JPH0629785Y2 - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
- Publication number
- JPH0629785Y2 JPH0629785Y2 JP1985174818U JP17481885U JPH0629785Y2 JP H0629785 Y2 JPH0629785 Y2 JP H0629785Y2 JP 1985174818 U JP1985174818 U JP 1985174818U JP 17481885 U JP17481885 U JP 17481885U JP H0629785 Y2 JPH0629785 Y2 JP H0629785Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- recording medium
- optical
- optical recording
- semiconductor laser
- respect
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案は、光学記録媒体に対して情報の記録や再生を行
うための光学ヘッドに関するものである。
うための光学ヘッドに関するものである。
本考案は、上記の様な光学ヘッドにおいて、3スポット
法によるトラッキング誤差検出のための位相回折格子を
光軸に対して傾斜させると共に、非点収差法によるフォ
ーカス誤差検出のために光軸に対して傾斜させたビーム
スプリッタとは反対の方向へ平凹レンズを傾斜させるこ
とによって、高いS/Nを有する光学ヘッドを低コスト
で提供することができる様にしたものである。
法によるトラッキング誤差検出のための位相回折格子を
光軸に対して傾斜させると共に、非点収差法によるフォ
ーカス誤差検出のために光軸に対して傾斜させたビーム
スプリッタとは反対の方向へ平凹レンズを傾斜させるこ
とによって、高いS/Nを有する光学ヘッドを低コスト
で提供することができる様にしたものである。
〔従来の技術〕 光学ヘッドの光源としては、一般に半導体レーザが用い
られている。しかし、コンパクトディスクプレーヤやビ
デオディスクプレーヤ等の光学ヘッドに用いられている
低ノイズの半導体レーザには、10〜20μmの非点隔
差がある。
られている。しかし、コンパクトディスクプレーヤやビ
デオディスクプレーヤ等の光学ヘッドに用いられている
低ノイズの半導体レーザには、10〜20μmの非点隔
差がある。
従って、この様な半導体レーザからのビームをそのまま
用いると、光学記録媒体上のビームスポットが隣接トラ
ックに跨がったりして、高いS/Nでの記録や再生を行
うことができない。
用いると、光学記録媒体上のビームスポットが隣接トラ
ックに跨がったりして、高いS/Nでの記録や再生を行
うことができない。
そこで、半導体レーザの非点収差を補正するために、円
柱レンズを適当な方位で用いたり、本出願人による特願
昭58−251812号に記載されている様に半導体レ
ーザのキャップの窓ガラスを傾斜させたりしている。
柱レンズを適当な方位で用いたり、本出願人による特願
昭58−251812号に記載されている様に半導体レ
ーザのキャップの窓ガラスを傾斜させたりしている。
一方、フォーカス誤差検出のための一つの方法として非
点収差法があり、この方法を実行するために、光学記録
媒体によって反射されて戻ってきた光に非点収差を発生
させている。
点収差法があり、この方法を実行するために、光学記録
媒体によって反射されて戻ってきた光に非点収差を発生
させている。
ところが、円柱レンズを用いる非点収差の補正では、円
柱レンズそのものが高価であり、また円柱レンズの位置
決めが容易でないことから、光学ヘッド全体の製造コス
トが高くなる。
柱レンズそのものが高価であり、また円柱レンズの位置
決めが容易でないことから、光学ヘッド全体の製造コス
トが高くなる。
また、半導体レーザのキャップの窓ガラスを傾斜させる
非点収差の補正でも、その様なキャップが高価であるこ
とから、光学ヘッド全体の製造コストがやはり高くな
る。
非点収差の補正でも、その様なキャップが高価であるこ
とから、光学ヘッド全体の製造コストがやはり高くな
る。
一方、非点収差法を実行するために、光学記録媒体によ
って反射されて戻ってきた光に非点収差を発生させる
と、それと同時にコマ収差も発生する。このため、光検
出手段による検出を正確には行うことができなくて、や
はり高いS/Nでの記録や再生を行うことができない。
って反射されて戻ってきた光に非点収差を発生させる
と、それと同時にコマ収差も発生する。このため、光検
出手段による検出を正確には行うことができなくて、や
はり高いS/Nでの記録や再生を行うことができない。
本考案による光学ヘッド30は、光学記録媒体17へ入
射させるべきビーム12を射出する半導体レーザ11
と、光軸に対して傾斜して配置されており前記光学記録
媒体17上に3個のスポットを形成するために前記ビー
ム12を3本のビームに分割する位相回折格子13と、
前記光学記録媒体17によって反射された前記ビーム1
2を検出する光検出手段22と、前記光軸に対して傾斜
して配置されており前記半導体レーザ11から射出され
前記位相回折格子13を透過した前記ビーム12を前記
光学記録媒体17へ導くと共にこの光学記録媒体17に
よって反射された前記ビーム12を前記光検出手段22
へ導く平行平板状のビームスプリッタ31と、前記光軸
に対して前記ビームスプリッタ31とは反対の方向へ傾
斜しておりこのビームスプリッタ31と前記光検出手段
22との間に配置されいる平凹レンズ32とを備えるこ
とを特徴とするものである。
射させるべきビーム12を射出する半導体レーザ11
と、光軸に対して傾斜して配置されており前記光学記録
媒体17上に3個のスポットを形成するために前記ビー
ム12を3本のビームに分割する位相回折格子13と、
前記光学記録媒体17によって反射された前記ビーム1
2を検出する光検出手段22と、前記光軸に対して傾斜
して配置されており前記半導体レーザ11から射出され
前記位相回折格子13を透過した前記ビーム12を前記
光学記録媒体17へ導くと共にこの光学記録媒体17に
よって反射された前記ビーム12を前記光検出手段22
へ導く平行平板状のビームスプリッタ31と、前記光軸
に対して前記ビームスプリッタ31とは反対の方向へ傾
斜しておりこのビームスプリッタ31と前記光検出手段
22との間に配置されいる平凹レンズ32とを備えるこ
とを特徴とするものである。
本考案による光学ヘッド30では、位相回折格子13に
よって半導体レーザ11の非点収差が補正されると共
に、ビームスプリッタ31で発生したコマ収差が平凹レ
ンズ32によって補正され且つこの平凹レンズ32によ
って検出光学系の横倍率が増大する。
よって半導体レーザ11の非点収差が補正されると共
に、ビームスプリッタ31で発生したコマ収差が平凹レ
ンズ32によって補正され且つこの平凹レンズ32によ
って検出光学系の横倍率が増大する。
以下、本考案の一実施例を、図面を参照しながら説明す
る。
る。
本実施例の光学ヘッド30では、半導体レーザ11から
射出されたビーム12は、このビーム12を3本のビー
ムに分割するための位相回折格子13を透過し、ビーム
スプリッタ31によって反射され、更にコリメータレン
ズ15及び対物レンズ16を透過して、光学記録媒体1
7へ入射する。
射出されたビーム12は、このビーム12を3本のビー
ムに分割するための位相回折格子13を透過し、ビーム
スプリッタ31によって反射され、更にコリメータレン
ズ15及び対物レンズ16を透過して、光学記録媒体1
7へ入射する。
従って、この光学記録媒体17上には、互いに微小距離
ずつ離間している3個のスポット(図示せず)が形成さ
れる。
ずつ離間している3個のスポット(図示せず)が形成さ
れる。
光学記録媒体17によって反射されて変調されたビーム
12は、再び対物レンズ16及びコリメータレンズ15
を透過し、更にビームスプリッタ31及び平凹レンズ3
2を透過して、光検出器22へ入射する。
12は、再び対物レンズ16及びコリメータレンズ15
を透過し、更にビームスプリッタ31及び平凹レンズ3
2を透過して、光検出器22へ入射する。
この光学ヘッド30では、既述の3個のスポットを利用
する3スポット法によって、トラッキング誤差検出が行
われる。また、平行平板状のビームスプリッタ31が非
平行状態のビーム12の光軸に対して傾斜していること
で発生する非点収差を利用する非点収差法によって、フ
ォーカス誤差検出が行われる。
する3スポット法によって、トラッキング誤差検出が行
われる。また、平行平板状のビームスプリッタ31が非
平行状態のビーム12の光軸に対して傾斜していること
で発生する非点収差を利用する非点収差法によって、フ
ォーカス誤差検出が行われる。
そして、この光学ヘッド30では、平行平板状の位相回
折格子13が非平行状態のビーム12の光軸に対して傾
斜していることで発生する非点収差と半導体レーザ11
の非点収差とを相殺させることによって、半導体レーザ
11の非点収差を補正する様にしている。
折格子13が非平行状態のビーム12の光軸に対して傾
斜していることで発生する非点収差と半導体レーザ11
の非点収差とを相殺させることによって、半導体レーザ
11の非点収差を補正する様にしている。
なお、光学記録媒体17に形成されているトラック23
の方向が図面に示す様に紙面に垂直な場合は、位相回折
格子13に形成されている格子(図示せず)の方向は紙
面と略平行である。
の方向が図面に示す様に紙面に垂直な場合は、位相回折
格子13に形成されている格子(図示せず)の方向は紙
面と略平行である。
そして、ビーム12の光軸に対して位相回折格子13を
傾斜させても、光学記録媒体17上の3個のスポット同
士の間隔が殆ど影響を受けない様に、位相回折格子13
は図面の紙面内でビーム12の光軸に垂直な方向から角
度θだけ回転している。このため、非点収差を補正され
るべき方向である半導体レーザ11の接合面(図示せ
ず)に平行な方向も、図面の紙面内にある。
傾斜させても、光学記録媒体17上の3個のスポット同
士の間隔が殆ど影響を受けない様に、位相回折格子13
は図面の紙面内でビーム12の光軸に垂直な方向から角
度θだけ回転している。このため、非点収差を補正され
るべき方向である半導体レーザ11の接合面(図示せ
ず)に平行な方向も、図面の紙面内にある。
以上の様な光学ヘッド30では、位相回折格子13の厚
さが1mm程度の場合、θ=7〜8°で15μm程度の非
点隔差が補正される。
さが1mm程度の場合、θ=7〜8°で15μm程度の非
点隔差が補正される。
ところで、この光学ヘッド30では、上述の様に、非点
収差法によるフォーカス誤差検出のための非点収差をビ
ームスプリッタ31によって発生させているが、このビ
ームスプリッタ31によってコマ収差も同時に発生す
る。
収差法によるフォーカス誤差検出のための非点収差をビ
ームスプリッタ31によって発生させているが、このビ
ームスプリッタ31によってコマ収差も同時に発生す
る。
しかし、平凹レンズ32がビーム12の光軸に対してビ
ームスプリッタ31とは反対の方向へ傾斜する様に配さ
れているので、この平凹レンズ32がコマ収差を補正す
ると共に検出光学系の横倍率を増大させている。
ームスプリッタ31とは反対の方向へ傾斜する様に配さ
れているので、この平凹レンズ32がコマ収差を補正す
ると共に検出光学系の横倍率を増大させている。
本考案による光学ヘッドでは、3スポット法によるトラ
ッキング誤差検出のための位相回折格子によって半導体
レーザの非点収差も補正されるので、この非点収差を補
正するために部品点数を増加させる必要がない。しか
も、フォーカス誤差検出のために光軸に対して傾斜させ
たビームスプリッタで発生したコマ収差が平凹レンズに
よって補正され且つこの平凹レンズによって検出光学系
の横倍率が増大する。従って、高いS/Nを有する光学
ヘッドを低コストで提供することができる。
ッキング誤差検出のための位相回折格子によって半導体
レーザの非点収差も補正されるので、この非点収差を補
正するために部品点数を増加させる必要がない。しか
も、フォーカス誤差検出のために光軸に対して傾斜させ
たビームスプリッタで発生したコマ収差が平凹レンズに
よって補正され且つこの平凹レンズによって検出光学系
の横倍率が増大する。従って、高いS/Nを有する光学
ヘッドを低コストで提供することができる。
図面は本考案の一実施例を示す側面図である。なお、図
面に用いられた符号において、 11……半導体レーザ 12……ビーム 13……位相回折格子 17……光学記録媒体 22……光検出器 30……光学ヘッド 31……ビームスプリッタ 32……平凹レンズ である。
面に用いられた符号において、 11……半導体レーザ 12……ビーム 13……位相回折格子 17……光学記録媒体 22……光検出器 30……光学ヘッド 31……ビームスプリッタ 32……平凹レンズ である。
Claims (1)
- 【請求項1】光学記録媒体へ入射させるべきビームを射
出する半導体レーザと、 光軸に対して傾斜して配置されており前記光学記録媒体
上に3個のスポットを形成するために前記ビームを3本
のビームに分割する位相回折格子と、 前記光学記録媒体によって反射された前記ビームを検出
する光検出手段と、 前記光軸に対して傾斜して配置されており前記半導体レ
ーザから射出され前記位相回折格子を透過した前記ビー
ムを前記光学記録媒体へ導くと共にこの光学記録媒体に
よって反射された前記ビームを前記光検出手段へ導く平
行板状のビームスプリッタと、 前記光軸に対して前記ビームスプリッタとは反対の方向
へ傾斜しておりこのビームスプリッタと前記光検出手段
との間に配置されている平凹レンズとを備えることを特
徴とする光学ヘッド。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985174818U JPH0629785Y2 (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1985174818U JPH0629785Y2 (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 光学ヘツド |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6283221U JPS6283221U (ja) | 1987-05-27 |
JPH0629785Y2 true JPH0629785Y2 (ja) | 1994-08-10 |
Family
ID=31113559
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1985174818U Expired - Lifetime JPH0629785Y2 (ja) | 1985-11-13 | 1985-11-13 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0629785Y2 (ja) |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61271633A (ja) * | 1985-05-28 | 1986-12-01 | Mitsubishi Electric Corp | 光学ヘツド装置 |
-
1985
- 1985-11-13 JP JP1985174818U patent/JPH0629785Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6283221U (ja) | 1987-05-27 |
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