例】図1は本発明に係る増幅回路の構成を説明す
る図であり、同図において、1は電源端子、2及び3は
信号入力端子、4は中間端子、5は信号出力端子、1
1,12,13,14はそれぞれ#1,#2,#3,#
4トランジスタである。ここで、上記トランジスタ11
〜14は、MOSトランジスタの場合、バイポーラトラ
ンジスタの場合、相補(complementary)
トランジスタを組合せる場合等があるが、これらの実施
例については後述する。なお、図1の正方形で示される
トランジスタ11〜14のブロック図において、上下の
辺の丸で示す各端子は、電流の流出入端子(例えば、ド
レイン、ソース、コレクタ、エミッタ)、左右の辺の丸
で示す各端子は、電流制御端子(例えば、ゲート、ベー
ス)をそれぞれ示している。
【0029】図1の(a)及び(b)においては、4つ
のトランジスタ11〜14について、トランジスタ11
と13の電流流出入端子を直列接続し、トランジスタ1
1の電流流出入端子の他端は電源端子1に接続し、トラ
ンジスタ13の電流流出入端子の他端は信号入力端子2
に接続する。同様にトランジスタ12と14の電流流出
入端子を直列接続し、トランジスタ12の電流流出入端
子の他端は電源端子1に接続し、トランジスタ14の電
流流出入端子の他端は信号入力端子3に接続する。トラ
ンジスタ11と13の電流流出入端子の接続点を中間端
子4とし、トランジスタ12と15の電流流出入端子の
接続点を信号出力端子5とする。
【0030】トランジスタ11と12を流れる電流の比
は、カレントミラー回路または定電流回路を用いて、信
号出力端子5の電位にほとんど影響されずに、1対nの
比率になるように構成する。図1の(a)においては、
トランジスタ11と12によりカレントミラー回路を構
成した例を示し、同図の(b)においては、トランジス
タ11と12により定電流回路を構成した例を示してい
る。
【0031】トランジスタ13と14を流れる電流は信
号入力端子2,3の電位に影響されるが、信号入力端子
2と3の間の電位差が小さいときは、例えばカレントミ
ラー回路等を用いて、前記トランジスタ11と12の電
流比と同一の電流比の1対nになるように、トランジス
タ13と14にそれぞれ電流を流す回路を構成すること
ができる。図1の(a)及び(b)においては、トラン
ジスタ13と14は共にカレントミラー回路を構成した
例を示している。
【0032】ここで上記電流比1対nについて説明する
と、nにはn<1、n=1、n>1の3通りの可能性が
ある。まず、n=1とするには、トランジスタ11と1
2を、またトランジスタ13と14をそれぞれ同一のも
のとする。nが1でない場合、MOSトランジスタで
は、そのゲート幅の比を1対nにし、バイポーラトラン
ジスタではそのエミッタ幅の比を1対nとする(これは
同一のトランジスタをn個並列に接続するものでもよ
い)。そしてnが1より大きい場合には、n=1の場合
に比較して信号出力端子5から多くの出力電流を取り出
すことができるという利点がある。従って出力側の負荷
等を考慮して、電流比のnを任意に設定できる設計上の
自由度がある。
【0033】前記定電流回路の例は、後述する図3のM
OSトランジスタ11,12や、図10のバイポーラト
ランジスタ11,12の回路等に示される。またカレン
トミラー回路を形成するには、トランジスタの電流制御
端子、即ち、MOSトランジスタにおいてはゲート、バ
イポーラトランジスタにおいてはベースを中間端子4に
接続する。この回路例は、後述する図3のMOSトラン
ジスタ13,14や図10のバイポーラトランジスタ1
3,14の回路等に示される。
【0034】図1の(a)または(b)の回路は以下の
ように動作する。トランジスタ11と13を流れる電流
は等しくなったところでバランスする。もしも、トラン
ジスタ11を流れる電流値がトランジスタ13を流れる
電流値より大きいと、中間端子4に電荷が蓄積されるの
で、該端子4の電位が上昇し、トランジスタ11の電流
は減少し、トランジスタ13の電流は増加するので、最
終的に両方の電流値が等しくなったところでバランスす
る。次にトランジスタ12と14を流れる電流は、もし
信号入力端子2と3の間に電位差が無いときは、それぞ
れトランジスタ11と13の電流と1対nの比率を保つ
ので、トランジスタ12と14を流れる電流値が等しく
なったところでバランスする。
【0035】しかし入力端子2と3の間に電位差が生じ
ると、上記バランスが崩れ、トランジスタ12と14を
流れる電流は等しくなくなる。従って信号出力端子5の
電圧は上昇又は下降をはじめる。そして前記トランジス
タ13と14の間の電流比率が保たれる限り、時間の経
過と共に信号出力端子5の電位は変化を継続し、大きな
出力変化を生じることになる。このように本発明の回路
では、入力信号に基づく上記電流変化が時間経過と共に
蓄積されるように作用するので、非常に大きな感度が得
られるという利点がある。上記動作の理論的説明を以下
に行なう。
【0036】図1の回路の動作を定式化して以下に示
す。図1の回路の動作状態においては、MOSトランジ
スタは、いわゆる飽和状態にあり、MOSトランジスタ
を流れるドレイン電流は、次の式(1)で表わされるこ
とが一般に知られている。(例えば下記文献を参照)。
【0037】
【数1】
【0038】参照文献:“Analysis and
Design of Digital Integra
ted Circuits”(D.A.Hodges,
H.G.Jackson著、P37,McGraw−H
ill International Edition
s,1988出版) 式(1)における各記号の意味は、それぞれ下記の通り
である。 K :定数 W :トランジスタのゲート幅 L :トランジスタのゲート長 VT :トランジスタのしきい値電圧 VGS:トランジスタのゲートとソース間の電圧 VDS:トランジスタのドレインとソース間の電圧 λ :定数 上記λは、1/100V程度の小さな値をもつ。さて上
記(1)式により、トランジスタ11〜14の各ドレイ
ン電流I1 〜I4 を求めると、次の式(2)〜(5)が
得られる。
【0039】
【数2】
【0040】式(2)〜(5)において、V2 ,V3
4 ,V5 は、それぞれ端子2,3,4,5の電位であ
る。VTDはディプレション形トランジスタ11,12の
しきい値電圧で、例えば−1V程度の負電圧である。ま
たVTEはエンハンス形トランジスタ13,14のしきい
値電圧で、例えば+1V程度の正電圧である。いまK、
L、λは簡単のため4個のトランジスタで共通とする。
トランジスタ12と14のWは、電流比を1対nとする
ため、トランジスタ11と13のn倍とした。即ちI1
/I2 =I3 /I4 =1/nとなる。また電流I1 とI
3 は同一電流であり、電流I2 とI4 は同一電流である
とし、I1 =I3 、I2 =I4 とすると、次の式
(6)、(7)が得られる。
【0041】
【数3】
【0042】次に式(6)から式(7)を差引くと、次
の式(8)を得る。但し式(8)の右辺にて、λのつい
た項は、値が小さいので省略した。
【0043】
【数4】
【0044】式(6)でλのついた項を省略すると、V
4 は次の式(9)から求められる。
【0045】
【数5】
【0046】次に式(8)の右辺のV4 に式(9)を代
入すると、次の式(10)が得られる。
【0047】
【数6】
【0048】式(10)の近似式においては、右辺の括
弧内の(V2 −V3 )が、小さな値であるとして省略し
た。式(10)の近似式において、λは小さな値である
ので、(V5 −V4 )は(V2 −V3 )が増幅されて得
られることが示される。例示した数値では、W1 =W3
とすれば約200倍の増幅率が得られる(但しλ=1/
100V、|VTD|=1Vの場合)。
【0049】図2は図1の回路の増幅特性のシミュレー
ション結果を示す図である。図2においては、端子1の
電源電圧V1 =DC5V、端子3の電位V3 を0V(接
地電圧)として、信号入力端子2の電位を−20mV〜
+2mVに変化させたときの信号出力端子5の電位V5
を*印として、中間端子4の電位V4 を+印として示し
たものである。図2におけるV4 は一定値を示すが、例
えば入力電圧V2 の−2mV〜+2mV(差は4mV)
に対して、出力電圧V5 は1.411V〜−0.726
8V(差は648mV)となり、増幅率は約170倍と
なり、理論計算の200倍にほぼ近い結果が得られる。
なお参考として図2の入力電圧V2 と出力電圧V5 を対
比した数値計算例を下記の表1に示す。
【0050】
【表1】
【0051】この例ではトランジスタゲート幅Wとトラ
ンジスタゲート長Lをすべて3.5μmとしたが、トラ
ンジスタ14のWのみを7μmとすると、まったく増幅
効果がなくなった。しかしこのWを3.6μmとしたと
きは増幅効果があった。従ってカレントミラー回路を形
成するトランジスタは多少の誤差があっても、正しい比
率を保つ必要がある。
【0052】図3は本発明に係る増幅回路の実施例1を
示す図であり、同図の(a)は増幅回路のみを、(b)
は入力信号源と接続された増幅回路をそれぞれ示してい
る。図3の(a)、(b)において、11,12はディ
プレッション(D)形NMOSトランジスタであり、電
流比を1対nとする定電流回路を構成している。また1
3,14はエンハンスメント(E)形NMOSトランジ
スタであり、電流比を1対nとする、カレントミラー回
路を形成している。電源端子1は電源VDD(例えば+5
V)に接続され、信号入力端子2と3の間に印加される
微小電圧差を増幅して、信号出力端子5から出力する。
但し同図の(a)では信号入力端子3は参照電圧Vref
を0Vとするため接地電位とし、この接地電位に対する
入力信号は入力信号端子2に印加されれる一般的な増幅
回路として示した。なお、一般にVDDはトランジスタの
ドレインに接続される電源を、VSSはソースに接続され
る電源を、VCCはコレクタに接続される電源を表わす記
号として使用されているが、以下の実施例においては、
各種トランジスタを種々組合せて使用するため、特別の
区別はなく混同して使用している。但し負電圧の電源に
はVSSの記号を使用している。
【0053】図3の(b)は入力信号源の例としてホー
ル素子の等価回路100が増幅回路に接続された場合を
示している。ホール素子の等価回路100は、4つの抵
抗RA ,RB ,RC ,RD のブリッジ回路として示さ
れ、抵抗RA とRB の接続点である端子1Bに電源VCC
を、また抵抗RC とRD の接続点である端子0に電源V
SSをそれぞれ供給する。電源VCCとVSSの具体例として
は、VCC=VDD(例えば+5V)、VSS=−VDD(例え
ば−5V)、またはVCC=VDD、VSS=接地電位等の組
合せ電圧を使用する。そしてRA とRC の接続点及びR
B とRD の接続点をそれぞれ増幅回路の信号入力端子2
及び3に接続することにより、ホール素子の出力する微
小電圧を高利得で増幅することができる。なお、ホール
素子については、図19及び図20で説明するが、ホー
ル素子は一般に出力インピーダンスが低く、測定のため
に電流は得られても、電圧はごく微小であるので、前記
電流型信号源の例として取りあげたものである。
【0054】図4は本発明に係る増幅回路の実施例2を
示す図であり、入力信号源(ホール素子)と接続された
回路例を示している。図4は図3の(b)の電源電圧を
変更したものである。即ち図3の(b)の端子1の電源
DDを接地電位とし、ホール素子100内の端子1Bの
電源VCCも接地電位としている。この場合ホール素子1
00内の端子0に接続する電源VSSは負の電圧を供給す
ることにより、図4の回路は増幅動作を行なう。その他
の動作は図3の(b)と同様である。
【0055】図5は本発明に係る増幅回路の実施例3を
示す図であり、入力信号源(ホール素子)と接続された
回路例を示している。図5は図4の増幅回路を2組用い
る。同図ではaの添字の付した2a〜14aを一方の組
の増幅回路とし、bの添字の付した2b〜14bを他方
の組の増幅回路として示している。この回路の入力信号
は、一方の増幅回路の信号入力端子2aと3aを、それ
ぞれ他方の増幅回路の信号入力端子3bと2bとに接続
して(即ち極性の反対の入力端子を互いに接続して)、
一対の信号入力端子2と3を構成し、この一対の端子2
と3の間に入力信号を印加する。またこの回路の出力信
号は、一方の増幅回路の信号出力端子5aと、他方の増
幅回路の信号出力端子5bとの間の差信号として取り出
すので、出力電圧V5aとV5bの間の電位差は、V5aとV
4aの間の電位差の約2倍となり、増幅率を高くできる利
点がある。但し図5の回路では、電源はVDD>VSSとす
る必要がある。
【0056】図6は本発明に係る増幅回路の実施例4を
示す図であり、同図は図3の(a)のトランジスタをす
べてPMOSトランジスタに置換したものである。従っ
てこの例ではトランジスタ11〜14はすべてPMOS
形である。図6の回路においては、電源電圧VDDを負電
圧として動作させる。VDDを正電圧としては動作しな
い。その他の動作は図3の(a)と全く同様である。
【0057】図6の回路の動作を定式化して以下に示
す。まずPMOSトランジスタのドレイン電流を式
(1)にならって次の式(11)示す。
【0058】
【数7】
【0059】式(11)におけるKP ,WP ,LP は式
(1)におけるK,W,Lに相当し、PMOSトランジ
スタであることを示している。PMOSトランジスタの
エンハンスメント(E)形トランジスタでは、しきい値
TPは負電圧である(例えば−1V)。トランジスタ1
3,14はこのE形トランジスタを用いる。トランジス
タ12,13はディプレッション(D)形トランジスタ
とし、しきい値VTDP を正電圧とする(例えば+1
V)。電源電圧VDDは負電圧とする。
【0060】PMOSトランジスタでは、NMOSトラ
ンジスタと逆に低い電圧の印加される電極がドレイン、
高い電圧の印加される電極がソースであるから、各トラ
ンジスタ11,12,13,14のドレイン電流I1
2 ,I3 ,I4 は、式(2)〜式(5)のK、W1
3 ,L,VTD,VTEをそれぞれKP ,W1P,W3P,L
P ,VTDP ,VTPに置換した式として得られる。図6の
ドレイン電流I1 〜I4 から式(10)に相当する図6
の回路の増幅度が次の式(12)に示される。
【0061】
【数8】
【0062】式(12)は式(10)と等価の式である
ので、同一の増幅度が得られることが判る。なお図4の
回路のトランジスタをすべてPMOSに置換すると、電
源電圧VSSを正電圧としたとき動作する回路が得られ
る。
【0063】図7は本発明に係る増幅回路の実施例5を
示す図であり、入力信号源(ホール素子)と接続された
回路例を示している。図7においては、図1のトランジ
スタ11,12をPMOSトランジスタとし、トランジ
スタ13,14をNMOSトランジスタとし、即ち相補
のトランジスタを使用し、共にカレントミラーを形成す
る。このためトランジスタ11〜14のすべてのゲート
を共通に端子4に接続した。また図7の回路では電源電
圧はVDD>VSSとして供給したきに動作する。図7にお
けるトランジスタ11〜14のドレイン電流I1 〜I4
は、次の式(13)〜(16)で示される。なおKN
N ,VTN,λN はNMOSトランジスタの定数であ
る。
【0064】
【数9】
【0065】いま式(13)〜(16)において、KP
=KN 、W1 =W3 、LP =LN とする。また電流I1
=I3 、I2 =I4 の条件から、式(17)、(18)
が得られ、この式(17)、(18)でλN の乗算され
た項の値は小さいとして省略した後に、式(17)から
式(18)を差引くと、下記の式(19)が得られる。
【0066】
【数10】
【0067】また式(17)からλP ,λN を小さな値
として、これらを含む項を省略してV4 を求めると次の
式(20)が得られ、これを式(19)に代入して(V
5 −V4 )を求めると式(21)が得られる。
【0068】
【数11】
【0069】但し式(21)では、V3 はV2 とほぼ等
しい値であるとして、V3 =V2 の近似を行った。式
(21)が図7の増幅回路の増幅度を示す式であり、入
力電位差(V2 −V3 )が増幅され出力電位差(V5
4 )として示される。一例として、V1 =5V、V2
=2.5V、VTP−1V、VTN=1Vとすると増幅度は
800倍となる。
【0070】ここで従来技術の図22と本発明の一実施
例である図7を比較し、その相違点を説明する。まず回
路構成上で、トランジスタ11〜14の配置では両者は
類似しているが、図22のトランジスタ13と14はカ
レントミラー回路を構成しておらず、且つ測定電流の値
に応じてトランジスタ14のゲート電圧を最適な値に調
節することが本質的に必要のため、ゲート電圧調節手段
を要する点が、図7の回路と相違している。このゲート
電圧調節手段を要する点が従来技術の問題点であること
は既に説明をしたが、本発明の回路では本質的にこのゲ
ート電圧調節手段は不要であり、以下この点を説明す
る。
【0071】図7の回路において、信号入力端子2と3
の間の電位差が0であるとき、出力信号を取り出す端子
5と4の間の電位差が、理想的には0になる。実際には
製造のバラツキのために端子5と4の間に電位差が生じ
る。この電位差をオフセットと呼ぶ。入力信号レベルが
小さく、回路の増幅率を大きくしたときには、このオフ
セットの値は非常に大きくなり、著しく測定の妨害にな
る。これはしきい値電圧VT のバラツキ等が増幅されて
オフセット値になるからである。図22の回路では、測
定電流ic の値に応じて最適のゲート電圧Vr を調節す
る必要があるのみならず、前記オフセットをもVr の調
節で除去しようとするので、測定電流ic の値が小さい
場合や、温度ドリフトを考慮すると、その実現は容易で
ない。
【0072】本発明の回路で、オフセットを生じないよ
うにするためには、トランジスタ11と12、およびト
ランジスタ13と14についての、しきい値VT 、K、
Lなどを等しくすればよい。またWについては、n=1
の時はWも等しくすればよい。集積回路の製造技術にお
いては、近接して作られたトランジスタの上記諸特性を
等しくすることは、絶対値を合わせるのに比べて、きわ
めて精度よくできる。またn≠1の時、Wを一定の比率
nにすることも、リソグラフィ技術で容易に可能であ
る。従って、本発明は集積回路の製造の特性に合った方
法でオフセットの発生を防ぐことが出来る。具体的な数
値例を示すと、しきい値電圧VT =1Vで製造の絶対誤
差0.1Vの(0.9〜1.1Vの範囲を許容する)と
き、相対するトランジスタの距離が数ミクロンに近接
し、そのトランジスタのVT のバラツキが0.003V
程度になると、従来の回路では、0.1V程度の入力電
圧の検出ができない。このように本発明の回路では、測
定電流の値に応じて、ゲート電圧を調節することは本質
的に不要であり、近接トランジスタ間の特性を相対的に
均一にすれば、オフセットの発生も防止でき、微小電圧
の増幅ができる点が従来技術との大きな相違点といえ
る。
【0073】図8は本発明に係る増幅回路の実施例6を
示す図であり、入力信号源(ホール素子)と接続された
回路例を示している。図8においては、図1のトランジ
スタ11,12をNMOSトランジスタとし、トランジ
スタ13,14をPMOSトランジスタとし、即ち相補
のトランジスタを使用し、共にカレントミラーを形成す
るようにしたものである。この回路はVDD>VSSの電源
電圧を与えたとき動作するので、図1とは上下を逆にし
て書いてある。図8の回路の動作は図7の回路と同様に
理解することができる。また図7及び図8の回路におい
て、トランジスタ11と13、12と14をそれぞれ相
補のトランジスタとしているが、これは一般にC(Co
mplementary)MOSトランジスタが大規模
集積回路(ULSI)の製造に適したトランジスタであ
り、今後のULSIの主流となると考えられる点を考慮
して、使用したものである。
【0074】図9は本発明に係る増幅回路の実施例7を
示す回路であり、入力信号源(ホール素子)と接続され
た回路例を示している。図9は図8の回路を2組用い
て、図5の実施例と同様に出力電圧が2倍になるように
したものである。図9においても、図5と同様に、aの
添字の付した2a〜14aを一方の組の増幅回路とし、
bの添字の付した2b〜14bを他方の組の増幅回路と
して示し、2つの組の極性の反対の信号入力端子を互に
接続して一対の信号入力端子2と3を構成している。
【0075】図10は本発明に係る増幅回路の実施例8
を示す回路であり、同図は図1のトランジスタをすべて
バイポーラトランジスタとしたものである。図10にお
いては、2個のNPNトランジスタ11,12を用いて
定電流回路を形成し、2個のNPNトランジスタ13,
14によりカレントミラー回路を構成している。またト
ランジスタ11,12のベース91,92はそれぞれ抵
抗R、R/nにより電源VCCに接続されているので、ト
ランジスタのエミッタ幅の比を1対nとすれば、コレク
タ電流の比も1対nとなる。以下電流比を1対nとして
説明する。
【0076】いま信号入力端子2と3の電位差が小さい
とき、図10の回路の動作は以下に定式化される図10
の4つのトランジスタ11〜14について、いま電流増
幅率β(数値例としては、100程度)、及び電流オン
時のベース・エミッタ間電圧VBE(数値例としては、
0.7V程度)は同一の値とする。信号入力端子の2と
3の電圧をそれぞれV2 ,V3 とし、この2つの電圧差
が小さいときには、4つのトランジスタはフォワードモ
ードの動作をする。このときの一般式として、コレクタ
電流をIC 、ベース電流をIB 、エミッタ電流をIE
電流増幅率をβとすると次の式(22)、(23)が成
立する。 IC =β・IB …(22) IE =(β+1)・IB …(23)
【0077】ベース電流IB とベース・エミッタ間電圧
BEとの関係は、Aを常数(飽和電流×β/β+1)と
して、kをボルツマン常数、Tを絶対温度、qを電子電
荷とすると、式(24)となるので、トランジスタ13
のベース電流IB13 は式(25)で示される。またトラ
ンジスタ14のエミッタ面積をトランジスタ13のn倍
にしておくと、常数Aはn倍となり、トランジスタ14
のベース電流IB14 は式(26)で示される。但し式
(25)、(26)において、VT はしきい値とは別の
もので熱電圧であり、VT =k・T/q=0.026V
(室温時)である。
【0078】
【数12】
【0079】ここでaを式(27)で表わすと、IB13
はIB14 とa/nとの積となり式(28)で示される。
【0080】
【数13】
【0081】以下信号増幅率の定式化を行なう。図10
においては、トランジスタ11のエミッタ電流は、トラ
ンジスタ13のコレクタと13及び14のベースとに分
流しており、またトランジスタ12のエミッタ電流は1
4のエミッタに流れている。従って式(29)、(3
0)が成立する。
【0082】
【数14】
【0083】次に式(28)〜(30)に一般公式を用
いて(V5 −V4 )を求める。まずトランジスタ11の
BE、ベース電流IB11 、エミッタ電流IE11 を式(3
1)、(32)、(33)により、トランジスタ12の
BE、ベース電流IB1 2 、エミッタ電流IE12 をそれぞ
れ式(34)、(35)、(36)により、またトラン
ジスタ13のVBE、コレクタ電流IC13 を式(37)、
(38)により、トランジスタ14のコレクタ電流を式
(39)によりそれぞれ表わす。
【0084】
【数15】
【0085】次に式(29)に式(38)、(28)を
代入すると式(40)が得られ、式(40)に式(3
9)、(30)を代入すると式(41)が得られ、さら
に式(41)に式(33)、(36)を代入すると式
(42)が得られる。
【0086】
【数16】
【0087】次に式(42)に式(35)、(34)、
(32)、(31)を用いると式(43)が得られ、さ
らに式(43)に式(37)を用いて(V5 −V4 )を
求めると式(44)が得られる。
【0088】
【数17】
【0089】ここで近似的に(a+n)/β=0とし、
式(27)より(a−1)を求めると近似的に式(4
5)が得られる。
【0090】
【数18】
【0091】ここで式(44)に式(45)を用いて、
a=1の近似を行なうと式(46)が得られる。
【0092】
【数19】
【0093】式(46)により入力信号の(V2
3 )が増幅されて、(V5 −V4 )が出力される関係
が示される。式(46)におけるVT は0.026Vと
小さな値なので、数値例としてV1 =5V、V2 =2.
5Vの場合に信号増幅率は42倍となる。
【0094】図11は本発明に係る増幅回路の実施例9
を示す図であり、図10の回路と作用はほぼ同じである
が、NPNトランジスタ23を追加して、カレントミラ
ー作用をより完全にしたものである。即ち図10では、
トランジスタ11のエミッタ電流から分流した電流を直
接トランジスタ13,14のベース電流として供給して
いるが、図11ではトランジスタ11のエミッタ電流の
一部をまずトランジスタ23のベース電流として供給
し、トランジスタ23で電流増幅を行ったエミッタ電流
をトランジスタ13,14のベース電流として供給する
から、トランジスタ13と14の駆動が十分に行なわ
れ、より完全なカレントミラー作用を行なうことができ
る。
【0095】図12には本発明に係る増幅回路の実施例
10を示す図であり、トランジスタ11,12にPNP
トランジスタを用いて定電流回路を形成した回路例を示
している。即ちトランジスタ11と13、12と14
は、それぞれ相補のトランジスタを使用している。図1
3は本発明に係る増幅回路の実施例11を示す図であ
り、トランジスタ11,12にPNPトランジスタを用
いてカレントミラーを形成した回路例を示している。同
図もトランジスタ11と13、12と14は、それぞれ
相補のトランジスタを使用している。
【0096】図14、図15はそれぞれ本発明に係る増
幅回路の実施例12、実施例13を示す図である。これ
らの図では、本発明の増幅回路をSRAM(スタティッ
ク・ランダム・アクセス・メモリ)のセンスアンプとし
て用いた場合を示しており、データをセンスするのに要
する時間を短縮して高速化するため、初期状態による遅
れ発生を防止できるNMOSトランジスタ24を付加
し、そのゲートに加える信号SCBで制御している。ま
た図14のNMOSトランジスタ25または図15のN
MOSトランジスタ26,27は、ゲートに供給される
制御信号SCに基づき、この増幅回路の増幅作用の有効
化(イネーブル)または無効化(ディスエーブル)を制
御するものであり、測定開始前は増幅機能を停止させ
る。
【0097】図14、図15において、端子1〜5と、
トランジスタ11〜14の構成及び作用は図7と同一で
ある。測定開始前は、トランジスタ24のゲートに加え
る信号SCBはハイレベルとし、トランジスタ24のド
レイン・ソース間は導通するので、端子4と5は等電位
になる。またトランジスタ25,26,27のゲートに
加える信号SCはロウレベルとし、これらのトランジス
タは遮断状態になるので、増幅作用は無くなる。測定を
開始する時に、信号SCとSCBのレベルを反転させる
と、トランジスタ25,26,27は導通し、トランジ
スタ24は遮断され、増幅が開始する。
【0098】図14、図15の回路でトランジスタ2
5,26,27が存在しない場合に、もしも測定開始前
と開始後で、端子2と3の電圧の大小関係が反転する
と、正しくデータをセンスするまでの時間がトランジス
タが存在する場合の約2倍かかり応答が遅くなる。この
実施例のように、測定開始前はトランジスタ24を導通
状態にしておくか、または電源もしくは測定電圧を遮断
しておけば、初期状態による応答遅れの発生を防ぐこと
ができる。
【0099】図16、図17は本発明に係る増幅回路の
実施例14、実施例15を示す図であり、それぞれ演算
増幅器に用いる反転増幅器の入力段アンプとして本発明
に係る増幅回路を使用した例を示している。図18は演
算増幅器の構成を説明する図であり、一般によく知られ
ている。反転増幅器140の入力側にZi で示される入
力インピーダンス120を接続し、このZi を介して入
力電圧Vi を印加し、反転増幅器140の入力と出力の
間にZf で示される帰還インピーダンス130を接続す
ると、出力電圧Vo と入力電圧Vi の関係は次の式(4
7)になることはよく知られている。 Vo /Vi =−Zf /Zi …(47) またインピーダンスZi ,Zf は抵抗、容量等で構成さ
れ、リニア増幅器や積分器等が作られる。
【0100】演算増幅器に用いる反転増幅器140は、
図16、図17に示したように、通常は入力段アンプ1
41、高利得段アンプ142、出力段アンプ143の3
つの部分により構成される。図16ではこの入力段アン
プ141として図3の回路を用いたものであり、図17
はこの入力段アンプ141として図7の回路を用いたも
のである。
【0101】入力段アンプ141の役割りは、入力イン
ピーダンスを大きくして、信号の入力を行ない、オフセ
ットなしで差動増幅を行なうことであり、この入力段ア
ンプ141として前記説明した本発明の回路を適用する
ことができる。次に高利得段アンプ142の役割りは、
前段からの差動出力(V5 −V4 )を高い増幅率で、周
波数特性良く、単相増幅することである。また出力段ア
ンプ143の役割りは、高い出力インピーダンスでオフ
セットのない出力電圧を発生することであり、通常正、
負の2電源を用いて、0Vを中心とする出力を発生させ
ている。
【0102】図19はホール素子の構成を説明する図で
あり、図20はホール素子の等価回路を示す図である。
図19に示すように、ホール素子は半導体薄膜150に
4個の端子0,1,2,3を取付けた構造である。通常
は端子1と0の間に電流Iを流し、素子の薄膜面に垂直
に磁界強度Hテスラの磁界を印加すると、端子2と3の
間にホール電圧VH が発生する。
【0103】薄膜の形が図19のように長方形で端子
2,3間の距離Lが端子1,0間の距離より小さいとき
は、ホール電圧VH は次の式(48)で与えられる。 VH =R・I・H・L=V2 −V3 …(48) 薄膜の形状が変ると、式(48)は必ずしも成立しない
が、電流Iと磁界Hが著しく大きくない場合は(通常は
この場合が多い)、図20の(a)に示す等価回路で表
わされる。この等価回路で、磁界Hが増加すると、抵抗
A 、RD の抵抗値は減少し、抵抗RB 、Rc の抵抗値
は増加する。ここで磁界Hの測定回路として端子2,3
から出力信号を取出す場合に、測定動作に関係の少ない
抵抗RE ,RF を省略すると、図20の(b)に示した
ホール素子の等価回路100になる。この図20の
(b)に示したホール素子の等価回路100が、図3の
(b)以降に、入力信号源の例として増幅回路に接続さ
れて示されている。このホール素子の出力インピーダン
スは低く、前記説明した電流型信号源であるので、その
出力電圧は微小である。しかしこの微小な出力信号も、
既に説明したように、本発明の増幅回路に入力すること
により、高速で信号増幅し、磁界Hを計測することがで
きる。
【0104】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電源端子
1と信号入力端子2との間に、第1のトランジスタと、
中間端子4と、第3のトランジスタとを直列接続し、ま
た電源端子1と信号入力端子3との間に、第2のトラン
ジスタと、信号出力端子5と、第4のトランジスタとを
直列接続し、前記第1のトランジスタと第2のトランジ
スタに流れる電流比を1対nとするカレントミラー回路
または定電流回路を形成し、前記第3のトランジスタと
第4のトランジスタに流れる電流比も前記1対nと同一
比率とするカレントミラー回路を形成し、信号入力端子
2と3の間に入力した微小電位差信号を、前記第1のト
ランジスタと第3のトランジスタとを接続せる中間端子
4と前記第2のトランジスタと第4のトランジスタとを
接続せる信号出力端子5との間から増幅された出力信号
として取り出するようにしたので、使用するトランジス
タの破壊が少く、計測する信号源が電流型信号源であっ
ても計測感度が高く、且つゲート電圧調整手段を要しな
いという効果が得られる。
【0105】また本発明によれば、前記第1乃至第4の
トランジスタをMOSトランジスタとしたので、高入力
インピーダンスで、低消費電力の増幅回路を得ることが
できる。
【0106】また本発明によれば、前記第1乃至第4の
トランジスタをバイポーラトランジスタとしたので、信
号出力端子より直接負荷電流を多く取り出すことができ
る。
【0107】また本発明によれば、第1及び第2のトラ
ンジスタと、第3及び第4のトランジスタとが互に相補
のトランジスタであるようにしたので、大規模集積回路
の製造に適したCMOSトランジスタにより増幅回路を
構成することができる。
【0108】また本発明によれば、本発明の増幅回路
を、演算増幅器に用いる反転増幅器の入力段アンプとし
て使用するので、入力インピーダンスを大きくし、オフ
セットなしで差動増幅し、リニア特性の良い演算増幅器
を構成することができる。
【0109】また本発明によれば、本発明による増幅回
路を2組用い、それぞれの組の極性の反対の信号入力端
子を互に接続して一対の信号入力端子を構成し、この端
子から入力信号を導入し、それぞれの組の信号出力端子
の間から出力信号を取り出すようにしたので、通常の2
倍の増幅率を得ることができる。
【0110】また本発明によれば、本発明の増幅回路に
SRAMメモリセルの出力信号を入力して、信号増幅を
行なうようにしたので、初期状態による応答遅れのない
センス増幅回路を得ることができる。
【0111】また本発明によれば、本発明の増幅回路に
ホール素子の出力信号を入力して、信号増幅を行なうよ
うにしたので、入力信号源が電流型信号源にもかかわら
ず、特性の良い磁気増幅回路を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る増幅回路の構成を説明する図であ
る。
【図2】図1の回路の増幅特性のシミュレーション結果
を示す図である。
【図3】本発明に係る増幅回路の実施例1を示す図であ
る。
【図4】本発明に係る増幅回路の実施例2を示す図であ
る。
【図5】本発明に係る増幅回路の実施例3を示す図であ
る。
【図6】本発明に係る増幅回路の実施例4を示す図であ
る。
【図7】本発明に係る増幅回路の実施例5を示す図であ
る。
【図8】本発明に係る増幅回路の実施例6を示す図であ
る。
【図9】本発明に係る増幅回路の実施例7を示す図であ
る。
【図10】本発明に係る増幅回路の実施例8を示す図で
ある。
【図11】本発明に係る増幅回路の実施例9を示す図で
ある。
【図12】本発明に係る増幅回路の実施例10を示す図
である。
【図13】本発明に係る増幅回路の実施例11を示す図
である。
【図14】本発明に係る増幅回路の実施例12を示す図
である。
【図15】本発明に係る増幅回路の実施例13を示す図
である。
【図16】本発明に係る増幅回路の実施例14を示す図
である。
【図17】本発明に係る増幅回路の実施例15を示す図
である。
【図18】演算増幅器の構成を説明する図である。
【図19】ホール素子の構成を説明する図である。
【図20】ホール素子の等価回路を示す図である。
【図21】従来の微小電圧を増幅する差動増幅器の回路
図である。
【図22】特開平3−22294号公報に示された従来
のセンス増幅器の回路図である。
【図23】図22の回路の動作点の変化による信号入出
力特性を説明する図である。
【符号の説明】
1 電源端子 2 信号入力端子 3 信号入力端子 4 中間端子 5 信号出力端子 11 #1トランジスタ 12 #2トランジスタ 13 #3トランジスタ 14 #4トランジスタ 24〜27 NMOSトランジスタ 100 ホール素子等価回路 120 入力インピーダンス 130 帰還インピーダンス 140 反転増幅器 150 半導体薄膜
【手続補正書】
【提出日】平成5年3月23日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0047
【補正方法】変更
【補正内容】
【0047】
【数6】
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0088
【補正方法】変更
【補正内容】
【0088】
【数17】
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0092
【補正方法】変更
【補正内容】
【0092】
【数19】

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 電源端子1と、信号入力端子2及び3
    と、電源端子1と信号入力端子2との間に中間端子4
    と、電源端子1と信号入力端子3との間に信号出力端子
    5とをそれぞれ設け、前記端子1と4の間に第1のトラ
    ンジスタ、前記端子1と5の間に第2のトランジスタ、
    前記端子4と2の間に第3のトランジスタ、前記端子5
    と3の間に第4のトランジスタがそれぞれ接続される増
    幅回路において、 前記第1のトランジスタと第2のトランジスタに流れる
    電流比を1対nとするカレントミラー回路または定電流
    回路によりそれぞれ構成される第1及び第2のトランジ
    スタ回路と、 前記第3のトランジスタと第4のトランジスタに流れる
    電流比を前記1対nと同一比率とするカレントミラー回
    路によりそれぞれ構成される第3及び第4のトランジス
    タ回路とを備えたことを特徴とする増幅回路。
  2. 【請求項2】 前記第1乃至第4のトランジスタがMO
    Sトランジスタであることを特徴とする請求項1記載の
    増幅回路。
  3. 【請求項3】 前記第1乃至第4のトランジスタがバイ
    ポーラトランジスタであることを特徴とする請求項1記
    載の増幅回路。
  4. 【請求項4】 前記第1及び第2のトランジスタと前記
    第3及び第4のトランジスタとが互に相補なトランジス
    タであることを特徴とする請求項1乃至請求項3のいず
    れかに記載の増幅回路。
  5. 【請求項5】 信号入力端子に入力インピーダンスが直
    列に接続され、前記信号入力端子と信号出力端子の間に
    帰還インピーダンスが接続されて演算機能を有する反転
    増幅器に含まれる前記請求項1乃至請求項4のいずれか
    に記載の増幅回路。
  6. 【請求項6】 前記請求項1乃至請求項4のいずれかに
    記載の増幅回路を2組と、 前記2組の一方の増幅回路の信号入力端子2と3を、そ
    れぞれ他方の増幅回路の信号入力端子3と2とに接続し
    て構成する一対の信号入力端子と、 前記2組の一方の増幅回路の信号出力端子5と、他方の
    増幅回路の信号出力端子5との間の差信号を出力する一
    対の信号出力端子とを備えたことを特徴とする増幅回
    路。
  7. 【請求項7】 前記信号入力端子2と3を、SRAMの
    メモリセルの2つの信号出力端子にそれぞれ接続する接
    続手段を備えたことを特徴とする前記請求項1乃至請求
    項4または請求項6のいずれかに記載の増幅回路。
  8. 【請求項8】 前記信号入力端子2と3を、ホール素子
    の2つの信号出力端子にそれぞれ接続する接続手段を備
    えたことを特徴とする前記請求項1乃至請求項4または
    請求項6のいずれかに記載の増幅回路。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7667272B2 (en) 2006-04-28 2010-02-23 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device including a current mirror circuit
US7791012B2 (en) 2006-09-29 2010-09-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device comprising photoelectric conversion element and high-potential and low-potential electrodes
US8354724B2 (en) 2007-03-26 2013-01-15 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and electronic device

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US9041112B2 (en) 2006-04-28 2015-05-26 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device including a current mirror circuit
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