JPH06267809A - ウェハid読み取り機能付きマルチチャンバ装置 - Google Patents

ウェハid読み取り機能付きマルチチャンバ装置

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JPH06267809A
JPH06267809A JP5696393A JP5696393A JPH06267809A JP H06267809 A JPH06267809 A JP H06267809A JP 5696393 A JP5696393 A JP 5696393A JP 5696393 A JP5696393 A JP 5696393A JP H06267809 A JPH06267809 A JP H06267809A
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wafer
chamber
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process chambers
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JP5696393A
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Katsuhiko Ishikawa
勝彦 石川
Yoshikazu Tanabe
義和 田辺
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被処理ウェハの処理条件の設定および進行状
況の管理を自動的に行うことができるウェハID読み取
り機能付きマルチチャンバ装置を提供する。 【構成】 複数のプロセスチャンバ内に順にウェハを挿
入してプロセス処理を一貫して行う半導体製造工程に用
いられ、ドッキングチャンバを有しないマルチチャンバ
装置とされ、ウェハ搬送チャンバ1に、4台のプロセス
チャンバ2〜5、ウェハローダチャンバ6およびウェハ
アンローダチャンバ7が接続され、これらは管理システ
ム8により制御される構成となっている。そして、プロ
セスチャンバ2〜5、ウェハローダチャンバ6およびウ
ェハアンローダチャンバ7には、それぞれウェハ9のウ
ェハIDを読み取るウェハID読み取り部2a〜7aな
どが備えられ、ウェハ9上の特定位置に刻印されたウェ
ハIDがウェハ9の搬入時と搬出時に光学的に読み取ら
れるようになっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造工程に用い
られるマルチチャンバ装置に関し、特にウェハ搬送チャ
ンバに、複数のプロセスチャンバ、ウェハローダチャン
バおよびウェハアンローダチャンバが接続される場合
に、被処理ウェハの処理条件の設定および進行状況の管
理の自動化が可能とされるウェハID(Identificatio
n:識別コード)読み取り機能付きマルチチャンバ装置
に適用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、LSIの高集積化とデバイスの微
細化の進行に併せて、半導体製造装置にも新しい観点か
らの技術が要求されるようになってきており、複数工程
にわたるマルチチャンバ装置もその一つである。このマ
ルチチャンバ装置は、以下に示す理由により、今後の半
導体製造装置の発展形態の1つとして、1980年代の
後半から国内外の半導体装置メーカーにより提案、製作
されている。
【0003】(1).マルチチャンバシステムは、真空ある
いは不活性ガス雰囲気でのウェハの一貫処理ができるの
で、各層を形成するときに外界からの汚染などを防ぎ、
品質向上を図ることができ、さらに品質の安定化を図る
ことも可能である。
【0004】(2).マルチチャンバシステム内での一貫処
理であるため、ウェハ搬送に要する時間の削減ができ、
全体としての工程短縮を図ることができる。
【0005】(3).マルチチャンバにおいては、新プロセ
スに対応するために、マルチチャンバを構成している1
つのプロセスチャンバだけを新規に製作し、ウェハ搬送
ロボット部、ロードロック室などは従来のものをそのま
ま利用できるので、半導体製造のための装置費用を削減
することができる。
【0006】次に、マルチチャンバ装置の概要を説明す
ると、たとえばこれまで製作されてきたマルチチャンバ
装置は、ウェハ搬送装置に複数のプロセス処理装置を接
続させて、一部のプロセス処理の一貫処理を目的とした
ものである。
【0007】そして、マルチチャンバの基本構成は、基
幹となるウェハ搬送チャンバとその周辺に接続されたプ
ロセスチャンバ、ロードロックチャンバであり、このよ
うなマルチチャンバ装置を利用することによって、たと
えば薄膜形成であれば前処理から薄膜デポまでの一貫し
た連続処理を実行することができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記のよう
な従来技術においては、下記のような問題がある。
【0009】(1).半導体製造において、プロセス処理を
実行する場合に、プロセス処理装置に対して処理条件を
入力する必要があり、現状のマルチチャンバ装置におい
ては、作業者が被処理ウェハのIDを確認して装置へ処
理条件を入力する必要がある。つまり、従来のマルチチ
ャンバ装置では、ウェハの搬送は自動化されているもの
の、プロセス処理における条件入力に関しては自動化さ
れておらず、従って処理条件待ちの無駄な時間が発生す
る。
【0010】(2).人手による装置条件入力では、入力ミ
スが発生する可能性がある。そのために、入力ミスを防
ぐための対策が必要である。
【0011】(3).マルチチャンバ装置で処理条件を作業
者が入力する場合、次の作業が正しく実行されるよう
に、処理終了後にこの内容を記録しておく必要がある。
しかし、人手による記録作業はミスを生じ易く、その記
録ミスのために次の工程で被処理ウェハが正しく処理さ
れない可能性が生じる。
【0012】(4).マルチチャンバ装置がドッキングチャ
ンバで複数台数接続される場合、作業者が複数の被処理
ウェハの処理条件を確認して、該当する条件を正しく入
力することは一般に困難である。
【0013】以上のように、従来のマルチチャンバ装置
においては、被処理ウェハの処理条件における設定入力
の問題、自動化への要求などに対して良好に適用できな
いという問題がある。
【0014】そこで、本発明の目的は、ウェハID読み
取り機能によって被処理ウェハの処理条件の設定および
進行状況の管理を自動的に行うことができるウェハID
読み取り機能付きマルチチャンバ装置を提供することに
ある。
【0015】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【0016】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0017】すなわち、本発明のウェハID読み取り機
能付きマルチチャンバ装置は、ウェハ搬送チャンバに、
複数のプロセスチャンバ、ウェハローダチャンバおよび
ウェハアンローダチャンバが接続され、これらの複数の
プロセスチャンバ内に順にウェハを挿入してプロセス処
理を一貫して行う半導体製造工程に用いられるマルチチ
ャンバ装置であって、複数のプロセスチャンバ、ウェハ
ローダチャンバおよびウェハアンローダチャンバにウェ
ハID読み取り部を設けるものである。
【0018】この場合に、前記ウェハID読み取り部
を、複数のプロセスチャンバ、ウェハローダチャンバお
よびウェハアンローダチャンバが接続されるウェハ搬送
チャンバ側に設けるようにしたものである。
【0019】また、前記ウェハID読み取り部をウェハ
の搬送経路の上部に配設し、ウェハ上のウェハIDを光
学的に読み取り、この読み取り情報をウェハ処理情報フ
ァイルの内容と照合して、プロセスチャンバの各々が実
行すべきプロセス内容をプロセスチャンバに伝達するよ
うにしたものである。
【0020】さらに、前記ウェハ処理情報ファイルに保
存されているウェハ処理条件をウェハIDによって把握
し、ウェハの進行状況と処理内容とをウェハIDで検索
するようにしたものである。
【0021】さらに、前記ウェハ処理情報ファイルのウ
ェハの進行状況の内容を、ウェハIDで更新するように
したものである。
【0022】
【作用】前記したウェハID読み取り機能付きマルチチ
ャンバ装置によれば、ウェハID読み取り部が、複数の
プロセスチャンバ、ウェハローダチャンバおよびウェハ
アンローダチャンバ側、またはウェハ搬送チャンバ側に
設けられることにより、ウェハID読み取り部により読
み取られたウェハIDから各プロセスチャンバでの処理
条件を設定することができ、かつ処理後にこのウェハの
進行状況を更新することができる。
【0023】たとえば、ウェハ処理情報ファイルとし
て、被処理ウェハの処理条件を有するファイルとウェハ
の進行状況を管理するファイルとを持つ上位のシステム
と連動させ、処理条件の設定および進行状況の更新を自
動的に実行させるアルゴリズムにより可能となる。
【0024】すなわち、マルチチャンバ装置の各プロセ
スチャンバにおいては、ウェハがウェハ搬送チャンバか
らプロセスチャンバへ搬送されるときに、そのウェハI
Dを読み取り、その読み取ったウェハIDを用いて上位
のシステムから処理条件を収集してプロセス処理条件を
自動的に決め、またウェハを処理した後では、その正常
終了情報を上位のシステムに返してウェハの進行状況を
自動的に更新することができる。
【0025】これにより、被処理ウェハの処理条件の設
定を自動的に行うことができ、さらにウェハの進行状況
の管理も自動化が可能となり、その上ウェハが次の処理
のプロセスチャンバに送られたときに、その処理工程で
の正常処理の実行を可能とすることができる。
【0026】
【実施例】図1は本発明の一実施例であるウェハID読
み取り機能付きマルチチャンバ装置を示す概略構成図、
図2は本実施例のウェハID読み取り機能付きマルチチ
ャンバ装置のウェハID読み取り部を詳細に示す断面
図、図3は本実施例における処理手順を示すフロー図で
ある。
【0027】まず、図1により本実施例のウェハID読
み取り機能付きマルチチャンバ装置の構成を説明する。
【0028】本実施例のウェハID読み取り機能付きマ
ルチチャンバ装置は、たとえば複数のプロセスチャンバ
内に順にウェハを挿入してプロセス処理を一貫して行う
半導体製造工程に用いられ、ドッキングチャンバを有し
ないマルチチャンバ装置とされ、ウェハ搬送チャンバ1
に、4台のプロセスチャンバ2〜5、ウェハローダチャ
ンバ6およびウェハアンローダチャンバ7が接続され、
これらは管理システム8により制御される構成となって
いる。
【0029】ウェハ搬送チャンバ1は、たとえば関節的
に屈曲されて伸縮自在なウェハ搬送用腕1aと、ウェハ
9を搭載するウェハ搬送用試料台1bと、ウェハ搬送用
腕1aを駆動する駆動制御部1cとを備え、ウェハ搬送
用腕1aの先端にウェハ搬送用試料台1bが固定され、
このウェハ搬送用試料台1bに搭載されたウェハ9が、
駆動制御部1cの制御に基づいてプロセスチャンバ2〜
5、ウェハローダチャンバ6およびウェハアンローダチ
ャンバ7との間で搬入/搬出される。
【0030】プロセスチャンバ2〜5は、それぞれウェ
ハ9のウェハIDを読み取るウェハID読み取り部2a
〜5aと、ウェハ9を搭載するウェハ用試料台2b〜5
bと、ウェハ用試料台2b〜5bを駆動する駆動制御部
2c〜5cとを備え、ウェハ用試料台2b〜5bに搭載
されたウェハ9が駆動制御部2c〜5cの制御に基づい
てプロセス処理される。たとえば、薄膜形成であれば、
前処理から薄膜デポまでの一貫した連続処理のうちのそ
れぞれの処理が各プロセスチャンバ2〜5内において行
われる。
【0031】また、ウェハID読み取り部2a(3a〜
5a)は、図2に示すようにウェハ搬送チャンバ1との
接続部近傍に、プロセスチャンバ2(3〜5)内のウェ
ハ9の搬送経路の上部に配設され、このウェハID読み
取り部2a(3a〜5a)によってウェハ上の特定位置
に刻印されたウェハID9aが、たとえばウェハ9の搬
入時と搬出時に光学的に読み取られるようになってい
る。
【0032】ウェハローダチャンバ6は、プロセスチャ
ンバ2〜5と同様に、ウェハローダチャンバ6内のウェ
ハ9の搬送経路の上部に配設され、ウェハ9の搬入時お
よび搬出時にウェハID9aを読み取るウェハID読み
取り部6aと、ウェハ9を搭載するウェハ用試料台6b
と、ウェハ用試料台6bを駆動する駆動制御部6cとを
備え、外部から搬送されるウェハ9がウェハローダチャ
ンバ6を通じてマルチチャンバ装置内に搬入される。
【0033】ウェハアンローダチャンバ7は、プロセス
チャンバ2〜5と同様に、ウェハアンローダチャンバ7
内のウェハ9の搬送経路の上部に配設され、ウェハ9の
搬入時および搬出時にウェハID9aを読み取るウェハ
ID読み取り部7aと、ウェハ9を搭載するウェハ用試
料台7bと、ウェハ用試料台7bを駆動する駆動制御部
7cとを備え、マルチチャンバ装置内で一貫処理された
ウェハ9がウェハアンローダチャンバ7を通じて外部に
搬出される。
【0034】管理システム8は、マルチチャンバ装置の
全体的な制御機能の他に、ウェハ搬送チャンバ1、プロ
セスチャンバ2〜5、ウェハローダチャンバ6およびウ
ェハアンローダチャンバ7の演算処理系を内蔵し、これ
らの全体的な制御が予めプログラムされたアルゴリズム
に従って自動的に実行される。
【0035】また、管理システム8には、ウェハ処理情
報ファイルとしてのウェハ処理条件ファイル10および
ウェハ進行管理ファイル11が接続され、各プロセスチ
ャンバ2〜5におけるウェハ9の処理条件がウェハ処理
条件ファイル10から収集されて自動的に決められ、ま
たウェハ9の処理後は、その正常終了情報によりウェハ
進行管理ファイル11の進行状況の内容が自動的に更新
されるようになっている。
【0036】なお、以上のような構成において、ウェハ
ID9aを光学的に読み取ることは現状の技術で可能で
あり、さらにシステム間通信によりウェハ処理情報を送
受信すること、また進行状況に合わせて特定工程を識別
するアルゴリズムを含ませることなども容易に可能であ
る。
【0037】次に、本実施例の作用について、実際にウ
ェハ9の自動処理を行う場合を図3の処理フローに基づ
いて説明する。図3において、列方向の各欄の処理は上
方に記載の各構成要素により実行されることを表す。
【0038】始めに、処理すべきウェハ9はウェハロー
ダチャンバ6内のウェハ用試料台6bに設置されている
ものとする。
【0039】まず、作業者が開始スイッチ(図示せず)
を押すなどの操作をすると、管理システム8が開始命令
を発する(ステップ301)。すると、管理システム8
からウェハ搬送チャンバ1内のウェハ搬送用腕1aをウ
ェハローダチャンバ6へ移動させる指示がでる。これ
は、ウェハ搬送チャンバ1の欄にあるウェハローダチャ
ンバ6への移動である(ステップ302)。
【0040】さらに、管理システム8からのウェハ搬送
指示に従い、ウェハ搬送チャンバ1の駆動制御部1cは
ウェハ搬送用腕1aをウェハローダチャンバ6に挿入
し、ウェハ用試料台6bの上に設置されている被処理用
のウェハ9をウェハ搬送用腕1aのウェハ搬送用試料台
1bに載せて、ウェハ搬送用腕1aをウェハ搬送チャン
バ1内に引き出す。
【0041】このウェハ9を引き出す作業途中に、ウェ
ハ9がウェハローダチャンバ6のウェハID読み取り部
6aを通過する。このとき、ウェハID読み取り部6a
は、ウェハ9の特定位置に刻印されているウェハID9
aを読み取ることができる。これは、ウェハローダチャ
ンバ6の欄にあるウェハID9aの読み取りである(ス
テップ303)。
【0042】そして、読み取られたウェハID9aがウ
ェハID読み取り部6aから管理システム8に送られ、
ウェハID9aを管理システム8の制御下にあるウェハ
進行管理ファイル11と照らし合わせて、次工程の内容
を確認する。これは、ウェハローダチャンバ6の欄にあ
る進行確認である(ステップ304)。
【0043】この情報を得て、管理システム8はいずれ
かのプロセスチャンバ2〜5の選択命令を実行する(ス
テップ305)。すなわち、管理システム8から命令を
受けたウェハ搬送チャンバ1は、ウェハ搬送用腕1aを
指示された特定プロセスチャンバ、たとえばプロセスチ
ャンバ2へ移動させる。これは、特定のプロセスチャン
バ2への移動である(ステップ306)。
【0044】なお、他のプロセスチャンバ3〜5にも同
様にして移動させることができ、これによって一般性を
失うことはない。以上の処理により、ウェハ9はプロセ
スチャンバ2の入り口で待機している状態になる。
【0045】続いて、管理システム8は、管理システム
8の欄のウェハ9の挿入命令を発する(ステップ30
7)。その結果、ウェハ搬送チャンバ1の駆動制御部1
cはウェハ9をウェハ搬送用試料台1bに載せられた状
態でプロセスチャンバ2へ搬入する。
【0046】このウェハ9がプロセスチャンバ2に搬入
される途中で、ウェハ9がウェハID読み取り部2aを
通過する。このとき、ウェハID読み取り部2aは、ウ
ェハID9aの読み取りを実行する(ステップ30
8)。これは、ステップ303のID読み取りと同等で
ある。
【0047】そして、管理システム8は、ウェハID読
み取り部2aが読み取ったウェハID9aをもとに、管
理システム8の管理下にあるウェハ進行管理ファイル1
1の内容を参照し、このプロセスチャンバ2が正しい選
択であることを確認する。
【0048】さらに、ウェハ9の処理条件の読み取りを
実行する(ステップ309)。すなわち、管理システム
8の制御下にあるウェハ処理条件ファイル10からこの
工程に相当する処理条件を選択する。これによって、自
動的にプロセス処理を実行することができる。これが、
プロセスチャンバ2におけるプロセス処理である(ステ
ップ310)。
【0049】プロセス処理後、管理システム8はウェハ
9の取り出し命令を発する(ステップ311)。この命
令によって、ウェハ搬送チャンバ1の欄にある特定のプ
ロセスチャンバ2への移動を実行する(ステップ31
2)。
【0050】そして、管理システム8の指示によって、
ウェハ搬送チャンバ1の駆動制御部1cはウェハ搬送用
腕1aをプロセスチャンバ2へ移動し、プロセスチャン
バ2内にあるウェハ9を取り出す。プロセスチャンバ2
からウェハ9を引き出すときに、プロセスチャンバ2の
欄にあるウェハID9aの読み取りを実行する(ステッ
プ313)。
【0051】このとき、管理システム8を通して得たウ
ェハID9aと、管理システム8の制御下にあるウェハ
進行管理ファイル11を参照し、この処理が終了したこ
とをウェハ進行管理ファイル11内の進行状況において
更新すると同時に、次の工程が処理可能かどうかを判断
する。これが、管理システム8の欄にある終了判定であ
る(ステップ314)。
【0052】さらに、マルチチャンバ装置のプロセスチ
ャンバ3〜5で処理が続行できるときには、ステップ3
04の進行確認に進み、以下同様の処理を実行する。ま
た、プロセスチャンバ3〜5で処理ができないときには
このマルチチャンバ装置での処理が完了となり、管理シ
ステム8は完了命令を発する(ステップ315)。
【0053】そして、完了命令が発っせられると、管理
システム8はウェハ9をウェハアンローダチャンバ7に
設置して外部に搬出できる状態にし、ウェハ搬送用腕1
aを初期状態にして作業を一旦停止状態にする。
【0054】以上のようにして、ウェハ9がウェハロー
ダチャンバ6から搬入され、さらに各プロセスチャンバ
2〜5を通じて一貫処理され、最後にウェハアンローダ
チャンバ7を通じて外部に搬出される。
【0055】従って、本実施例のウェハID読み取り機
能付きマルチチャンバ装置によれば、プロセスチャンバ
2〜5、ウェハローダチャンバ6およびウェハアンロー
ダチャンバ7にウェハID読み取り部2a〜7aを設け
ることにより、ウェハ9が前工程のプロセスチャンバ2
〜5からウェハ搬送チャンバ1内に引き出されるときに
ウェハID9aを読み取り、次工程の処理に対応するプ
ロセスチャンバ2〜5を選択し、さらに選択されたプロ
セスチャンバ2〜5にウェハ9が挿入されたときに再び
ウェハID9aを読み取って選択の正当性を確認した後
に処理を自動的に実行することができる。
【0056】また、処理の実行後は、次工程の処理に対
応するプロセスチャンバ2〜5を選択すると同時に、終
了した処理の進行状況を自動的に更新することができ
る。
【0057】さらに、ウェハローダチャンバ6からウェ
ハ搬送チャンバ1に搬入されるとき、ウェハ搬送チャン
バ1からウェハアンローダチャンバ7に搬出されるとき
も同様にウェハID9aを読み取ることができるので、
マルチチャンバ装置における一貫したプロセス処理の自
動化に対応することができる。
【0058】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【0059】たとえば、本実施例のウェハID読み取り
機能付きマルチチャンバ装置については、プロセスチャ
ンバ2〜5、ウェハローダチャンバ6およびウェハアン
ローダチャンバ7側にウェハID読み取り部2a〜7a
が設けられる場合について説明したが、本発明は前記実
施例に限定されるものではなく、ウェハID読み取り部
をウェハ搬送チャンバ側に設ける場合について適用可能
である。
【0060】さらに、前記実施例においては、ウェハI
D9aの読み取りは、プロセスチャンバ2〜5にウェハ
9が搬入されるとき、およびウェハ9をプロセスチャン
バ2〜5から搬出するときの両方で実施しているが、搬
入または搬出のどちらか一方の場合にウェハIDを読み
取ることも可能である。
【0061】また、ウェハ搬送チャンバ1の形状および
プロセスチャンバ2〜5の数量などについては、半導体
製造工程のプロセス処理などに合わせて、これ以下また
はこれ以上の多くのプロセスチャンバが接続される場
合、さらにドッキングチャンバを有する構成など、種々
の接続構成に適用可能であることはいうまでもない。
【0062】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0063】(1).複数のプロセスチャンバ、ウェハロー
ダチャンバおよびウェハアンローダチャンバにウェハI
D読み取り部を設けることにより、ウェハID読み取り
部によりウェハIDを自動的に読み取ることができるの
で、たとえばウェハ処理情報ファイルに保存されている
ウェハの進行状況と処理内容とをウェハIDで検索し、
各プロセスチャンバでの処理条件を設定することがで
き、かつ処理後にこのウェハの進行状況を更新すること
が可能となる。
【0064】(2).ウェハID読み取り部をウェハ搬送チ
ャンバ側に設けることにより、前記(1) と同様に処理条
件の設定および進行状況の更新を自動的に行うことがで
きると同時に、従来のプロセスチャンバを流用すること
が可能となる。
【0065】(3).前記(1) および(2) により、被処理ウ
ェハの処理条件の設定を自動的に行うことができるの
で、従来のような人手による被処理ウェハの処理条件に
おける設定入力ミスなどの問題が解決され、LSIの高
集積化とデバイスの微細化の進行に対応した処理工程で
の正常処理の実行が可能とされるマルチチャンバ装置を
得ることができる。
【0066】(4).前記(1) および(2) により、処理条件
の設定に加えて進行状況の管理も自動的に行うことがで
きるので、ウェハの自動搬入、連続したプロセス処理、
さらにウェハの自動搬出までの自動一貫処理の基本形態
の実現が可能とされるマルチチャンバ装置を得ることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例であるウェハID読み取り機
能付きマルチチャンバ装置を示す概略構成図である。
【図2】本実施例のウェハID読み取り機能付きマルチ
チャンバ装置のウェハID読み取り部を詳細に示す断面
図である。
【図3】本実施例における処理手順を示すフロー図であ
る。
【符号の説明】
1 ウェハ搬送チャンバ 1a ウェハ搬送用腕 1b ウェハ搬送用試料台 1c 駆動制御部 2〜5 プロセスチャンバ 2a〜5a ウェハID読み取り部 2b〜5b ウェハ用試料台 2c〜5c 駆動制御部 6 ウェハローダチャンバ 6a ウェハID読み取り部 6b ウェハ用試料台 6c 駆動制御部 7 ウェハアンローダチャンバ 7a ウェハID読み取り部 7b ウェハ用試料台 7c 駆動制御部 8 管理システム 9 ウェハ 9a ウェハID 10 ウェハ処理条件ファイル 11 ウェハ進行管理ファイル

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェハ搬送チャンバに、複数のプロセス
    チャンバ、ウェハローダチャンバおよびウェハアンロー
    ダチャンバが接続され、該複数のプロセスチャンバ内に
    順にウェハを挿入してプロセス処理を一貫して行う半導
    体製造工程に用いられるマルチチャンバ装置であって、
    前記複数のプロセスチャンバ、ウェハローダチャンバお
    よびウェハアンローダチャンバにウェハID読み取り部
    を設けることを特徴とするウェハID読み取り機能付き
    マルチチャンバ装置。
  2. 【請求項2】 前記ウェハID読み取り部を、前記複数
    のプロセスチャンバ、ウェハローダチャンバおよびウェ
    ハアンローダチャンバが接続される前記ウェハ搬送チャ
    ンバ側に設けることを特徴とする請求項1記載のウェハ
    ID読み取り機能付きマルチチャンバ装置。
  3. 【請求項3】 前記ウェハID読み取り部を前記ウェハ
    の搬送経路の上部に配設し、該ウェハ上のウェハIDを
    光学的に読み取り、該読み取り情報をウェハ処理情報フ
    ァイルの内容と照合して、前記プロセスチャンバの各々
    が実行すべきプロセス内容を該プロセスチャンバに伝達
    することを特徴とする請求項1または2記載のウェハI
    D読み取り機能付きマルチチャンバ装置。
  4. 【請求項4】 前記ウェハ処理情報ファイルに保存され
    ているウェハ処理条件を前記ウェハIDによって把握
    し、前記ウェハの進行状況と処理内容とを該ウェハID
    で検索することを特徴とする請求項3記載のウェハID
    読み取り機能付きマルチチャンバ装置。
  5. 【請求項5】 前記ウェハ処理情報ファイルのウェハの
    進行状況の内容を、前記ウェハIDで更新することを特
    徴とする請求項4記載のウェハID読み取り機能付きマ
    ルチチャンバ装置。
JP5696393A 1993-03-17 1993-03-17 ウェハid読み取り機能付きマルチチャンバ装置 Pending JPH06267809A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7555358B2 (en) 1997-03-24 2009-06-30 Micron Technology, Inc. Process and method for continuous, non lot-based integrated circuit manufacturing
JP2011114212A (ja) * 2009-11-27 2011-06-09 Canon Anelva Corp 基板処理装置、該基板処理装置を制御する制御装置および基板処理方法
US8932882B2 (en) 2010-04-08 2015-01-13 Ps4 Luxco S.A.R.L. Method of manufacturing semiconductor device
US9875920B1 (en) 2016-07-21 2018-01-23 Hitachi Kokusai Electric, Inc. Substrate processing apparatus

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