JPS641602Y2 - - Google Patents
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- JPS641602Y2 JPS641602Y2 JP1982137573U JP13757382U JPS641602Y2 JP S641602 Y2 JPS641602 Y2 JP S641602Y2 JP 1982137573 U JP1982137573 U JP 1982137573U JP 13757382 U JP13757382 U JP 13757382U JP S641602 Y2 JPS641602 Y2 JP S641602Y2
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- Japan
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- slit
- rotating
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- slits
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Description
【考案の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この考案は、たとえば、内燃機関の点火時期を
制御するために用いられる回転角度検出装置に関
するもので、詳しくは、クランク回転に同期して
所定のパルス信号を発生させる回転角度検出装置
に関するものである。
制御するために用いられる回転角度検出装置に関
するもので、詳しくは、クランク回転に同期して
所定のパルス信号を発生させる回転角度検出装置
に関するものである。
従来、この種の装置として第1図に示すものが
あつた。図において、1は内燃機関(図示せず)
の回転に同期して回転するシヤフト、2は回転ス
リツト群8(第2図参照)を有する回転板で、上
記シヤフト1に固定され、これと一体的に回転す
るものである。3は拡散光を発する発光素子、4
は回転板2に設けられたスリツト群8により断続
される発光素子3からの光を電気信号に変換する
受光素子、5は発光素子3に給電するとともに、
受光素子4に発生する電気信号を波形整形し、矩
形波に変換し、シヤフト1の角度を検出する信号
処理回路、6は発光素子3側に設けられたスリツ
ト板7である。
あつた。図において、1は内燃機関(図示せず)
の回転に同期して回転するシヤフト、2は回転ス
リツト群8(第2図参照)を有する回転板で、上
記シヤフト1に固定され、これと一体的に回転す
るものである。3は拡散光を発する発光素子、4
は回転板2に設けられたスリツト群8により断続
される発光素子3からの光を電気信号に変換する
受光素子、5は発光素子3に給電するとともに、
受光素子4に発生する電気信号を波形整形し、矩
形波に変換し、シヤフト1の角度を検出する信号
処理回路、6は発光素子3側に設けられたスリツ
ト板7である。
上記回転板2に形成された回転スリツト群8
は、第2図に示すように、回転板2の周方向に沿
つて複数形成されたスリツト群8aからなつてい
る。
は、第2図に示すように、回転板2の周方向に沿
つて複数形成されたスリツト群8aからなつてい
る。
また、この回転スリツト群8に対向して、上記
スリツト板6およびスリツト板7には、第3図に
示すように、上記回転スリツト群8のスリツト8
aと同一形状のスリツトからなる固定スリツト群
10,11がそれぞれ形成されている。
スリツト板6およびスリツト板7には、第3図に
示すように、上記回転スリツト群8のスリツト8
aと同一形状のスリツトからなる固定スリツト群
10,11がそれぞれ形成されている。
つぎに、上記構成の作動について説明する。信
号処理回路5から発光素子3へ通電されて発光す
る発光素子3の光は、スリツト板6の固定スリツ
ト群10、回転板2の回転スリツト群8およびス
リツト板7の固定スリツト群11を介して受光素
子4により受光される。このとき、発光素子3か
らの光は、回転板2の回転に応じて遮断されるの
で、受光素子4からの電気信号は断続信号波とな
り、信号処理回路5により処理されて整形された
パルス波となり、これにより、シヤフトの回転角
度を検出することができる。
号処理回路5から発光素子3へ通電されて発光す
る発光素子3の光は、スリツト板6の固定スリツ
ト群10、回転板2の回転スリツト群8およびス
リツト板7の固定スリツト群11を介して受光素
子4により受光される。このとき、発光素子3か
らの光は、回転板2の回転に応じて遮断されるの
で、受光素子4からの電気信号は断続信号波とな
り、信号処理回路5により処理されて整形された
パルス波となり、これにより、シヤフトの回転角
度を検出することができる。
ところで、上記装置の性能は、受光素子4に発
生する電気信号の出力レベルおよびS/N比に大
きく左右される。すなわち、受光素子4に発生す
る電気信号はこの入力光量に比例するため、発光
素子3から、発光素子3側のスリツト板6、回転
板2、受光素子4側のスリツト板7、受光素子4
に至る光の伝達量、およびそのS/N比が重要な
要素となる。したがつて、受光量を大きくし、
S/N比を向上させるためには、上記従来例(第
4図参照)のように、受光素子4の有効面4aを
各スリツト群10,8,11のスリツト10a,
8a,11aに比較して大きく形成し、しかも、
回転板2のスリツト群8のスリツト8aとスリツ
ト群10,11のスリツト10a,11aを同一
形状にし、同一間隔で配列していた。
生する電気信号の出力レベルおよびS/N比に大
きく左右される。すなわち、受光素子4に発生す
る電気信号はこの入力光量に比例するため、発光
素子3から、発光素子3側のスリツト板6、回転
板2、受光素子4側のスリツト板7、受光素子4
に至る光の伝達量、およびそのS/N比が重要な
要素となる。したがつて、受光量を大きくし、
S/N比を向上させるためには、上記従来例(第
4図参照)のように、受光素子4の有効面4aを
各スリツト群10,8,11のスリツト10a,
8a,11aに比較して大きく形成し、しかも、
回転板2のスリツト群8のスリツト8aとスリツ
ト群10,11のスリツト10a,11aを同一
形状にし、同一間隔で配列していた。
しかし、上記構成では、発光素子3から発せら
る光が平行光線となると仮定した場合には最良の
ものが得られるが、実際には発散するためS/N
比が悪化する。というのは、たとえば、回転板2
が第4図に示す位置にあるとき、理論上、発行素
子3から受光素子4に至る光路は回転板2に遮断
されて、光量が零となるのであるが、実際には、
斜行する光線12が存在するため、受光量は零と
ならない、この傾向は一般に同種のスリツト10
a,8a,11aの間隔が小さくなる程著しくな
る。したがつて、狭い間隔のスリツトを必要とす
る場合には、S/N比の悪い信号となる。
る光が平行光線となると仮定した場合には最良の
ものが得られるが、実際には発散するためS/N
比が悪化する。というのは、たとえば、回転板2
が第4図に示す位置にあるとき、理論上、発行素
子3から受光素子4に至る光路は回転板2に遮断
されて、光量が零となるのであるが、実際には、
斜行する光線12が存在するため、受光量は零と
ならない、この傾向は一般に同種のスリツト10
a,8a,11aの間隔が小さくなる程著しくな
る。したがつて、狭い間隔のスリツトを必要とす
る場合には、S/N比の悪い信号となる。
そのため、他の従来例として、たとえば、実開
昭56−41208号公報に開示されているように、発
光側または受光側のスリツト板に単一のスリツト
を設け、不要光の入射を防ぐようにしたものが知
られている。
昭56−41208号公報に開示されているように、発
光側または受光側のスリツト板に単一のスリツト
を設け、不要光の入射を防ぐようにしたものが知
られている。
ところが、上記他の従来例では、スリツトが単
一であるため、受光素子に入射される光の絶対量
が減少するのは避けられない。特に、回転角度検
出装置の分解能を高めるために、狭い間隔のスリ
ツトを必要とする場合には、受光素子の受光量が
著しく低下して結果的には、S/N比が悪くなる
という欠点がある。
一であるため、受光素子に入射される光の絶対量
が減少するのは避けられない。特に、回転角度検
出装置の分解能を高めるために、狭い間隔のスリ
ツトを必要とする場合には、受光素子の受光量が
著しく低下して結果的には、S/N比が悪くなる
という欠点がある。
この考案は上記のような従来の課題を解消する
ためになされたもので、受光素子および発光素子
側のスリツト板に設けられた固定スリツト群の配
列を、回転板に設けられた固定スリツト群の配列
に対して疎にすることにより、S/N比の良い回
転角度検出装置を提供することを目的としてい
る。
ためになされたもので、受光素子および発光素子
側のスリツト板に設けられた固定スリツト群の配
列を、回転板に設けられた固定スリツト群の配列
に対して疎にすることにより、S/N比の良い回
転角度検出装置を提供することを目的としてい
る。
この考案に係る回転角度検出装置は、回転シヤ
フトと一体的に回転する回転板と、この回転板の
周方向に沿つて複数のスリツトを形成してなる固
定スリツト群と、この固定スリツト群に対向して
配設され、拡散光を発する発光素子と、この発光
素子からの拡散光を上記スリツト群の回転によつ
て断続的に受光する受光素子と、この受光素子か
らの信号を処理して上記回転シヤフトの角度を検
出する信号処理回路と、上記回転板と発光素子と
の間および回転板と受光素子との間に配設され
て、上記固定スリツト群に対向し、かつ、固定ス
リツト群の各スリツトに近似した形状の複数のス
リツトからなる固定スリツト群を有する発光側お
よび受光側のスリツト板とを具備している。そし
て、上記固定スリツト群に対する上記固定スリツ
ト群のピツチ比を1/n倍(nは2以上の整数)
に設定して、固定スリツト群を上記固定スリツト
群より疎に配列したものである。
フトと一体的に回転する回転板と、この回転板の
周方向に沿つて複数のスリツトを形成してなる固
定スリツト群と、この固定スリツト群に対向して
配設され、拡散光を発する発光素子と、この発光
素子からの拡散光を上記スリツト群の回転によつ
て断続的に受光する受光素子と、この受光素子か
らの信号を処理して上記回転シヤフトの角度を検
出する信号処理回路と、上記回転板と発光素子と
の間および回転板と受光素子との間に配設され
て、上記固定スリツト群に対向し、かつ、固定ス
リツト群の各スリツトに近似した形状の複数のス
リツトからなる固定スリツト群を有する発光側お
よび受光側のスリツト板とを具備している。そし
て、上記固定スリツト群に対する上記固定スリツ
ト群のピツチ比を1/n倍(nは2以上の整数)
に設定して、固定スリツト群を上記固定スリツト
群より疎に配列したものである。
この考案によれば、発光側および受光側の固定
スリツト群を固定スリツト群より疎に配列するよ
うにしたので、、固定スリツト群に対する回転ス
リツト群のピツチ比を設定するようにしたので、
回転板が光路を遮蔽した際には、斜行光線は回転
板または受光側のスリツト板により、遮蔽される
ため、受光素子の受光量はほぼ零となる。これに
より、受光素子から出力される信号のノイズ成分
が零となるため、S/N比が向上する。
スリツト群を固定スリツト群より疎に配列するよ
うにしたので、、固定スリツト群に対する回転ス
リツト群のピツチ比を設定するようにしたので、
回転板が光路を遮蔽した際には、斜行光線は回転
板または受光側のスリツト板により、遮蔽される
ため、受光素子の受光量はほぼ零となる。これに
より、受光素子から出力される信号のノイズ成分
が零となるため、S/N比が向上する。
しかも、上記固定スリツト群および固定スリツ
ト群はそれぞれ複数のスリツトで形成されている
ため、回転板で光が遮蔽されない時には、上記各
スリツト群を通過する光の絶対量を増加させるこ
とができる。
ト群はそれぞれ複数のスリツトで形成されている
ため、回転板で光が遮蔽されない時には、上記各
スリツト群を通過する光の絶対量を増加させるこ
とができる。
以下、この考案の一実施例を図面について説明
する。
する。
この考案に係る回転角度検出装置の全体の構成
および回転数2については、第1図および第2図
に示される従来例のものと同じで、スリツト板
6,7だけが異なる。
および回転数2については、第1図および第2図
に示される従来例のものと同じで、スリツト板
6,7だけが異なる。
このスリツト板6,7は、第6図に明示するよ
うに、上記固定スリツト群のピツチP1とし、回
転スリツト群のピツチをP2としたとき、P2に
対するP1の比P1/P2(ピツチ比)が1/n
倍となるように設定されている。
うに、上記固定スリツト群のピツチP1とし、回
転スリツト群のピツチをP2としたとき、P2に
対するP1の比P1/P2(ピツチ比)が1/n
倍となるように設定されている。
ここで、複数の固定スリツト10a,11a
は、複数の回転スリツト8aにより同時に開閉さ
れる必要があるから、上記nは2以上の整数とな
る。この実施例ではn=2であり、上記ピツチ比
は1/2となつている。つまり、第3図の従来の
スリツト板6,7のスリツト群10,11のスリ
ツト10a,11aを1個おきに間引いたもの
で、これにより、回転スリツト群8に対する固定
スリツト群10,11の配列の密度が半分になつ
ている。
は、複数の回転スリツト8aにより同時に開閉さ
れる必要があるから、上記nは2以上の整数とな
る。この実施例ではn=2であり、上記ピツチ比
は1/2となつている。つまり、第3図の従来の
スリツト板6,7のスリツト群10,11のスリ
ツト10a,11aを1個おきに間引いたもの
で、これにより、回転スリツト群8に対する固定
スリツト群10,11の配列の密度が半分になつ
ている。
上記構成において、第6図のように、スリツト
板6,7のスリツト10a,11aの数を回転板
2のスリツトの数よりも減少させたことにより回
転板2が光路を遮蔽した際には、光路13,14
で示した斜行光線が回転板2により遮蔽されるた
め、受光素子4の受光量はほぼ零となる。これに
より、ノイズ成分が零となるため、S/N比が向
上する。
板6,7のスリツト10a,11aの数を回転板
2のスリツトの数よりも減少させたことにより回
転板2が光路を遮蔽した際には、光路13,14
で示した斜行光線が回転板2により遮蔽されるた
め、受光素子4の受光量はほぼ零となる。これに
より、ノイズ成分が零となるため、S/N比が向
上する。
しかも、上記回転スリツト群8および固定スリ
ツト群10,11はそれぞれ複数のスリツト10
a,8a,11aで形成されているため、回転板
2で光が遮蔽されない時には、上記各スリツト群
10,8,11を通過する光の絶対量を増加させ
ることができるから、受光素子4の受光量が大き
くなる。
ツト群10,11はそれぞれ複数のスリツト10
a,8a,11aで形成されているため、回転板
2で光が遮蔽されない時には、上記各スリツト群
10,8,11を通過する光の絶対量を増加させ
ることができるから、受光素子4の受光量が大き
くなる。
したがつて、この信号を処理する信号処理回路
5を簡単な構成で、S/N比の良い高精度の回転
角度検出装置とすることができる。
5を簡単な構成で、S/N比の良い高精度の回転
角度検出装置とすることができる。
以上のように、この考案によれば、回転板によ
る光の遮蔽時には、斜行光線の入射を防止できる
から、受光素子から出力される信号成分のノイズ
を十分に低減できる。また、回転板で光が遮蔽さ
れない時には、回転スリツト群および回転スリツ
ト群を通過する光の絶対量が増加するため、受光
素子の受光量が大きくなる。
る光の遮蔽時には、斜行光線の入射を防止できる
から、受光素子から出力される信号成分のノイズ
を十分に低減できる。また、回転板で光が遮蔽さ
れない時には、回転スリツト群および回転スリツ
ト群を通過する光の絶対量が増加するため、受光
素子の受光量が大きくなる。
したがつて、光学系のS/N比を高め、高性能
な回転角度検出装置を提供することができる。
な回転角度検出装置を提供することができる。
第1図は従来の回転角度検出装置を示す概略構
造図、第2図は第1図の回転板を示す平面図、第
3図は第1図のスリツト板の平面図、第4図は第
1図の作動を示す説明図、第5図はこの考案の一
実施例による回転角度検出装置のスリツト板を示
す平面図、第6図は同実施例の作動を示す説明図
である。 1……回転シヤフト、2……回転板、3……発
光素子、4……受光素子、5……信号処理回路、
6,7……スリツト板、8……回転スリツト群、
10,11……固定スリツト群、8a,10a,
11a……スリツト。なお、図中同一符号は同一
または相当部分を示す。
造図、第2図は第1図の回転板を示す平面図、第
3図は第1図のスリツト板の平面図、第4図は第
1図の作動を示す説明図、第5図はこの考案の一
実施例による回転角度検出装置のスリツト板を示
す平面図、第6図は同実施例の作動を示す説明図
である。 1……回転シヤフト、2……回転板、3……発
光素子、4……受光素子、5……信号処理回路、
6,7……スリツト板、8……回転スリツト群、
10,11……固定スリツト群、8a,10a,
11a……スリツト。なお、図中同一符号は同一
または相当部分を示す。
Claims (1)
- 回転シヤフトと一体的に回転する回転板と、こ
の回転板の周方向に沿つて複数のスリツトを形成
してなる回転スリツト群と、この回転スリツト群
に対向して配設され、拡散光を発する発光素子
と、この発光素子からの拡散光を上記スリツト群
の回転によつて断続的に受光する受光素子と、こ
の受光素子からの信号を処理して上記回転シヤフ
トの角度を検出する信号処理回路と、上記回転板
と発光素子との間および回転板と受光素子との間
に配設されて、上記回転スリツト群に対向し、か
つ、回転スリツト群の各スリツトに近似した形状
の複数のスリツトからなる固定スリツト群を有す
る発光側および受光側のスリツト板とを具備し、
上記固定スリツト群に対する上記回転スリツト群
のピツチ比を1/n倍(nは2以上の整数)に設
定して、固定スリツト群を上記回転スリツト群よ
り疎に配列してなる回転角度検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13757382U JPS5941713U (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 回転角度検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP13757382U JPS5941713U (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 回転角度検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5941713U JPS5941713U (ja) | 1984-03-17 |
JPS641602Y2 true JPS641602Y2 (ja) | 1989-01-13 |
Family
ID=30308964
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP13757382U Granted JPS5941713U (ja) | 1982-09-08 | 1982-09-08 | 回転角度検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5941713U (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS554592A (en) * | 1978-06-15 | 1980-01-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | System for measuring length and angle in terms of photoelectric increment |
JPS5641208B2 (ja) * | 1973-04-26 | 1981-09-26 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5641208U (ja) * | 1979-09-06 | 1981-04-16 |
-
1982
- 1982-09-08 JP JP13757382U patent/JPS5941713U/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5641208B2 (ja) * | 1973-04-26 | 1981-09-26 | ||
JPS554592A (en) * | 1978-06-15 | 1980-01-14 | Heidenhain Gmbh Dr Johannes | System for measuring length and angle in terms of photoelectric increment |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5941713U (ja) | 1984-03-17 |
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