JP2004085270A - 太陽位置検出装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】太陽光の入射角を正確に計測することのできる太陽位置検出装置を提供する。
【解決手段】太陽位置検出装置においては、遮光板23に設けられた光透過窓24が、末広がり状に配置された第1の辺24a及び第2の辺24bを有しているため、この光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sでは、光透過窓24の各辺24a,24bに対応する第3の辺S1と第4の辺S2とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光Lの入射角α,βが変化すると、それに応じて各辺S1,S2がリニアセンサ25の撮像領域25aを横切る位置が変化する。したがって、リニアセンサ25からの出力信号に基づいて撮像領域25aにおける各辺S1,S2の位置を検出することによって、太陽光Lの入射角α,βを正確に計測することができる。
【選択図】 図2
【解決手段】太陽位置検出装置においては、遮光板23に設けられた光透過窓24が、末広がり状に配置された第1の辺24a及び第2の辺24bを有しているため、この光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sでは、光透過窓24の各辺24a,24bに対応する第3の辺S1と第4の辺S2とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光Lの入射角α,βが変化すると、それに応じて各辺S1,S2がリニアセンサ25の撮像領域25aを横切る位置が変化する。したがって、リニアセンサ25からの出力信号に基づいて撮像領域25aにおける各辺S1,S2の位置を検出することによって、太陽光Lの入射角α,βを正確に計測することができる。
【選択図】 図2
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、太陽光を屋内に取り入れるための採光装置等に適用され、太陽光の入射角を計測する太陽位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来におけるこの種の装置としては、例えば、特開昭62−73109号公報に記載された太陽センサが知られている。この公報に記載の太陽センサにおいては、互いに平行でない直線状のスリットをスリット板に少なくとも1組設け、このスリット板の下方に1次元位置検出器を配置することによって、太陽光の入射角を計測している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記公報に記載の太陽センサにあっては、スリット板に設けられたスリットにホコリやゴミ等が目詰まりし易いため、太陽光の通過が妨げられて太陽光の入射角を計測できないおそれがある。
【0004】
そこで、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、上述の課題を解決して、太陽光の入射角を正確に計測することのできる太陽位置検出装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る太陽位置検出装置は、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有してなる光透過窓が設けられた遮光板と、光透過窓を通過した太陽光の照射領域において、第1の辺に対応する第3の辺と第2の辺に対応する第4の辺とを横切って撮像領域が配置された撮像センサと、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を演算する演算手段とを備えることを特徴とする。
【0006】
この太陽位置検出装置においては、遮光板に設けられた光透過窓が、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有する形状であるため、この光透過窓を通過した太陽光の照射領域では、光透過窓の上記各辺に対応する第3の辺と第4の辺とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光の入射角が変化すると、それに応じて撮像センサの撮像領域における照射領域の面積や重心位置等が変化する。したがって、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。また、光透過窓は、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有する形状であるため、スリットのようにホコリやゴミ等が目詰まりするようなことが防止される。
【0007】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、撮像センサはリニアセンサであることが好ましい。撮像センサとしてリニアセンサを用いることによって、太陽位置検出装置の簡易化、低コスト化を実現することができる。
【0008】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、演算手段は、第3の辺の位置と第4の辺の位置との間の距離に基づいて、撮像領域の長手方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算すると共に、第3の辺の位置と第4の辺の位置との間の中心位置に基づいて、撮像領域の長手方向に直角な方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算することが好ましい。このように、1つのリニアセンサによって、その撮像領域の長手方向に沿った軸線とそれに直交する軸線との2つの軸線回りの太陽光の入射角を正確に計測することができる。
【0009】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、撮像センサにおける受光時間を制御する制御手段を備えることが好ましい。このような電子シャッタ機能により受光時間を短縮化して撮像すれば、遮光板の内側における反射等を原因とした外乱光の影響を防止して、撮像領域における第3の辺及び第4の辺の位置を精度良く検出することが可能になる。また、例えば、太陽光の強度が低い場合(薄曇りのような場合)には受光時間を長くして撮像するというように、太陽光の強度に応じて受光時間の制御を行えば、撮像センサからの出力信号において所定の出力値を得ることが可能になる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る太陽位置検出装置を採光装置に適用した場合の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0011】
図1に示す採光装置1は、建物の屋上等に設置されて建物内に太陽光を取り入れるための装置であり、同図に示すように、円筒状のフレーム2を有している。このフレーム2の内周面には、複数個の支持ローラ3が取り付けられ、この支持ローラ3上には回転リング4が載置されている。また、各支持ローラ3の設置部位には、回転リング4の外周面と接触するガイドローラ5が取り付けられている。回転リング4は、支持ローラ3及びガイドローラ5にガイドされながら回転可能となっている。回転リング4の外周部には、この回転リング4を回転駆動させる方位モータ6がギア6aを介して連結されている。この方位モータ6はステッピングモータであり、制御部7から送出されるパルス信号に応じて回転する。
【0012】
回転リング4上には1対の支持板8a,8bが固定され、これらの支持板8a,8bの間には反射体9が設けられている。この反射体9は、1対の支持板8a,8bに軸部10a,10bを介して首振り可能に取り付けられ、太陽光を受光して真下の建物内に向けて反射させる。軸部10aには、反射体9を首振り駆動させる仰角モータ11がギア11aを介して取り付けられている。この仰角モータ11はステッピングモータであり、制御部7から送出されるパルス信号に応じて回転する。
【0013】
さらに、採光装置1には、太陽光を受光して太陽光の入射角を計測する太陽位置検出装置20が搭載されている。この太陽位置検出装置20において太陽光を受光する受光部21は、反射体9の軸部10bにギヤ等を介して接続され、仰角モータ11により回転駆動される。
【0014】
ここで、反射体9の首振りの回転軸線方向をY軸方向としてX−Y−Z座標系を設定すると、図2に示すように、受光部21は、太陽光L検出用の撮像センサを収容するための筐体22上にX−Y平面と平行な遮光板23を有している。この遮光板23には、図3に示すように、互いに長さの等しい第1の辺24aと第2の辺24bとを有する二等辺三角形状の光透過窓24が形成され、この光透過窓24には、太陽光Lの強度を調整するためのNDフィルタが設けられている。なお、光透過窓24において、第1の辺24aとY軸とのなす角度及び第2の辺24bとY軸とのなす角度をそれぞれθとし、X軸上における第1の辺24aと第2の辺24bとの間の距離をLとする。
【0015】
図2及び図3に示すように、筐体22内における光透過窓24の直下には、撮像センサとしてリニアセンサ25が設置されている。このリニアセンサ25は、複数個のフォトダイオードが1次元的に並んで形成された撮像領域25aを有し、この撮像領域25aは、X軸に沿うと共にその中心位置がX−Y−Z座標系の原点となるよう配置されている。そして、撮像領域25aは、X軸上における第1の辺24aと第2の辺24bとの間の距離Lに比べて十分に長いものとなっている。
【0016】
リニアセンサ25には、その出力信号に基づく太陽光の入射角の演算処理等が行われる処理部27が接続されている。図4に示すように、処理部27は、リニアセンサ25から送出された出力信号を増幅するAMP28と、AMP28により増幅された出力信号をA/D変換するA/D変換部29と、各種処理を実行するCPU(演算手段、制御手段)30と、リニアセンサ25に駆動用のクロック信号を送出するタイミング回路31と、各種データを記憶するRAM32とを有して構成されている。
【0017】
ここで、CPU30による太陽光の入射角の演算処理について、その算出原理を説明する。CPU30は、図2に示すように、太陽光LがZ軸に対して所定の傾きをもって入射した場合に、Y軸回りとX軸回りとに分けて入射角α,βを算出する。
【0018】
まず、Y軸回りの入射角αの算出原理について説明する。CPU30は、光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sにおいて、第1の辺24aに対応する第3の辺S1と第2の辺24bに対応する第4の辺S2とがリニアセンサ25の撮像領域25aを横切る位置を検出する。例えば、図5に示すように太陽光LがX軸の正方向に傾いて入射した場合、CPU30では、図6に示す出力信号がリニアセンサ25から得られる。この出力信号において輝度値が大きく変化する位置X1,X2がそれぞれ第3の辺S1の位置,第4の辺S2の位置となる。このとき、撮像領域25aにおける照射領域の中心位置は「(X1+X2)/2」であるから、撮像領域25aと遮光板23との距離をHとすると、Y軸回りの入射角αは次の式(1)により算出することができる。
α=tan−1{(X1+X2)/(2・H)}…(1)
【0019】
この式(1)により、図5に示すように太陽光LがX軸の正方向に傾いて入射した場合は、Y軸回りの入射角αは正の値となる。また、太陽光LがX軸の負方向に傾いて入射した場合は、Y軸回りの入射角αは負の値となる。
【0020】
続いて、X軸回りの入射角βの算出原理について説明する。例えば、図7及び図8に示すように太陽光LがY軸の正方向に傾いて入射した場合、CPU30では、図9に示す出力信号がリニアセンサ25から得られる。このとき、撮像領域25aにおける照射領域の幅は「X1−X2」であるから、X軸回りの入射角βは次の式(2)により算出することができる。
β=tan−1{(X1−X2−L)/(H・2tanθ)}…(2)
【0021】
この式(2)により、図7に示すように太陽光LがY軸の正方向に傾いて入射した場合は、図8に示すように「(X1−X2)>L」となるためX軸回りの入射角βは正の値となる。また、図10に示すように太陽光LがY軸の負方向に傾いて入射した場合は、図11に示すように「(X1−X2)<L」となるためX軸回りの入射角βは負の値となる。太陽光LがY軸の負方向に傾いて入射した場合のリニアセンサ25からの出力信号を図12に示す。
【0022】
次に、CPU30によるリニアセンサ25での受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理について、図13を参照して説明する。
【0023】
まず、CPU30は、初期設定されたシャッタコントロール信号をリニアセンサ25に送出する(ステップS131)。このシャッタコントロール信号に応じてリニアセンサ25により撮像が行われ、その出力信号がAMP28及びA/D変換部29を介してCPU30に送出される。CPU30は、デジタル化された出力信号に基づいて画素毎に輝度値(0〜255)をRAM32に記憶させる(ステップS132)。
【0024】
続いて、輝度値の最大値(Max)が255に達しているか否かを判断する(ステップS133)。その結果、図14に示すように輝度値の最大値が255に達していなければ、受光時間を1ステップ(所定時間分)増加させたシャッタコントロール信号をリニアセンサ25に送出する(ステップS134)。そして、ステップS132,S133の処理を再度行い、図15に示すように輝度値の最大値が255に達するまで、ステップS134,S132,S133の処理を繰り返す。
【0025】
このような電子シャッタ機能によりニアセンサ25での受光時間の制御処理を行えば、図14に示すように太陽光の強度が低く照射領域が明確に現われないような場合にも、図15に示すように照射領域を明確にすることができる。これにより、輝度値の最大値と最小値との間の中心の輝度値「(255−Min)/2」から、撮像領域25aにおける各辺S1,S2の位置X1,X2を精度良く検出することが可能になる。また、リニアセンサ25における受光時間が初期値から段階的に増加され、最小限の長さの受光時間で撮像が行われるため、筐体22内における反射等を原因とした外乱光の影響を抑制することが可能になる。
【0026】
続いて、図13に示すように、ステップS133の判断の結果、輝度値の最大値が255に達していた場合は、照射領域の中心位置「(X1+X2)/2」と照射領域の幅「X1−X2」とを算出する(ステップS135,S136)。そして、上述の式(1),式(2)により太陽光Lの入射角α,βを算出する(ステップS137)。
【0027】
上述のリニアセンサ25での受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理は所定時間毎(例えば1分毎)に行われ、CPU30は、算出した入射角α,βのデータを制御部7に送出する。制御部7は、入射角α,βのデータに基づいて方位モータ6及び仰角モータ11にパルス信号を送出し、これにより受光部21が回転駆動され、太陽光Lの入射角α,βがゼロとなる(すなわち、遮光板23と太陽光Lとが直交する)。このとき、反射体9も回転駆動され、太陽光が真下の建物内に向けて高効率で反射される。
【0028】
以上説明したように、採光装置1に搭載された太陽位置検出装置20においては、遮光板23に設けられた光透過窓24が、末広がり状に配置された第1の辺24aと第2の辺24bとを有する二等辺三角形状であるため、この光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sでは、光透過窓24の各辺24a,24bに対応する第3の辺S1と第4の辺S2とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光Lの入射角α,βが変化すると、それに応じてリニアセンサ25の撮像領域25aにおける照射領域の中心位置「(X1+X2)/2」や照射領域の幅「X1−X2」が変化する。したがって、リニアセンサ25からの出力信号に基づいて撮像領域25aにおける第3の辺S1の位置X1と第4の辺S2の位置X2とを検出することによって、太陽光Lの入射角α,βを正確に計測することが可能になる。
【0029】
このように1つのリニアセンサ25を用いることによって、互いに直交する2つの軸線(X軸、Y軸)回りの入射角α,βを計測することができるため、2つのリニアセンサを用いるような場合に比べて太陽位置検出装置20の簡易化、低コスト化が可能になる。また、光透過窓24は二等辺三角形状であるため、スリットのようにホコリやゴミ等が目詰まりするようなことも防止される。
【0030】
本発明は上記実施形態に限定されない。例えば、光透過窓の形状は、二等辺三角形状に限らず、末広がり状に配置された2つの辺を有する形状であればよい。この場合にも、光透過窓を通過した太陽光の照射領域においては、光透過窓の上記各辺に対応する2つの辺が末広がり状に位置することになるからである。
【0031】
また、撮像センサとしては、リニアセンサに限らず、複数個のフォトダイオード等の撮像素子がマトリックス状に並んで形成されたエリアセンサであってもよい。この場合、太陽光の入射角が変化すると、それに応じてエリアセンサの撮像領域における照射領域の面積や重心位置等が変化する。したがって、エリアセンサからの出力信号に基づいて撮像領域における末広がり状の2つの辺の位置を検出することによって、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。
【0032】
【発明の効果】
本発明に係る太陽位置検出装置によれば、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有してなる光透過窓が設けられた遮光板と、光透過窓を通過した太陽光の照射領域において、第1の辺に対応する第3の辺と第2の辺に対応する第4の辺とを横切って撮像領域が配置された撮像センサと、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を演算する演算手段とを備えることにより、ホコリやゴミ等が目詰まりし易いスリットを遮光板に設けなくとも、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る太陽位置検出装置が搭載された採光装置の一実施形態を示す要部拡大断面図である。
【図2】図1に示す太陽位置検出装置の受光部の斜視図である。
【図3】図2に示す受光部の平面図である。
【図4】図1に示す太陽位置検出装置の処理部のブロック図である。
【図5】太陽光がX軸の正方向に傾いて入射した場合の受光部のX軸に沿った断面図である。
【図6】図5に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図7】太陽光がY軸の正方向に傾いて入射した場合の受光部のY軸に沿った断面図である。
【図8】図7に示す太陽光の入射状態における照射領域を示す平面図である。
【図9】図7に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図10】太陽光がY軸の負方向に傾いて入射した場合の受光部のY軸に沿った断面図である。
【図11】図10に示す太陽光の入射状態における照射領域を示す平面図である。
【図12】図10に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図13】図4に示す処理部のCPUによるリニアセンサでの受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理を示すフローチャートである。
【図14】輝度値の最大値が255に達していない場合のリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図15】輝度値の最大値が255に達している場合のリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【符号の説明】20…太陽位置検出装置、23…遮光板、24…光透過窓、24a…第1の辺、24b…第2の辺、25…リニアセンサ(撮像センサ)、25a…撮像領域、30…CPU(演算手段、制御手段)、L…太陽光、S…照射領域、S1…第3の辺、S2…第4の辺、α…Y軸回りの入射角、β…X軸回りの入射角。
【発明の属する技術分野】
本発明は、太陽光を屋内に取り入れるための採光装置等に適用され、太陽光の入射角を計測する太陽位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来におけるこの種の装置としては、例えば、特開昭62−73109号公報に記載された太陽センサが知られている。この公報に記載の太陽センサにおいては、互いに平行でない直線状のスリットをスリット板に少なくとも1組設け、このスリット板の下方に1次元位置検出器を配置することによって、太陽光の入射角を計測している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、上記公報に記載の太陽センサにあっては、スリット板に設けられたスリットにホコリやゴミ等が目詰まりし易いため、太陽光の通過が妨げられて太陽光の入射角を計測できないおそれがある。
【0004】
そこで、本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであり、上述の課題を解決して、太陽光の入射角を正確に計測することのできる太陽位置検出装置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明に係る太陽位置検出装置は、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有してなる光透過窓が設けられた遮光板と、光透過窓を通過した太陽光の照射領域において、第1の辺に対応する第3の辺と第2の辺に対応する第4の辺とを横切って撮像領域が配置された撮像センサと、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を演算する演算手段とを備えることを特徴とする。
【0006】
この太陽位置検出装置においては、遮光板に設けられた光透過窓が、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有する形状であるため、この光透過窓を通過した太陽光の照射領域では、光透過窓の上記各辺に対応する第3の辺と第4の辺とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光の入射角が変化すると、それに応じて撮像センサの撮像領域における照射領域の面積や重心位置等が変化する。したがって、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。また、光透過窓は、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有する形状であるため、スリットのようにホコリやゴミ等が目詰まりするようなことが防止される。
【0007】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、撮像センサはリニアセンサであることが好ましい。撮像センサとしてリニアセンサを用いることによって、太陽位置検出装置の簡易化、低コスト化を実現することができる。
【0008】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、演算手段は、第3の辺の位置と第4の辺の位置との間の距離に基づいて、撮像領域の長手方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算すると共に、第3の辺の位置と第4の辺の位置との間の中心位置に基づいて、撮像領域の長手方向に直角な方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算することが好ましい。このように、1つのリニアセンサによって、その撮像領域の長手方向に沿った軸線とそれに直交する軸線との2つの軸線回りの太陽光の入射角を正確に計測することができる。
【0009】
本発明に係る太陽位置検出装置においては、撮像センサにおける受光時間を制御する制御手段を備えることが好ましい。このような電子シャッタ機能により受光時間を短縮化して撮像すれば、遮光板の内側における反射等を原因とした外乱光の影響を防止して、撮像領域における第3の辺及び第4の辺の位置を精度良く検出することが可能になる。また、例えば、太陽光の強度が低い場合(薄曇りのような場合)には受光時間を長くして撮像するというように、太陽光の強度に応じて受光時間の制御を行えば、撮像センサからの出力信号において所定の出力値を得ることが可能になる。
【0010】
【発明の実施の形態】
以下、本発明に係る太陽位置検出装置を採光装置に適用した場合の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。
【0011】
図1に示す採光装置1は、建物の屋上等に設置されて建物内に太陽光を取り入れるための装置であり、同図に示すように、円筒状のフレーム2を有している。このフレーム2の内周面には、複数個の支持ローラ3が取り付けられ、この支持ローラ3上には回転リング4が載置されている。また、各支持ローラ3の設置部位には、回転リング4の外周面と接触するガイドローラ5が取り付けられている。回転リング4は、支持ローラ3及びガイドローラ5にガイドされながら回転可能となっている。回転リング4の外周部には、この回転リング4を回転駆動させる方位モータ6がギア6aを介して連結されている。この方位モータ6はステッピングモータであり、制御部7から送出されるパルス信号に応じて回転する。
【0012】
回転リング4上には1対の支持板8a,8bが固定され、これらの支持板8a,8bの間には反射体9が設けられている。この反射体9は、1対の支持板8a,8bに軸部10a,10bを介して首振り可能に取り付けられ、太陽光を受光して真下の建物内に向けて反射させる。軸部10aには、反射体9を首振り駆動させる仰角モータ11がギア11aを介して取り付けられている。この仰角モータ11はステッピングモータであり、制御部7から送出されるパルス信号に応じて回転する。
【0013】
さらに、採光装置1には、太陽光を受光して太陽光の入射角を計測する太陽位置検出装置20が搭載されている。この太陽位置検出装置20において太陽光を受光する受光部21は、反射体9の軸部10bにギヤ等を介して接続され、仰角モータ11により回転駆動される。
【0014】
ここで、反射体9の首振りの回転軸線方向をY軸方向としてX−Y−Z座標系を設定すると、図2に示すように、受光部21は、太陽光L検出用の撮像センサを収容するための筐体22上にX−Y平面と平行な遮光板23を有している。この遮光板23には、図3に示すように、互いに長さの等しい第1の辺24aと第2の辺24bとを有する二等辺三角形状の光透過窓24が形成され、この光透過窓24には、太陽光Lの強度を調整するためのNDフィルタが設けられている。なお、光透過窓24において、第1の辺24aとY軸とのなす角度及び第2の辺24bとY軸とのなす角度をそれぞれθとし、X軸上における第1の辺24aと第2の辺24bとの間の距離をLとする。
【0015】
図2及び図3に示すように、筐体22内における光透過窓24の直下には、撮像センサとしてリニアセンサ25が設置されている。このリニアセンサ25は、複数個のフォトダイオードが1次元的に並んで形成された撮像領域25aを有し、この撮像領域25aは、X軸に沿うと共にその中心位置がX−Y−Z座標系の原点となるよう配置されている。そして、撮像領域25aは、X軸上における第1の辺24aと第2の辺24bとの間の距離Lに比べて十分に長いものとなっている。
【0016】
リニアセンサ25には、その出力信号に基づく太陽光の入射角の演算処理等が行われる処理部27が接続されている。図4に示すように、処理部27は、リニアセンサ25から送出された出力信号を増幅するAMP28と、AMP28により増幅された出力信号をA/D変換するA/D変換部29と、各種処理を実行するCPU(演算手段、制御手段)30と、リニアセンサ25に駆動用のクロック信号を送出するタイミング回路31と、各種データを記憶するRAM32とを有して構成されている。
【0017】
ここで、CPU30による太陽光の入射角の演算処理について、その算出原理を説明する。CPU30は、図2に示すように、太陽光LがZ軸に対して所定の傾きをもって入射した場合に、Y軸回りとX軸回りとに分けて入射角α,βを算出する。
【0018】
まず、Y軸回りの入射角αの算出原理について説明する。CPU30は、光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sにおいて、第1の辺24aに対応する第3の辺S1と第2の辺24bに対応する第4の辺S2とがリニアセンサ25の撮像領域25aを横切る位置を検出する。例えば、図5に示すように太陽光LがX軸の正方向に傾いて入射した場合、CPU30では、図6に示す出力信号がリニアセンサ25から得られる。この出力信号において輝度値が大きく変化する位置X1,X2がそれぞれ第3の辺S1の位置,第4の辺S2の位置となる。このとき、撮像領域25aにおける照射領域の中心位置は「(X1+X2)/2」であるから、撮像領域25aと遮光板23との距離をHとすると、Y軸回りの入射角αは次の式(1)により算出することができる。
α=tan−1{(X1+X2)/(2・H)}…(1)
【0019】
この式(1)により、図5に示すように太陽光LがX軸の正方向に傾いて入射した場合は、Y軸回りの入射角αは正の値となる。また、太陽光LがX軸の負方向に傾いて入射した場合は、Y軸回りの入射角αは負の値となる。
【0020】
続いて、X軸回りの入射角βの算出原理について説明する。例えば、図7及び図8に示すように太陽光LがY軸の正方向に傾いて入射した場合、CPU30では、図9に示す出力信号がリニアセンサ25から得られる。このとき、撮像領域25aにおける照射領域の幅は「X1−X2」であるから、X軸回りの入射角βは次の式(2)により算出することができる。
β=tan−1{(X1−X2−L)/(H・2tanθ)}…(2)
【0021】
この式(2)により、図7に示すように太陽光LがY軸の正方向に傾いて入射した場合は、図8に示すように「(X1−X2)>L」となるためX軸回りの入射角βは正の値となる。また、図10に示すように太陽光LがY軸の負方向に傾いて入射した場合は、図11に示すように「(X1−X2)<L」となるためX軸回りの入射角βは負の値となる。太陽光LがY軸の負方向に傾いて入射した場合のリニアセンサ25からの出力信号を図12に示す。
【0022】
次に、CPU30によるリニアセンサ25での受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理について、図13を参照して説明する。
【0023】
まず、CPU30は、初期設定されたシャッタコントロール信号をリニアセンサ25に送出する(ステップS131)。このシャッタコントロール信号に応じてリニアセンサ25により撮像が行われ、その出力信号がAMP28及びA/D変換部29を介してCPU30に送出される。CPU30は、デジタル化された出力信号に基づいて画素毎に輝度値(0〜255)をRAM32に記憶させる(ステップS132)。
【0024】
続いて、輝度値の最大値(Max)が255に達しているか否かを判断する(ステップS133)。その結果、図14に示すように輝度値の最大値が255に達していなければ、受光時間を1ステップ(所定時間分)増加させたシャッタコントロール信号をリニアセンサ25に送出する(ステップS134)。そして、ステップS132,S133の処理を再度行い、図15に示すように輝度値の最大値が255に達するまで、ステップS134,S132,S133の処理を繰り返す。
【0025】
このような電子シャッタ機能によりニアセンサ25での受光時間の制御処理を行えば、図14に示すように太陽光の強度が低く照射領域が明確に現われないような場合にも、図15に示すように照射領域を明確にすることができる。これにより、輝度値の最大値と最小値との間の中心の輝度値「(255−Min)/2」から、撮像領域25aにおける各辺S1,S2の位置X1,X2を精度良く検出することが可能になる。また、リニアセンサ25における受光時間が初期値から段階的に増加され、最小限の長さの受光時間で撮像が行われるため、筐体22内における反射等を原因とした外乱光の影響を抑制することが可能になる。
【0026】
続いて、図13に示すように、ステップS133の判断の結果、輝度値の最大値が255に達していた場合は、照射領域の中心位置「(X1+X2)/2」と照射領域の幅「X1−X2」とを算出する(ステップS135,S136)。そして、上述の式(1),式(2)により太陽光Lの入射角α,βを算出する(ステップS137)。
【0027】
上述のリニアセンサ25での受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理は所定時間毎(例えば1分毎)に行われ、CPU30は、算出した入射角α,βのデータを制御部7に送出する。制御部7は、入射角α,βのデータに基づいて方位モータ6及び仰角モータ11にパルス信号を送出し、これにより受光部21が回転駆動され、太陽光Lの入射角α,βがゼロとなる(すなわち、遮光板23と太陽光Lとが直交する)。このとき、反射体9も回転駆動され、太陽光が真下の建物内に向けて高効率で反射される。
【0028】
以上説明したように、採光装置1に搭載された太陽位置検出装置20においては、遮光板23に設けられた光透過窓24が、末広がり状に配置された第1の辺24aと第2の辺24bとを有する二等辺三角形状であるため、この光透過窓24を通過した太陽光Lの照射領域Sでは、光透過窓24の各辺24a,24bに対応する第3の辺S1と第4の辺S2とが末広がり状に位置することになる。これにより、太陽光Lの入射角α,βが変化すると、それに応じてリニアセンサ25の撮像領域25aにおける照射領域の中心位置「(X1+X2)/2」や照射領域の幅「X1−X2」が変化する。したがって、リニアセンサ25からの出力信号に基づいて撮像領域25aにおける第3の辺S1の位置X1と第4の辺S2の位置X2とを検出することによって、太陽光Lの入射角α,βを正確に計測することが可能になる。
【0029】
このように1つのリニアセンサ25を用いることによって、互いに直交する2つの軸線(X軸、Y軸)回りの入射角α,βを計測することができるため、2つのリニアセンサを用いるような場合に比べて太陽位置検出装置20の簡易化、低コスト化が可能になる。また、光透過窓24は二等辺三角形状であるため、スリットのようにホコリやゴミ等が目詰まりするようなことも防止される。
【0030】
本発明は上記実施形態に限定されない。例えば、光透過窓の形状は、二等辺三角形状に限らず、末広がり状に配置された2つの辺を有する形状であればよい。この場合にも、光透過窓を通過した太陽光の照射領域においては、光透過窓の上記各辺に対応する2つの辺が末広がり状に位置することになるからである。
【0031】
また、撮像センサとしては、リニアセンサに限らず、複数個のフォトダイオード等の撮像素子がマトリックス状に並んで形成されたエリアセンサであってもよい。この場合、太陽光の入射角が変化すると、それに応じてエリアセンサの撮像領域における照射領域の面積や重心位置等が変化する。したがって、エリアセンサからの出力信号に基づいて撮像領域における末広がり状の2つの辺の位置を検出することによって、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。
【0032】
【発明の効果】
本発明に係る太陽位置検出装置によれば、末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有してなる光透過窓が設けられた遮光板と、光透過窓を通過した太陽光の照射領域において、第1の辺に対応する第3の辺と第2の辺に対応する第4の辺とを横切って撮像領域が配置された撮像センサと、撮像センサからの出力信号に基づいて撮像領域における第3の辺の位置と第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を演算する演算手段とを備えることにより、ホコリやゴミ等が目詰まりし易いスリットを遮光板に設けなくとも、太陽光の入射角を正確に計測することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る太陽位置検出装置が搭載された採光装置の一実施形態を示す要部拡大断面図である。
【図2】図1に示す太陽位置検出装置の受光部の斜視図である。
【図3】図2に示す受光部の平面図である。
【図4】図1に示す太陽位置検出装置の処理部のブロック図である。
【図5】太陽光がX軸の正方向に傾いて入射した場合の受光部のX軸に沿った断面図である。
【図6】図5に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図7】太陽光がY軸の正方向に傾いて入射した場合の受光部のY軸に沿った断面図である。
【図8】図7に示す太陽光の入射状態における照射領域を示す平面図である。
【図9】図7に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図10】太陽光がY軸の負方向に傾いて入射した場合の受光部のY軸に沿った断面図である。
【図11】図10に示す太陽光の入射状態における照射領域を示す平面図である。
【図12】図10に示す太陽光の入射状態におけるリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図13】図4に示す処理部のCPUによるリニアセンサでの受光時間の制御処理、及び太陽光の入射角の演算処理を示すフローチャートである。
【図14】輝度値の最大値が255に達していない場合のリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【図15】輝度値の最大値が255に達している場合のリニアセンサからの出力信号を示すグラフである。
【符号の説明】20…太陽位置検出装置、23…遮光板、24…光透過窓、24a…第1の辺、24b…第2の辺、25…リニアセンサ(撮像センサ)、25a…撮像領域、30…CPU(演算手段、制御手段)、L…太陽光、S…照射領域、S1…第3の辺、S2…第4の辺、α…Y軸回りの入射角、β…X軸回りの入射角。
Claims (4)
- 末広がり状に配置された第1の辺と第2の辺とを有してなる光透過窓が設けられた遮光板と、
前記光透過窓を通過した太陽光の照射領域において、前記第1の辺に対応する第3の辺と前記第2の辺に対応する第4の辺とを横切って撮像領域が配置された撮像センサと、
前記撮像センサからの出力信号に基づいて前記撮像領域における前記第3の辺の位置と前記第4の辺の位置とを検出することによって、太陽光の入射角を演算する演算手段とを備えることを特徴とする太陽位置検出装置。 - 前記撮像センサはリニアセンサであることを特徴とする請求項1に記載の太陽位置検出装置。
- 前記演算手段は、前記第3の辺の位置と前記第4の辺の位置との間の距離に基づいて、前記撮像領域の長手方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算すると共に、前記第3の辺の位置と前記第4の辺の位置との間の中心位置に基づいて、前記撮像領域の長手方向に直角な方向に沿った軸線回りの太陽光の入射角を演算することを特徴とする請求項2に記載の太陽位置検出装置。
- 前記撮像センサにおける受光時間を制御する制御手段を備えることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の太陽位置検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2002243985A JP2004085270A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 太陽位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2002243985A Pending JP2004085270A (ja) | 2002-08-23 | 2002-08-23 | 太陽位置検出装置 |
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JP (1) | JP2004085270A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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TWI383170B (zh) * | 2009-12-30 | 2013-01-21 | Univ Nat Formosa | 光入射方位及功率判斷裝置及其應用 |
WO2014091628A1 (ja) * | 2012-12-14 | 2014-06-19 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光源位置検出装置、光源追尾装置、制御方法およびプログラム |
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-
2002
- 2002-08-23 JP JP2002243985A patent/JP2004085270A/ja active Pending
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