JPH06339082A - 光電変換装置 - Google Patents
光電変換装置Info
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- JPH06339082A JPH06339082A JP5127086A JP12708693A JPH06339082A JP H06339082 A JPH06339082 A JP H06339082A JP 5127086 A JP5127086 A JP 5127086A JP 12708693 A JP12708693 A JP 12708693A JP H06339082 A JPH06339082 A JP H06339082A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 各信号に係数を掛ける処理を行なう。
【構成】 複数の光電変換要素(B1・・・B4)よりな
る光電変換装置において、各光電変換要素の出力端子
に、利得を外部より制御できる増幅器(A1・・・A
4)を設けたことを特徴とする光電変換装置を提供す
る。
る光電変換装置において、各光電変換要素の出力端子
に、利得を外部より制御できる増幅器(A1・・・A
4)を設けたことを特徴とする光電変換装置を提供す
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複写機、ファクシミ
リ、ビデオカメラレコーダー、カメラのAEセンサ、A
Fセンサとして用いられる光電変換装置に関する。
リ、ビデオカメラレコーダー、カメラのAEセンサ、A
Fセンサとして用いられる光電変換装置に関する。
【0002】
【背景技術の説明】近年、電子技術が高度に進歩し、光
電変換装置としての固体撮像装置の分野においても高精
細化し、高画質化が急速に実現されてきた。ところで、
固体撮像装置からの出力信号はそのままの形で利用され
るのは非常に稀であり、数段の信号処理された後、例え
ばTV信号等が作られる。
電変換装置としての固体撮像装置の分野においても高精
細化し、高画質化が急速に実現されてきた。ところで、
固体撮像装置からの出力信号はそのままの形で利用され
るのは非常に稀であり、数段の信号処理された後、例え
ばTV信号等が作られる。
【0003】
【発明が解決する技術課題】従って、高精細化の為に、
画素数を増大すると、信号処理において、膨大な演算、
処理が必要であり、高画質化が信号処理によって律速さ
れることもあった。
画素数を増大すると、信号処理において、膨大な演算、
処理が必要であり、高画質化が信号処理によって律速さ
れることもあった。
【0004】
【課題を解決する為の手段】本発明は、信号処理機能を
固体撮像装置の中に取り入れるべく各信号に係数を掛け
た信号を出力する固体撮像装置を提供することを目的と
する。
固体撮像装置の中に取り入れるべく各信号に係数を掛け
た信号を出力する固体撮像装置を提供することを目的と
する。
【0005】上述した目的は、複数の光電変換要素より
なる光電変換装置において、各光電変換要素の出力端子
に、利得を外部より制御できる増幅器を設けたことを特
徴とする光電変換装置により達成される。
なる光電変換装置において、各光電変換要素の出力端子
に、利得を外部より制御できる増幅器を設けたことを特
徴とする光電変換装置により達成される。
【0006】
(実施例1)図1に本発明による第1の実施例を示す。
本実施例では光電変換要素としてバイポーラ型光電変換
素子を1次元状に並べたものであり、それぞれのベース
領域はPMOSトランジスタM11〜M14を介して接続さ
れている。
本実施例では光電変換要素としてバイポーラ型光電変換
素子を1次元状に並べたものであり、それぞれのベース
領域はPMOSトランジスタM11〜M14を介して接続さ
れている。
【0007】また、各光電変換素子のエミッタ出力線に
は独立に増幅器A1〜A4が接続されている。
は独立に増幅器A1〜A4が接続されている。
【0008】本実施例の動作を図2のタイミングチャー
トを用いて簡単に説明する。
トを用いて簡単に説明する。
【0009】まず、時刻t1 において、φR にLowレ
ベルのパルスを印加すると、PMOSトランジスタM11
〜M14がON状態になり、バイポーラ・トランジスタB
1 〜B4 が共通接続されるとともに、VBR電圧にリセッ
トされる。その後、φR はMiddleレベルまで立上
がることにより、PMOSトランジスタM11〜M14はO
FF状態になり、リセット動作は終了する(クランプ・
リセット)。
ベルのパルスを印加すると、PMOSトランジスタM11
〜M14がON状態になり、バイポーラ・トランジスタB
1 〜B4 が共通接続されるとともに、VBR電圧にリセッ
トされる。その後、φR はMiddleレベルまで立上
がることにより、PMOSトランジスタM11〜M14はO
FF状態になり、リセット動作は終了する(クランプ・
リセット)。
【0010】次に、時刻t2 において、φVC1 パルスが
立上がると、NMOSトランジスタM21〜M24がON状
態になり、バイポーラトランジスタB1 〜B4 のエミッ
タ端子はすべてVVC電圧にリセットされ、さらに、時刻
t3 において、φR パルスがHighレベルまで立上が
ると、バイポーラ・トランジスタB1 〜B4 のベース電
位は容量C1 〜C4 を介して、もち上げられ、ベース・
エミッタ間が順バイアス状態になり、バイポーラ・トラ
ンジスタは一斉にエミッタ・フォロァ動作を行ない、ベ
ース上のホールが再結合され、ベース電位は、VVC+V
BE近傍におちつく(過渡リセット動作)。過渡リセット
動作が終了すると時刻t4 において、φR パルスがMi
ddleレベルまで立下がり、従って容量C1 〜C4 を
介して、各バイポーラ・トランジスタのベース電位も下
がり、ベース・エミッタ間は逆バイアス状態になる。こ
の状態から光キャリアの蓄積動作が開始される。
立上がると、NMOSトランジスタM21〜M24がON状
態になり、バイポーラトランジスタB1 〜B4 のエミッ
タ端子はすべてVVC電圧にリセットされ、さらに、時刻
t3 において、φR パルスがHighレベルまで立上が
ると、バイポーラ・トランジスタB1 〜B4 のベース電
位は容量C1 〜C4 を介して、もち上げられ、ベース・
エミッタ間が順バイアス状態になり、バイポーラ・トラ
ンジスタは一斉にエミッタ・フォロァ動作を行ない、ベ
ース上のホールが再結合され、ベース電位は、VVC+V
BE近傍におちつく(過渡リセット動作)。過渡リセット
動作が終了すると時刻t4 において、φR パルスがMi
ddleレベルまで立下がり、従って容量C1 〜C4 を
介して、各バイポーラ・トランジスタのベース電位も下
がり、ベース・エミッタ間は逆バイアス状態になる。こ
の状態から光キャリアの蓄積動作が開始される。
【0011】所定の蓄積時間が経過した後、時刻t3 に
おいて、φT およびφR のパルスがHighレベルまで
立上がると、NMOSトランジスタM31〜M34がON状
態になると同時にバイポーラ・トランジスタB1 〜B4
のベース電位はもち上げられベース・エミッタ間バイア
スが順バイアス状態になり、ベース上に蓄積された光キ
ャリアは、エミッタ端子から出力される。この時、増幅
器A1〜A4のコントロール端子に電源2より所定の電
圧を印加すれば、個々の増幅器に所望のゲインを持たせ
ることができる。
おいて、φT およびφR のパルスがHighレベルまで
立上がると、NMOSトランジスタM31〜M34がON状
態になると同時にバイポーラ・トランジスタB1 〜B4
のベース電位はもち上げられベース・エミッタ間バイア
スが順バイアス状態になり、ベース上に蓄積された光キ
ャリアは、エミッタ端子から出力される。この時、増幅
器A1〜A4のコントロール端子に電源2より所定の電
圧を印加すれば、個々の増幅器に所望のゲインを持たせ
ることができる。
【0012】増幅器A1〜A4の出力は、CT1〜CT4に
それぞれ読み出され、時刻t6 において、φT パルスが
Lowレベルに立下がると、NMOSトランジスタM31
〜M34がOFF状態になり、各容量CT1〜CT4の電圧は
保持される。
それぞれ読み出され、時刻t6 において、φT パルスが
Lowレベルに立下がると、NMOSトランジスタM31
〜M34がOFF状態になり、各容量CT1〜CT4の電圧は
保持される。
【0013】その後時刻t7 においてφRES にHigh
レベルのパルスを印加し、NMOSトランジスタMRSを
ON状態にし、出力線4をリセットした後走査回路1を
動作させ、CT1上の信号から順に出力バッファ3を介し
て出力端子Vout に転送することによって、一連の動作
は終了する。
レベルのパルスを印加し、NMOSトランジスタMRSを
ON状態にし、出力線4をリセットした後走査回路1を
動作させ、CT1上の信号から順に出力バッファ3を介し
て出力端子Vout に転送することによって、一連の動作
は終了する。
【0014】ところで、増幅器A1〜A4の好適な回路
例とそのDC特性図を図3及び図4に示す。
例とそのDC特性図を図3及び図4に示す。
【0015】図3は、NPNトランジスタを用いた反転
増幅器でありエミッタ端子に設けられたNMOSトラン
ジスタのゲート電圧により、ゲインを制御するものであ
る。
増幅器でありエミッタ端子に設けられたNMOSトラン
ジスタのゲート電圧により、ゲインを制御するものであ
る。
【0016】この反転増幅器のDC特性計算結果を図4
に示す。
に示す。
【0017】横軸に入力電圧VIN、縦軸に出力電圧V
out をとり、ゲイン制御電圧VC をパラメータにグラフ
化したものである。図からも判かる様に、VC を大きく
する程、ゲインは大きくなっており、また回路規模も小
さいことから本実施例に好適である。また、言うまでも
なく、他種の増幅器を用いても良い。
out をとり、ゲイン制御電圧VC をパラメータにグラフ
化したものである。図からも判かる様に、VC を大きく
する程、ゲインは大きくなっており、また回路規模も小
さいことから本実施例に好適である。また、言うまでも
なく、他種の増幅器を用いても良い。
【0018】(実施例2)図5に本発明による第2の実
施例を示す。本実施例は、第1の実施例に改良を施した
もので、電源装置2が省かれ、増幅器A1〜A4のゲイ
ン制御電圧は、V−GAIN端子よりシリアルに入力さ
れる様になっている。
施例を示す。本実施例は、第1の実施例に改良を施した
もので、電源装置2が省かれ、増幅器A1〜A4のゲイ
ン制御電圧は、V−GAIN端子よりシリアルに入力さ
れる様になっている。
【0019】動作は例えば、蓄積期間中に、走査回路1
を動作させ、NMOSトランジスタM51をON状態に
し、V−GAIN端子より増幅器A1のゲイン制御電圧
を書き込み、その後、L1のパルスをLowレベルに
し、M51をOFF状態にし、書き込んだ電圧を保持す
る。この動作を増幅器A1〜A4まで順次行ない、動作
終了後に、φR パルスをHighレベルにすると、各光
電変換素子が読み出し動作を行ない各出力値に、それぞ
れゲイン倍された電圧がCT1〜CT4に読み出される。
を動作させ、NMOSトランジスタM51をON状態に
し、V−GAIN端子より増幅器A1のゲイン制御電圧
を書き込み、その後、L1のパルスをLowレベルに
し、M51をOFF状態にし、書き込んだ電圧を保持す
る。この動作を増幅器A1〜A4まで順次行ない、動作
終了後に、φR パルスをHighレベルにすると、各光
電変換素子が読み出し動作を行ない各出力値に、それぞ
れゲイン倍された電圧がCT1〜CT4に読み出される。
【0020】上記以外の動作は、第1の実施例と全く同
様に行なうことができる。
様に行なうことができる。
【0021】従って、個々の増幅器に対して電源を設け
るよりは大幅な省スペースが実現できる。
るよりは大幅な省スペースが実現できる。
【0022】尚、上記動作説明において、増幅器A1〜
A4のゲイン制御電圧の書き込みは蓄積期間中に行なう
としたが、その他の期間でもよく、例えば、CT1〜CT4
の電荷の順次転送中に行なってもよい。この場合増幅器
A1〜A4に書き込んだゲイン制御電圧は次の光電変換
動作時に用いられることになる。
A4のゲイン制御電圧の書き込みは蓄積期間中に行なう
としたが、その他の期間でもよく、例えば、CT1〜CT4
の電荷の順次転送中に行なってもよい。この場合増幅器
A1〜A4に書き込んだゲイン制御電圧は次の光電変換
動作時に用いられることになる。
【0023】(実施例3)図6に、本発明による第3の
実施例を示す。本実施例は、第2の実施例を2次元光電
変換装置に展開したもので、光電変換素子のリセット、
信号読み出し動作を、行単位で順次行なう為、垂直走査
回路5が設けられているが、基本的な動作は第2の実施
例と全く同様である。
実施例を示す。本実施例は、第2の実施例を2次元光電
変換装置に展開したもので、光電変換素子のリセット、
信号読み出し動作を、行単位で順次行なう為、垂直走査
回路5が設けられているが、基本的な動作は第2の実施
例と全く同様である。
【0024】(実施例4)図7に本発明の第4の実施例
を示す。第1〜第3実施例では光電変換部は、ベース、
コレクタ接合をフォトダイオードとしたバイポーラによ
る増幅素子を用いた例であるが、本実施例では、MOS
を用いるものである。従来と同様の箇所は、同一番号を
つけて説明は省略する。11はMOSのゲートにフォト
ダイオードを接続し、一方、10に示す如くMOSアン
プの抵抗を可変抵抗としている。10の可変抵抗は、M
OSのゲートを2重構造にし、12に示す如く下側ゲー
トはフローディング上側ゲートの一方13は電源と接続
し、上側ゲートのもう一方14は、電圧パルスが印加さ
れるようになっている。
を示す。第1〜第3実施例では光電変換部は、ベース、
コレクタ接合をフォトダイオードとしたバイポーラによ
る増幅素子を用いた例であるが、本実施例では、MOS
を用いるものである。従来と同様の箇所は、同一番号を
つけて説明は省略する。11はMOSのゲートにフォト
ダイオードを接続し、一方、10に示す如くMOSアン
プの抵抗を可変抵抗としている。10の可変抵抗は、M
OSのゲートを2重構造にし、12に示す如く下側ゲー
トはフローディング上側ゲートの一方13は電源と接続
し、上側ゲートのもう一方14は、電圧パルスが印加さ
れるようになっている。
【0025】電圧パルスの振幅量に応じて、フローディ
ングゲートの電位は変化し、これにより10に示すMO
Sは可変抵抗として働く。本実験の場合も、フォトダイ
オードで発生した光信号が、上記10の可変抵抗で決ま
るアンプゲイン倍した値に変換され、この変調信号が読
出し容量を介して、シフトレジスタにより順次読出され
る。
ングゲートの電位は変化し、これにより10に示すMO
Sは可変抵抗として働く。本実験の場合も、フォトダイ
オードで発生した光信号が、上記10の可変抵抗で決ま
るアンプゲイン倍した値に変換され、この変調信号が読
出し容量を介して、シフトレジスタにより順次読出され
る。
【0026】図7には、一次元センサの例を示したが、
本発明は、一次元に限定されず2次元センサとして使用
することも可能であることは言うまでもない。
本発明は、一次元に限定されず2次元センサとして使用
することも可能であることは言うまでもない。
【0027】(実施例5)図8に本発明の第5の実施例
を示す。Sij(ij=1〜4)は、11に示すように
ベース分離用PMOS12とベース電位制御用容量13
はバイポーラ15から成る。
を示す。Sij(ij=1〜4)は、11に示すように
ベース分離用PMOS12とベース電位制御用容量13
はバイポーラ15から成る。
【0028】セルS11S21は垂直ライン16に出力さ
れ、一方セルS12S22は垂直ライン17に出力される。
各行の選択はパルスφPR1 、φPR2 により行なわれる。
れ、一方セルS12S22は垂直ライン17に出力される。
各行の選択はパルスφPR1 、φPR2 により行なわれる。
【0029】まず、φPR1 にハイパルスが印加され、S
11とS12セルが選択され、それぞれの出力が上下に同時
にアンプaij(i、j=1、2)のゲートに読出され
る。
11とS12セルが選択され、それぞれの出力が上下に同時
にアンプaij(i、j=1、2)のゲートに読出され
る。
【0030】それぞれのアンプゲインは、上下に配線さ
れた電圧源より18、19、20、21の配線を通して
調整され、アンプ出口はφPT1 パルスをハイレベルにし
てS11の光出力にa11のアンプゲインをかけた出力を容
量22へ、一方S12の光出力にa12のアンプゲインをか
けた出力を容量23へ、S11の光出力にa21のアンプゲ
インをかけた出力を容量24へ、一方S21の光出力にa
22のアンプゲインをかけた出力を容量25へ読出す。
れた電圧源より18、19、20、21の配線を通して
調整され、アンプ出口はφPT1 パルスをハイレベルにし
てS11の光出力にa11のアンプゲインをかけた出力を容
量22へ、一方S12の光出力にa12のアンプゲインをか
けた出力を容量23へ、S11の光出力にa21のアンプゲ
インをかけた出力を容量24へ、一方S21の光出力にa
22のアンプゲインをかけた出力を容量25へ読出す。
【0031】次にφPR1 をD−レベルにして、φPR2 を
ハイレベルにすると、セルS21、S22が選択され、前回
と同様にaij(ij=1〜2′)のアンプのゲートに読
出される。
ハイレベルにすると、セルS21、S22が選択され、前回
と同様にaij(ij=1〜2′)のアンプのゲートに読
出される。
【0032】φPT2 をハイレベルにしてS11セルの光出
力にa11アンプゲインをかけた出力を容量26へ、S12
セルの光出力にa12アンプゲインをかけた出力を容量2
7へ、S21セルの光出力にa21アンプゲインをかけた出
力を容量28へ、S22セルの光出力にa22アンプゲイン
をかけた出力を容量29へ読出す。
力にa11アンプゲインをかけた出力を容量26へ、S12
セルの光出力にa12アンプゲインをかけた出力を容量2
7へ、S21セルの光出力にa21アンプゲインをかけた出
力を容量28へ、S22セルの光出力にa22アンプゲイン
をかけた出力を容量29へ読出す。
【0033】容量22、23、26、27へ読出された
信号は容量30、31、32、33を介して加算されア
ンプ38より、一方容量24、25、28、29へ読出
された信号は容量34、35、36、37を介して加算
されたアンプ39より出力される。
信号は容量30、31、32、33を介して加算されア
ンプ38より、一方容量24、25、28、29へ読出
された信号は容量34、35、36、37を介して加算
されたアンプ39より出力される。
【0034】38、39の出力は差動アンプ40により
減算出力が出される。従って、ゲインとしてはプラスと
マイナスのものが混在しても良く、画像のフーリエ変換
出力が高速で読出される利点を有する。
減算出力が出される。従って、ゲインとしてはプラスと
マイナスのものが混在しても良く、画像のフーリエ変換
出力が高速で読出される利点を有する。
【0035】
【発明の効果】本発明によれば、各信号に任意の係数を
かける信号処理が良好に行なえる。
かける信号処理が良好に行なえる。
【図1】本発明の実施例1による光電変換装置の回路構
成図である。
成図である。
【図2】実施例1による光電変換装置の動作を説明する
ためのタイミングチャートである。
ためのタイミングチャートである。
【図3】本発明に用いられる増幅器の回路図である。
【図4】図3に示す増幅器の特性を示すグラフである。
【図5】本発明の実施例2による光電変換装置の回路構
成図である。
成図である。
【図6】本発明の実施例3による光電変換装置の回路構
成図である。
成図である。
【図7】本発明の実施例4による光電変換装置の回路構
成図である。
成図である。
【図8】本発明の実施例5による光電変換装置の回路構
成図である。
成図である。
Claims (1)
- 【請求項1】 複数の光電変換要素よりなる光電変換装
置において、各光電変換要素の出力端子に、利得を外部
より制御できる増幅器を設けたことを特徴とする光電変
換装置。
Priority Applications (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5127086A JPH06339082A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 光電変換装置 |
| DE69431639T DE69431639T2 (de) | 1993-05-28 | 1994-05-26 | Festkörper-Bildaufnahmeeinrichtung mit steuerbarer Verstärkung |
| EP94303792A EP0626784B1 (en) | 1993-05-28 | 1994-05-26 | Gain-controlled solid-state image pickup device |
| US08/412,102 US5539196A (en) | 1993-05-28 | 1995-03-28 | Photo-electric conversion apparatus with gain controllable amplifiers |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5127086A JPH06339082A (ja) | 1993-05-28 | 1993-05-28 | 光電変換装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06339082A true JPH06339082A (ja) | 1994-12-06 |
Family
ID=14951238
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
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