JPH0624782Y2 - ロツクピン装置 - Google Patents

ロツクピン装置

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JPH0624782Y2
JPH0624782Y2 JP6925986U JP6925986U JPH0624782Y2 JP H0624782 Y2 JPH0624782 Y2 JP H0624782Y2 JP 6925986 U JP6925986 U JP 6925986U JP 6925986 U JP6925986 U JP 6925986U JP H0624782 Y2 JPH0624782 Y2 JP H0624782Y2
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JP
Japan
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pin
test head
lock
tip
sliding plate
Prior art date
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JP6925986U
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JPS62180780U (ja
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英行 小林
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Advantest Corp
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Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 ハンドラーを用いてICを試験をする場合に、信頼性の
高い試験を行うためには、ICテスターのテストヘッド
を、ハンドラーにおけるICのコンタト部分に直接接続
する必要がある。この際、多くのハンドラーにおいてI
Cのコンタクト部分は垂直に取りつけられているため
に、テストヘッドも測定部を垂直にして接続しなければ
ならない。又操作者が手作業にて試験を行う場合には、
テストヘッドの測定部を水平状態にして作業を行うこと
になる。これら双方の試験方法に対応するためにテスト
ヘッドは、垂直状態から水平状態に又水平状態から垂直
状態というようにその姿勢を容易に変更できるように専
用のスタンド(以下テストヘッドスタンド)に搭載され
ている。本考案はこのテストヘッドスタンドに装備され
てテストヘッドの所定の状態を保持するためのロックピ
ン装置に関する。
「従来技術」 従来のロックピン装置の使用例としては、第15,16
図に示すようなものがある。
以下第15,16図に基づいて従来の装置について説明
すると。
中間にツバ19を有する断面形状が円形のピン18の一
端には、圧縮コイルバネ22とプレート21が通された
後、ハンドル23が止められており、ピン18のもう一
方の端からはベース20が通されており、このベース2
0と上記のプレート21はネジなどにより固定されてい
る。このような構造になっているためにハンドル23、
もしくはピン18に矢印(ハ)の方向に力が加わってい
ない時には、圧縮コイルバネ22の反力によりピン18
の先端は第15図における(ニ)の位置まで突き出た状
態になっている。又圧縮コイルバネ22の反力より強い
力でハンドル23を矢印(ハ)の方向へ、いっぱいに引
くとピン18の先端は、圧縮コイルバネ22が密着長さ
になるまで圧縮されるために、第15図における(ホ)
の位置になる。仮にハンドルを離して第15図における
(ニ)〜(ホ)間でピン18の先端が障害物によって止
められたとしても圧縮コイルバネ22の反力によって常
にピン18には先端を(ニ)の位置まで押し出そうとす
る力が作用していることになる。
このロックピン装置を実際にテストヘッドの回転保持の
目的に使用する場合を例に取ると、テストヘッド9の回
転中心から等しい距離rの位置に、ピン18が挿入可能
となる二つのロック穴12,13を有する摺動板10が
テストヘッド9の側面に設けられており、ロックピン装
置はピン18がテストヘッド9の回転中心軸からrの位
置にあり、ピン18がロック穴12あるいは、13のい
ずれにも挿入可能な状態でテストヘッドスタンド14に
固定されている。(第5図)。摺動板10とロックピン
装置との間隔は、摺動板10におけるロック穴部12,
13とピン18の先端が一致した時には、第15図
(ニ)の如く圧縮コイルバネ22の反力によりピン18
の先端が摺動板10に設けられた穴部12,もしくは1
3に入り込み、ハンドル23を矢印(ハ)側にいっぱい
引いた時には、ピン18の先端が摺動板10の穴部(1
2もしくは13)から抜け第15図(ホ)の位置になり
摺動板10との間に一定の間隔が生ずるように設定す
る。
従来のロックピン装置によって、第5図,第6図の如く
水平で回転保持がなされているテストヘッド9を、第1
1,12図のように垂直に立てて回転保持がなされた状
態にする作業を例にとり、この時のロックピン装置の働
きを説明する。
(1),ハンドル23を矢印(ハ)側へ、いっぱいに引い
てピン18を摺動板10に設けられたロック穴12から
抜く。(第15図(ホ)) (2),ハンドル18を引いたままの状態でテストヘッド
9をわずかに回転させピン18とロック穴12の位置を
ずらしてから、ハンドル23をはなす。このとき圧縮コ
イルバネ22の作用によりピン18の先端が摺動板10
に押し当てられた状態になっている。(第17図) (3),テストヘッド9を垂直になるまで回転させる。
(テストヘッドを回転させている時には、ピン18の先
端と摺動板10との間では、滑りが生じていることにな
る。) (4),テストヘッド9を回転させて第11図のように垂
直になると摺動板10に設けられているロック穴13
が、ピン18が挿入可能となる位置へ回転してくるため
にピン18の先端部は圧縮コイルバネ22の作用により
瞬時に穴13に挿入され回転が保持される。(第12
図) 「考案が解決しようとする問題点」 大型のテストヘッド9を移動又は回転をさせて複数箇所
の所定の位置で状態を保持する場合には、テストヘッド
自体の撓み等による位置精度への悪影響をなくすため
に、このようなロックピン装置をテストヘッド9の両側
に取りつける必要が生ずるが、従来のロックピン装置を
テストヘッド9の両側に取りつけたとすると、前記の作
業(2)において同時に両側のピン18を摺動板10の穴
12もしくは13から抜いた状態に保持したままでテス
トヘッド9を回転させ、ロック穴12もしくは13の位
置をピン18の位置よりずらさなくてはならず、一人で
もって作業を行うことが困難になる。
「問題点を解決する手段」 この考案では、円形のピンの中間に付いたツバに切り欠
き部を設けるとともに、この切り欠き部と嵌合すること
が可能なストッパーを、ベースに設けることによりピン
の突出し距離を2段階に設定可能とすることによって、
テストヘッドの両側にロックピン装置を取りつけた場合
でも一人でもって容易にテストヘッドの位置又は姿勢を
変更する作業を行える様に試みたたものである。
「実施例」 第1,2,3,4図にこの考案の1実施例を示す。
中間に2箇所の切り欠き部8があるツバ2を有する断面
形状が円形のピン1があり、このピン1の一端は圧縮コ
イルバネ3とプレート4に設けられた穴部に通され後先
端にハンドル7が止められている。ピン1のもう一方
は、ベース5の穴部に通されている。このベース5には
ピン1のツバ2に設けられた切り欠き部8と嵌合可能な
ストッパー6が設けられておりベース5とプレート4
は、ボルト等によりしっかりと固定されている。
ベース5に設けられたストッパー6が、ピン1のツバ2
に設けられた切り欠き部8と噛み合った状態のときは
(第2図)、圧縮コイルバネ3の作用によってピン1は
ツバ2がベース5に当たる位置まで突き出た状態になっ
ている(第1図)。この状態からハンドル7を第1図に
おける矢印(イ)の方向へ、ベース5に取りつけられた
ストッパー6と、ピン1のツバ2に設けられた切り欠き
部8の噛み合わせが解除される位置まで引いてから、ハ
ンドル7をピン1の軸を中心にしていずれか一方にベー
ス5に設けられたストッパー6とピン1のツバ2に設け
られた切り欠き部8が、噛み合わない位置まで回転させ
た後(第4図)、ハンドル7をはなすとツバ2が圧縮コ
イルバネ3の作用によってベース5に設けられたストッ
パー6に押し当てられ停止する(第3図)。この状態は
第1図に比べてピン1の先端がベース5に取りつけられ
たストッパー6の厚み分だけ凹んでいることになる。す
なわちピン1の先端の位置は第1図もしくは第3図のい
ずれかの如く設定可能となる。
本考案のロックピン装置を実際にテストヘッドの回転を
保持する目的でテストヘッドの両側に取りつけて使用す
る場合の一例としては、第5図に示すようにテストヘッ
ド9の回転中心軸から等しい距離rの位置に、ピン1が
挿入可能となる2つのロック穴12,13を有する摺動
板10がテストヘッド9の両側面に設けられており、ロ
ックピン装置は、ピン1がテストヘッド9の回転中心軸
からrの位置にあり、摺動板10のロック穴12,13
へ挿入可能な状態でテストヘッドスタンド14の両側に
固定されている。(摺動板10とロックピン装置は各々
第7図於けるB−B′に対して対称になるようにとりつ
けられている)。摺動板10とロックピン装置との間隔
は、第1,2図のようにツバ2における切り欠き部8が
ストッパー6と嵌合し尚且つ摺動板10におけるロック
穴部のいずれか(第5図に於ける12,13の何れか)
とピン1の位置が一致した時には、圧縮コイルバネ3の
作用によりピン1の先端が摺動板10に設けられたロッ
ク穴部に入り込み(第8図)、ピン1に設けられている
ツバ2がストッパー6に当たっている状態では、ピン1
の先端が摺動板10のロック穴(12又は13)から抜
け摺動体10との間に一定の間隔が生ずるように設定す
る(第9図)。
現在、第5、第6図の如く水平の状態で両側より回転保
持がなされているテストヘッド9を、第11、第12図
のように垂直に立てて両側より回転保持がなされた状態
にする作業を例にとり、この時のロックピン装置の働き
を説明する。
(1),まず片側のロックピン装置のハンドル7を第8図
における矢印(ロ)側に、いっぱいに引いてピン1を摺
動板10に設けられたロック穴12から抜く。
(2),ハンドル7をいっぱいに引いたままの状態でピン
1の軸心を中心に何れかの方向に、ピン1のツバ2に設
けられた切り欠き部8とベース5に取りけられたストッ
パー6が噛み合わない位置まで回して手を離す(第4
図)。(この状態ではピン1に設けられているツバ2が
ベース5に取りつけられたストッパー6に当りピン1の
先端と摺動板10との間に一定の隙間が生じている。第
9図) (3),一方の手でテストヘッド9の回転を保持しなが
ら、上記2の作業をもう一方のロックピン装置について
も行う。
(4),テストヘッド9を回転させピン1の位置と摺動板
10に設けられたロック穴12(作業2,3でピン1を
抜いた穴部)の位置をずらす。
(5),第2図に示すようにテストヘッド9の回転を両側
より保持しているロックピン装置のハンドル7を一方ず
つ順次いずれかの方向へ、ピン1のツバ2に設けられて
いる切り欠き部8がベース5に付いているストッパー6
とかみ合う位置まで回転させる。(ピン1のツバ2に設
けられている切り欠き部8がベース5に付いているスト
ッパー6と噛み合う位置に来ると、圧縮コイルバネ3の
作用によって、先端が摺動板10に突き当たるまでピン
1が押し出される。第10図) (6),テストヘッド9を垂直になるまで回転させると自
動的にテストヘッド9の両側よりロックピン装置によっ
てテストヘッド9の回転が保持される。(テストヘッド
9が垂直となる位置まで回転すると摺動板10に設けら
れているロック穴13がテストヘッド9とともに回転し
ピン1の位置へ来たときに、圧縮コイルバネ3の作用に
よってピン1が瞬間的にロック穴13へ挿入される。第
12図) 以上の実施例においては、ピン1の先端にはなにも取り
つけられておらず、テストヘッドを回転させる際には摺
動板10との間で滑り接触が生ずることとなるが、此れ
は必ずしも滑り接触である必要がなく、例えば、13,
14図のようにピン17の先端に例えばカムフォロアの
ような円筒状の回転体15をピン17の軸と直交するよ
うに取りつけ所定の位置にテストヘッド9を回転させた
時に摺動板24に設けたロック溝16と嵌合するような
構造にしてもよい。このようにピン17の先端に円筒状
の回転体15を取りつけることによって、ピン17の先
端と摺動板24との間においてはころがり接触となり、
よりスムーズにテストヘッドを回転させることが可能に
なる。
「考案の効果」 この考案によれば、テストヘッドの位置あるいは姿勢を
保持する場合にテストヘッド自体の撓み等による位置精
度への悪影響を少なくするために、ロックピン装置を用
いてテストヘッドの位置及び姿勢を両側より保持する場
合でも一人の作業者でもって容易にテストヘッドの位置
を変更することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
第1、第3図は本考案の実施例(断面図)を示し第2図
は第1図におけるA−A′断面図を、第4図は第3図に
おけるB−B′断面図を示す。 第5図はテストヘッドスタンドに搭載され回転軸を中心
に回転させることが可能な状態にあるテストヘッドを水
平に寝かせて回転を保持した状態を示し第6図はそのC
−C′断面図を、第7図は第5図の平面図を示す。 第8図は本考案のロックピン装置のピンの先端がテスト
ヘッドに取りつけられた摺動板のロック穴部に挿入され
た状態を、第9図はピンに設けられているツバがストッ
パーに押し当られている状態を、第10図はピンの先端
が圧縮コイルバネの作用によって、摺動板に押し当てら
れている状態を示している。 第11図はテストヘッドスタンドに搭載されているテス
トヘッドを垂直に立てて回転を保持した状態を、第12
図はそのD−D′断面図を示す。 第13図はピンの先端に回転体を取りつけて、摺動板に
はこの回転体と嵌合するロック溝を設けた場合の一実施
例を、第14図はこのロックピン装置をテストヘッドス
タンドに取り付けた場合の平面図を示す。 第15図は従来のロックピン装置の構造と摺動板に設け
られているロック穴部との関係を示す断面図を、第16
図は第1図のE−E′断面図を示す。 第17図は従来のロックピン装置においてピンの先端が
圧縮コイルバネの作用によって、摺動板に押し当られて
いる状態を示す。 1,17,18;ピン 2,19;ツバ 3,22;圧縮コイルバネ 4,21;プレート 5,20;ボックス 6;ストッパー 7,23;ハンドル 8,切り欠き 9;テストヘッド 10,24;摺動板 11;テストヘッド回転シャフト 12,13;ロック穴 14;テストヘッドスタンド 15;円筒状回転体 16;ロック溝

Claims (2)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】ICテスターのテストヘッドを搭載する専
    用スタンドに用いられ、中間にツバが設けられた円形の
    ピンと当該ピンの一方の端部が挿通される圧縮コイルバ
    ネを有し、当該圧縮コイルバネの反発力により、テスト
    ヘッド側に設けられたロック穴又はロック溝と前記ピン
    の他方の端部が嵌合することにより、テストヘッドの位
    置及び姿勢を保持するロックピン装置において、 前記ピンの中間に設けられたツバには一又は複数の切り
    欠き部が形成され、当該切り欠き部と嵌合する一又は複
    数のストッパーを有することを特徴とするロックピン装
    置。
  2. 【請求項2】テストヘッド側に設けられたロック穴又は
    ロック溝と嵌合する側のピンの先端に、その回転軸がピ
    ンの軸と直交する様に円筒状の回転体が取りつけられて
    いることを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項記
    載のロックピン装置。
JP6925986U 1986-05-08 1986-05-08 ロツクピン装置 Expired - Lifetime JPH0624782Y2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6925986U JPH0624782Y2 (ja) 1986-05-08 1986-05-08 ロツクピン装置

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JP6925986U JPH0624782Y2 (ja) 1986-05-08 1986-05-08 ロツクピン装置

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Publication Number Publication Date
JPS62180780U JPS62180780U (ja) 1987-11-17
JPH0624782Y2 true JPH0624782Y2 (ja) 1994-06-29

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ID=30909827

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JP6925986U Expired - Lifetime JPH0624782Y2 (ja) 1986-05-08 1986-05-08 ロツクピン装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2647162B2 (ja) * 1988-09-09 1997-08-27 東京エレクトロン株式会社 検査装置

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JPS62180780U (ja) 1987-11-17

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