JPH06325316A - 磁気ヘッド - Google Patents

磁気ヘッド

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Publication number
JPH06325316A
JPH06325316A JP11593993A JP11593993A JPH06325316A JP H06325316 A JPH06325316 A JP H06325316A JP 11593993 A JP11593993 A JP 11593993A JP 11593993 A JP11593993 A JP 11593993A JP H06325316 A JPH06325316 A JP H06325316A
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JP
Japan
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magnetic
films
film
substrate
metal
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Application number
JP11593993A
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English (en)
Inventor
Tomio Kobayashi
富夫 小林
Toshinobu Watanabe
利信 渡辺
Tadashi Saito
正 斎藤
Shinji Takahashi
伸司 高橋
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 金属磁性膜を形成する基板の段差によって生
ずる該金属磁性膜の磁気特性の劣化を防止すると共に、
狭トラック化した場合でも磁気コアの飽和を抑制し高出
力化を図る。 【構成】 磁気記録媒体が摺接する摺接部3a,4aが
非磁性材料Nよりなりバック部3b,4bが磁性材料M
よりなる第1の基板3,4と、金属磁性膜1,2が一主
面に形成された非磁性材料Nよりなる第2の基板5,6
とによって、該金属磁性膜1,2をその膜厚方向より挟
み込んでなる一対の磁気コア半体7,8を、その突合わ
せ面に呈する金属磁性膜1,2の端面同士を突合わせ接
合一体化してなる磁気ヘッドにおいて、上記第1の基板
3,4の摺接部3a,4aとバック部3b,4bを低温
熱拡散接合により接合する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、例えばビデオテープレ
コーダ等に搭載される磁気ヘッドに関し、特に高密度磁
気記録用ヘッドとして最適な磁気ヘッドに関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、磁気記録の分野においては、高
周波特性に優れる高密度磁気記録用の磁気ヘッドとして
金属磁性薄膜を絶縁膜を介して何層にも積層してなる積
層メタル膜ヘッドの開発が行われている。かかる磁気ヘ
ッドとしては、例えば膜厚の薄い金属磁性薄膜を絶縁膜
を介して何層にも積層してなる積層メタル膜を一対の磁
気コア基板によって挾み込んで作製される磁気コア半体
同士を、上記積層メタル膜の端面同士を突き合わせて融
着ガラスにより接合一体化することにより構成される。
【0003】一般に、この種の磁気ヘッドにおいては、
積層メタル膜の膜厚を磁気ギャップのトラック幅とする
ことから、上記磁気コア基板にはセラミックスや結晶化
ガラス等の非磁性材料よりなる基板が用いられる。
【0004】しかしながら、かかる磁気ヘッドにおい
て、さらなる高密度記録を達成するためにトラック幅を
狭くして行くと、磁路を構成するコア断面積の減少によ
ってヘッド効率が劣化する。
【0005】このため、従来においては、コア断面積の
確保によってヘッド効率の劣化を防止すべく、磁気コア
基板に磁性フェライトを使用する方法と磁性フェライト
と非磁性材料とを接合してなる接合基板を用いることが
提案されている。これらの方法によれば、狭トラック化
した場合でも、磁性フェライトによってコア断面積が充
分に確保されることから、非磁性基板を用いた磁気ヘッ
ドに比べてヘッド効率の劣化を抑制することができる。
【0006】このうち、磁性フェライトよりなる基板を
用いて積層メタル膜ヘッドを作成しようとした場合、ト
ラック幅を規制するための切削工程が必要となるため、
製造工程が煩雑化する。また、トラック幅を機械加工に
よって出すため、狭トラック化すればする程寸法精度を
出し難くなる。
【0007】一方、磁性フェライトよりなる基板と非磁
性材料よりなる基板を接合してなる接合基板を用いた場
合には、先の磁性フェライトを用いた場合に比べてトラ
ック幅規制をする必要がないため、トラック幅出しのた
めの高精度な切削加工及び煩雑な工程を行う必要がな
い。したがって、かかる接合基板を用いた方が、製造工
程上有利である。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、磁性フェラ
イト基板と非磁性基板を接合する方法としては、金属膜
成膜後の基板ラミネートやギャップ接合時の加熱によっ
ても接合強度の劣化が発生しないことが要求されること
から、高温の加熱によっても強度の劣化がない低温熱拡
散金属接合が一般に使用されている。低温熱拡散金属接
合は、磁性フェライト基板と非磁性基板の接合面にそれ
ぞれCr等の下地膜を成膜した後、この上にAu等の金
属膜を成膜し、これら金属膜同士を突合わせ、所定加圧
を加えながら低温加熱することにより、当該金属膜の熱
拡散により接合一体化するものである。
【0009】しかしながら、低温熱拡散金属接合法を使
用した場合には、金属膜を成膜する接合基板の成膜面を
ポリッシング等の方法を用いて鏡面加工すると、接合部
分に10〜20nm程度の段差が発生する。したがっ
て、この段差のある成膜面に金属磁性材料をスパッタリ
ングすると、成膜された金属磁性膜の連続性が段差部に
て分断され、当該金属磁性膜の磁気特性が劣化する。
【0010】そこで本発明は、かかる従来の技術的な実
情に鑑みて提案されたものであって、金属磁性膜の磁気
特性の劣化を防止し、且つ磁気コアの飽和を抑制できる
高出力な磁気ヘッドを提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成するた
めに、本発明は、磁気記録媒体が摺接する摺接部が非磁
性材料よりなりバック部が磁性材料よりなる第1の基板
と、金属磁性膜が一主面に形成された非磁性材料よりな
る第2の基板とによって、該金属磁性膜をその膜厚方向
より挟み込んでなる一対の磁気コア半体を、その突合わ
せ面に呈する金属磁性膜の端面同士を突合わせ接合一体
化してなる磁気ヘッドにおいて、上記第1の基板の摺接
部とバック部が低温熱拡散金属接合により接合一体化さ
れていることを特徴とする。
【0012】
【作用】本発明に係る磁気ヘッドにおいては、金属磁性
膜は非磁性材料よりなる単一基板の平坦な主面に形成さ
れているので、段差上に成膜されることによる金属磁性
膜の磁気特性の劣化が発生しない。また、この金属磁性
膜をその厚み方向から挾み込む基板が、磁気記録媒体と
摺接する摺動部が非磁性材料よりなりバック部が磁性材
料よりなる接合基板とされているので、このバック部の
磁性材料により磁気コア断面積が確保され、ヘッド効率
の低下が抑制される。
【0013】
【実施例】以下、本発明を適用した具体的な実施例につ
いて図面を参照しながら詳細に説明する。本実施例の磁
気ヘッドは、図1に示すように、金属磁性膜1,2がそ
の膜厚方向より第1の基板3,4と第2の基板5,6に
よって挟み込まれてなる一対の磁気コア半体7,8から
なり、これら磁気コア半体7,8が上記金属磁性膜1,
2の端面同士を突合わせるようにして融着ガラス9によ
り接合一体化されて構成されている。
【0014】上記磁気コア半体7,8は、主コアとなる
金属磁性膜1,2とこれを膜厚方向より挾み込む補助コ
アとなる第1の基板3,4と第2の基板5,6とから構
成され、該第2の基板5,6の一主面に被着形成される
金属磁性膜1,2を挾み込むようにして第1の基板3,
4が積層されることにより接合一体化されている。
【0015】上記金属磁性膜1,2は、図3に磁気記録
媒体摺動面を拡大して示すように、高周波特性を向上さ
せる目的で膜厚の薄い磁性金属薄膜1a,1b及び2
a,2bを絶縁膜10b,11bを介して何層にも積層
してなる積層メタル膜とされている。そして、上記第2
の基板5,6と磁性金属薄膜1a,2aとの界面には、
これらの付着力の向上並びに反応防止として機能する下
地膜10a,11aが成膜されている。
【0016】上記磁性金属薄膜1a,1b及び2a,2
bには、例えばセンダスト(Fe−Al−Si)やFe
−Ru−Ga−Si、又はこれらにO,N等を添加した
結晶質磁性金属材料或いはFe系又はCo系の微結晶磁
性金属材料よりなる膜がいずれも使用できる。ここでの
磁性金属薄膜1a,1b及び2a,2bの膜厚は、渦電
流損失の回避という観点から1層当たりの膜厚を2〜5
μmとすることが望ましい。
【0017】そして、上記絶縁膜10b,11bには、
例えばSiO2 ,Ta2 5 等の酸化物膜やSi3 4
等の窒化物膜等が使用される。上記絶縁膜10b,11
bの膜厚としては、例えば0.1〜0.3μm程度が好
ましい。
【0018】一方、下地膜10a,11aには、磁性金
属薄膜1a,2aと第2の基板5,6との付着力を高め
る必要性から、SiO2 ,Ta2 5 等の酸化物膜、S
34 等の窒化物膜、Cr,Al,Si,Pt等の金
属膜及びそれらの合金膜或いはそれらを組合わせた積層
膜等が使用される。
【0019】なお、本実施例では、磁性金属薄膜1a,
1b及び2a,2bにセンダスト、絶縁膜10b,11
bにSiO2 、下地膜10a,11aにSiO2 よりな
る膜を使用した。そのときの膜厚は、トラック幅を5μ
mとするために、1層当たりの磁性金属薄膜1a,1
b,2a,2bを2.4μm、絶縁膜10b,11bを
0.2μm、下地膜10a,11aを50nmとした。
【0020】上記第1の基板3,4は、磁気記録媒体と
摺接する摺接部3a,4aが非磁性材料Nよりなり、そ
の他の部分であるバック部3b,4bが磁性材料Mから
なっている。摺接部3a,4aとバック部3b,4b
は、本実施例では磁気ギャップgのデプスを規制しコイ
ルを巻装するための巻線溝12,13の傾斜面12a,
13aの中途部位置で接合一体化されている。
【0021】これら摺接部3a,4aとバック部3b,
4bとは、図2にその接合部分を拡大して示すように、
下地膜14a,14b上に成膜された金属膜15同士の
低温熱拡散によって接合一体化されている。低温熱拡散
接合法は、摺接部3a,4aとバック部3b,4bの突
合わせ面にそれぞれ金属膜15の付着力の向上或いは反
応防止等を目的として設けられる下地膜14a,14b
の上に、例えばAuよりなる金属膜15を成膜し、これ
ら金属膜154同士を所定の圧力を持って突合わせ、こ
れに加熱(低温)を加えることで、上記金属膜15同士
の熱拡散により接合一体化を図る手法である。
【0022】なお、図2には一方の磁気コア半体7のみ
を示してあるが、他方の磁気コア半体8も同様の構成で
ある。
【0023】上記金属膜15には、例えばAu,Pb,
Ag,Pt等の貴金属よりなる膜がいずれも使用でき
る。一方、下地膜14a,14bには、SiO2 ,Ta
2 5等の酸化物膜、Si3 4 等の窒化物膜、Cr,
Al,Si,Pt等の金属膜或いはそれらを組合わせた
積層膜等が使用できる。本実施例では、摺接部3a,4
aとバック部3b,4bの接合界面にそれぞれ0.1μ
m厚のCrよりなる膜を成膜した後、0.1μm厚のA
uよりなる膜を成膜した。
【0024】なお、上記摺接部3a,4aに用いられる
非磁性材料Nには、例えばCaTiO3 ,ZrO2 ,B
aTiO2 等のセラミックス或いは結晶化ガラス、非磁
性フェライト等が挙げられる。一方、バック部3b,4
bに用いられる磁性材料Mには、磁性フェライト等が用
いられる。
【0025】一方、第2の基板5,6は、磁気記録媒体
と摺接する摺接部からバック部に至るまで全て非磁性材
料Nからなっている。この第2の基板5,6には、例え
ばCaTiO3 ,ZrO2 ,BaTiO2 等のセラミッ
クス或いは結晶化ガラス、非磁性フェライト等よりなる
基板がいずれも使用できる。そして、この第2の基板
5,6の主面に先に述べた金属磁性膜1,2が成膜され
ている。
【0026】このような構成とされた第1の基板3,4
と第2の基板5,6は、図3にその接合部分を拡大して
示すように、Crよりなる下地膜16a,16b及び1
7a,17bを介して低融点ガラスをスパッタリングし
てなるガラス膜18,19によって接合一体化されてい
る。上記ガラス膜18,19には、ガラスをスパッタリ
ングして作成されたもの以外に、スピンコーティング等
によって塗布されたフリットガラスよりなる膜が使用で
きる。上記下地膜16a,16b及び17a,17bに
は、磁性金属薄膜1b,2b又はフェライト(第1の基
板3,4のバック部3b,4b)とガラス膜18,19
との反応防止等を目的として、SiO2,Ta2 5
の酸化物膜、Si3 4 等の窒化物膜、Cr,Al,P
t等の金属膜或いはそれらを組合わせた積層膜等が使用
できる。
【0027】本実施例では、磁性金属薄膜1b,2b上
と第1の基板3,4の主面にそれぞれ0.1μm厚のC
r膜を成膜した後、0.2μm厚のPb系低融点ガラス
をスパッタリングした。
【0028】そして、上述のようにして構成された磁気
コア半体7,8は、互いの突合わせ面に呈する金属磁性
膜1,2の端面同士を図示しないギャップ膜を介して突
合わせ、融着ガラス9によりギャップ接合されることに
より接合一体化され、その金属磁性膜1,2の突合わせ
面間に記録再生ギャップとして動作する磁気ギャップg
を構成するようになっている。また、この磁気ヘッドに
おいては、磁気記録媒体に対する当たりを確保するため
に磁気記録媒体と摺接する磁気記録媒体摺動面に段差が
設けられるとともに、巻線溝12,13に形成されたコ
イルの巻装状態を良好なものとなすためにこの巻線溝1
2,13と相対向する位置に巻線補助溝20,21が形
成されている。なお、上記磁気コア半体7,8の接合強
度を確保するために、各磁気コア半体7,8のバック側
である突合わせ面には、ガラス溝22,23が形成され
ている。
【0029】このようにして構成された磁気ヘッドにお
いては、主コアとなる金属磁性膜1,2と、補助コアと
なる第1の基板3,4のバック部3b,4bに配された
磁性材料Mとによって閉磁路が構成されるため、上記磁
気ギャップgのトラック幅を例えば13μm以下と狭ト
ラック化(金属磁性膜1,2の膜厚を薄くする)しても
コア断面積の充分な確保により、ヘッド効力の低下を防
止することができる。また、金属磁性膜1,2は、鏡面
加工された段差のない平坦な成膜面を有する非磁性材料
Nよりなる第2の基板5,6上にスパッタリングによっ
て形成されるので、膜厚が一定で磁気特性に劣化が発生
することがない。さらに、第1の基板3,4の摺動部3
a,4aとバック部3b,4bを低温熱拡散接合によっ
て接合しているので、ガラススパッタ膜によるガラス接
合に比べて低温で接合が図れ、また高い接合力が得られ
ることから、当該バック部3b,4bを構成する磁性フ
ェライトの磁気特性を劣化させることがない。したがっ
て、かかる磁気ヘッドによれば、高密度磁気記録媒体に
対しても良好に記録再生を行うことができる。
【0030】次に、前述した図1に示す磁気ヘッドを製
造する方法について、以下工程順に従って図面を参照し
ながら説明する。先ず、図4(a)に示すように、Ca
TiO2 等よりなる非磁性基板24を用意し、この非磁
性基板24の一主面24aをポリッシング加工等によっ
て鏡面加工する。
【0031】次に、上記非磁性基板24の一主面24a
に、マスクスパッタを用いて必要最小限の面積に一対の
金属磁性膜25,26を帯状に所定間隔を持って平行と
なるように被着形成する。
【0032】金属磁性膜25,26を形成するに際して
は、図4(b)に示すように、非磁性基板24との付着
力向上等のために、SiO2 よりなる下地膜27をその
膜厚が50nmとなるように形成した。そして、高周波
特性を向上させるために、金属磁性膜25,26は絶縁
膜28を介して膜厚の薄いセンダストよりなる磁性金属
薄膜25a,25b(一方の金属磁性膜26は図示を省
略する。)を何層にも積層することにより形成した。本
実施例では、膜厚0.2μmの絶縁膜28を介して一層
当たりの膜厚2.4μmの磁性金属薄膜25a,25b
を2層重ねた。
【0033】このように、成膜面が鏡面加工されて段差
のない平坦面上に金属磁性膜25,26が形成されるの
で、得られる金属磁性膜25,26はその膜厚が一定と
なり、段差による影響で磁気特性の劣化が生じない。
【0034】次に、図5(a)に示すような長方形状を
なす非磁性基板29を用意する。そして、この非磁性基
板29の主面29aをポリッシング等によって鏡面加工
した後、図5(b)に示すようにスパッタリングによっ
て金属膜30を成膜する。その際、金属膜30の付着力
の向上或いは反応防止等を目的として、Crよりなる下
地膜31を成膜する。
【0035】本実施例では、膜厚が0.1μmとなるよ
うにCrを成膜した後、Auを0.1μm厚となるよう
に成膜した。
【0036】次に、図6(a)に示すように、上記非磁
性基板29と接合一体化させるための磁性フェライト基
板32を用意する。そして、この磁性フェライト基板3
2の主面32aを鏡面加工した後、この主面32aに、
図6(b)に示すようにしてCrよりなる下地膜33を
成膜し、その上に金属膜34をスパッタリングによって
形成した。
【0037】本実施例では、膜厚が0.1μmとなるよ
うにCrを成膜した後、Auを0.1μm厚となるよう
に成膜した。
【0038】次いで、これら非磁性基板29と磁性フェ
ライト基板32を低温熱拡散接合法によって接合一体化
する。すなわち、これら非磁性基板29と磁性フェライ
ト基板32を、互いの金属膜30,34同士を突合わせ
面として図7(a)に示すように突合わせ、加圧しなが
ら加熱を行い基板接合を行う。このときの加圧条件は、
10MPa以上とする。10MPa以上とするのは、か
かる圧力でこれら基板の接合強度が飽和するからであ
る。なお、上限は基板が破損しない程度とする。一方、
加熱は、150℃〜300℃とする。150℃で、これ
ら基板の接合強度が飽和するからである。上限を300
℃とするのは、300℃以上であると金属膜の磁気特性
が劣化するためである。本実施例では、加圧を10MP
a,加熱を200℃とした。
【0039】この結果、互いの突合わせ面に形成された
金属膜30,34は、図7(b)に示すように、互いに
熱拡散し、一体化される。これにより、非磁性基板29
と磁性フェライト基板32とが強固に接合一体化され
る。そして、接合一体化された接合基板35の主面35
aをポリッシング等によって鏡面加工する。
【0040】しかる後、図8(a)に示すように、非磁
性基板24上の金属磁性膜25,26の上に、Crより
なる下地膜38を成膜した後、Pb系の低融点ガラスを
スパッタリングしてガラス膜39を成膜した。同様にし
て、図8(b)に示すように、上記接合基板35の主面
35aにCrよりなる下地膜36を成膜した後、Pb系
の低融点ガラスをスパッタリングしてガラス膜37を成
膜した。
【0041】本実施例では、膜厚が0.1μmとなるよ
うにCrを成膜した後、ガラスを0.2μm厚となるよ
うに成膜した。
【0042】次に、非磁性基板24と接合基板35を、
図9(a)に示すように、互いの突合わせ面に形成され
たガラス膜37,39同士を突合わせ、圧着しながら5
00℃〜700℃に加熱する。この結果、互いの突合わ
せ面に形成されたガラス膜37,39同士が図9(b)
に示すように融合する。
【0043】次に、この接合一体化された積層基板を、
作製する磁気ヘッドに付与するアジマス角と同じ角度を
持って図10中線A−A´,線B−B´,線C−C´で
示す位置で切断する。次いで、フェライトの不要部分を
平面研削盤等を用いて除去した後、各磁気コア半体ブロ
ック40,41に、図11及び図12に示すようにコイ
ルを巻装するための巻線溝42,43とガラス融着する
際のガラス溝44,45をそれぞれの突合わせ面に形成
する。
【0044】上記巻線溝42,43とガラス溝44,4
5は、いずれも断面略コ字状をなす溝として形成する
が、巻線溝42,43の一方の側面42a,43aは磁
気ギャップgのデプスを規制するために傾斜面とする。
なお、巻線溝42,43の他方の側面42b,43b
は、傾斜面又は垂直面のいずれでもよい。
【0045】次に、上記各磁気コア半体ブロック40,
41に、ブロックの接合強度を確保するためのガラス流
込み溝46a,46b及び47a,47bを形成する。
かかるガラス流込み溝46a,46b及び47a,47
bは、金属磁性膜25,26の両側であってこの金属磁
性膜25,26に近接した位置に、それぞれ断面略コ字
状をなす溝としてブロック全体に亘って形成する。
【0046】次に、上記各磁気コア半体ブロック40,
41の突合わせ面であるギャップ形成面40a,41a
をポリッシング等によって鏡面加工する。
【0047】そして、一方の磁気コア半体ブロック40
のギャップ形成面40a又は双方の磁気コア半体ブロッ
ク40,41のギャップ形成面40a及び41aにギャ
ップ膜(図示は省略する。)を形成した後、図15に示
すように、これら磁気コア半体ブロック40,41をト
ラック位置合わせしながら突合わせ、融着ガラス48を
流し込みながらギャップ接合を行う。
【0048】この結果、これら磁気コア半体ブロック4
0,41は、融着ガラス48によって接合一体化され、
金属磁性膜25,26の突合わせ面間に記録再生ギャッ
プとして動作する磁気ギャップgが構成される。そし
て、融着ガラス48によって接合一体化されたフェライ
トブロックに、巻線補助溝を形成した後、磁気記録媒体
摺動面に円筒研磨を行い当たり幅加工を施し、所定チッ
プ形状となるように切断する。
【0049】この結果、図1に示す高密度記録媒体に対
して良好に記録再生が行える磁気ヘッドが完成する。
【0050】そして本実施例では、上述の工程を経て作
製された磁気ヘッドの相対出力の周波数依存性を測定し
た。比較例として、金属磁性膜1,2をラミネートする
基板として、摺動部が非磁性材料でバック部が磁性フェ
ライトよりなる低温熱拡散接合してなる接合基板を用い
た磁気ヘッドの相対出力の周波数依存性も測定した。な
お、比較例の磁気ヘッドは、実施例の磁気ヘッドに対し
て金属磁性膜をラミネートする基板のみが異なり、その
他は全く同一である。その結果を図16に示す。
【0051】この結果からわかるように、積層金属膜を
スパッタリング等によって形成する基板に、セラミック
ス,結晶化ガラス等の単一基板を用いた本実施例の磁気
ヘッド(同図中線aで示す。)では、低温熱拡散接合に
よって接合した接合基板を用いた磁気ヘッド(同図中線
bで示す。)に比べて、周波数全域に亘って相対出力が
高いことがわかる。すなわち、本実施例の磁気ヘッドで
は、高周波数領域でも高出力を得ることができる。
【0052】
【発明の効果】以上の説明からも明らかなように、本発
明の磁気ヘッドにおいては、金属磁性膜をスパッタリン
グ等を用いて形成する基板に、セラミックス等の非磁性
材料よりなる単一の基板を用いているので、低温熱拡散
接合による金属接合部分の段差によって生じる金属磁性
膜の磁気特性の劣化を防止することができる。
【0053】また、本発明の磁気ヘッドにおいては、こ
の金属磁性膜の上に重ね合わされる基板に、摺動部が非
磁性材料でバック部が磁性材料よりなる基板を低温熱拡
散接合した接合基板を用いているので、狭トラック化し
てもバック部の磁性材料によって磁気コア断面積が十分
に確保され、磁気コアの飽和を抑制することができる。
したがって、本発明の磁気ヘッドによれば、高出力化が
なされ、高密度記録媒体に対して良好に情報信号の記録
再生を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した磁気ヘッドの斜視図である。
【図2】図1の磁気ヘッドにおける第1の基板の接合部
分を拡大して示す要部拡大断面図である。
【図3】図1の磁気ヘッドにおける磁気記録媒体摺動面
部分を拡大して示す要部拡大断面図である。
【図4】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は非磁性基板に金属磁性膜を形成する工
程を示す斜視図であり、(b)は金属磁性膜部分を拡大
して示す要部拡大正面図である。
【図5】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は接合基板作成のための非磁性基板の斜
視図であり、(b)はこの非磁性基板に金属膜を成膜す
る工程を示す要部拡大正面図である。
【図6】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は接合基板作成のための磁性フェライト
基板の斜視図であり、(b)はこの磁性フェライト基板
に金属膜を成膜する工程を示す要部拡大正面図である。
【図7】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は非磁性基板と磁性フェライト基板を低
温熱拡散接合して接合基板を作成する工程を示す斜視図
であり、(b)はその接合基板の接合部分を拡大して示
す要部拡大平面図である。
【図8】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は非磁性基板上に成膜された金属磁性膜
上にガラス膜を成膜する工程を示す要部拡大正面図であ
り、(b)は接合基板上にガラス膜を成膜する工程を示
す要部拡大正面図である。
【図9】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示す
もので、(a)は金属磁性膜が形成された非磁性基板と
接合基板を接合する工程を示す斜視図であり、(b)は
その接合部分を拡大して示す要部拡大正面図である。
【図10】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、接合された積層基板を切断する工程を示す斜
視図である。
【図11】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、一方の磁気コア半体ブロックに巻線溝及びガ
ラス溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図12】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、他方の磁気コア半体ブロックに巻線溝及びガ
ラス溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図13】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、一方の磁気コア半体ブロックにガラス流込み
溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図14】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、他方の磁気コア半体ブロックにガラス流込み
溝を形成する工程を示す斜視図である。
【図15】本発明の磁気ヘッドを製造する工程を順次示
すもので、ガラス融着工程を示す斜視図である。
【図16】本実施例の磁気ヘッドと低温熱拡散接合によ
り非磁性基板と磁性基板を接合してなる接合基板によっ
て金属磁性膜をラミネートしてなる従来ヘッドの相対出
力特性を示す特性図である。
【符号の説明】
1,2・・・金属磁性膜 1a,1b,2a,2b・・・磁性金属薄膜 3,4・・・第1の基板 3a,4a・・・摺接部 3b,4b・・・バック部 5,6・・・第2の基板 7,8・・・磁気コア半体 9・・・融着ガラス 12,13・・・巻線溝 15,18,19・・・金属膜 20,21・・・巻線補助溝 22,23・・・ガラス溝
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高橋 伸司 東京都品川区北品川6丁目7番35号 ソニ ー株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁気記録媒体が摺接する摺接部が非磁性
    材料よりなりバック部が磁性材料よりなる第1の基板
    と、金属磁性膜が一主面に形成された非磁性材料よりな
    る第2の基板とによって、該金属磁性膜をその膜厚方向
    より挟み込んでなる一対の磁気コア半体を、その突合わ
    せ面に呈する金属磁性膜の端面同士を突合わせ接合一体
    化してなる磁気ヘッドにおいて、 上記第1の基板の摺接部とバック部が低温熱拡散金属接
    合により接合一体化されていることを特徴とする磁気ヘ
    ッド。
JP11593993A 1993-05-18 1993-05-18 磁気ヘッド Pending JPH06325316A (ja)

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