JPH0636272A - 磁気記録媒体及びその製造方法 - Google Patents

磁気記録媒体及びその製造方法

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JPH0636272A
JPH0636272A JP19569192A JP19569192A JPH0636272A JP H0636272 A JPH0636272 A JP H0636272A JP 19569192 A JP19569192 A JP 19569192A JP 19569192 A JP19569192 A JP 19569192A JP H0636272 A JPH0636272 A JP H0636272A
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JP
Japan
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magnetic
protective film
film
cathode
recording medium
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JP19569192A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Uchiyama
浩 内山
Ryoichi Hiratsuka
亮一 平塚
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【構成】 いわゆる金属磁性薄膜型の磁気記録媒体にお
いて、磁性層表面に形成する保護膜は、炭素を主成分と
し、5原子%〜20原子%の水素を含むものとする。ま
た、保護膜の成膜方法がスパッタリング法、CVD法、
イオンプレーティング法より選ばれることを特徴とする
ものである。 【効果】 摺動耐久性に優れた信頼性の高い磁気記録媒
体とその製造方法を提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、非磁性支持体上に磁性
薄膜とカーボン保護膜が順次成膜されてなる磁気記録媒
体及びその製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、磁気記録媒体としては、非磁
性支持体上に酸化物磁性粉末あるいは合金磁性粉末等の
粉末磁性材料を塩化ビニルー酢酸ビニル系共重合体、ポ
リエステル樹脂、ウレタン樹脂、ポリウレタン樹脂等の
有機バインダー中に分散せしめた磁性塗料を塗布、乾燥
することにより作成される塗布型の磁気記録媒体が広く
使用されている。
【0003】これに対して、高密度磁気記録への要求の
高まりと共に、Co−Ni合金、Co−Cr合金、Co
−O等の金属磁性材料を、メッキや真空薄膜形成手段
(真空蒸着法やスパッタリング法、イオンプレーティン
グ法等)によってポリエステルフィルムやポリアミド、
ポリイミドフィルム等の非磁性支持体上に直接被着し
た、いわゆる金属磁性薄膜型の磁気記録媒体が提案され
注目を集めている。
【0004】この金属磁性薄膜型の磁気記録媒体は抗磁
力や角形比等に優れ、磁性層の厚みを極めて薄くできる
為、記録減磁や再生時の厚み損失が著しく小さく短波長
での電磁変換特性に優れるばかりでなく、磁性層中に非
磁性材であるそのバインダーを混入する必要が無いため
磁性材料の充填密度を高めることが出来ることなど、数
々の利点を有している。
【0005】更に、この種の磁気記録媒体の電磁変換特
性を向上させ、より大きな出力を得ることが出来るよう
にするために、該磁気記録媒体の磁性層を形成する場
合、磁性層を斜めに蒸着するいわゆる斜方蒸着が提案さ
れ実用化されている。したがって、前記金属薄膜媒体
は、磁気特性的な優位さ故に今後の高密度磁気記録媒体
の主流になると考えられる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、今後更なる
高密度化の流れから、スペーシング損失を少なくするた
め磁気記録媒体の表面は平滑化される傾向にある。その
結果、媒体表面の平滑化に伴ってヘッドー媒体間の摩擦
力は増大し、媒体に生ずるせん断応力は大きくなる。
【0007】このように摺動耐久性に対する要求が厳し
くなる状況のなかで、耐久性を向上させる目的で磁性層
表面に保護膜層を形成する技術の検討がなされてきた。
特に耐摩耗性のよいカーボンを保護膜として形成するこ
とにより摺動耐久性を高めることが可能になる。
【0008】しかしながら、カーボン保護膜は、膜形成
方法や条件の違いにより摺動耐久性が著しく異なるとい
う問題点がある。
【0009】そこで本発明は、かかる従来の実情に鑑み
て提案されたものであり、摺動耐久性に優れた信頼性の
高い磁気記録媒体を提供することを目的とし、さらには
これを実現するための製造方法を提供することを目的と
するものである。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上述の目
的を達成せんものと長期に亘り鋭意研究を重ねた。その
結果、カーボン保護膜の成分や膜形成方法を規定するこ
とにより摺動耐久性に優れた磁気記録媒体となるとの知
見を得るに至った。
【0011】本発明は、かかる知見に基づいて完成され
たものである。すなわち、本発明の磁気記録媒体は、非
磁性支持体上に単層または多層構造の磁性薄膜が形成さ
れ、該磁性薄膜上に炭素を主成分とし5原子%〜20原
子%の水素を含有する保護膜が形成されていることを特
徴とするものである。
【0012】また、本発明の製造方法は、非磁性支持体
上に単層または多層構造の磁性薄膜を形成した後、該磁
性薄膜の表面に保護膜を形成する磁気記録媒体の製造方
法において、前記保護膜をスパッタリング法、CVD
法、イオンプレーティング法より選ばれた手法により形
成することを特徴とするものである。
【0013】また、本発明が適用される磁気記録媒体
は、非磁性材料よりなる非磁性支持体上に磁性層として
金属磁性薄膜および保護膜を設けてなる金属薄膜型の磁
気テープ(いわゆる蒸着テープ)である。
【0014】上記非磁性支持体上には、強磁性金属材料
を直接被着することにより金属磁性薄膜が磁性層として
形成されているが、この金属磁性材料としては、通常の
蒸着テ−プに使用されるものであれば如何なるものであ
ってもよい。例示すれば、Fe,Co,Ni等の強磁性
金属、Fe−Co,Co−Ni,Fe−Co−Ni,F
e−Cu,Co−Cu,Co−Au,Co−Pt,Mn
−Bi,Mn−Al,Fe−Cr,Co−Cr,Ni−
Cr,Fe−Co−Cr,Co−Ni−Cr,Fe−C
o−Ni−Cr等の強磁性合金が挙げられる。
【0015】これらの単層膜であってもよいし多層膜で
あってもよい。さらには、非磁性支持体と金属磁性薄膜
間、あるいは多層膜の場合には、各層間の付着力向上、
並びに抗磁力の制御等のため、下地層または、中間層を
設けてもよい。また、例えば磁性層表面近傍が耐蝕性改
善等のために酸化物となっていてもよい。
【0016】金属磁性薄膜形成の手段としては、真空下
で強磁性材料を加熱蒸発させ非磁性支持体上に沈着させ
る真空蒸着法や、強磁性金属材料の蒸発を放電中で行う
イオンプレーティング法、アルゴンを主成分とする雰囲
気中でグロー放電を越こし生じたアルゴンイオンでター
ゲット表面の原子をたたき出すスパッタ法等、いわゆる
PVD技術によればよい。
【0017】もちろん、本発明に係わる磁気テープの構
成はこれに限定されるものではなく、本発明の要旨を逸
脱しない範囲での変更、例えば必要に応じてバックコー
ト層を形成したり、非磁性支持体上に下塗層を形成した
り、潤滑剤、防錆剤などの層を形成することは何等差し
支えない。この場合、バックコート層に含まれる非磁性
顔料、樹脂結合剤あるいは潤滑剤、防錆剤層に含まれる
材料としては従来公知のものがいずれも使用できる。
【0018】
【作用】炭素を主成分とする保護膜の含有する水素が5
原子%〜20原子%であると、摺動耐久性の高いものと
なる。
【0019】
【実施例】以下、本発明の具体的な実施例について説明
するが、本発明がこの実施例に限定されるものではな
い。
【0020】まず、本実施例において磁性薄膜の形成に
使用した蒸着製造装置の構成について説明する。図1に
示す様に、この製造装置においては、頭部と低部にそれ
ぞれ設けられた排気口1から排気されて内部が真空状態
となされた真空室2内に、図中の回り方向に定速回転す
る送りロール3と、同様に図中の時計回り方向に定速回
転する巻取りロール4とが設けられ、これら送りロール
3から巻取りロール4にテープ状の非磁性支持体5が順
次走行するようになされている。
【0021】これら送りロール3から巻取りロール4側
に上記非磁性支持体5が走行する中途部には、上記各ロ
ール3、4の径よりも大径となされた冷却キャン6が設
けられている。この冷却キャン6は、上記非磁性支持体
5を図中下方に引き出す様に設けられ、図中の時計回り
方向に定速回転する構成とされる。尚、上記送りロール
3、巻取りロール4、及び冷却キャン6は、それぞれ非
磁性支持体5の幅と略同じ長さからなる円筒状をなすも
のであり、また上記冷却キャン6には、内部に図示しな
い冷却装置が設けられ、上記非磁性支持体5の温度上昇
による変形等を抑制し得るようになされている。
【0022】従って、上記非磁性支持体5は、送りロー
ル3から順次送り出され、さらに上記冷却キャン6の周
面を通過し、巻取りロール4に巻取られていくようにな
されている。尚、上記送りロール3と上記冷却キャン6
との間及び該冷却キャン6と上記巻取りロール4との間
にはそれぞれガイドロール7、8が配設され、上記送り
ロール3から冷却キャン5及び該冷却キャン6から巻取
りロール4にわたって走行する非磁性支持体5に所定の
テンションをかけ、該非磁性支持体5が円滑に走行する
ようになされている。また、上記真空室内には、上記冷
却キャン6の下方にルツボ9が設けられ、このルツボ9
内に金属磁性材料10が充填されている。このルツボ9
は、上記冷却キャン6の長さと略同一の幅を有してな
る。
【0023】一方、上記真空室2の側壁部には、上記ル
ツボ9内に充填された金属磁性材料10を加熱蒸発させ
るための電子銃11が取り付けられる。この電子銃11
は、当該電子銃11より放出される電子線Xが上記ルツ
ボ9内の金属磁性材料10に照射されるような位置に配
設される。そして、この電子銃11によって蒸発した金
属磁性材料10が上記冷却キャン6の周面を定速走行す
る非磁性支持体5上に磁性層として被着形成されるよう
になっている。
【0024】また、上記冷却キャン6と上記ルツボ9と
の間であって該冷却キャン6の近傍には、シャッタ12
が配設されている。このシャッタ12は、上記冷却キャ
ン6の周面を定速走行する非磁性支持体5の所定領域を
覆う形で形成され、このシャッタ12により上記蒸発せ
しめられた金属磁性材料10が上記非磁性支持体5に対
して所定の角度範囲で斜めに蒸着されるようになってい
る。更に、このような蒸着に際し、上記真空室2の側壁
部を貫通して設けられる酸素ガス導入口14を介して非
磁性支持体5の表面に酸素ガスが供給され、磁気特性、
耐久性及び耐候性の向上が図られている。
【0025】この真空蒸着は、真空室2を例えば真空度
1×10-4Torrに保ちながら、これらの真空室2内にガ
ス導入口14により酸素ガスを例えば250cc/min の
割合で導入しながら行う。この場合、非磁性支持体5に
対する蒸発金属の入射角は例えば45〜90°の範囲と
する。また、磁性層は円筒キャン6において例えば20
00Åの厚さに蒸着される。なお、蒸発源に用いられる
インゴット(金属磁性材料10)の組成は例えばCo8
0ーNi20(数値は組成を重量%で表す。)である。
【0026】次に、本実施例においてカーボン保護膜の
形成に使用したキャンロール対向型スパッタリング製造
装置の構成について説明する。図2に示す様に、この製
造装置においては、頭部と低部にそれぞれ設けられた排
気口21から排気されて内部が真空状態となされた真空
室22内に、図中の時計回り方向に定速回転する送りロ
ール23と、図中の時計回り方向に定速回転する巻取り
ロール24とが設けられ、これら送りロール23から巻
取りロール24にテープ状の非磁性支持体25が順次走
行するようになされている。
【0027】これら送りロール23から巻取りロール2
4側に上記非磁性支持体25が走行する中途部には、上
記各ロール23、24の径よりも大径となされた円筒キ
ャン26が設けられている。この円筒キャン26は、上
記非磁性支持体25を図中下方に引き出す様に設けら
れ、図中の時計回り方向に定速回転する構成とされる。
尚、上記送りロール23、巻取りロール24、及び、円
筒キャン26は、それぞれ非磁性支持体25の幅と略同
じ長さからなる円筒状をなすものであり、また上記円筒
キャン26には、内部に図示しない冷却装置が設けら
れ、上記非磁性支持体25の温度上昇による変形等を抑
制し得るようになされている。
【0028】従って、上記非磁性支持体25は、送りロ
ール23から順次送り出され、さらに上記冷却キャン2
6の周面を通過し、巻取りロール24に巻取られていく
ようになされている。尚、上記送りロール23と上記円
筒キャン26との間及び該冷却キャン26と上記巻取り
ロール24との間にはそれぞれガイドロール27、28
が配設され、上記送りロール23から円筒キャン26及
び該円筒キャン26から巻取りロール24にわたって走
行する非磁性支持体25に所定のテンションをかけ、該
非磁性支持体25が円滑に走行するようになされてい
る。
【0029】また、上記真空室22内には、上記円筒キ
ャン26の左方に円筒キャンと略平行となるように設置
されたターゲットカソード29が設けられている。ター
ゲット材料は焼結カーボンで、カソード29にはDC電
源30が接続されている。さらに、このターゲットカソ
ード29の近傍部には保護膜の原料ガスおよびキャリア
ガスを導入する導入口31、32が設けられている。
【0030】このターゲットカソード29は、上記円筒
キャン26の幅より300mm程大きい幅を有してな
る。尚、本実施例では、円筒キャンは冷却されている
が、保護膜と磁性膜の接着強度を上げるため適宜加熱し
た状態でもよい。
【0031】さらに、本実施例において使用したキャン
対抗電極型プラズマCVD製造装置の構成について説明
する。図3に示す様に、この製造装置においては、頭部
と低部にそれぞれ設けられた排気口55から排気されて
内部が真空状態となされた真空室41内に、図中の時計
回り方向に定速回転する送りロール43と、図中の時計
回り方向に定速回転する巻取りロール44とが設けら
れ、これら送りロール43から巻取りロール44にテー
プ状の非磁性支持体42が順次走行するようになされて
いる。
【0032】これら送りロール43から巻取りロール4
4側に上記非磁性支持体42が走行する中途部には、上
記各ロール43、44の径よりも大径となされた円筒キ
ャン45が設けられている。この円筒キャン45は、上
記非磁性支持体42を図中下方に引き出す様に設けら
れ、図中の時計回り方向に定速回転する構成とされる。
尚、上記送りロール43、巻取りロール44、及び、円
筒キャン45は、それぞれ非磁性支持体42の幅と略同
じ長さからなる円筒状をなすものであり、また上記円筒
キャン45には、内部に図示しない冷却装置が設けら
れ、上記非磁性支持体42の温度上昇による変形等を抑
制し得るようになされている。
【0033】従って、上記非磁性支持体42は、送りロ
ール43から順次送り出され、さらに上記冷却キャン4
5の周面を通過し、巻取りロール44に巻取られていく
ようになされている。尚、上記送りロール43と上記円
筒キャン45との間及び該冷却キャン45と上記巻取り
ロール44との間にはそれぞれガイドロール46、47
が配設され、上記送りロール43から円筒キャン45及
び該円筒キャン45から巻取りロール44にわたって走
行する非磁性支持体42に所定のテンションをかけ、該
非磁性支持体42が円滑に走行するようになされてい
る。
【0034】この送りロールには、DC電源51また
は、RF電源52によりバイアス電圧が印加できる構造
となっている。また、上記真空室内には、上記円筒キャ
ン45の左方に円筒キャンと略平行となるように曲面化
された対向電極48が設けられ、この対向電極48には
高周波電源49が接続されている。さらに、この対抗電
極48の側近部には保護膜の原料ガスおよびキャリアガ
スを導入する導入口が設けられている。
【0035】この対抗電極48は、上記円筒キャン45
の長手方向の幅と略同一の幅を有してなる。尚、本実施
例では、円筒キャンは冷却されているが、保護膜と磁性
膜の接着強度をあげるため適宜加熱した状態でもよい。
また、バイアス電圧は円筒キャンに印加される構造とな
っていてもよい。
【0036】そこで、このような構成を有する製造装置
を用いて、先ず下塗が施された非磁性支持体上に、図1
に示す製造装置を用い酸素雰囲気中でCo−Ni合金を
斜め蒸着し、例えば膜厚約0.2μmの金属磁性薄膜を
磁性層として被着形成した後、バックコート、トップコ
ートをほどこし所定のテープ幅に裁断してサンプルテー
プを作成した。使用したベース、下塗、バックコート、
トップコートは下記の通りである。
【0037】 ベース :ポリエチレンテレフタレート 10μm厚 150mm幅 下塗 :アクリルエステルを主成分とする
水溶性ラテックスを塗布 突起密度 約1000万個/mm2 バックコート :カーボン、及びウレタンバインダ
ーを混合したものを0.6μm厚塗布 トップコート :パーフルオロポリエーテルを塗布 スリット幅 :8mm幅
【0038】次に、この金属磁性薄膜上にカーボン保護
膜をスパッタリングとCVD法により形成した。スパッ
タによる保護膜作成は蒸着終了直後に図2に示すスパッ
タリング装置を用いて行い、CVD法による保護膜作成
は同じく図3に示す装置を用いて行った。本実施例で
は、保護膜を形成した為に劣化する電磁変換特性の補填
の為に(スペーシングロスを小さくする目的)、下塗時
の乾燥条件を適宜調整し、下塗が施された非磁性支持体
の表面性をコントロールした。
【0039】スパッタリング条件は下記の通りである
が、各実施例及び比較例においては表1に示す雰囲気中
でカーボン保護膜のスパッタリングを行った。
【0040】 方式 :直流マグネトロンスパッタ法 ターゲット材 :カーボン 真空度 :2Pa 保護膜膜厚 :0.015μm
【0041】
【表1】
【0042】CVD法の条件は下記の通りであるが、各
実施例及び比較例においては表2に示す雰囲気中でカー
ボン保護膜を形成した。
【0043】 方式 :プラズマCVD法 投入電力 :500w(13.56MHz) 真空度 :10Pa 保護膜膜厚 :0.015μm
【0044】
【表2】
【0045】なお、比較例1は、保護膜を形成していな
い例である。また、保護膜成膜時の膜厚は15nm一定
としそのときの送り速度を変えることで生産性の比較を
行った。スチル耐久性の測定はソニー社製8mmVTR
EVS−900改造機を用いて行った。
【0046】表3に測定結果を示す。
【0047】
【表3】
【0048】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明においては、磁性膜上に形成されるカーボン保護膜の
水素含有率を5原子%〜20原子%とすることで、高摺
動耐久性を有する磁気記録媒体を実現することが出来
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】真空蒸着装置の一例を示す模式図である。
【図2】キャンロール対向型スパッタリング製造装置の
一例を示す模式図である。
【図3】キャン対抗電極型プラズマCVD製造装置の一
例を示す模式図である。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性支持体上に単層または多層構造の
    磁性薄膜が形成され、該磁性薄膜上に炭素を主成分とし
    5原子%〜20原子%の水素を含有する保護膜が形成さ
    れていることを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 非磁性支持体上に単層または多層構造の
    磁性薄膜を形成した後、該磁性薄膜の表面に保護膜を形
    成する磁気記録媒体の製造方法において、 前記保護膜の形成方法がスパッタリング法、CVD法、
    イオンプレーティング法より選ばれることを特徴とする
    磁気記録媒体の製造方法。
JP19569192A 1992-07-22 1992-07-22 磁気記録媒体及びその製造方法 Pending JPH0636272A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07235046A (ja) * 1994-02-22 1995-09-05 Nec Corp 磁気記録媒体

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPH07235046A (ja) * 1994-02-22 1995-09-05 Nec Corp 磁気記録媒体

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