JPH0634462A - トルク検出装置 - Google Patents
トルク検出装置Info
- Publication number
- JPH0634462A JPH0634462A JP21451092A JP21451092A JPH0634462A JP H0634462 A JPH0634462 A JP H0634462A JP 21451092 A JP21451092 A JP 21451092A JP 21451092 A JP21451092 A JP 21451092A JP H0634462 A JPH0634462 A JP H0634462A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shaft
- light
- torque
- light receiving
- light reflecting
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 シャフトの回転に基づくねじれ角からトルク
検出を行うに当り、シャフトに設けられる光反射部の構
成を簡単にすること。 【構成】 シャフト1の外周面に一直線上に延びるライ
ン2を設けて光反射部とし、発光素子3A、4Aおよび
受光素子3B、4Bを各1個づつ備えて構成された第1
および第2の検出部3、4を前記光反射部に相対配置す
る。各検出部3、4による受光タイミングは、シャフト
1にトルクが加えられた際に生ずるねじれに対応して一
方の検出部側が他方の検出部側より所定時間遅れ、この
遅れ時間に基づいて制御装置8で所定演算がなされ、こ
れによってトルクが求められるようになっている。
検出を行うに当り、シャフトに設けられる光反射部の構
成を簡単にすること。 【構成】 シャフト1の外周面に一直線上に延びるライ
ン2を設けて光反射部とし、発光素子3A、4Aおよび
受光素子3B、4Bを各1個づつ備えて構成された第1
および第2の検出部3、4を前記光反射部に相対配置す
る。各検出部3、4による受光タイミングは、シャフト
1にトルクが加えられた際に生ずるねじれに対応して一
方の検出部側が他方の検出部側より所定時間遅れ、この
遅れ時間に基づいて制御装置8で所定演算がなされ、こ
れによってトルクが求められるようになっている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、トルク検出装置に係
り、とくに、自動車等の動力伝達装置におけるシャフト
に発生するトルクを検出するに場合等に用いられるトル
ク検出装置に関する。
り、とくに、自動車等の動力伝達装置におけるシャフト
に発生するトルクを検出するに場合等に用いられるトル
ク検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】この種のトルク検出装置としては、例え
ば、特公昭61−26613号公報に示されるように、
シャフトに与えられるトルク検出に際し、軸方向2箇所
に円盤を固定するとともに、当該円盤の外周縁に所定の
ピッチで多数の検出素子を取り付ける一方、この検出素
子と対向する位置に検出器を設け、当該検出器でそれぞ
れ検出される信号に基づいてトルクを検出するという構
成が知られている。
ば、特公昭61−26613号公報に示されるように、
シャフトに与えられるトルク検出に際し、軸方向2箇所
に円盤を固定するとともに、当該円盤の外周縁に所定の
ピッチで多数の検出素子を取り付ける一方、この検出素
子と対向する位置に検出器を設け、当該検出器でそれぞ
れ検出される信号に基づいてトルクを検出するという構
成が知られている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のトルク検出装置にあっては、円盤に多数の検出素子
を設けるという構成上、検出結果の信頼性が前記ピッチ
間隔の精度に依存するものであり、これがため、検出素
子を設けるに際して高精度加工が要求される結果、検出
装置のコスト上昇を将来するという不都合があった。
来のトルク検出装置にあっては、円盤に多数の検出素子
を設けるという構成上、検出結果の信頼性が前記ピッチ
間隔の精度に依存するものであり、これがため、検出素
子を設けるに際して高精度加工が要求される結果、検出
装置のコスト上昇を将来するという不都合があった。
【0004】
【発明の目的】本発明は、かかる従来例の不都合を改善
し、とくに、軸回りにおける構造の簡易化を図りつつ容
易に製造することができ、高精度なトルク検出を行うこ
とが期待できるトルク検出装置を提供することにある。
し、とくに、軸回りにおける構造の簡易化を図りつつ容
易に製造することができ、高精度なトルク検出を行うこ
とが期待できるトルク検出装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、回転するシャ
フトのねじれを検出して当該シャフトに加えられるトル
クを検出する装置において、前記シャフトの外周面に、
軸方向の一つの直線上に光反射部を設けるとともに、こ
の光反射部に対向配置された発光素子および受光素子か
らなる第1および第2の検出部を前記軸方向2箇所に設
け、各検出部より出力される受光信号のタイミングずれ
に基づいてトルクを算出する制御装置を設けるという構
成を採っている。これによって、前述の目的を達成しよ
うとするものである。
フトのねじれを検出して当該シャフトに加えられるトル
クを検出する装置において、前記シャフトの外周面に、
軸方向の一つの直線上に光反射部を設けるとともに、こ
の光反射部に対向配置された発光素子および受光素子か
らなる第1および第2の検出部を前記軸方向2箇所に設
け、各検出部より出力される受光信号のタイミングずれ
に基づいてトルクを算出する制御装置を設けるという構
成を採っている。これによって、前述の目的を達成しよ
うとするものである。
【0006】
【作用】シャフトが回転している間に、第1および第2
の検出部における発光素子から所定の光が照射される
と、当該光は、一定の周期で前記光反射部によって反射
され、その反射光は、第1および第2の検出部における
各受光素子に受光される。この際、シャフトに加えられ
たトルクはシャフトの弾性によってねじれを発生するた
め、前記各受光素子で受光されるタイミングは、一方の
検出部側が他方の検出部側より所定時間遅れることとな
る。制御装置では、第1の検出部による受光タイミング
と、第2の検出部による受光タイミングから遅れ時間を
求め、この遅れ時間に基づいて、所定演算処理を行い、
これによってシャフトのトルク検出が行えるようになっ
ている。
の検出部における発光素子から所定の光が照射される
と、当該光は、一定の周期で前記光反射部によって反射
され、その反射光は、第1および第2の検出部における
各受光素子に受光される。この際、シャフトに加えられ
たトルクはシャフトの弾性によってねじれを発生するた
め、前記各受光素子で受光されるタイミングは、一方の
検出部側が他方の検出部側より所定時間遅れることとな
る。制御装置では、第1の検出部による受光タイミング
と、第2の検出部による受光タイミングから遅れ時間を
求め、この遅れ時間に基づいて、所定演算処理を行い、
これによってシャフトのトルク検出が行えるようになっ
ている。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし図4に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【0008】図1において、シャフト1は図中左側に図
示しない適宜な駆動源を介して回転自在に設けられてお
り、このシャフト1には、当該シャフト1の外周面にお
ける一つの直線上に光反射部としてのライン2が形成さ
れている。このライン2は白色に設けられて光反射が効
率よく行えるようになっている。
示しない適宜な駆動源を介して回転自在に設けられてお
り、このシャフト1には、当該シャフト1の外周面にお
ける一つの直線上に光反射部としてのライン2が形成さ
れている。このライン2は白色に設けられて光反射が効
率よく行えるようになっている。
【0009】前記シャフト1の外周面と所定間隔を隔て
た外部位置には、第1および第2の検出部3、4が同一
軸線上に配置されている。これら第1および第2の検出
部3、4は、レーザダイオードからなる発光素子3A、
4Aと、フォトダイオードからなる受光素子3B、4B
とをそれぞれ備えて構成され、前記発光素子3A、4A
から発光された光はライン2により反射されて、当該反
射光が各受光素子3B、4Bにてそれぞれ受光されるよ
うになっている。
た外部位置には、第1および第2の検出部3、4が同一
軸線上に配置されている。これら第1および第2の検出
部3、4は、レーザダイオードからなる発光素子3A、
4Aと、フォトダイオードからなる受光素子3B、4B
とをそれぞれ備えて構成され、前記発光素子3A、4A
から発光された光はライン2により反射されて、当該反
射光が各受光素子3B、4Bにてそれぞれ受光されるよ
うになっている。
【0010】前記各受光素子3B、4Bの受光信号は、
図2に示されるように、アンプ6A、6Bにて増幅され
た後、波形整形回路7A、7Bにて波形整形されるよう
になっており、波形整形回路7Aからの出力信号はイン
プットキャプチャ(IC1)として後段の制御回路8に
入力される一方、波形整形回路7Bからの出力信号はイ
ンプットキャプチャ(IC2)として同様に制御回路8
に入力されるようになっている。
図2に示されるように、アンプ6A、6Bにて増幅され
た後、波形整形回路7A、7Bにて波形整形されるよう
になっており、波形整形回路7Aからの出力信号はイン
プットキャプチャ(IC1)として後段の制御回路8に
入力される一方、波形整形回路7Bからの出力信号はイ
ンプットキャプチャ(IC2)として同様に制御回路8
に入力されるようになっている。
【0011】図3に示されるように、各発光素子3A、
4Aから発光される光は、回転するシャフト1に設けら
れたライン2によって所定周期で反射され、この反射光
は、各受光素子3B、4Bにて受光され、適宜波形整形
されて一定の周期Tを有するパルス信号として制御装置
8に出力される。受光素子4Bのパルス信号出力は、ト
ルクの大きさに対応したシャフト1のねじれ角に比例し
て所定時間t遅れて捕捉される。ここで、受光素子3B
のパルス周期をT、受光素子3Bおよび4Bのパルスの
ずれ時間をtとすれば、ねじれ角はθ=2π・t/T[r
ad]の式より求められ、さらに、シャフト1のねじれバ
ネ定数をK[Kg-m/rad]とおけば、トルクはτ=Kθ=2
πk・t/T[Kg-m]で計算することができる。かかる演
算処理は、前記制御装置8にて行われる。
4Aから発光される光は、回転するシャフト1に設けら
れたライン2によって所定周期で反射され、この反射光
は、各受光素子3B、4Bにて受光され、適宜波形整形
されて一定の周期Tを有するパルス信号として制御装置
8に出力される。受光素子4Bのパルス信号出力は、ト
ルクの大きさに対応したシャフト1のねじれ角に比例し
て所定時間t遅れて捕捉される。ここで、受光素子3B
のパルス周期をT、受光素子3Bおよび4Bのパルスの
ずれ時間をtとすれば、ねじれ角はθ=2π・t/T[r
ad]の式より求められ、さらに、シャフト1のねじれバ
ネ定数をK[Kg-m/rad]とおけば、トルクはτ=Kθ=2
πk・t/T[Kg-m]で計算することができる。かかる演
算処理は、前記制御装置8にて行われる。
【0012】前記制御装置8における信号処理プログラ
ムは、図4(A),(B)に示されるように2つの割り
込みルーチンで構成されている。ここで、図4(A)
は、受光素子3B側からのパルス信号出力に起因するル
ーチンを示し、図4(B)は、受光素子4B側からのパ
ルス信号出力に起因するルーチンを示す。インプットキ
ャプチャ(IC1)は受光素子3Bからのパルスにより
開始され、割り込みフラグをクリアした後、前回の割り
込みから今回の割り込みまでの時間からパルス周期Tを
求め、今回の割り込み時間の保存を行う。この一方、イ
ンプットキャプチャ(IC2)は受光素子4Bからのパ
ルスにより開始され当該ルーチンでは受光素子3Bによ
る割り込みからの経過時間tを求め、τ=2πk・t/
Tの前記式に基づいてトルク計算を行うこととなる。
ムは、図4(A),(B)に示されるように2つの割り
込みルーチンで構成されている。ここで、図4(A)
は、受光素子3B側からのパルス信号出力に起因するル
ーチンを示し、図4(B)は、受光素子4B側からのパ
ルス信号出力に起因するルーチンを示す。インプットキ
ャプチャ(IC1)は受光素子3Bからのパルスにより
開始され、割り込みフラグをクリアした後、前回の割り
込みから今回の割り込みまでの時間からパルス周期Tを
求め、今回の割り込み時間の保存を行う。この一方、イ
ンプットキャプチャ(IC2)は受光素子4Bからのパ
ルスにより開始され当該ルーチンでは受光素子3Bによ
る割り込みからの経過時間tを求め、τ=2πk・t/
Tの前記式に基づいてトルク計算を行うこととなる。
【0013】なお、前記実施例において、光反射部は、
一直線上に延出する白色のライン2により構成される場
合を図示、説明したが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、同一直線上に位置する限り所定距離を隔てた光
反射部として構成することが可能である。
一直線上に延出する白色のライン2により構成される場
合を図示、説明したが、本発明はこれに限定されるもの
でなく、同一直線上に位置する限り所定距離を隔てた光
反射部として構成することが可能である。
【0014】
【発明の効果】本発明は以上のように構成され、かつ、
作用するので、これによると回転するシャフトの軸方向
2箇所位置に光反射部を設け、当該光反射部で反射され
た受光信号のタイミングずれに基づいて制御装置で所定
演算を行うよう設けたから、従来のように、円周方向に
所定ピッチで検出素子を備えた円盤等を設ける必要性を
一掃することができ、構造の簡易化による製造コストの
低廉が図れるとともに、一定精度によるトルク検出が可
能であるという、従来にない優れた効果を奏するトルク
検出装置を提供できるという効果がある。
作用するので、これによると回転するシャフトの軸方向
2箇所位置に光反射部を設け、当該光反射部で反射され
た受光信号のタイミングずれに基づいて制御装置で所定
演算を行うよう設けたから、従来のように、円周方向に
所定ピッチで検出素子を備えた円盤等を設ける必要性を
一掃することができ、構造の簡易化による製造コストの
低廉が図れるとともに、一定精度によるトルク検出が可
能であるという、従来にない優れた効果を奏するトルク
検出装置を提供できるという効果がある。
【図1】実施例のシャフトと検出部との相対位置関係を
示す外観構成図である。
示す外観構成図である。
【図2】前記実施例のブロック構成図である。
【図3】前記実施例の受光素子3B、4Bの出力信号の
タイムチャートである。
タイムチャートである。
【図4】図4(A)、(B)は前記実施例における制御
装置のプログラムを示すフローチャートである。
装置のプログラムを示すフローチャートである。
1 シャフト 2 光反射部としてのライン 3 第1の検出部 3A,4A 発光素子 4 第2の検出部 3B,4B 受光素子 8 制御装置
Claims (1)
- 【請求項1】 回転するシャフトのねじれを検出して当
該シャフトに加えられるトルクを検出する装置におい
て、前記シャフトの外周面に、軸方向の一つの直線上に
光反射部を設けるとともに、この光反射部に対向配置さ
れた発光素子および受光素子からなる第1および第2の
検出部を前記軸方向2箇所に設け、各検出部より出力さ
れる受光信号のずれに基づいてトルクを算出する制御装
置を設けたことを特徴とするトルク検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21451092A JPH0634462A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | トルク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21451092A JPH0634462A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | トルク検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0634462A true JPH0634462A (ja) | 1994-02-08 |
Family
ID=16656917
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21451092A Withdrawn JPH0634462A (ja) | 1992-07-20 | 1992-07-20 | トルク検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0634462A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000005250A (ko) * | 1996-04-03 | 2000-01-25 | 보리스 페샨스키 | 각 측정장치_ |
EP1070981A1 (en) * | 1998-04-08 | 2001-01-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display device and splay-bent transition time evaluating method |
US6460422B1 (en) | 2000-07-07 | 2002-10-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Device for calculating a torque of a rotating member |
JP2004101526A (ja) * | 2002-09-06 | 2004-04-02 | General Electric Co <Ge> | 回転シャフトにおける高分解能トルク測定 |
WO2006054357A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Amiteq Co., Ltd. | 相対回転位置検出装置 |
US7252802B2 (en) | 2000-02-18 | 2007-08-07 | John Anthony Bonnard | Apparatus and method for igniting sample in calorimeters |
-
1992
- 1992-07-20 JP JP21451092A patent/JPH0634462A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20000005250A (ko) * | 1996-04-03 | 2000-01-25 | 보리스 페샨스키 | 각 측정장치_ |
EP1070981A1 (en) * | 1998-04-08 | 2001-01-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Liquid crystal display device and splay-bent transition time evaluating method |
EP1070981A4 (en) * | 1998-04-08 | 2004-04-28 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING THE TRANSITION TIMES FROM A DIVERGENT ORIENTATION TO AN ALIGNED ORIENTATION |
US7252802B2 (en) | 2000-02-18 | 2007-08-07 | John Anthony Bonnard | Apparatus and method for igniting sample in calorimeters |
US6460422B1 (en) | 2000-07-07 | 2002-10-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Device for calculating a torque of a rotating member |
JP2004101526A (ja) * | 2002-09-06 | 2004-04-02 | General Electric Co <Ge> | 回転シャフトにおける高分解能トルク測定 |
WO2006054357A1 (ja) * | 2004-11-19 | 2006-05-26 | Amiteq Co., Ltd. | 相対回転位置検出装置 |
US7800359B2 (en) | 2004-11-19 | 2010-09-21 | Amiteq Co., Ltd. | Relative rotational position detection apparatus |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19991005 |