JP2002373436A

JP2002373436A - チルト検出機能付光ピックアップ

Info

Publication number: JP2002373436A
Application number: JP2001179188A
Authority: JP
Inventors: Kazunori Tokiwa; 和典常盤
Original assignee: Kenwood KK
Current assignee: Kenwood KK
Priority date: 2001-06-13
Filing date: 2001-06-13
Publication date: 2002-12-26

Abstract

(57)【要約】【課題】光ディスク傾斜検出用の分割フォトディテク
タの取付け精度の要件を緩和する。【解決手段】記録または再生用に発生させたレーザビ
ームMLをメイン光学系27で導き、対物レンズ25を通して
光ディスク１の信号面12に照射し、光ディスク１の信号
面12で反射した戻りレーザビームSLの一部SL₂をサブ光
学系550 のハーフミラー50と集光レンズ54で導き、光デ
ィスク１のラジアル方向に見た傾斜検出用の４分割フォ
トディテクタ60に集光させる。４分割フォトディテクタ
60の分割軸Ｗは光ディスク１のタンジェンシャル方向に
合わせ、集光レンズ54の直前に戻りレーザビームSL₂の
横断面の中央部分を、分割軸Ｗに対応するビーム直径Ｌ
に沿って、Ｌに対し線対象に長方形状に遮光する遮光マ
スク90を配置する。４分割フォトディテクタ60の光検出
出力からラジアル方向に見た傾き検出信号を作成する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はチルト検出機能付光
ピックアップに係り、とくに、光ディスクの記録または
再生用のレーザビームが光ディスク信号面で反射した戻
りレーザビームを導きながら集光レンズで光ディスク傾
き検出用の分割光検出手段に集光させ、該分割光検出手
段の検出出力から光ディスク傾き検出信号を生成可能と
したチルト検出機能付光ピックアップに関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクに対し記録または再生を行う
光ディスク装置は、記録または再生を正しく行うため
に、光ピックアップから光ディスクに照射する記録また
は再生用のレーザビームを光ディスクの信号面に対し垂
直に維持し、戻りレーザビームにコマ収差が発生しない
ようにする必要がある。このため、光ディスク装置には
記録または再生用のレーザビームに対する光ディスクの
傾き（チルト）を検出し、検出した光ディスクの傾きを
打ち消すためのチルト制御系が装備されている。

【０００３】従来の一般的なチルト制御系は実願昭５９
−１４２９５号の如く、光ピックアップの外面に１つの
発光素子と該発光素子を挟んだ２つの受光素子から成る
チルト検出部を設け、発光素子から発射した光ビームが
光ディスクで反射したあと２つの受光素子で同時に受光
されるようにしておく。そして、２つの受光素子の受光
出力の差を演算して光ディスク傾き検出信号を生成し、
該光ディスク傾き検出信号に基づき光ピックアップに設
けたチルトアクチュエータを駆動して、光ディスク傾き
検出信号が傾き零を示すまで光ピックアップ全体を傾斜
させる。

【０００４】また、従来の他のチルト制御系は特開２０
００−１４９２９７号の如く、光ディスクの記録または
再生用のレーザビームを対物レンズを通して光ディスク
に照射した際に生じる光ディスク表面での反射レーザビ
ームを集光レンズでチルト検出用の４分割フォトディテ
クタの検出面中央に集光させ、チルト検出用の４分割フ
ォトディテクタの検出出力からラジアル方向とタンジェ
ンシャル方向の光ディスク傾き検出信号を生成し、該光
ディスク傾き検出信号に基づき対物レンズに設けたチル
トアクチュエータを駆動して、ラジアル方向とタンジェ
ンシャル方向の光ディスク傾き検出信号がいずれも傾き
零を示すまで対物レンズを傾斜させる。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】ところで、近年は、Ｄ
ＶＤ（ディジタルバーサタイルディスク）の如く光ディ
スクの記録密度が非常に高くなってきており、記録また
は再生動作を正しく行うためには高精度なチルト制御が
必要となっている。けれども前者の実願昭５９−１４２
９５号の発明では、光ディスクの上で、光ピックアップ
から照射したレーザビームで記録または再生を行う位置
とチルト検出部で傾き検出を行う位置が大きくずれてい
る。光ディスクには局部的なソリが有り、記録または再
生を行っている位置での光ディスクの傾斜を正しく検出
できない。また、後者の特開２０００−１４９２９７号
の発明では、光ディスク表面での反射ビームが光ディス
ク傾斜検出用の４分割フォトディテクタの上に形成する
スポットの位置が光ディスクの傾斜で移動することを利
用して光ディスク傾き検出信号を作成しているので、光
ディスク傾斜検出用の４分割フォトディテクタの取付け
に高い位置精度が必要となる問題があった。本発明は上
記した従来技術の問題に鑑み、記録または再生を行って
いる信号面での傾斜を正しく検出でき、光ディスク傾き
検出用の分割光検出手段の取付け精度の要件を緩和でき
るチルト検出機能付光ピックアップを提供することを、
その目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】請求項１に係るチルト検
出機能付光ピックアップでは、光ディスクの記録または
再生用のレーザビームを発生させるレーザビーム発生手
段と、レーザビームを導きながら対物レンズで光ディス
クの信号面に合焦させるメイン光学系と、を含む光ピッ
クアップにおいて、光ディスクの記録または再生用のレ
ーザビームが光ディスクの信号面で反射した戻りレーザ
ビームを導きながら集光レンズで戻りレーザビームの軸
に対し垂直に配置された光ディスク傾き検出用の分割光
検出手段の検出面中央に集光させるサブ光学系を設け、
光ディスク傾き検出用の分割光検出手段は１つの分割軸
による２分割または直交する２つの分割軸による４分割
とし、サブ光学系の途中に、戻りレーザビームの横断面
の中央部分を、分割光検出手段の検出面上の或る１つの
分割軸に対応するビーム直径に対し線対象に遮光手段で
遮光するようにしたこと、を特徴としている。請求項１
において、遮光手段はサブ光学系の内、集光レンズの前
側に設置しても良く、また、戻りレーザビームの横断面
の中央部分であって、分割光検出手段の検出面上の前記
或る１つの分割軸に対応するビーム直径に沿って略長方
形状に遮光するようにしても良い。

【０００７】請求項４に係るチルト検出機能付光ピック
アップでは、光ディスクの記録または再生用のレーザビ
ームを発生させるメインレーザビーム発生手段と、レー
ザビームを導きながら対物レンズで光ディスクの信号面
に合焦させるメイン光学系と、を含む光ピックアップに
おいて、光ディスクの記録または再生用のレーザビーム
が光ディスクの信号面で反射した戻りレーザビームを導
きながら集光レンズで戻りレーザビームの軸に対し垂直
に配置された光ディスク傾き検出用の分割光検出手段の
検出面中央に集光させるサブ光学系を設け、光ディスク
傾き検出用の分割光検出手段は直交する２つの分割軸に
よる４分割とし、サブ光学系の途中に、戻りレーザビー
ムの横断面の中央部分を、分割光検出手段の検出面上の
一方の分割軸に対応するビーム直径に対し線対象に遮光
するとともに、分割光検出手段の検出面上の他方の分割
軸に対応するビーム直径に対しても線対象に遮光する遮
光手段を設けたこと、を特徴としている。請求項５にお
いて、遮光手段はサブ光学系の内、集光レンズの前側に
設置しても良く、また、戻りレーザビームの横断面の中
央部分であって、分割光検出手段の検出面上の前記一方
の分割軸に対応するビーム直径に沿って略長方形状に遮
光するとともに、分割光検出手段の検出面上の前記他方
の分割軸に対応するビーム直径に沿っても略長方形状に
遮光するようにしても良い。

【０００８】

【発明の実施の形態】次に、本発明の第１の実施の形態
を図１を参照して説明する。図１は本発明に係るチルト
検出機能付光ピックアップの構成図である。１は光ディ
スク、２は光ディスクを載せたターンテーブル、３はタ
ーンテーブルを回転するスピンドルモータである。光デ
ィスク１は上側基板１０と透明な下側基板１１の間に信
号面（反射面）１２が形成されている。２００はチルト
検出機能付光ピックアップ（以下、単に「光ピックアッ
プ」という）であり、光ディスク１の信号面１２に波長
４０５ｎｍの青紫色のレーザビームを照射し、情報の記
録または再生を行う。また、レーザビームが光ディスク
１の信号面１２で反射した戻りレーザビームＳＬの一部
（符号ＳＬ₂参照）を光ディスク傾き検出用の４分割フ
ォトディテクタに集光させる。光ディスク傾き検出用の
４分割フォトディテクタの光検出出力から光ディスク１
のラジアル方向の傾き検出信号が作成可能となってい
る。

【０００９】光ピックアップ２００の内、２１は情報の
記録または再生用の波長４０５ｎｍの青紫色のレーザビ
ームＭＬを発生し、水平方向に出射させるレーザ発光ダ
イオード、２２はレーザビームＭＬを平行化するコリメ
ータレンズ、２３はレーザビームＭＬを透過させるとと
もに戻りレーザビームＳＬの一部（符号ＳＬ₁参照）を
９０°下向きに反射させるハーフミラー、２４はレーザ
ビームＭＬを９０°上方へ曲げる立ち上げミラー、２５
は対物レンズであり、レーザビームＭＬを光ディスク１
の信号面１２に対し垂直に照射しながら合焦するように
集光させる。レーザビームＭＬが信号面１２で反射した
戻りレーザビームＳＬは対物レンズ２５と立ち上げミラ
ー２４を経て、ハーフミラー２３で一部（ＳＬ₁）が９
０°下向きに反射される。３０は情報の記録または再生
用の分割フォトディテクタであり、該分割フォトディテ
クタの光検出出力から、外部に設けられたＲＦアンプ
（図示せず）でＲＦ信号、フォーカスエラー信号等を作
成できる。２６は戻りレーザビームＳＬ₁を分割フォト
ディテクタ３０の中央に集光させる集光レンズである。
コリメータレンズ２２、ハーフミラー２３、立ち上げミ
ラー２４、対物レンズ２５、集光レンズ２６によりメイ
ン光学系２７が構成されている。４０は対物レンズ２５
に付設されたチルトアクチュエータであり、ラジアル方
向とタンジェンシャル方向のチルト調節を行えるように
なっている。

【００１０】５０はメイン光学系２７の内、ハーフミラ
ー２３と立ち上げミラー２４の間に中に介装されたハー
フミラーであり、レーザビームＭＬと戻りレーザビーム
ＳＬの一部は透過させる。レーザビームＭＬが光ディス
ク１の信号面１２で反射した戻りレーザビームＳＬ（図
２参照）が対物レンズ２５を通過し、立ち上げミラー２
４で反射したあと更にハーフミラー５０で一部（ＳＬ₂
参照）が反射し、下向きに曲がるようにする。６０は光
ディスク傾き検出用の４分割フォトディテクタであり、
該４分割フォトディテクタ６０の光検出出力から、ラジ
アル方向（図１の左右方向）に見た光ディスク傾き検出
信号を作成できる。５４は戻りレーザビームＳＬ₂を４
分割フォトディテクタ６０の検出面６１の中央に集光さ
せる集光レンズである。

【００１１】４分割フォトディテクタ６０は集光レンズ
５４の光軸（すなわち、戻りレーザビームＳＬ₂の軸）
に垂直でかつ波長４０５ｎｍの戻りレーザビームＳＬ₂
に対する焦点位置から１ｍｍだけ集光レンズ５４寄りの
位置に配置されている。検出面６１の縦×横のサイズａ
×ｂは、遮光マスク９０がなく、対物レンズ２５の光軸
に対して光ディスク１がラジアル方向とタンジェンシャ
ル方向のいずれに見ても傾斜零のときに、集光レンズ５
４により集光された戻りレーザビームＳＬ₂の検出面６
１の上での直径ｒの約１．５倍またはそれ以上の大きさ
に形成されているものとし、ここでは一例として、集光
レンズ５４の直前での戻りレーザビームＳＬ₂の直径Ｒ
が約４．４３（ｍｍ）、ｒが約０．１００（ｍｍ）、ａ
が約０．１５０（ｍｍ）、ｂが約０．１５０（ｍｍ）と
する。ハーフミラー５０、集光レンズ５４によりサブ光
学系５５０が構成されている。

【００１２】光ディスク傾き検出用の４分割フォトディ
テクタ６０は、光ディスク１の上側から見下ろした場
合、図１の符号Ｅの如く２つの分割軸ＶとＷが各々光デ
ィスク１のラジアル方向及びタンジェンシャル方向に一
致するように配置されている。

【００１３】戻りレーザビームＳＬ₂を導き光ディスク
傾斜検出用の４分割フォトディテクタ６０に集光させる
サブ光学系５５０の途中、ここでは集光レンズ５４の直
前に、戻りレーザビームＳＬ₂の横断面の中央部分であ
って、４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の上で
の１つの分割軸Ｗに対応するビーム直径に沿って、ビー
ム直径全長を略長方形状に遮光する遮光マスク９０が配
置されている。遮光マスク９０は光ディスク１の真上か
ら見下ろした場合、符号Ｇに示す如く、遮光領域ＢＡが
分割軸Ｗに対応するビーム直径Ｌに対し線対象に形成し
てあり、遮光マスク９０の内、遮光領域ＢＡ以外は透過
領域ＴＡである。光ディスク１のレーザビームＭＬが照
射されている位置での光ディスク１にラジアル方向とタ
ンジェンシャル方向の傾きが無い場合の遮光マスク９０
の位置での戻りレーザビームＳＬ ₂の直径をＲとする
と、遮光マスク９０の遮光領域ＢＡの遮光幅ｈはＲ／５
〜Ｒ／２程度が望ましい。

【００１４】次に図３〜図６を参照して上記した実施の
形態の動作を説明する。なお、遮光マスク９０は遮光幅
ｈ＝２．０ｍｍ、遮光長ｉ＝６．０ｍｍとする。レーザ
ビームＭＬで記録または再生している場所での光ディス
ク１がラジアル方向とタンジェンシャル方向のいずれに
見ても傾斜していないとして、戻りレーザビームＳＬ₂
の横断面の中央部分が遮光マスク９０で、４分割フォト
ディテクタ６０の分割軸Ｗに対応するビーム直径Ｌに対
し線対象でかつビーム直径全長に沿って遮光されると、
４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の上で見たと
き、戻りレーザビームＳＬ₂は図３に示す如く、Ｖ軸の
正側と負側に２分割された分割スポットＳＰ_a、ＳＰ_b
となり、Ｖ＝−０．０２５〜＋０．０２５（ｍｍ）の範
囲で、Ｗ軸に沿った範囲の光強度分布Ｆ零近くに落ち、
４分割フォトディテクタ６０の検出面６１のＶ軸上で見
たとき、Ｖ＝０（ｍｍ）の原点Ｏから離れた位置に２つ
の光強度分布のピークが現れる（ピーク位置は図３のＰ
_a、Ｐ_b参照）。

【００１５】実際、図４（１）、（２）に示す如く、レ
ーザビームＭＬで記録または再生している場所での光デ
ィスク１がラジアル方向とタンジェンシャル方向のいず
れにも傾斜していなければ（図４（１）は図１の紙面上
から光ディスク１を見た場合を示し、図４（２）は図１
のＦ方向から光ディスク１を見た場合を示す）、遮光マ
スク９０の手前側で戻りレーザビームＳＬ₂に偏りが生
じず、図４（３）に示す如く、Ｖ軸上の正側と負側の分
割スポットＳＰ_aとＳＰ_bの強度分布はＶ＝０（ｍｍ）
の原点に対し点対象であり、Ｖ軸上の正側と負側の分割
スポットＳＰ_a、ＳＰ_bの光強度ピークは同じ高さとな
っている。図４（４）に示す如く、Ｗ軸上では強度分布
は零に近い（図４（３）は４分割フォトディテクタ６０
のＶ軸上での光強度分布を示し、図４（４）は４分割フ
ォトディテクタ６０のＷ軸上での光強度分布を示す。図
３に示す如く、Ｖ軸とＷ軸の交点を原点Ｏ（Ｖ，Ｗ）＝
（０，０）としてある。）。よって、フォトディテクタ
ＡとＤの合計受光量と、ＢとＣの合計受光量は同じとな
る。

【００１６】また、図５（１）、（２）に示す如く、光
ディスクのレーザビームＭＬで記録または再生している
場所での光ディスク１が対物レンズ２５の光軸に対しラ
ジアル方向に見て図５（１）に示す如く時計回りに１°
だけ傾斜すると、図５（３）に示す如くＶ軸上で正側と
負側の分割スポットＳＰ_aとＳＰ_bの光強度分布のピー
ク位置は殆ど変わらないが、正側の分割スポットＳＰ_a
の光強度分布のピークがきわだって高くなり、負側の分
割スポットＳＰ_bの光強度分布のピークがきわだって低
くなる。図５（４）に示す如くＷ軸上での光強度分布は
図４の場合と殆ど変化しない。よって、フォトディテク
タＡとＤの合計受光量が減少し、ＢとＣの合計受光量が
増大する。

【００１７】図６（１）、（２）に示す如く、光ディス
クのレーザビームＭＬで記録または再生している場所で
の光ディスク１が対物レンズ２５の光軸に対しラジアル
方向に見て図６（１）に示す如く反時計回りに１°だけ
傾斜すると、図６（３）に示す如くＶ軸上で正側と負側
の分割スポットＳＰ_aとＳＰ_bのピーク位置は殆ど変わ
らないが、正側の分割スポットＳＰ_aの光強度分布のピ
ークがきわだって低くなり、負側の分割スポットＳＰ_b
の光強度分布のピークがきわだって高くなる。図６
（４）に示す如くＷ軸上での光強度分布は図４の場合と
殆ど変化しない。よって、フォトディテクタＡとＤの合
計受光量が増大し、ＢとＣの合計受光量が減少する。

【００１８】フォトディテクタＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの光検出
出力をａ、ｂ、ｃ、ｄとすると、光ピックアップ２００
の外部に設けられた光ディスク傾き検出信号作成部７０
０は、（ｂ＋ｃ）−（ａ＋ｄ）＝ラジアル方向の光ディ
スク傾き検出信号として光ディスク１の傾き検出信号を
求めることができ、このラジアル方向の光ディスク傾き
検出信号に基づきチルト制御部８００がチルトアクチュ
エータ４０を駆動し、ラジアル方向の光ディスク傾き検
出信号が零となるように、対物レンズ２５を傾斜させ
る。

【００１９】図１の実施の形態によれば、記録または再
生用のレーザビームＭＬが光ディスク１の信号面１２で
反射した戻りレーザビームＳＬの一部の戻りレーザビー
ムＳＬ₂を集光レンズ５４で光ディスク傾斜検出用の４
分割フォトディテクタ６０の検出面中央に集光させ、こ
の際、遮光マスク９０により、戻りレーザビームＳＬ ₂
の横断面の中央部分であって、４分割フォトディテクタ
６０の検出面６１の上での１つの分割軸Ｗに対応するビ
ーム直径（図１のＬ参照）に沿って、該ビーム直径に対
し線対象となるようにビーム直径全長を略長方形状に遮
光したので、光ディスク１のラジアル方向の傾斜角に応
じて、４分割フォトディテクタ６０のＶ軸の正側と負側
で、検出面の中心から離れた位置に生じている分割スポ
ットＳＰ _aとＳＰ_bのピークの高さが差動的に変化す
る。よって、４分割フォトディテクタ６０の光検出出力
から作成したラジアル方向の光ディスク傾き検出信号
は、記録または再生用のレーザビームＭＬが照射されて
いる位置での光ディスク１のラジアル方向の傾きを示
す。ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号に基づきチ
ルト制御部８００がチルトアクチュエータ４０を駆動
し、ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号が零となる
ように対物レンズ２５を傾斜させることで、記録または
再生用のメインレーザビームＭＬをラジアル方向に見て
正しく光ディスク１に対し垂直に維持でき、情報の記録
または再生を高精度に行うことが可能となる。

【００２０】また、４分割フォトディテクタ６０の検出
面６１の上に生じている分割スポットＳＰ_aとＳＰ
_bは、対物レンズ２５の光軸に対する光ディスク１のラ
ジアル方向の傾斜角によってもピーク位置が殆ど移動し
ない（図５（３）、図６（３）参照）。一方、光ディス
ク１のラジアル方向の傾斜角に応じて、４分割フォトデ
ィテクタ６０のＶ軸の正側と負側でピークの高さが差動
的に変化する分割スポットＳＰ_a、ＳＰ_bが検出面６１
の中心から離れた位置に生じているので、４分割フォト
ディテクタ６０の検出面６１の中心と集光レンズ５４の
光軸に多少ずれがあっても、ラジアル方向の光ディスク
１の傾き検出を精度良く行える。従って、４分割フォト
ディテクタ６０の取付け精度の要件を緩和できる。

【００２１】なお、図１中の４分割フォトディテクタ６
０のＶ軸とＷ軸を各々、光ディスク１のラジアル方向と
タンジェンシャル方向に一致するように配置したが、図
７に示す如く、４分割フォトディテクタ６０の検出面内
で４５°回転させた状態で配置するようにしても良い。
この場合、遮光マスク９０は、戻りレーザビームＳＬ₂
の横断面の中央部分であって、４分割フォトディテクタ
６０の検出面６１の上での１つの分割軸Ｗと４５°を成
す軸Ｗ´に対応するビーム直径（図１のＬ参照）に沿っ
てビーム直径全長を長方形状に遮光するように配置され
ることになる。光ピックアップ２００の外部に設けられ
た光ディスク傾き検出信号作成部７００は、ｂ−ｄ＝ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号として光ディスク１のラジアル方向の傾き検出信号を求
めれば良い。

【００２２】また、４分割フォトディテクタ６０の代わ
りに、図８に示す如く２分割フォトディテクタ６０₁を
分割軸Ｘが光ディスク１のタンジェンシャル方向に一致
するように配置し、光ディスク傾き検出信号作成部７０
０は、フォトディテクタＡ、Ｂの光検出出力をａ、ｂと
して、ｂ−ａ＝ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号として光ディスク１のラジアル方向の傾き検出信号を求
めるようにしても良い。

【００２３】また、遮光マスク９０の遮光領域ＢＡはビ
ーム直径Ｌの全長を長方形状に遮光するようにしたが、
図９（１）の符号９０₁に示す如く、ビーム直径全長を
部分楕円状に遮光するようにしたり、図９（２）〜
（４）の符号９０₂、９０₃、９０₄に示す如く、ビー
ム直径の内の中心寄りの一部を長方形状または楕円形状
または円形等に遮光するようにしても良い。

【００２４】図１０は本発明の第２の実施の形態に係る
チルト検出機能付光ピックアップの構成図であり、図１
と同様の構成部分には同一の符号が付してある。図１０
のチルト検出機能付光ピックアップ（以下、「光ピック
アップ」という）２０１では、戻りレーザビームＳＬ₂
を導き光ディスク傾斜検出用の４分割フォトディテクタ
６０に集光させるサブ光学系５５１の途中、ここでは集
光レンズ５４の直前に、戻りレーザビームＳＬ₂の横断
面の中央部分であって、４分割フォトディテクタ６０の
検出面６１の上での１つの分割軸Ｖに対応するビーム直
径に沿って、ビーム直径全長を略長方形状に遮光する遮
光マスク９１が配置されている。遮光マスク９１は光デ
ィスク１の真上から見下ろした場合、符号Ｈに示す如
く、長方形状の遮光領域ＢＡが分割軸Ｖに対応するビー
ム直径Ｍに対し線対象に形成してある。レーザビームＭ
Ｌが照射されている位置での光ディスク１にラジアル方
向とタンジェンシャル方向の傾きが無い場合の遮光マス
ク９１の位置での戻りレーザビームＳＬ₂の直径をＲと
すると、遮光マスク９１の遮光領域ＢＡの遮光幅ｋはＲ
／５〜Ｒ／２程度が望ましい。チルト検出機能付光ピッ
クアップ２０１の他の構成部分は図１と同様に構成され
ている。

【００２５】次に図１１〜図１４を参照して上記した実
施の形態の動作を説明する。なお、遮光マスク９１は遮
光幅ｋ＝２．０ｍｍ、遮光長ｊ＝６．０ｍｍとする。レ
ーザビームＭＬで記録または再生している場所での光デ
ィスク１がラジアル方向とタンジェンシャル方向のいず
れに見ても傾斜していないとして、戻りレーザビームＳ
Ｌ₂の横断面の中央部分が遮光マスク９１で、４分割フ
ォトディテクタ６０の分割軸Ｖに対応するビーム直径Ｍ
に対し線対象でかつビーム直径全長に沿って遮光される
と、４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の上で見
たとき、戻りレーザビームＳＬ₂は図１１に示す如く、
Ｗ軸の正側と負側に２分割された分割スポットＳＰ_c、
ＳＰ_dとなり、Ｗ＝−０．０２５〜＋０．０２５（ｍ
ｍ）の範囲で、Ｖ軸に沿った範囲の光強度分布が零近く
に落ちる。よって、４分割フォトディテクタ６０の検出
面６１のＷ軸上で見たとき、Ｗ＝０（ｍｍ）の原点Ｏか
ら離れた位置に２つの光強度分布のピークが現れる（ピ
ーク位置は図１１の符号Ｐ_c、Ｐ_d参照）。

【００２６】実際、図１２（１）、（２）に示す如く、
レーザビームＭＬで記録または再生している場所での光
ディスク１がラジアル方向とタンジェンシャル方向のい
ずれにも傾斜していなければ（図１２（１）は図１の紙
面上から光ディスク１を見た場合を示し、図１２（２）
は図１のＦ方向から光ディスク１を見た場合を示す）、
遮光マスク９１の手前側で戻りレーザビームＳＬ₂に偏
りが生じず、図１２（４）に示す如く、Ｗ軸上の正側と
負側の分割スポットＳＰ_cとＳＰ_dの強度分布はＷ＝０
（ｍｍ）の原点に対し点対象であり、Ｗ軸上の正側と負
側の分割スポットＳＰ_c、ＳＰ_dの光強度ピークは同じ
高さとなっている。図１２（３）に示す如く、Ｖ軸上で
は強度分布は零に近い（図１２（３）は４分割フォトデ
ィテクタ６０のＶ軸上での光強度分布を示し、図１２
（４）は４分割フォトディテクタ６０のＷ軸上での光強
度分布を示す。Ｖ軸とＷ軸の交点を原点（Ｖ，Ｗ）＝
（０，０）としてある）。よって、フォトディテクタＡ
とＢの合計受光量と、ＣとＤの合計受光量は同じとな
る。

【００２７】また、図１３（１）、（２）に示す如く、
光ディスクのレーザビームＭＬで記録または再生してい
る場所での光ディスク１が対物レンズ２５の光軸に対し
タンジェンシャル方向に見て図１３（２）に示す如く時
計回りに１°だけ傾斜すると、図１３（４）に示す如く
Ｗ軸上で正側と負側の分割スポットＳＰ_cとＳＰ_dの光
強度分布のピーク位置は殆ど変わらないが、正側の分割
スポットＳＰ_cの光強度分布のピークがきわだって高く
なり、負側の分割スポットＳＰ_dの光強度分布のピーク
がきわだって低くなる。図１３（３）に示す如くＶ軸上
での光強度分布は図１２の場合と殆ど変化しない。よっ
て、フォトディテクタＡとＢの合計受光量が増大し、Ｃ
とＤの合計受光量が減少する。

【００２８】図１４（１）、（２）に示す如く、光ディ
スクのレーザビームＭＬで記録または再生している場所
での光ディスク１が対物レンズ２５の光軸に対しタンジ
ェンシャル方向に見て図１４（２）に示す如く反時計回
りに１°だけ傾斜すると、図１４（４）に示す如くＷ軸
上で正側と負側の分割スポットＳＰ_cとＳＰ_dのピーク
位置は殆ど変わらないが、正側の分割スポットＳＰ_cの
光強度分布のピークがきわだって低くなり、負側の分割
スポットＳＰ_dの光強度分布のピークがきわだって高く
なる。図１４（３）に示す如くＶ軸上での光強度分布は
図１２の場合と殆ど変化しない。よって、フォトディテ
クタＡとＢの合計受光量が減少し、ＣとＤの合計受光量
が増大する。

【００２９】フォトディテクタＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの光検出
出力をａ、ｂ、ｃ、ｄとすると、光ピックアップ２０１
の外部に設けられた光ディスク傾き検出信号作成部７０
１は、（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝タンジェンシャル方向の光デ
ィスク傾き検出信号として光ディスク１の傾き検出信号を求めることがで
き、このタンジェンシャル方向の光ディスク傾き検出信
号に基づきチルト制御部８０１がチルトアクチュエータ
４０を駆動し、タンジェンシャル方向の光ディスク傾き
検出信号が零となるように、対物レンズ２５を傾斜させ
る。

【００３０】図１０の実施の形態によれば、記録または
再生用のレーザビームＭＬが光ディスク１の信号面１２
で反射した戻りレーザビームＳＬの一部の戻りレーザビ
ームＳＬ₂を集光レンズ５４で光ディスク傾斜検出用の
４分割フォトディテクタ６０の検出面中央に集光させ、
この際、遮光マスク９１により、戻りレーザビームＳＬ
₂の横断面の中央部分であって、４分割フォトディテク
タ６０の検出面６１の上での１つの分割軸Ｖに対応する
ビーム直径（図１０のＭ参照）に沿って、該ビーム直径
に対し線対象となるようにビーム直径全長を略長方形状
に遮光したので、光ディスク１のタンジェンシャル方向
の傾斜角に応じて、４分割フォトディテクタ６０のＷ軸
の正側と負側で、検出面の中心から離れた位置に生じて
いる分割スポットＳＰ_cとＳＰ_dのピークの高さが差動
的に変化する。よって、４分割フォトディテクタ６０の
光検出出力から作成したタンジェンシャル方向の光ディ
スク傾き検出信号は、記録または再生用のレーザビーム
ＭＬが照射されている位置での光ディスク１のタンジェ
ンシャル方向の傾きを示す。タンジェンシャル方向の光
ディスク傾き検出信号に基づきチルト制御部８０１がチ
ルトアクチュエータ４０を駆動し、タンジェンシャル方
向の光ディスク傾き検出信号が零となるように対物レン
ズ２５を傾斜させることで、記録または再生用のレーザ
ビームＭＬをタンジェンシャル方向に見て正しく光ディ
スク１に対し垂直に維持でき、情報の記録または再生を
高精度に行うことが可能となる。

【００３１】また、４分割フォトディテクタ６０の検出
面６１の上に生じている分割スポットＳＰ_cとＳＰ
_dは、対物レンズ２５の光軸に対する光ディスク１のタ
ンジェンシャル方向の傾斜角によってもピーク位置が殆
ど移動しない（図１３（４）、図１４（４）参照）。一
方、光ディスク１のタンジェンシャル方向の傾斜角に応
じて、４分割フォトディテクタ６０のＷ軸の正側と負側
でピークの高さが差動的に変化する分割スポットＳ
Ｐ_c、ＳＰ_dが検出面６１の中心から離れた位置に生じ
ているので、４分割フォトディテクタ６０の検出面６１
の中心と集光レンズ５４の光軸に多少ずれがあっても、
タンジェンシャル方向の光ディスク１の傾き検出を精度
良く行える。従って、４分割フォトディテクタ６０の取
付け精度の要件を緩和できる。

【００３２】なお、図１０中の４分割フォトディテクタ
６０のＶ軸とＷ軸を各々、光ディスク１のラジアル方向
とタンジェンシャル方向に一致するように配置したが、
図７に示す如く、４分割フォトディテクタ６０の検出面
内で４５°回転させた状態で配置するようにしても良
い。この場合、遮光マスク９１は、戻りレーザビームＳ
Ｌ₂の横断面の中央部分であって、４分割フォトディテ
クタ６０の検出面６１の上での１つの分割軸Ｖと４５°
を成す軸Ｖ´に対応するビーム直径（図１０のＭ参照）
に沿ってビーム直径全長を長方形状に遮光するように配
置されることになる。光ピックアップ２０１の外部に設
けられた光ディスク傾き検出信号作成部７０１は、ａ−ｃ＝タンジェンシャル方向の光ディスク傾き検出信
号として光ディスク１のタンジェンシャル方向の傾き検出
信号を求めれば良い。

【００３３】また、４分割フォトディテクタ６０の代わ
りに、図１５に示す如く２分割フォトディテクタ６０₁
を分割軸Ｘが光ディスク１のタンジェンシャル方向に一
致するように配置し、光ディスク傾き検出信号作成部７
０１は、フォトディテクタＡ、Ｂの光検出出力をａ、ｂ
として、ａ−ｂ＝タンジェンシャル方向の光ディスク傾き検出信
号として光ディスク１のタンジェンシャル方向の傾き検出
信号を求めるようにしても良い。

【００３４】また、遮光マスク９１の遮光領域ＢＡはビ
ーム直径Ｍの全長を長方形状に遮光するようにしたが、
図１６（１）の符号９１₁に示す如く、ビーム直径全長
を部分楕円状に遮光するようにしたり、図１６（２）〜
（４）の符号９１₂、９１₃、９１₄に示す如く、ビー
ム直径の内の中心寄りの一部を長方形状または楕円形状
または円形等に遮光するようにしても良い。

【００３５】図１７は本発明の第３の実施の形態に係る
チルト検出機能付光ピックアップの構成図であり、図１
と同様の構成部分には同一の符号が付してある。図１７
のチルト検出機能付光ピックアップ（以下、「光ピック
アップ」という）２０２では、戻りレーザビームＳＬの
一部の戻りレーザビームＳＬ₂を導き光ディスク傾斜検
出用の４分割フォトディテクタ６０に集光させるサブ光
学系５５２の途中、ここでは集光レンズ５４の直前に、
戻りレーザビームＳＬ₂の横断面の中央部分であって、
４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の上での１つ
の分割軸Ｗに対応するビーム直径に沿ってビーム直径全
長を長方形状に遮光し、かつ、４分割フォトディテクタ
６０の検出面６１の上での他の１つの分割軸Ｖに対応す
るビーム直径に沿ってビーム直径全長を略長方形状に遮
光する遮光マスク９２が配置されている。遮光マスク９
２は光ディスク１の真上から見下ろした場合、符号Ｉに
示す如く、十字形状の遮光領域ＢＡが分割軸Ｗに対応す
るビーム直径Ｌに対し線対象に形成してあり、かつ、分
割軸Ｖに対応するビーム直径Ｍに対しても線対象に形成
してある。レーザビームＭＬが照射されている位置での
光ディスク１にラジアル方向とタンジェンシャル方向の
傾きが無い場合の遮光マスク９２の位置での戻りレーザ
ビームＳＬ₂の直径をＲとすると、遮光マスク９２の遮
光幅ｊはＲ／５〜Ｒ／２程度が望ましい。チルト検出機
能付光ピックアップ２０２の他の構成部分は図１と同様
に構成されている。

【００３６】次に図１８を参照して上記した実施の形態
の動作を説明する。なお、遮光マスク９２は遮光幅ｎ＝
２．０ｍｍ、遮光長ｍ＝６．０ｍｍとする。レーザビー
ムＭＬで記録または再生している場所での光ディスク１
がラジアル方向とタンジェンシャル方向のいずれに見て
も傾斜していないとして、戻りレーザビームＳＬ₂の横
断面の中央部分が遮光マスク９２で、４分割フォトディ
テクタ６０の分割軸Ｗに対応するビーム直径Ｌに対し線
対象でかつビーム直径全長に沿って遮光されるととも
に、４分割フォトディテクタ６０の分割軸Ｖに対応する
ビーム直径Ｍに対し線対象でかつビーム直径全長に沿っ
て遮光されると、４分割フォトディテクタ６０の検出面
６１の上で見たとき、戻りレーザビームＳＬ₂は図１８
に示す如く、Ｖ−Ｗ座標平面の第１象限〜第４象限の各
象限で原点Ｏから離れた位置に１つづつ分割された分割
スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、ＳＰ_g、ＳＰ_hとなり、Ｗ＝
−０．０２５〜＋０．０２５（ｍｍ）の範囲で、Ｖ軸に
沿った範囲の光強度分布が零近くに落ち、また、Ｖ＝−
０．０２５〜＋０．０２５（ｍｍ）の範囲で、Ｗ軸に沿
った範囲の光強度分布が零近くに落ちる。よって、４分
割フォトディテクタ６０の検出面６１の直線Ｗ＝Ｖの上
で見たとき、原点Ｏから離れた原点Ｏと対象な位置に２
つの分割スポットＳＰ_eとＳＰ_gの光強度分布のピーク
が現れる。また、４分割フォトディテクタ６０の検出面
６１の直線Ｗ＝−Ｖの上で見たとき、原点Ｏから離れた
原点Ｏと対象な位置に２つの分割スポットＳＰ _fとＳＰ
_hの光強度分布のピークが現れる（ピーク位置は図１８
の符号Ｐ_e〜Ｐ _h参照）。

【００３７】レーザビームＭＬで記録または再生してい
る場所での光ディスク１がラジアル方向とタンジェンシ
ャル方向のいずれに見ても傾斜していなければ、遮光マ
スク９２の手前側で戻りレーザビームＳＬ₂に偏りが生
じず、各分割スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、ＳＰ_g、ＳＰ_h
の光強度分布のピーク高さは等しい。よって、フォトデ
ィテクタＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの受光量はいずれも同じとな
る。

【００３８】若し、レーザビームＭＬで記録または再生
している場所での光ディスク１が対物レンズ２５の光軸
に対し、タンジェンシャル方向には傾斜していないが、
ラジアル方向に見て時計回りに或る角度だけ傾斜すると
（図５（１）、（２）参照）、各分割スポットＳＰ_e、
ＳＰ_f、ＳＰ_g、ＳＰ_hの光強度分布のピーク位置はほ
とんど変わらないが、ピーク高さはＳＰ_eとＳＰ_hがき
わだって高くなり、ＳＰ_fとＳＰ_gがきわだって低くな
る。よって、フォトディテクタＡとＤの合計受光量が減
少し、ＢとＣの合計受光量が増大する。反対に、レーザ
ビームＭＬで記録または再生している場所での光ディス
ク１が対物レンズ２５の光軸に対し、タンジェンシャル
方向には傾斜していないが、ラジアル方向に見て反時計
回りに或る角度だけ傾斜すると（図６（１）、（２）参
照）、各分割スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、ＳＰ_g、ＳＰ_h
の光強度分布のピーク位置はほとんど変わらないが、ピ
ーク高さはＳＰ_eとＳＰ_hがきわだって低くなり、ＳＰ
_fとＳＰ_gがきわだって高くなる。よって、フォトディ
テクタＡとＤの合計受光量が増大し、ＢとＣの合計受光
量が減少する。

【００３９】また、レーザビームＭＬで記録または再生
している場所での光ディスク１が対物レンズ２５の光軸
に対し、ラジアル方向には傾斜していないが、タンジェ
ンシャル方向に見て時計回りに或る角度だけ傾斜すると
（図１３（１）、（２）参照）、各分割スポットＳ
Ｐ_e、ＳＰ_f、ＳＰ_g、ＳＰ_hの光強度分布のピーク位
置は殆ど変わらないが、ピーク高さはＳＰ_eとＳＰ_fが
きわだって高くなり、ＳＰ _gとＳＰ_hがきわだって低く
なる。よって、フォトディテクタＡとＢの合計受光量が
増大し、ＣとＤの合計受光量が減少する。反対に、レー
ザビームＭＬで記録または再生している場所での光ディ
スク１が対物レンズ２５の光軸に対し、ラジアル方向に
は傾斜していないが、タンジェンシャル方向に見て反時
計回りに或る角度だけ傾斜すると（図１４（１）、
（２）参照）、各分割スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、Ｓ
Ｐ_g、ＳＰ_hの光強度分布のピーク位置は殆ど変わらな
いが、ピーク高さはＳＰ_eとＳＰ_fがきわだって低くな
り、ＳＰ_gとＳＰ_hがきわだって高くなる。よって、フ
ォトディテクタＡとＢの合計受光量が減少し、ＣとＤの
合計受光量が増大する。

【００４０】フォトディテクタＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄの光検出
出力をａ、ｂ、ｃ、ｄとすると、光ピックアップ２０２
の外部に設けられた光ディスク傾き検出信号作成部７０
２は、（ｂ＋ｃ）−（ａ＋ｄ）＝ラジアル方向の光ディスク傾
き検出信号（ａ＋ｂ）−（ｃ＋ｄ）＝タンジェンシャル方向の光デ
ィスク傾き検出信号として光ディスク１の傾き検出信号を求めることがで
き、これらラジアル方向の光ディスク傾き検出信号とタ
ンジェンシャル方向の光ディスク傾き検出信号に基づき
チルト制御部８０２がチルトアクチュエータ４０を駆動
し、ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号とタンジェ
ンシャル方向の光ディスク傾き検出信号がともに零とな
るように、対物レンズ２５を傾斜させる。ラジアル方向
の光ディスク傾き検出信号とタンジェンシャル方向の光
ディスク傾き検出信号は、記録または再生用のレーザビ
ームＭＬが照射されている位置での光ディスク１のラジ
アル方向の傾きと、タンジェンシャル方向の傾きを示す
ので、記録または再生用のレーザビームＭＬをラジアル
方向とタンジェンシャル方向ともに正しく光ディスク１
に対し垂直に維持できることになる。

【００４１】図１７の実施の形態によれば、記録または
再生用のレーザビームＭＬが光ディスク１の信号面１２
で反射した戻りレーザビームＳＬ₂を集光レンズ５４で
光ディスク傾斜検出用の４分割フォトディテクタ６０の
検出面中央に集光させ、この際、遮光マスク９２によ
り、戻りレーザビームＳＬ₂の横断面の中央部分であっ
て、４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の上での
１つの分割軸Ｗに対応するビーム直径に沿って、該ビー
ム直径に対し線対象にビーム直径全長を略長方形状に遮
光し、かつ、他の１つの分割軸Ｖに対応するビーム直径
に沿っても、該ビーム直径に対し線対象にビーム直径全
長を略長方形状に遮光したので、光ディスク１のラジア
ル方向の傾斜角に応じて、４分割フォトディテクタ６０
のＶ軸の正側と負側で、検出面６１の中心から離れた位
置に生じている分割スポットＳＰ_e及びＳＰ_hのピーク
高さと、分割スポットＳＰ_f及びＳＰ_gのピーク高さが
差動的に変化する。また、光ディスク１のタンジェンシ
ャル方向の傾斜角に応じて、４分割フォトディテクタ６
０のＷ軸の正側と負側で、検出面６１の中心から離れた
位置に生じている分割スポットＳＰ_e及びＳＰ_fのピー
ク高さと、分割スポットＳＰ_g及びＳＰ_hのピーク高さ
が差動的に変化する。よって、４分割フォトディテクタ
６０の光検出出力から作成したラジアル方向の光ディス
ク傾き検出信号とタンジェンシャル方向の光ディスク傾
き検出信号は、記録または再生用のレーザビームＭＬが
照射されている位置での光ディスク１のラジアル方向の
光ディスク１の傾きとタンジェンシャル方向の光ディス
ク１の傾きを示す。よって、これらラジアル方向の光デ
ィスク傾き検出信号とタンジェンシャル方向の光ディス
ク傾き検出信号に基づきチルト制御部８０２がチルトア
クチュエータ４０を駆動し、ラジアル方向の光ディスク
傾き検出信号とタンジェンシャル方向の光ディスク傾き
検出信号がともに零となるように対物レンズ２５を傾斜
させることで、記録または再生用のレーザビームＭＬを
ラジアル方向とタンジェンシャル方向に見て正しく光デ
ィスク１に対し垂直に維持でき、情報の記録または再生
を高精度に行うことが可能となる。

【００４２】また、４分割フォトディテクタ６０の検出
面６１の上に生じている分割スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、
ＳＰ_g、ＳＰ_hは光ディスク１のラジアル方向とタンジ
ェンシャル方向の傾斜角によってもピーク位置が殆ど移
動しない。これらの分割スポットＳＰ_e、ＳＰ_f、ＳＰ
_g、ＳＰ_hは検出面６１の中心から離れた位置に生じて
おり、４分割フォトディテクタ６０の検出面６１の中心
と集光レンズ５４の光軸に多少ずれがあっても、ラジア
ル方向の光ディスクの傾き検出とタンジェンシャル方向
の光ディスクの傾き検出を精度良く行える。従って、４
分割フォトディテクタ６０の取付け精度の要件を緩和で
きる。

【００４３】なお、図１７中の４分割フォトディテクタ
６０のＶ軸とＷ軸を各々、光ディスク１のラジアル方向
とタンジェンシャル方向に一致するように配置したが、
図７に示す如く、４分割フォトディテクタ６０の検出面
内で４５°回転させた状態で配置するようにしても良
い。この場合、遮光マスク９２は、戻りレーザビームＳ
Ｌ₂の横断面の中央部分であって、４分割フォトディテ
クタ６０の検出面６１の上での１つの分割軸Ｗと４５°
を成す軸Ｗ´に対応するビーム直径（図１７のＬ参照）
に沿ってビーム直径全長を略長方形状に遮光し、かつ、
他の１つの分割軸Ｖと４５°を成す軸Ｖ´に対応するビ
ーム直径（図１７のＭ参照）に沿ってビーム直径全長を
略長方形状に遮光するように配置されることになる。光
ピックアップ２０２の外部に設けられた光ディスク傾き
検出信号作成部７０２は、ｂ−ｄ＝ラジアル方向の光ディスク傾き検出信号ａ−ｃ＝タンジェンシャル方向の光ディスク傾き検出信
号として光ディスク１のラジアル方向の傾き検出信号とタ
ンジェンシャル方向の傾き検出信号を求めれば良い。

【００４４】また、遮光マスク９２の遮光領域ＢＡはビ
ーム直径全長を長方形状に遮光するようにしたが、図１
９（１）の符号９２₁に示す如く、ビーム直径全長を部
分楕円状に遮光するようにしたり、図１９（２）〜
（４）の符号９２₂、９２₃、９２₄に示す如く、ビー
ム直径の内の中心寄りの一部を長方形状または楕円形状
または円形等に遮光するようにしても良い。

【００４５】なお、上記した第１乃至第３の実施の形態
及びそれらの変形例では、遮光マスクはサブ光学系の
内、集光レンズの直前に配置するようにしたが、ハーフ
ミラー５０から集光レンズ５４の間の任意の位置に配置
したり、集光レンズ５４の直後など集光レンズ５４と光
ディスク傾斜検出用の分割フォトディテクタ６０の間に
配置しても良い。

【００４６】

【発明の効果】本発明によれば、記録または再生用のレ
ーザビームが光ディスク信号面で反射した戻りレーザビ
ームを光ディスクの傾斜検出用の分割光検出手段に導
き、光ディスクの傾斜を検出するようにしているので、
記録または再生している場所での光ディスクの傾斜を精
度良く検出できる。また、戻りレーザビームを導き光デ
ィスクの傾斜検出用の分割光検出手段に集光させるサブ
光学系の途中に、戻りレーザビームの横断面の中央部分
を、分割光検出手段の分割軸または分割軸と４５°ずれ
た軸に対応するビーム直径に対し線対象に遮光したの
で、分割光検出手段の検出面上に、光ディスクの傾斜に
応じてピーク高さが差動的に変化する光強度分布のピー
クが、光ディスクの傾斜検出用の分割光検出手段の検出
面の中心から離れた位置に生じる。よって、光ディスク
の傾斜検出用の分割光検出手段の検出面の中心とサブ光
学系の光軸に多少ずれがあっても、光ディスクの傾き検
出を精度良く行うことができ、光ディスクの傾斜検出用
の分割光検出手段の取付け精度の要件を緩和できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の第１の実施の形態に係るチルト検出機
能付光ピックアップの構成図である。

【図２】図１中の対物レンズ近傍の拡大図である。

【図３】図１において、光ディスク傾斜検出用の４分割
フォトディテクタ上での戻りレーザビームの分割スポッ
トの説明図である。

【図４】図１において、光ディスクにラジアル方向とタ
ンジェンシャル方向に見た傾斜が無い場合の戻りレーザ
ビームによる光ディスク傾斜検出用の４分割フォトディ
テクタ上の光強度分布の説明図である。

【図５】図１において、光ディスクにラジアル方向に見
た傾斜が有り、タンジェンシャル方向に見た傾斜が無い
場合の戻りレーザビームによる光ディスク傾斜検出用の
４分割フォトディテクタ上の光強度分布の説明図であ
る。

【図６】図１において、光ディスクにラジアル方向に見
た傾斜が有り、タンジェンシャル方向に見た傾斜が無い
場合の戻りレーザビームによる光ディスク傾斜検出用の
４分割フォトディテクタ上の光強度分布の説明図であ
る。

【図７】図１中の光ディスク傾斜検出用の４分割フォト
ディテクタの配置を変えた例を示す説明図である。

【図８】図１中の光ディスク傾斜検出用の４分割フォト
ディテクタの代わりに用いる２分割フォトディテクタの
説明図である。

【図９】図１中の遮光マスクの変形例を示す説明図であ
る。

【図１０】本発明の第２の実施の形態に係るチルト検出
機能付光ピックアップの構成図である。

【図１１】図１０において、光ディスク傾斜検出用の４
分割フォトディテクタ上での戻りレーザビームの分割ス
ポットの説明図である。

【図１２】図１０において、光ディスクにラジアル方向
とタンジェンシャル方向に見た傾斜が無い場合の戻りレ
ーザビームによる光ディスク傾斜検出用の４分割フォト
ディテクタ上の光強度分布の説明図である。

【図１３】図１において、光ディスクにラジアル方向に
見た傾斜が無く、タンジェンシャル方向に見た傾斜が有
る場合の戻りレーザビームによる光ディスク傾斜検出用
の４分割フォトディテクタ上の光強度分布の説明図であ
る。

【図１４】図１において、光ディスクにラジアル方向に
見た傾斜が無く、タンジェンシャル方向に見た傾斜が有
る場合の戻りレーザビームによる光ディスク傾斜検出用
の４分割フォトディテクタ上の光強度分布の説明図であ
る。

【図１５】図１０中の光ディスク傾斜検出用の４分割フ
ォトディテクタの代わりに用いる２分割フォトディテク
タの説明図である。

【図１６】図１０中の遮光マスクの変形例を示す説明図
である。

【図１７】本発明の第３の実施の形態に係るチルト検出
機能付光ピックアップの構成図である。

【図１８】図１７において、光ディスク傾斜検出用の４
分割フォトディテクタ上での戻りレーザビームの分割ス
ポットの説明図である。

【図１９】図１７中の遮光マスクの変形例を示す説明図
である。

【符号の説明】

１光ディスク１２信号面２００、２０１、２０２チルト検出機能付光ピックア
ップ２１レーザ発光ダイオード２５対物レンズ２７メイン光学系４０チルトアク
チュエータ２３、５０ハーフミラー５４集光レンズ５５０、５５１、５５２サブ光学系６０４分割フォトディテクタ６０₁ ２分割フ
ォトディテクタ６１検出面７００、７０１、７０２光ディスク傾き検出信号作成
部８００、８０１、８０２チルト制御部９０、９０₁〜９０₄、９１、９１₁〜９１₄、９２、
９２₁〜９２₄ 遮光マスクＭＬレーザビームＳＬ、ＳＬ₁、ＳＬ₂ 戻りレーザビームＢＡ遮光領域

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスクの記録または再生用のレーザ
ビームを発生させるレーザビーム発生手段と、レーザビ
ームを導きながら対物レンズで光ディスクの信号面に合
焦させるメイン光学系と、を含む光ピックアップにおい
て、光ディスクの記録または再生用のレーザビームが光ディ
スクの信号面で反射した戻りレーザビームを導きながら
集光レンズで戻りレーザビームの軸に対し垂直に配置さ
れた光ディスク傾き検出用の分割光検出手段の検出面中
央に集光させるサブ光学系を設け、光ディスク傾き検出用の分割光検出手段は１つの分割軸
による２分割または直交する２つの分割軸による４分割
とし、サブ光学系の途中に、戻りレーザビームの横断面の中央
部分を、分割光検出手段の検出面上の或る１つの分割軸
に対応するビーム直径に対し線対象に遮光手段で遮光す
るようにしたこと、を特徴とするチルト検出機能付光ピックアップ。
【請求項２】遮光手段はサブ光学系の内、集光レンズ
の前側に設置したこと、を特徴とする請求項１記載のチルト検出機能付光ピック
アップ。
【請求項３】遮光手段は、戻りレーザビームの横断面
の中央部分であって、分割光検出手段の検出面上の前記
或る１つの分割軸に対応するビーム直径に沿って略長方
形状に遮光するようにしたこと、を特徴とする請求項１または２記載のチルト検出機能付
光ピックアップ。
【請求項４】光ディスクの記録または再生用のレーザ
ビームを発生させるメインレーザビーム発生手段と、レ
ーザビームを導きながら対物レンズで光ディスクの信号
面に合焦させるメイン光学系と、を含む光ピックアップ
において、光ディスクの記録または再生用のレーザビームが光ディ
スクの信号面で反射した戻りレーザビームを導きながら
集光レンズで戻りレーザビームの軸に対し垂直に配置さ
れた光ディスク傾き検出用の分割光検出手段の検出面中
央に集光させるサブ光学系を設け、光ディスク傾き検出用の分割光検出手段は直交する２つ
の分割軸による４分割とし、サブ光学系の途中に、戻りレーザビームの横断面の中央
部分を、分割光検出手段の検出面上の一方の分割軸に対
応するビーム直径に対し線対象に遮光するとともに、分
割光検出手段の検出面上の他方の分割軸に対応するビー
ム直径に対しても線対象に遮光する遮光手段を設けたこ
と、を特徴とするチルト検出機能付光ピックアップ。
【請求項５】遮光手段はサブ光学系の内、集光レンズ
の前側に設置したこと、を特徴とする請求項４記載のチルト検出機能付光ピック
アップ。
【請求項６】遮光手段は、戻りレーザビームの横断面
の中央部分であって、分割光検出手段の検出面上の前記
一方の分割軸に対応するビーム直径に沿って略長方形状
に遮光するとともに、分割光検出手段の検出面上の前記
他方の分割軸に対応するビーム直径に沿っても略長方形
状に遮光するようにしたこと、を特徴とする請求項４または５記載のチルト検出機能付
光ピックアップ。