JPH0628719A - 現像処理装置 - Google Patents
現像処理装置Info
- Publication number
- JPH0628719A JPH0628719A JP20451992A JP20451992A JPH0628719A JP H0628719 A JPH0628719 A JP H0628719A JP 20451992 A JP20451992 A JP 20451992A JP 20451992 A JP20451992 A JP 20451992A JP H0628719 A JPH0628719 A JP H0628719A
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- Japan
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- diffracted light
- detector
- convex lens
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 異なるトラックピッチの光ディスク原盤でも
適確に回折光比を検出すると共に、原盤の偏芯に基づく
回折光のブレによる検出誤差を除去する。 【構成】 情報記録媒体を現像処理するための現像処理
装置であって、上記情報記録媒体の情報溝にレーザ光を
照射するところのレーザと、上記レーザ光の照射された
情報溝からの複数次数の回折光の強度を検出するディテ
クターと、上記回折光を常に上記ディテクター上に集光
させる集光部とを具備する構成となっている。
適確に回折光比を検出すると共に、原盤の偏芯に基づく
回折光のブレによる検出誤差を除去する。 【構成】 情報記録媒体を現像処理するための現像処理
装置であって、上記情報記録媒体の情報溝にレーザ光を
照射するところのレーザと、上記レーザ光の照射された
情報溝からの複数次数の回折光の強度を検出するディテ
クターと、上記回折光を常に上記ディテクター上に集光
させる集光部とを具備する構成となっている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ディスクの原盤の製
作に用いられる現像処理装置に関し、特に、トラックピ
ッチの異なる光ディスク原盤であっても適確に回折光比
を検出することができる現像処理装置に関する。
作に用いられる現像処理装置に関し、特に、トラックピ
ッチの異なる光ディスク原盤であっても適確に回折光比
を検出することができる現像処理装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、光ディスクを製作するために用
いられる原盤は、研摩したガラス基板の表面にポジ型の
フォトレジスト膜を設け、このフォトレジスト膜を原盤
に記録すべき情報に応じて断続的に照射されるレーザ光
により前記トラックに対応して不連続的に露光処理し、
フォトレジスト膜の感光した部分は現像液によって溶解
除去し、その跡にピットと称される凹部の列が同心また
は螺旋状に形成される。光ディスクは、かかるピットを
有する原盤から、連続的な音溝を有する従来のオーディ
オディスクと同様に、複製成形用の型（スタンパ）を製
作し、射出成形等の方法を用いて大量生産される。上記
現像工程で形成されるピットの寸法はディスク再生時の
性能に密接に関連する寸法である。従って、その現像工
程においては、このピット寸法（深さおよび幅）が所定
範囲内の寸法となるようにその現像終点を制御しなけれ
ばならないものであった。
いられる原盤は、研摩したガラス基板の表面にポジ型の
フォトレジスト膜を設け、このフォトレジスト膜を原盤
に記録すべき情報に応じて断続的に照射されるレーザ光
により前記トラックに対応して不連続的に露光処理し、
フォトレジスト膜の感光した部分は現像液によって溶解
除去し、その跡にピットと称される凹部の列が同心また
は螺旋状に形成される。光ディスクは、かかるピットを
有する原盤から、連続的な音溝を有する従来のオーディ
オディスクと同様に、複製成形用の型（スタンパ）を製
作し、射出成形等の方法を用いて大量生産される。上記
現像工程で形成されるピットの寸法はディスク再生時の
性能に密接に関連する寸法である。従って、その現像工
程においては、このピット寸法（深さおよび幅）が所定
範囲内の寸法となるようにその現像終点を制御しなけれ
ばならないものであった。
【０００３】そこで、図３に示すごとく、原盤２をター
ンテーブル１によって回転させながらフォトレジスト膜
３面上に現像液７をノズル６よりスプレー状に噴出させ
ることにより現像を進行させ、ノズルより遠く離れた位
置で現像中のピットの寸法をレーザ光の回折現象等を利
用した光学的手法を用いてモニタし、ピット寸法が所定
の値になった時現像処理を停止するよう構成されたフォ
トレジスト現像方法が提案されている。すなわち、図３
において、現像途中に光ディスク原盤２の下方よりＨｅ
−Ｎｅレーザ４よりのレーザ光を照射すると、そのレー
ザ光は、フォトレジスト３上に形成された情報溝によっ
て回折され０，１，２……次光に分かれる。この０次
光、１次光、２次光の回折光強度Ｉ0 、Ｉ1 、Ｉ2 をデ
ィテクター５によって検出して求めた回折光比Ｉ1/Ｉ
0 、Ｉ2/Ｉ1 は、それぞれ近似的に溝深さＤおよび溝幅
Ｗと図３右の（１）、（２）、および（３）式の如き関
係をもつ。この値により現像中の溝幅・溝深さをモニタ
ーすることができる。現像装置ではこの原理を使い回折
光をモニターしながら現像して所定の溝幅・溝深さにな
った所（現像終点）で現像を停止させる様にしている。
ンテーブル１によって回転させながらフォトレジスト膜
３面上に現像液７をノズル６よりスプレー状に噴出させ
ることにより現像を進行させ、ノズルより遠く離れた位
置で現像中のピットの寸法をレーザ光の回折現象等を利
用した光学的手法を用いてモニタし、ピット寸法が所定
の値になった時現像処理を停止するよう構成されたフォ
トレジスト現像方法が提案されている。すなわち、図３
において、現像途中に光ディスク原盤２の下方よりＨｅ
−Ｎｅレーザ４よりのレーザ光を照射すると、そのレー
ザ光は、フォトレジスト３上に形成された情報溝によっ
て回折され０，１，２……次光に分かれる。この０次
光、１次光、２次光の回折光強度Ｉ0 、Ｉ1 、Ｉ2 をデ
ィテクター５によって検出して求めた回折光比Ｉ1/Ｉ
0 、Ｉ2/Ｉ1 は、それぞれ近似的に溝深さＤおよび溝幅
Ｗと図３右の（１）、（２）、および（３）式の如き関
係をもつ。この値により現像中の溝幅・溝深さをモニタ
ーすることができる。現像装置ではこの原理を使い回折
光をモニターしながら現像して所定の溝幅・溝深さにな
った所（現像終点）で現像を停止させる様にしている。
【０００４】通常、入射角は光ディスク原盤に対し垂直
（α＝０）で、また光ディスクのトラックピッチは１．
６μｍであり、光源としてＨｅ−Ｎｅレーザ（λ＝０．
６３２８μｍ）を使うので０次回折光の回折角は０°、
１次回折光は２３．３°、２次回折光は５２．３°とな
り、この位置にディテクターを固定して溝幅・溝深さの
モニターを行っていた。上述の如き回折光を使った現像
終点決定に関する技術は、特開昭６１−８７５１号公
報、特開昭５８−１６２９５３号公報等に開示されてい
る。
（α＝０）で、また光ディスクのトラックピッチは１．
６μｍであり、光源としてＨｅ−Ｎｅレーザ（λ＝０．
６３２８μｍ）を使うので０次回折光の回折角は０°、
１次回折光は２３．３°、２次回折光は５２．３°とな
り、この位置にディテクターを固定して溝幅・溝深さの
モニターを行っていた。上述の如き回折光を使った現像
終点決定に関する技術は、特開昭６１−８７５１号公
報、特開昭５８−１６２９５３号公報等に開示されてい
る。
【０００５】しかしながら、光ディスクのトラックピッ
チは従来１．６μｍピッチが主流であったが、高密度化
に伴い、１．５μｍ、１．４μｍピッチの光ディスクも
一般化してきた。また、将来的には、盤内でピッチが変
化するバリアブルトラックピッチの光ディスクもあらわ
れてくる。この様にトラックピッチが変化すると、図４
（ａ）、（ｂ）に示す様に回折角が変化し、従来装置の
様にディテクターが固定の回折光検出装置ではディテク
ターから回折光がはずれてしまうという問題点があっ
た。
チは従来１．６μｍピッチが主流であったが、高密度化
に伴い、１．５μｍ、１．４μｍピッチの光ディスクも
一般化してきた。また、将来的には、盤内でピッチが変
化するバリアブルトラックピッチの光ディスクもあらわ
れてくる。この様にトラックピッチが変化すると、図４
（ａ）、（ｂ）に示す様に回折角が変化し、従来装置の
様にディテクターが固定の回折光検出装置ではディテク
ターから回折光がはずれてしまうという問題点があっ
た。
【０００６】また、現像処理装置では光ディスク原盤２
をターンテーブル１に載せて回転させ、現像液を滴下し
ながら回折光比を検出しなければならない。通常、光デ
ィスク原盤２上のグルーブは、露光時のターンテーブル
と原盤の偏芯および現像時の原盤２をターンテーブル１
へセットした時の偏芯によって偏芯したまま回転する。
この偏芯によって回折光は円周方向に変動（ブレ）す
る。ここで、光ディスク原盤とディテクターの垂直距離
を１４ｃｍとした場合のブレ量を図５（ａ）、（ｂ）、
（ｃ）に示す。ブレ量は１次より２次回折光の方が大き
く（ディテクターまでの距離に比例する）、偏芯に比例
して大きくなる。ブレが大きいとディテクターからはず
れてしまうばかりでなく、ディテクターからはずれない
場合でもディテクターに当たる位置が変るので検出誤差
が発生する欠点があった。
をターンテーブル１に載せて回転させ、現像液を滴下し
ながら回折光比を検出しなければならない。通常、光デ
ィスク原盤２上のグルーブは、露光時のターンテーブル
と原盤の偏芯および現像時の原盤２をターンテーブル１
へセットした時の偏芯によって偏芯したまま回転する。
この偏芯によって回折光は円周方向に変動（ブレ）す
る。ここで、光ディスク原盤とディテクターの垂直距離
を１４ｃｍとした場合のブレ量を図５（ａ）、（ｂ）、
（ｃ）に示す。ブレ量は１次より２次回折光の方が大き
く（ディテクターまでの距離に比例する）、偏芯に比例
して大きくなる。ブレが大きいとディテクターからはず
れてしまうばかりでなく、ディテクターからはずれない
場合でもディテクターに当たる位置が変るので検出誤差
が発生する欠点があった。
【０００７】
【発明の目的】本発明は、上述した如き従来の問題点を
解決するためになされたもので、その目的は、異なるト
ラックピッチの光ディスク原盤でも適確に回折光比を検
出することが出来ると共に、原盤の偏芯に基づく回折光
のブレによる検出誤差を除去することができる現像処理
装置を提供することである。
解決するためになされたもので、その目的は、異なるト
ラックピッチの光ディスク原盤でも適確に回折光比を検
出することが出来ると共に、原盤の偏芯に基づく回折光
のブレによる検出誤差を除去することができる現像処理
装置を提供することである。
【０００８】
【発明の構成】上記目的を達成するため、本発明の特徴
は、情報記録媒体を現像処理するための現像処理装置に
おいて、上記情報記録媒体の情報溝にレーザ光を照射す
るところのレーザ光照射手段と、上記レーザ光の照射さ
れた情報溝からの複数次数の回折光の強度を検出する強
度検出手段と、上記回折光を常に上記強度検出手段上に
集光させる集光手段とを具備したことである。
は、情報記録媒体を現像処理するための現像処理装置に
おいて、上記情報記録媒体の情報溝にレーザ光を照射す
るところのレーザ光照射手段と、上記レーザ光の照射さ
れた情報溝からの複数次数の回折光の強度を検出する強
度検出手段と、上記回折光を常に上記強度検出手段上に
集光させる集光手段とを具備したことである。
【０００９】上述の如き構成によれば、トラックピッチ
の変化あるいは偏芯によって回折角が変化しても、常に
回折光がディテクター上に集光されるため、異なるトラ
ックピッチの光ディスク原盤でも適確に回折光比を検出
することができると共に、原盤の偏芯に基づく回折光の
ブレによる検出誤差をも除去することができる。
の変化あるいは偏芯によって回折角が変化しても、常に
回折光がディテクター上に集光されるため、異なるトラ
ックピッチの光ディスク原盤でも適確に回折光比を検出
することができると共に、原盤の偏芯に基づく回折光の
ブレによる検出誤差をも除去することができる。
【００１０】以下、本発明の一実施例を図面に基づいて
説明する。図１は、本発明を実施した現像処理装置の概
略構成図である。図１に示す如く、本発明は、トラック
ピッチの異なる光ディスク原盤または偏芯を有する光デ
ィスク原盤でも回折光比を適確に検出できる様にするた
めに、トラックピッチの変化あるいは偏芯によって回折
角が変化しても、常に回折光がディテクターからはずれ
ない様に回折光をディテクター上に集光させる手段とし
ての凸レンズ８をフォトレジスト膜３とディテクター５
との間に付加した構成となっている。その他の構成は従
来と同様となっている。
説明する。図１は、本発明を実施した現像処理装置の概
略構成図である。図１に示す如く、本発明は、トラック
ピッチの異なる光ディスク原盤または偏芯を有する光デ
ィスク原盤でも回折光比を適確に検出できる様にするた
めに、トラックピッチの変化あるいは偏芯によって回折
角が変化しても、常に回折光がディテクターからはずれ
ない様に回折光をディテクター上に集光させる手段とし
ての凸レンズ８をフォトレジスト膜３とディテクター５
との間に付加した構成となっている。その他の構成は従
来と同様となっている。
【００１１】すなわち、図１（ａ）に示す如く、原盤２
をターンテーブル１によって回転させながらフォトレジ
スト膜３面上に現像液７をノズル６よりスプレー状に噴
出させることにより現像を進行させながら、原盤２の下
方よりＨｅ−Ｎｅレーザ４よりのレーザ光を照射し、フ
ォトレジスト膜３を通過して回折した回折光を上記凸レ
ンズ８によってディテクター５上に集光させ、回折光の
強度を検出してピット寸法の検出を行う様にしているも
のである。そして、上記凸レンズ８は、トラックピッチ
の変化あるいは偏芯によって回折角が変化しても、常に
ディテクター５上に回折光が入射する様に配置されてい
るものである。
をターンテーブル１によって回転させながらフォトレジ
スト膜３面上に現像液７をノズル６よりスプレー状に噴
出させることにより現像を進行させながら、原盤２の下
方よりＨｅ−Ｎｅレーザ４よりのレーザ光を照射し、フ
ォトレジスト膜３を通過して回折した回折光を上記凸レ
ンズ８によってディテクター５上に集光させ、回折光の
強度を検出してピット寸法の検出を行う様にしているも
のである。そして、上記凸レンズ８は、トラックピッチ
の変化あるいは偏芯によって回折角が変化しても、常に
ディテクター５上に回折光が入射する様に配置されてい
るものである。
【００１２】ここで、凸レンズ８の焦点距離ｆは、図１
の下方に示すように、レンズ８と原盤２上のレーザ光の
入射点の距離をａ、レンズ８からディテクター５までの
距離をｂとすると１／（１／ａ＋１／ｂ）となる。また
必要なレンズの開口はトラックピッチによる回折角の変
化量の最大値をθとするとａ／２×tan(θ／２）とな
る。すなわち、ピッチが１．４〜１．６μｍまで変化す
る時の２次回折光を検出するためにはａ＝１００ｍｍ、
ｂ＝２０ｍｍとするとｆ＝１６．７ｍｍ、レンズ開口１
０．９ｍｍ以上のレンズを用意すれば良いことになる。
また、偏芯によるブレ量は５ｍｍ以下なので、このレン
ズによりブレをも除去できるわけである。そして、上記
ディテクター５により検出された値に基づいて現像終点
の制御が行われるわけである。
の下方に示すように、レンズ８と原盤２上のレーザ光の
入射点の距離をａ、レンズ８からディテクター５までの
距離をｂとすると１／（１／ａ＋１／ｂ）となる。また
必要なレンズの開口はトラックピッチによる回折角の変
化量の最大値をθとするとａ／２×tan(θ／２）とな
る。すなわち、ピッチが１．４〜１．６μｍまで変化す
る時の２次回折光を検出するためにはａ＝１００ｍｍ、
ｂ＝２０ｍｍとするとｆ＝１６．７ｍｍ、レンズ開口１
０．９ｍｍ以上のレンズを用意すれば良いことになる。
また、偏芯によるブレ量は５ｍｍ以下なので、このレン
ズによりブレをも除去できるわけである。そして、上記
ディテクター５により検出された値に基づいて現像終点
の制御が行われるわけである。
【００１３】次に、図１（ｂ）を参照して、上記第１実
施例の変形例について説明する。上記第１実施例におい
て、回折光をレンズで集光すると集光しない時に比べデ
ィテクター上でのスポットが小さくなり、そのため、デ
ィテクターに当たる位置の微小な変動で検出される回折
光量が大きく変化する。これを除去するため、図１
（ｂ）に示す如くこの変形例では、ディテクター５と凸
レンズ８の間におけるディテクター５の前に回折光を散
乱透過させる散乱板９を配置している。これにより、ス
ポットの位置による回折光量の変動が小さくなり、検出
精度がより向上するものである。他の構成は、上記第１
実施例と同様であるので詳しい説明は省略する。
施例の変形例について説明する。上記第１実施例におい
て、回折光をレンズで集光すると集光しない時に比べデ
ィテクター上でのスポットが小さくなり、そのため、デ
ィテクターに当たる位置の微小な変動で検出される回折
光量が大きく変化する。これを除去するため、図１
（ｂ）に示す如くこの変形例では、ディテクター５と凸
レンズ８の間におけるディテクター５の前に回折光を散
乱透過させる散乱板９を配置している。これにより、ス
ポットの位置による回折光量の変動が小さくなり、検出
精度がより向上するものである。他の構成は、上記第１
実施例と同様であるので詳しい説明は省略する。
【００１４】次に、図２を参照して、本発明に従う現像
処理装置の第２実施例について説明する。図２に示す如
く、この第２実施例では、集光手段として第１実施例の
凸レンズ８のかわりに、光ディスク原盤２上のレーザ照
射点Ｆ１とディテクター５の中心点Ｆ２を焦点とし、常
に回折光をディテクター５上に集光させる楕円面反射鏡
１０を配設した構成が特徴的である。従って、この第２
実施例によれば、トラックピッチの変化あるいは偏芯に
よって回折角が変化しても、常にディテクター５上に回
折光が入射するものである。また、この第２実施例によ
れば、小さな空間で回折光を効率良く反射できるため、
回折光量検出系が小型化できるものである。また、この
第２実施例においても、図１（ｂ）の変形例に示す如き
散乱板９をディテクター５の前に設ければ、さらに検出
精度が向上するものである。また、図２中における点線
は楕円面反射鏡を構成する楕円を示すものである。
処理装置の第２実施例について説明する。図２に示す如
く、この第２実施例では、集光手段として第１実施例の
凸レンズ８のかわりに、光ディスク原盤２上のレーザ照
射点Ｆ１とディテクター５の中心点Ｆ２を焦点とし、常
に回折光をディテクター５上に集光させる楕円面反射鏡
１０を配設した構成が特徴的である。従って、この第２
実施例によれば、トラックピッチの変化あるいは偏芯に
よって回折角が変化しても、常にディテクター５上に回
折光が入射するものである。また、この第２実施例によ
れば、小さな空間で回折光を効率良く反射できるため、
回折光量検出系が小型化できるものである。また、この
第２実施例においても、図１（ｂ）の変形例に示す如き
散乱板９をディテクター５の前に設ければ、さらに検出
精度が向上するものである。また、図２中における点線
は楕円面反射鏡を構成する楕円を示すものである。
【００１５】
【発明の効果】以上説明した様に、本発明では、常に、
回折光をディテクター上に集光させる集光手段を有する
構成となっているため、異なるトラックピッチの光ディ
スク原盤でも適確に回折光比を検出することができると
共に、原盤の偏芯に基づく回折光のブレによる検出誤差
を除去することができるものである。
回折光をディテクター上に集光させる集光手段を有する
構成となっているため、異なるトラックピッチの光ディ
スク原盤でも適確に回折光比を検出することができると
共に、原盤の偏芯に基づく回折光のブレによる検出誤差
を除去することができるものである。
【図１】(a) 及び(b) は本発明を実施した現像処理装置
の概略構成図およびその変形例の概略構成図。
の概略構成図およびその変形例の概略構成図。
【図２】本発明に従う現像処理装置の第２実施例の概略
構成図。
構成図。
【図３】従来の現像処理装置の概略構成図。
【図４】(a) 及び(b) はトラックピッチの変化に対する
回折角の変化を説明するための説明図。
回折角の変化を説明するための説明図。
【図５】(a) (b) 及び(c) は光ディスク原盤の偏芯に対
する回折光の変動を説明するための説明図である。
する回折光の変動を説明するための説明図である。
１ ターンテーブル、 ２ 光ディ
スク原盤、３ フォトレジスト膜、
４ Ｈｅ−Ｎｅレーザ、５ ディテクター、
６ ノズル、７ 現像液、
８ 凸レンズ、９ 散乱板、
１０ 楕円面反射鏡、
スク原盤、３ フォトレジスト膜、
４ Ｈｅ−Ｎｅレーザ、５ ディテクター、
６ ノズル、７ 現像液、
８ 凸レンズ、９ 散乱板、
１０ 楕円面反射鏡、
Claims (4)
- 【請求項１】 情報記録媒体を現像処理するための現像
処理装置であって、上記情報記録媒体の情報溝にレーザ
光を照射するためのレーザ光照射手段と、上記レーザ光
の照射された情報溝からの複数次数の回折光の強度を検
出する強度検出手段と、上記回折光を常に上記強度検出
手段上に集光させる集光手段とを具備したことを特徴と
する現像処理装置。 - 【請求項２】 上記集光手段が、凸状レンズからなり、
その凸状レンズの焦点距離が、前記情報溝から凸状レン
ズまでの距離をａ、凸状レンズから強度検出手段までの
距離をｂとすると、１／（１／ａ＋１／ｂ）であること
を特徴とする請求項１記載の現像処理装置。 - 【請求項３】 上記集光手段が、楕円面反射鏡からな
り、その楕円面が、前記情報溝と強度検出手段中心の２
点を焦点とする楕円面であることを特徴とする請求項１
記載の現像処理装置。 - 【請求項４】 上記現像処理装置が、さらに、前記強度
検出手段へ、上記集光手段によって集光された回折光ビ
ームを散乱透過させる手段を具備したことを特徴とする
請求項１記載の現像処理装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20451992A JPH0628719A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 現像処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20451992A JPH0628719A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 現像処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0628719A true JPH0628719A (ja) | 1994-02-04 |
Family
ID=16491879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20451992A Pending JPH0628719A (ja) | 1992-07-08 | 1992-07-08 | 現像処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0628719A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8034743B2 (en) | 2007-06-27 | 2011-10-11 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for production of an exhaust gas purification catalyst support and exhaust gas purification catalyst support |
-
1992
- 1992-07-08 JP JP20451992A patent/JPH0628719A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8034743B2 (en) | 2007-06-27 | 2011-10-11 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Method for production of an exhaust gas purification catalyst support and exhaust gas purification catalyst support |
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