JPH06253125A - マイクロフィルムリーダの黒枠検出方法および装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 マイクロフィルムの汚れや傷などによる黒枠
の誤検出を防止し、黒枠を正確に判別できるようにす
る。 【構成】 画像を主走査方向に読出し２値化して得た画
像信号が示す画素の配列から黒枠範囲を検出する方法に
おいて、一定間隔ごとに設定した複数の黒枠検出用走査
ラインの１本を順次注目走査ラインとし、この注目走査
ラインが検出した黒枠の座標を、この注目走査ラインの
前・後一定数の黒枠検出用走査ラインが検出する黒枠の
座標の平均値と比較し、両者の差の絶対値が一定以上の
時に前記注目走査ラインの黒枠の座標を前記平均値に置
き換える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ネガのマイクロフィル
ムにおいて原稿画像の周囲に生じる黒枠を検出するマイ
クロフィルムリーダの黒枠検出方法と、この方法の実施
に直接使用する装置とに関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ネガのマイクロフィルムでは原稿の画像
の外側を囲むように透明な画像無しの部分ができる。こ
のマイクロフィルムから原稿の画像をプリント出力する
場合、原稿の全範囲が出力範囲から外れないように原稿
よりも大きい範囲を出力する必要がある。

【０００３】図５はマイクロフィルムとプリント出力と
の関係を示すものである。マイクロフィルム１０には一
定寸法の原稿の画像１２、１４がネガの像として記録さ
れている。プリント出力される範囲１６は決まっている
から、この範囲１６をプリント出力すると、プリント用
紙１８、２０には画像１２、１４のプリント像１２Ａ、
１４Ａの外側に黒枠２２、２４が発生する。

【０００４】この黒枠２２、２４を自動判別してマスキ
ングする方法が従来より提案されている。その１つの方
法は、一定間隔（例えば１mm）ごとに読取った走査ライ
ン２６上の画像をラインセンサで読取った時に、画像信
号が連続して一定数Ｎ（例えば２２４）個の黒画素を出
力すれば黒枠２２、２４と判定するものである。なおこ
の一定数Ｎ＝２２４は例えば原稿上で１４ｍｍに対応す
る長さである。

【０００５】この方法は図５に（Ａ）で示すように、走
査ライン２６上の画素の分布が白画素から黒画素に変っ
た座標Ｘから、黒画素がＮ個連続している座標ｘを検出
し、この座標ｘからＮ画素遡った座標Ｘ＝ｘ−Ｎを黒枠
と判定するものである。そして一定間隔（例えば１mm間
隔）ごとのｎ、ｎ＋１、ｎ＋２、…番目の走査ライン２
６に対して順に黒枠の座標Ｘ_n 、Ｘ_n+1 、Ｘ_n+2 、…を
同様に求め、各座標Ｘ_n 、Ｘ_n+1 、…をつなぐ黒枠範囲
すなわちマスキング範囲を求めるものである。

【０００６】

【従来技術の問題点】しかし実際の画像では画像１２、
１４の外側にフィルムの汚れや傷による画像が発生する
ことが多い。図４はフィルム１０に付いた汚れ２８を走
査ライン２６で検出する様子を示す図である。この図４
に示すように、フィルムの投影画像をそのまま用いて黒
枠検出をすると、フィルムの汚れや傷などを黒枠と判断
してしまい、黒枠を正確に判別できないことがある。

【０００７】

【発明の目的】本発明はこのような事情に鑑みなされた
ものであり、フィルムの汚れや傷などによる黒枠の誤検
出を防止し、黒枠を正確に判別できるようにするマイク
ロフィルムリーダの黒枠検出方法を提供することを目的
とする。またこの方法の実施に直接用いる装置を提供す
ることを他の目的とする。

【０００８】

【発明の構成】本発明によればこの目的は、画像を主走
査方向に読出し２値化して得た画像信号が示す画素の配
列から黒枠範囲を検出する方法において、一定間隔ごと
に設定した複数の黒枠検出用走査ラインの１本を順次注
目走査ラインとし、この注目走査ラインが検出した黒枠
の座標を、この注目走査ラインの前・後一定数の黒枠検
出用走査ラインが検出する黒枠の座標の平均値と比較
し、両者の差の絶対値が一定以上の時に前記注目走査ラ
インの黒枠の座標を前記平均値に置き換えることを特徴
とするマイクロフィルムリーダの黒枠検出方法により達
成される。

【０００９】また他の目的は、画像を主走査方向に読出
して２値化して得た画像信号が示す画素の配列から黒枠
範囲を検出する装置において、マイクロフィルムの画像
を読取る画像読取りセンサと、一定間隔ごとに設定した
黒枠検出用走査ラインの出力信号を２値化する第１の２
値化手段と、この第１の２値化手段の２値化出力信号に
より黒枠を検出する黒枠検出手段と、この黒枠検出手段
によって検出されたある注目走査ライン上の黒枠の座標
がその前・後一定数の走査ライン上で検出された黒枠の
座標の平均値より一定値以上離れている時に前記注目走
査ライン上の黒枠の座標を前記平均値で置き換え黒枠範
囲を確定する黒枠修正手段とを備えることを特徴とする
マイクロフィルムリーダの黒枠検出装置により達成され
る。

【００１０】

【実施例】図１は本発明の一実施例の全体構成図、図２
はその動作を示す動作流れ図、図３はヒストグラムを示
す図、図４はフィルムの汚れによる黒枠の誤検出を説明
する図である。

【００１１】図１において符号３０はマイクロフィルム
であり、２つのリール３２、３４の一方から他方へ巻取
られて走行する。このフィルム３０には光源３６の光が
下方から導かれ、このフィルム３０の透過光は投影レン
ズ３８、像回転プリズム４０、反射ミラー４２、４４、
４６を経てスクリーン４８に背面から導かれる。スクリ
ーン４８の背面には縦長の可動板５０が水平方向に移動
可能に設けられ、この可動板５０にＣＣＤラインセンサ
５２が取付けられている。従ってこのラインセンサ５２
に入射した画像を読取りながら可動板５０を水平方向に
移動させることによりスクリーン４８の投影を読取るこ
とができる。

【００１２】１回目の画像読取り時には、このラインセ
ンサ５２の出力信号は、図１に示す切換スイッチ５４を
介して第１の２値化手段５６およびしきい値検出手段５
８に入力される。２回目の画像読取り時には第２の２値
化手段６０に入力される。この切換スイッチ５４は、こ
の装置をコンピュータで構成する場合には、これら２値
化手段５６、６０、しきい値検出手段５８のいずれかを
読取り可能とし他を読取り不能状態にすることにより省
くことができるのは勿論であり、この図１では便宜上表
示したにすぎない。

【００１３】前記したように黒枠検出のための走査ライ
ン２６（図４、５）は、一定間隔（例えば１mm間隔）ご
とに読取られるから、各走査ライン２６の間には画像読
取り密度に対応した他の走査ラインが残っていることに
なる。例えば１mm幅を１６本の走査ライン２６で読取る
場合には、黒枠検出用走査ライン２６の間に、１５本の
走査ラインがあることになる。黒枠検出用走査ライン２
６以外の走査ライン、あるいは黒枠検出用走査ライン２
６を含む全ての走査ラインは、後記するようにしきい値
Ｄ_THを求めるために用いられる。

【００１４】本発明では一定間隔ごとの黒枠検出用走査
ライン２６は第１の２値化手段５６に入力され、その他
の走査ラインはしきい値検出手段５８に入力される。す
なわちラインセンサ５２の移動に伴い、黒枠検出用走査
ライン２６の画像を読取る時にはしきい値検出手段５８
は読込み不能にされ、それ以外の走査ラインに対しては
第１の２値化手段５６が読込み不能な状態にされる。

【００１５】しきい値検出手段５８はヒストグラム作成
手段６２と、しきい値演算手段６４とを有する。ヒスト
グラム作成手段６２は、黒枠検出用走査ライン２６以外
の走査ラインを読取ったラインセンサ５２の出力信号を
用いて、図３に示す濃度ヒストグラムを作成する。この
ヒストグラムは、各画素の濃度Ｄに対する画素数の分布
を示すものである。

【００１６】ここにヒストグラム作成手段６２は、ｎ番
目の黒枠検出用走査ライン２６（ｎ）と、その前の（ｎ
−１）番目の黒枠検出用走査ライン２６（ｎ−１）との
間にある１５本の走査ラインによってヒストグラムを求
める。しきい値演算手段６４は、このヒストグラムを用
いて、ｎ番目の黒枠検出用走査ライン２６（ｎ）に用い
るしきい値Ｄ_TH（ｎ）を演算する。

【００１７】例えば図３に示すヒストグラムにおいて、
白側の山Ｐ₁ は、図５における画像１２、１４の外側の
フィルム１０が透明な部分によりできたものである。ま
た黒側の山Ｐ₂ は画像１２、１４内の背景によりできた
ものである。従って必要な画像は２つの山Ｐ₁ とＰ₂ の
間に分布することになる。しきい値演算手段６４は、山
Ｐ₂ の濃度Ｄ₂ に対して一定割合（例えば７０％）の濃
度Ｄ_THを２値化のためのしきい値として求め、この結果
をメモリする。

【００１８】しきい値検出手段５８では、（ｎ−１）番
目とｎ番目の黒枠検出用走査ライン２６（ｎ−１）、２
６（ｎ）の間にある１５本の走査ラインにより前記のよ
うにしてしきい値Ｄ_TH（ｎ）を求める。このしきい値Ｄ
_TH（ｎ）はその後に読取るｎ番目の黒枠検出用走査ライ
ン２６（ｎ）の黒枠検出に用いられる。なおこの際（ｎ
−１）番目の黒枠検出用走査ライン２６（ｎ−１）も含
めてヒストグラムを作ってもよい。

【００１９】第１の２値化手段５６は、このようにして
しきい値検出手段５８で求めたしきい値Ｄ_TH（ｎ）を用
いてｎ番目の走査ライン２６（ｎ）の読取り出力信号を
２値化する。この２値化した信号は、黒枠検出手段６５
に入力され、ここで黒枠が検出されてメモリされる。

【００２０】黒枠検出手段６５は種々の方法で黒枠２
２、２４（図５参照）を検出する。例えば前記したよう
に、画像１２の範囲に走査ライン２６が入って、連続し
てＮ個の黒画素が続いたことから黒枠を検出するように
してもよい（図５の（Ａ）参照）。また図５の（Ｂ）に
示すように、連続するＮ（例えば１６０）画素のうちａ
％（例えば３０％）が黒画素となることから黒枠の存在
を検出し、この黒画素数分がａ％になった座標ｘからＮ
ｂ画素数分遡った座標Ｘ＝ｘ−Ｎｂを黒枠と決めてもよ
い。

【００２１】この場合Ｎｂで示す画素数は、Ｎ画素の範
囲を（１−ｂ）：ｂの割合に分割する座標までの画素数
を示し、ｂ≒ａに設定するのが望ましい。なお以上の説
明は走査が画像１２、１４の外側から画像１２、１４内
に入る場合について説明したが、走査が画像１２、１４
の内側から外へ出る場合には、以上の説明の黒画素と白
画素とを逆にすればよい。

【００２２】このようにして種々の方法で黒枠が検出さ
れると、黒枠修正手段６６によって、フィルムの汚れ２
８（図４）や傷により誤検出した黒枠を判別して黒枠範
囲から消去する。この黒枠修正手段６６では、図４に示
すように黒枠と検出した或る走査ライン２６（ｎ）を注
目走査ラインとし、この注目走査ライン２６（ｎ）から
前および／または後の一定数Ｎの黒枠検出用走査ライン
が検出した黒枠の座標の算術平均値Ｘ_m を求める。この
平均値Ｘ_m の演算は図１に示す平均値演算手段６６ａで
行われる。

【００２３】そして注目走査ライン２６（ｎ）が検出し
た黒枠の座標Ｘ（ｎ）とこの平均値Ｘ_m との差（絶対
値）Ｄが、差演算手段６６ｂで求められる。この差Ｄは
比較手段６６ｃで一定値ｄと比較される。この一定値ｄ
としては、例えば投影画像上で１mmに相当する１６画素
分の距離に設定する。Ｄ≧ｄの時には、この注目走査ラ
イン２６（ｎ）の黒枠の座標Ｘ（ｎ）をこの平均値Ｘ_m
で置き換える。この置き換えは、置換え手段６６ｄで行
われる。

【００２４】以上の動作を全ての走査ライン２６に対し
て行い、置換えが必要な黒枠に対してはこの置換えを行
った座標を用いて、黒枠範囲を確定する。例えば求めた
各黒枠の座標を結合して黒枠範囲を求める。この演算は
黒枠範囲決定手段６６ｅで行われる。

【００２５】この平均値Ｘ_m は種々の方法により求める
ことが可能である。例えば注目走査ライン２６（ｎ）の
前および後のそれぞれ２本の走査ライン２６（ｎ−
２）、２６（ｎ−１）、２６（ｎ＋１）、２６（ｎ＋
２）を用いる。この場合これら４本の走査ラインが検出
した４つの黒枠の座標Ｘ（ｎ−２）、Ｘ（ｎ−１）、Ｘ
（ｎ＋１）、Ｘ（ｎ＋２）の算術平均を求める。すなわ
ち、Ｘ_m ＝｛Ｘ（ｎ−２）＋Ｘ（ｎ−１）＋Ｘ（ｎ＋
１）＋Ｘ（ｎ＋２）｝／４、により求めることができ
る。

【００２６】また注目走査ライン２６（ｎ）が画像１２
の副走査方向の縁付近にある場合などには、この走査ラ
イン２６（ｎ）の前または後の一定数の走査ラインが続
けて黒枠を検出できないことがある。このような時には
注目走査ライン２６（ｎ）の前または後の合計４本の走
査ラインが検出する黒枠の座標の平均値を用いてもよ
い。例えば注目走査ライン２６（ｎ）より後の４本の走
査ライン２６（ｎ＋１）、２６（ｎ＋２）、２６（ｎ＋
３）、２６（ｎ＋４）が検出する黒枠の座標Ｘ（ｎ＋
１）、…Ｘ（ｎ＋４）を用い、Ｘ_m ＝｛Ｘ（ｎ＋１）＋
Ｘ（ｎ＋２）＋Ｘ（ｎ＋３）＋Ｘ（ｎ＋４）｝／４、に
より求めることができる。

【００２７】さらに注目走査ライン２６（ｎ）の前後異
なる数の走査ラインを用いてもよい。例えばＸ_m ＝｛Ｘ
（ｎ−１）＋Ｘ（ｎ＋１）＋Ｘ（ｎ＋２）＋Ｘ（ｎ＋
３）｝／４などにより求めてもよい。このように種々の
方法で平均値Ｘ_m が求められ、差Ｄ（絶対値）が求めら
れ、この差Ｄが一定値ｄより大ならＸ_(n) をＸ_m に変え
る。平均値Ｘ_m は算術平均（相加平均）だけでなく相乗
平均、調和平均、二乗平均などであってもよい。

【００２８】以上のように１回目の画像読取りにより、
黒枠の検出としきい値のＤ_TH（ｎ）の検出とが行われ
る。そして２回目の画像読取り時には、この求めたしき
い値Ｄ_TH（ｎ）を用いて第２の２値化手段６０において
２値化する。すなわちｎ番目の走査ライン２６（ｎ）付
近の画像に対してはしきい値Ｄ_TH（ｎ）を用いて２値化
し、画像読取り領域に応じてその付近のしきい値Ｄ_THを
順次メモリから読出して用いる。

【００２９】この２値化した出力信号は画像処理手段６
８に入力される。この画像処理手段６８は画像の拡大・
圧縮を行ったり、微分処理によるエッジ強調、細線化処
理、デイザ処理、等の種々の空間フィルタリング処理を
行う。

【００３０】このような画像処理が行われた画像信号
は、黒枠修正手段６６で求めた黒枠範囲がマスキング手
段７０においてマスキング処理され、黒枠２２、２４
（図５参照）などの不要な範囲が消去されて、出力手段
７２に出力される。この出力手段７２は例えばプリンタ
で形成され、画像処理された画像信号からマスキング範
囲を消去してプリント出力する。

【００３１】次に図２を用いて動作を説明する。１回目
の画像読取り（スキャン）を行う時には（ステップ１０
０）、まず走査ラインの順番ｍを１に初期化する（ステ
ップ１０２）。そしてこの順番ｍが黒枠検出用走査ライ
ン２６に一致するか否かを判別する（ステップ１０
４）。すなわち黒枠検出用走査ライン２６は一定間隔例
えば１６本の走査ラインごとに現れるから、ｍが１６の
整数倍１６Ｉ（ただしＩは整数）となる時は黒枠検出用
走査ライン２６であり、ｍ≠１６Ｉの走査ラインはヒス
トグラム検出用のものとされる。

【００３２】従って最初のｍ＝１から１５まではｍ≠１
６Ｉなので、ｍ＝１６（Ｉ−１）＋１からｍ＝１６Ｉ−
１までの間の走査ラインによりヒストグラムが求められ
（ステップ１０６、１０８、１１０、１１２）、しきい
値Ｄ_TH（１）が演算されてメモリされる（ステップ１１
４）。ｍ＝１６になると１番目の黒枠検出用走査ライン
２６（１）であるから、この直前に求めたしきい値Ｄ_TH
（１）を用いて第１の２値化手段５６で２値化され（ス
テップ１１６）、さらに黒枠が検出されてメモリされる
（ステップ１１８）。

【００３３】以上の動作を繰り返し、画像全体の領域に
対して処理が終ると（ステップ１２０）、黒枠修正処理
に入る（ステップ１２２）。この処理は図１の黒枠修正
手段６６で行われる。まず黒枠検出用走査ライン２６の
１本を注目走査ラインとし、その前・後一定数の走査ラ
インを用いて黒枠の座標の平均値Ｘ_m を求める（ステッ
プ１２２）。そして注目走査ラインの黒枠の座標Ｘ_(n)
との差Ｄ（絶対値）を求める（ステップ１２４）。

【００３４】この差Ｄが一定値ｄより大なら（ステップ
１２６）、この注目走査ライン２６（ｎ）は図４で説明
した汚れ２８を黒枠と誤検出したものと判断し、この注
目走査ライン２６（ｎ）の黒枠の座標Ｘ（ｎ）を平均値
Ｘ_m に置き換える（ステップ１２８）。差Ｄが一定値ｄ
以内なら（ステップ１２６）正しく黒枠を検出したもの
と考えられ、この時のＸ_(n) をそのまま正しい黒枠の座
標とする。

【００３５】このようにして汚れや傷などを黒枠と誤検
出した座標は修正し、この修正された点と修正を必要と
しなかった点とを用いて黒枠範囲を決定し（ステップ１
３０）、２回目のスキャンに入る（ステップ１３２）。

【００３６】２回目のスキャンでは、ステップ１１４で
ヒストグラムから求めたしきい値Ｄ_THを用いて画像を２
値化し（ステップ１３４）、この２値化した画像を用い
て画像処理する（ステップ１３６）。さらにステップ１
３０で求めた黒枠範囲をマスキングして消去しつつ（ス
テップ１３８）、プリント出力する（ステップ１４
０）。

【００３７】以上の実施例では、平均値Ｘ_m を求める際
に、注目走査ラインの前・後の走査ラインが検出した黒
枠の座標としては、黒枠修正手段６６（図１）による修
正前の座標を用いるように説明した。しかし本発明はこ
の修正を行った後の座標を用いて平均値Ｘ_m を求めるよ
うにしてもよい。例えば注目走査ライン２６（ｎ）より
前の走査ラインに対してこの黒枠修正が済んでいる場合
には、この修正済みの座標を用いるのが望ましい。また
平均値Ｘ_m に用いる走査ラインの数は、実施例の４に限
定されないのは勿論である。

【００３８】

【発明の効果】請求項１の発明は以上のように、注目走
査ラインの前および／または後の一定数の走査ラインが
検出した黒枠の座標の平均値Ｘ_m を求め、注目走査ライ
ンが検出した黒枠の座標Ｘ（ｎ）との差（絶対値）Ｄが
一定値ｄ以上になるとこの座標Ｘ（ｎ）を平均値Ｘ_m に
置き換えて黒枠範囲を求めるものであるから、フィルム
の汚れや傷により黒枠を誤検出することがなくなり、黒
枠を正確に求めることができる。

【００３９】ここに平均値Ｘ_m を求めるのに、注目走査
ラインの前後両方の一定数の走査ラインが検出する黒枠
の座標を用いることができる（請求項２）。しかし注目
走査ラインの前後のいずれか一方の一定数の走査ライン
を用いたり、前後の異なる数の走査ラインを用いて平均
値Ｘ_m を求めてもよい。また請求項３の発明によれば、
この方法の実施に直接使用する装置が得られる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例の全体構成図

【図２】その動作流れ図

【図３】ヒストグラムを示す図

【図４】フィルムの汚れによる黒枠の誤検出を説明する
図

【図５】マイクロフィルムとプリント出力との関係説明
図

【符号の説明】

１０、３０ マイクロフィルム １２、１４ 画像 １８、２０ プリント用紙 ２６ 黒枠検出用走査ライン ２６（ｎ） 注目走査ライン ２８ フィルムの汚れ ５２ 画像読取りセンサとしてのラインセンサ ６５ 黒枠検出手段 ６６ 黒枠修正手段 ６６ａ 平均値演算手段 ６６ｂ 差演算手段 ６６ｃ 比較手段 ６６ｄ 置換え手段 ６６ｅ 黒枠範囲決定手段 ６８ 画像処理手段 ７０ マスキング手段 Ｘ（ｎ） 注目走査ラインの黒枠の座標 Ｘ_m 平均値

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 画像を主走査方向に読出し２値化して得
   た画像信号が示す画素の配列から黒枠範囲を検出する方
   法において、一定間隔ごとに設定した複数の黒枠検出用
   走査ラインの１本を順次注目走査ラインとし、この注目
   走査ラインが検出した黒枠の座標を、この注目走査ライ
   ンの前・後一定数の黒枠検出用走査ラインが検出する黒
   枠の座標の平均値と比較し、両者の差の絶対値が一定以
   上の時に前記注目走査ラインの黒枠の座標を前記平均値
   に置き換えることを特徴とするマイクロフィルムリーダ
   の黒枠検出方法。
2. 【請求項２】 前記注目走査ラインの前および後の同数
   の走査ラインが検出する黒枠の座標から平均値を求める
   請求項１のマイクロフィルムリーダの黒枠検出方法。
3. 【請求項３】 画像を主走査方向に読出して２値化して
   得た画像信号が示す画素の配列から黒枠範囲を検出する
   装置において、マイクロフィルムの画像を読取る画像読
   取りセンサと、一定間隔ごとに設定した黒枠検出用走査
   ラインの出力信号を２値化する第１の２値化手段と、こ
   の第１の２値化手段の２値化出力信号により黒枠を検出
   する黒枠検出手段と、この黒枠検出手段によって検出さ
   れたある注目走査ライン上の黒枠の座標がその前・後一
   定数の走査ライン上で検出された黒枠の座標の平均値よ
   り一定値以上離れている時に前記注目走査ライン上の黒
   枠の座標を前記平均値で置き換え黒枠範囲を確定する黒
   枠修正手段とを備えることを特徴とするマイクロフィル
   ムリーダの黒枠検出装置。
4. 【請求項４】 請求項３において、前記黒枠修正手段
   は、注目走査ラインの前・後一定数の走査ラインで検出
   された黒枠の座標の平均値を求める平均値演算手段と、
   前記注目走査ラインで検出された黒枠の座標と前記平均
   値との差の絶対値を求める差演算手段と、この差の絶対
   値を一定値と比較する比較手段と、前記差の絶対値が前
   記一定値より大の時に前記注目走査ラインの黒枠の座標
   を前記平均値に置き換える置換え手段と、各走査ライン
   の黒枠の座標を用いて黒枠範囲を決定する手段とを備え
   るマイクロフィルムリーダの黒枠検出装置。