JPH063263A - 顕微全反射吸収スペクトル測定装置 - Google Patents

顕微全反射吸収スペクトル測定装置

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JPH063263A
JPH063263A JP18455392A JP18455392A JPH063263A JP H063263 A JPH063263 A JP H063263A JP 18455392 A JP18455392 A JP 18455392A JP 18455392 A JP18455392 A JP 18455392A JP H063263 A JPH063263 A JP H063263A
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JP
Japan
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reflecting
light
prism
sample
transparent body
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Application number
JP18455392A
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English (en)
Inventor
Nobuaki Takagi
伸朗 高木
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 対物光学系とプリズムとの間における光軸及
び間隔の調整を不要にすることを目的とする。 【構成】 顕微全反射吸収スペクトル測定装置におい
て、透明体の下面を凸面とし、その凸面中央を平面に削
除して試料当接面とし、上記凸面と、同透明体の上面中
央部に夫々反射膜を設け、同透明体の上面の反射膜の外
周部から同透明体を通して、透明体内で上記凸面の反射
膜に光を入射させ、同凸面での反射光を同透明体内でそ
の上面の反射膜で反射させて、同透明体の下面中心点に
集光させるようにし、試料を上記透明体の下面中央に接
触させ、上記透明体の右半分側に上記方向で光を入反射
させ、試料面からの反射光を上記透明体の左半分を上記
と逆の方向に進行させるようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、赤外顕微鏡システムを
利用した全反射吸収スペクトル測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】全反射吸収スペクトル測定法(ATR)
は、試料面に試料より高屈折率の透明体(赤外光を用い
る場合は、赤外光に対して透明であればよい)を接触さ
せ、この高屈折率透明体側から、試料との境界面で全反
射が起きる入射角で測定光を入射させ、全反射された光
の試料による吸収減光を検出することにより、試料の吸
収特性を測定する方法で、従来から、赤外光について測
定を行う場合、反射光学系によって構成された赤外顕微
分光装置を用いた図7に示すような装置が用いられてい
る。
【0003】図7はカセグレン式赤外顕微分光光度計の
対物鏡の部分を示す。対物鏡は中央に孔のあいた凹面主
鏡7と、この凹面主鏡7と同軸の凸面副鏡5とよりなっ
ており、図外の分光器から出射した単色光が、図で光軸
の右半分を下方に光軸と平行に対物鏡光学系に入射せし
められ、その光は凹面主鏡7及び凸面副鏡5で反射され
て対物鏡光学系の集光点Pに集光される。試料Sはその
表面P点を中心とする半球形のATRプリズム8の下面
に接触させる。こうすると、P点に集光する光は、AT
Rプリズム8では屈折されず、そのままP点に集光し、
試料面で全反射されて、対物光学系の光軸の左半部を上
行し、検出される。
【0004】このようなカセグレン式の反射顕微鏡で
は、全反射を利用するため、赤外線を透過しかつ赤外線
に対して屈折率の大きな材質で製作されたATRプリズ
ムを用いる必要があり、ATRプリズムの屈折率が大き
いため、組立時に顕微鏡対物光学系の光軸とプリズムの
光軸を高精度で一致させると共に、対物光学系とプリズ
ムの間隔を高精度で調整しなければ、測定精度が低下す
ると云う問題があった。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、対物光学系
とプリズムとの間における光軸及び間隔の調整を不要に
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】顕微全反射吸収スペクト
ル測定装置において、透明体の下面を凸面とし、その凸
面中央を平面に削除して試料当接面とし、上記凸面と、
同透明体の上面中央部に夫々反射膜を設け、同透明体の
上面の反射膜の外周部から同透明体を通して、透明体内
で上記凸面の反射膜に光を入射させ、同凸面での反射光
を同透明体内でその上面の反射膜で反射させて、同透明
体の下面中心点に集光させるようにし、試料を上記透明
体の下面中央に接触させ、上記透明体の右半分側に上記
方向で光を入反射させ、試料面からの反射光を上記透明
体の左半分を上記と逆の方向に進行させるようにした。
【0007】
【作用】本発明は、対物光学系とATRプリズムとを一
個の透明体で構成したので、対物光学系とATRプリズ
ムの位置関係は、この透明体の工作精度で決まり、この
工作精度は、各部別体のものを所定位置関係で固定する
より、遥かに簡単に高精度化することができ、このこと
によってATRプリズムと対物光学系との間における調
整が不要になり、組立が非常に容易になった。
【0008】
【実施例】図1に本発明の一実施例を示す。図におい
て、1は図2に示すようなATRプリズムで、円板状で
あり、下面周辺部を楕円面とし反射膜1AをALの蒸着
膜等で構成し、下面中央部は平面とし反射膜を設けず、
試料に当接させる。上面は平面で反射膜1Bを中央部に
設け、中央部と外縁部との間の外周部は光を透過させ
る。
【0009】そして、下面反射膜1Aの楕円面の焦点を
F1,F2とすると、F1から発散した光は、楕円面1
Aで反射された後、もう一方の焦点F2を通る性質があ
るので、ATRプリズム1の上面反射面1Bを対称面と
して、焦点F2と分析点(物体点)F2’が対称となる
ように、ATRプリズム1を位置させると、F1を出発
した光は、物体点F2’に集光する。そこでF1,F2
を結ぶ反射光学系の光軸の右半分を入射光束側として、
入射光束側に反射鏡3を挿入し、その反射面に対して焦
点F1と対称な点F1’を入射光が通過するように分光
器(図外)をセットする。2は鏡筒で、ATRプリズム
1を保持している。試料はATRプリズム1に密着させ
てセットして測定を行う。入射光束は試料とATRプリ
ズム1との境界で全反射し、反射光学系の光軸の左半分
を通ってF1に集まる。ATRプリズム1の上面の反射
膜1Bは、実際は図2に示すように、外周部と中央部と
の間に2つの半円周を向き合わせた形に、反射膜のない
スリット部1Cを設けた形である。F1を通過した光を
図外の測定系で測定する。
【0010】図3はATRプリズム1の上面中央部に目
視用レンズ4を取付けた場合のATRプリズムを示す。
0は目視用光束の焦点位置である。即ち、測定に関係す
る光はF1にあり、反射膜1Bの中央部は測定に関与し
ていないので、この領域を目視観察用に利用したもので
ある。
【0011】図4は、一般的なカセグレン式反射対物鏡
の凸面副鏡5の下に凸面副鏡5より外径が大きいATR
プリズム1を貼り付けることにより、一般的なカセグレ
ン式反射対物鏡を用いて、一般測定とATR測定の両方
ができるようにした実施例である。一般測定とATR測
定との切換えは、図5に示す切換えアパーチャー6を駆
動させる事により行う。一般測定時では、対物鏡の光軸
上に中央部が開口している一般測定用アパーチャー6A
を配置させ、測定光を対物鏡の凸面副鏡5に照射させ、
その反射光を凹面主鏡7で更に反射させて集光点0に集
光させることで、反射光学顕微鏡として測定を行う。A
TR測定時では、対物鏡の光軸上に円周状に開口がある
ATR測定用アパーチャー6Bを配置させ、測定光を凸
面副鏡5の外周外側に位置するATRプリズム1にスリ
ット1Cから入射させ、反射膜1A及び反射膜1Bで反
射させ、分析点に集光させることで、ATR測定を行
う。
【0012】図6は、ATRプリズムの反射膜1Aの面
を楕円ではなく球によって形成した場合の実施例であ
り、反射膜1A’の曲率半径をR2、反射膜1B’の曲
率半径をR1とした場合、R1>R2となるようなR
1,R2を適当に設定することにより、図2に示す楕円
反射膜1Aを持つATRプリズムと同程度の性能を持つ
ATRプリズムを得ることができる。
【0013】
【発明の効果】本発明によれば、反射鏡対物系とATR
プリズムを一体化することにより、組立調整箇所を無く
した高精度の光学系を得ることができた。このことによ
り、対物系の高倍率化及び小型化が可能になった。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の側面断面図
【図2】上記実施例のATRプリズムの詳細図
【図3】ATRプリズムの第2実施例の詳細図
【図4】本発明の第2実施例の側面断面図
【図5】上記実施例の切換えアパーチャーの詳細図
【図6】ATRプリズムの第3実施例の詳細図
【図7】一従来例の側面断面図
【符号の説明】
1 ATRプリズム 1A 反射膜 1B 反射膜 1C スリット 2 鏡筒 3 反射鏡 F1 楕円の焦点 F2 楕円の焦点 F1’ 反射鏡3に対するF1の対称点 F2’ 反射膜1Bに対するF2の対称点

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】透明体の下面を凸面とし、その凸面中央を
    平面に削除して試料当接面とし、上記凸面と、同透明体
    の上面中央部に夫々反射膜を設け、 同透明体の上面の反射膜の外周部から同透明体を通し
    て、透明体内で上記凸面の反射膜に光を入射させ、同凸
    面での反射光を同透明体内でその上面の反射膜で反射さ
    せて、同透明体の下面中心点に集光させるようにし、試
    料を上記透明体の下面中央に接触させ、上記透明体の右
    半分側に上記方向で光を入反射させ、試料面からの反射
    光を上記透明体の左半分を上記と逆の方向に進行させる
    ようにしたことを特徴とする顕微全反射吸収スペクトル
    測定装置。
JP18455392A 1992-06-18 1992-06-18 顕微全反射吸収スペクトル測定装置 Pending JPH063263A (ja)

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JP18455392A JPH063263A (ja) 1992-06-18 1992-06-18 顕微全反射吸収スペクトル測定装置

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JP18455392A JPH063263A (ja) 1992-06-18 1992-06-18 顕微全反射吸収スペクトル測定装置

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JPH063263A true JPH063263A (ja) 1994-01-11

Family

ID=16155221

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JP18455392A Pending JPH063263A (ja) 1992-06-18 1992-06-18 顕微全反射吸収スペクトル測定装置

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