JPH06304775A - レーザマーキングシステム - Google Patents

レーザマーキングシステム

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Publication number
JPH06304775A
JPH06304775A JP5095746A JP9574693A JPH06304775A JP H06304775 A JPH06304775 A JP H06304775A JP 5095746 A JP5095746 A JP 5095746A JP 9574693 A JP9574693 A JP 9574693A JP H06304775 A JPH06304775 A JP H06304775A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
liquid crystal
marking
crystal mask
mask
laser
Prior art date
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Pending
Application number
JP5095746A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Kuwabara
皓二 桑原
Makoto Yano
眞 矢野
Kiwamu Takehisa
究 武久
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【構成】本発明のマーキングシステムでは移動可能な複
数枚の液晶マスクを準備し、レーザ光の照射の時期やマ
ーキング内容の変換の時期にあわせて、それぞれの液晶
マスクを交互に、あるいは順次、レーザ光路に挿入する
ように構成した。これによってマーキング作業中に、液
晶マスクにレーザ光が照射されない時間帯を作り、この
時間帯内でマーキング内容の変更を行うと共に、長時間
に亘って液晶マスクにレーザ光が照射されるのを防止
し、強制的に冷却するようにした。 【効果】液晶分子の応答性が良くない場合でもその影響
を少なくでき、またレーザ光の高頻度照射による液晶自
体の温度上昇による不鮮明な刻印の発生を防止できるの
で、マーキング作業の高スループット化を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はレーザマーカに係り、特
に、パターンマスクとして液晶マスクを用いたマーキン
グシステムに関する。
【0002】
【従来の技術】パターンマスクとして液晶マスクを用い
たマーキングシステムに関しては、本発明者らの出願に
よる特開昭64−11088 号公報がある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来技術では、パター
ンマスクとして液晶マスクを用いたマーキングシステム
に関しては述べられている。しかし、液晶マスクにレー
ザ光が高頻度で照射される場合の液晶自体の温度上昇に
伴う電気光学特性の変化による不鮮明な刻印の発生や、
マーキング内容を変更する場合の液晶分子の応答遅れに
よるマーキング所要時間への影響については考慮されて
いない。
【0004】本発明の目的は、高スループット時にも鮮
明な刻印が実現できるマーキングシステムを提供するこ
とにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のマーキングシステムでは移動可能な複数枚
の液晶マスクを準備し、レーザ光の照射の時期やマーキ
ング内容の変更の時期にあわせて、それぞれの液晶マス
クを交互に、あるいは順次、レーザ光路に挿入するよう
に構成し、マーキング作業中に、液晶マスクにレーザ光
が照射されない時間帯を作るようにした。そして、この
時間帯内でマーキング内容の変更を行うと共に、長時間
に亘って同一の液晶マスクにレーザ光が照射されるのを
防止するようにした。
【0006】
【作用】液晶分子の応答速度によってマーキング作業の
速度が制限されないようになった。また、レーザ光の高
頻度照射による液晶自体の温度上昇が抑制されるので、
電気光学特性の変化による不鮮明な刻印の発生を防止で
きるようになった。これらの結果、マーキング作業の高
スループット化を実現できる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図1ないし図3に
より説明する。図1において、パルスレーザ発振器1か
ら出射されたレーザ光2はビーム拡大器3を経てマーキ
ングパターン形成部4の液晶マスク5に照射される。マ
ーキングパターン形成部4には図2に示すように液晶マ
スク5、及びマスク6が配置されており、移動装置7に
より矢印8の方向すなわち、レーザ光2に垂直な平面内
で移動可能となっている。液晶マスク5を通過したレー
ザ光9は偏光ビームスプリッタ10によりマーキング情
報を含まないレーザ光11とマーキング情報を含むレー
ザ光12とに分離され、前者は吸収板13へ、後者は結
像光学系14を経てワーク15上に照射され、液晶マス
ク5に表示されたマーキング情報を刻印する。
【0008】図3は液晶マスク5,6の表示と位置、及
びレーザ光の照射のタイミングを示すものである。図3
において、レーザ光が16,17,18,19と間歇的
に出射される時、まず、マーキング情報の表示が完了し
た液晶マスク5が照射位置にセットされる。その後、レ
ーザ光16が出射されて液晶マスク5のマーキング情報
がワーク15に刻印される。
【0009】次に、液晶マスク6が照射位置に、液晶マ
スク5は非照射位置にセットされる。なお、液晶マスク
6は非照射状態で予めマーキング情報の表示が行われ
る。ベルトコンベア20によってワーク21が結像光学
系14の位置に送りこまれる。次に、レーザ光17が出
射されて液晶マスク6のマーキング情報がワーク21に
刻印される。この時、液晶マスク5のマーキング情報と
液晶マスク6のマーキング情報が同一のワーク15上に
刻印されるように構成しても良い。再度、液晶マスク5
が照射位置に、液晶マスク6を非照射位置にセットす
る。液晶マスク5は非照射状態でマーキング情報の変更
が行われている。その後、レーザ光18が出射されて液
晶マスク5のマーキング情報がワーク22に刻印され
る。以下、同様の手順でマーキング作業が遂行される。
液晶マスク制御回路23は液晶マスク5,6のマーキン
グ情報の変更と保存をマーキングシステム制御部24か
らの信号により行う。マーキングシステム制御部24
は、パルスレーザ発振器1,移動装置7及びベルトコン
ベア20にも信号を送り、その動作を制御する。液晶マ
スク5及び6には、図4に示すように、冷却用ノズル2
5から空気26が吹き付けられレーザ光照射時の温度上
昇による液晶マスクの電気光学特性の変化を極力少なく
する。なお、レーザ光照射位置での冷却はレーザ光をさ
えぎらないように冷却用ノズル25を配置しなければな
らないが、非照射点ではこの制約がないので、冷却用ノ
ズル25を液晶マスクに近接して配置することにより、
冷却効果を高めることができる。冷却用ノズル25は液
晶マスク5,6と一体として移動させても良い。本構成
では、液晶マスクに対してレーザ光が照射されない時間
帯を設け、この時間帯内にマーキング情報の変更を行う
ようにしたので、液晶分子の応答性が劣っている場合、
すなわちマーキング情報の変更に要する時間がレーザ光
照射時間と比較して長い場合でもマーキング作業の高ス
ループット化を実現できる。
【0010】本発明の他の実施例を図5により説明す
る。図5は液晶マスク5,6の表示と位置、及びレーザ
光の照射のタイミングの関係が図3と異なっている。す
なわち、本例では、液晶マスク5に対してレーザパルス
列27が照射される。なお、この間にベルトコンベア2
0によって、順次、ワークが結像レンズ14の位置に送
りこまれ液晶マスク5のマーキング情報が次々に刻印さ
れる。その後、液晶マスク6が照射位置に、液晶マスク
5は非照射位置にセットされる。そして、レーザパルス
列28が液晶マスク6に照射され、液晶マスク6のマー
キング情報が刻印されることになる。レーザパルス列が
液晶マスクに照射される場合、レーザ光の照射で上昇し
た液晶マスクの温度が回復する前に次のレーザ光が照射
されるので、液晶マスクの温度が上昇して電気光学特性
の変化を生じ鮮明な刻印が得られなくなる恐れがある。
これに対して、本例では一定の時間ごとに液晶マスクを
交換してレーザ光が照射されない時間帯を設け、積極的
に冷却を行うようにしたので、液晶マスクへのレーザ光
の高頻度の照射においても鮮明な刻印が可能となり、マ
ーキング作業の高スループット化が実現できる。本例で
も、レーザ光が照射されない時間帯にマーキング情報を
変更することもできる。
【0011】本発明の他の実施例を図6により説明す
る。図1と異なる点は、レーザ発振器29から出射され
るレーザ光30をスキャニングミラー31,32により
液晶マスク5の表面上を走査するように構成したもの
で、全面の走査が完了すると液晶マスク6が照射位置
に、液晶マスク5は非照射位置にセットされる。液晶マ
スク5,6へのマーキング情報の表示は図3と同様のタ
イミングで行われる。レーザ発振器29が小出力のもの
でよいので、本実施例によれば、マーキング作業の高ス
ループット化に加えて、マーキングシステムの小型化が
実現できる。
【0012】図7は本発明の他の実施例で、とくに液晶
マスク5と6を回転動作により入れ替える方法を示した
ものである。液晶マスク5,6は回転装置33,34よ
り回転可能に取り付けられている。そして、図示しない
マーキングシステム制御部からの信号により、液晶マス
ク5は反時計方向に、液晶マスク6は時計方向に回転し
て液晶マスクの入れ替えが行われる。なお、35はレー
ザ光を示す。本構成例では、回転動作を利用して液晶マ
スクの入れ替えを行うので、図1の往復動作を利用した
ものより速く入れ替え作業を行うことができる。
【0013】なお、これまでの説明では液晶マスクとし
ては液晶の偏光面制御機能を利用する、いわゆる、ツイ
ストネマティック液晶を用いた場合について説明したが
本発明はこの液晶に限定されるものではなく透過散乱型
液晶等を用いた場合にも適用できる。
【0014】
【発明の効果】本発明によれば、マーキング作業中に、
液晶マスクにレーザ光が照射されない時間帯を作り、こ
の時間帯内でマーキング内容の変更を行うと共に、長時
間に亘って液晶マスクにレーザ光が照射されるのを防止
するようにした。したがって、高スループット時にも鮮
明な刻印を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第一実施例のマーキングシステムのブ
ロック図
【図2】図1のマーキングパターン形成部の正面図。
【図3】図1のマーキングシステムの時間的な動作の説
明図。
【図4】冷却ノズルの説明図。
【図5】図1のマーキングシステムの時間的な動作の他
の実施例の説明図。
【図6】本発明の第二実施例のマーキングシステム構成
を示す平面図。
【図7】液晶マスクの入れ替え方法の他の実施例を示す
説明図。
【符号の説明】
1…パルスレーザ発振器、4…マーキングパターン形成
部、7…移動装置、14…結像光学系、15…ワーク、
23…液晶マスク制御回路、24…マーキングシステム
制御部、25…冷却ノズル。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レーザ発振器からのレーザ光を液晶セルを
    含むマーキングパターン形成部に照射し、前記液晶セル
    に表示されたマーキング情報をワーク上に刻印するレー
    ザマーキングシステムにおいて、前記マーキングパター
    ン形成部には複数枚の液晶マスクがレーザ光に対して相
    対的に移動可能に設定されており、前記それぞれの液晶
    マスクに対し所定の時間間隔をもって、順次、レーザ光
    が照射されるように構成されていることを特徴とするレ
    ーザマーキングシステム。
JP5095746A 1993-04-22 1993-04-22 レーザマーキングシステム Pending JPH06304775A (ja)

Priority Applications (1)

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JP5095746A JPH06304775A (ja) 1993-04-22 1993-04-22 レーザマーキングシステム

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JP5095746A JPH06304775A (ja) 1993-04-22 1993-04-22 レーザマーキングシステム

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JPH06304775A true JPH06304775A (ja) 1994-11-01

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JP5095746A Pending JPH06304775A (ja) 1993-04-22 1993-04-22 レーザマーキングシステム

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998023406A1 (fr) * 1996-11-29 1998-06-04 Komatsu Ltd. Procede et dispositif pour le marquage au laser et procede d'activation pour element a cristaux liquides

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998023406A1 (fr) * 1996-11-29 1998-06-04 Komatsu Ltd. Procede et dispositif pour le marquage au laser et procede d'activation pour element a cristaux liquides
US6184917B1 (en) 1996-11-29 2001-02-06 Komatsu Ltd. Laser marking method and apparatus and liquid crystal element driving method

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