JPH0624202B2 - 水洗式中間ステ−ジ - Google Patents

水洗式中間ステ−ジ

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JPH0624202B2
JPH0624202B2 JP62011072A JP1107287A JPH0624202B2 JP H0624202 B2 JPH0624202 B2 JP H0624202B2 JP 62011072 A JP62011072 A JP 62011072A JP 1107287 A JP1107287 A JP 1107287A JP H0624202 B2 JPH0624202 B2 JP H0624202B2
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JP
Japan
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wafer
intermediate stage
manifold
outer tank
water
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Application number
JP62011072A
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English (en)
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JPS63178531A (ja
Inventor
雅臣 山野
敏文 橋口
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Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Kyushu Fujitsu Electronics Ltd
Fujitsu Ltd
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Publication date
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  • Grinding Of Cylindrical And Plane Surfaces (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 ウエーハプロセスが完了したウエーハを背面研磨装置に
ロードする際に用いる中間ステージであって、排水管を
備えた外槽と、周囲にガイドを備え、中心部に洗浄液の
マニホールドを有し、この外槽内に設けられた内槽と、
このマニホールドの表面に対して鋭角方向に穿設された
洗浄液の噴出孔と、この外槽の側壁を貫通してこのマニ
ホールドの底面に接続されており洗浄液を供給する供給
管とを具備することを特徴とする水洗式中間ステージ。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ウエーハの背面研磨装置に係り、特にウエー
ハプロセスが完了したウエーハをロードする際に用いる
中間ステージの改良に関するものである。
ウエーハプロセスが完了したウエーハは、その時点で半
導体チップとしての厚みにするために、背面を研磨する
背面研磨装置で加工される。
この場合に、ウエーハのパターンの存在する面を下にし
て中間ステージに載せて、そこからウエーハを背面研磨
装置の定盤の上にロードするが、ウエーハのパターンの
存在する面に損傷を与える異物が付着することがあり、
更に、異物に起因するマイクロクラックが発生すること
がある。
このような状況から、ウエーハのパターンの存在する面
に損傷を与えず、マイクロクラックを発生させない中間
ステージがが要望されている。
〔従来の技術〕
従来の中間ステージは第2図に示すように、四方にガイ
ド13を有し、ウエーハ1のパターンの存在する面に損傷
を与えないような材料、例えばプラスチックのスポンジ
状のシート8を備えたものである。
このシート8は、本来はウエーハ1のパターンに損傷を
与えるものではないが、ウエーハ1に付着したシリコン
の破片やその他の塵埃がこのシート8に付着し、それら
がウエーハ1に付着したままでウエーハ1が背面研磨装
置にロードされると、研磨加工中にウエーハ1表面のパ
ターンに損傷を与えたり、ウエーハ1にマイクロクラッ
クを生じさせたりしている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
以上説明の従来の中間ステージで問題となるのは、中間
ステージに備えてあるプラスチックのスポンジ状のシー
ト8に、シリコンの破片やその他の塵埃が蓄積されてウ
エーハ1に付着し、背面研磨加工時にウエーハ1の表面
のパターンに損傷を与えたり、ウエーハ1にマイクロク
ラックを生じさせることである。
本発明は以上のような状況から簡単且つ安価に製造可能
な水洗式中間ステージの提供を目的としたものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の水洗式中間ステージは、ウエーハプロセスが完
了したウエーハを背面研磨装置にロードする際に用いる
中間ステージであって、排水管を備えた外槽と、周囲に
ガイドを備え、中心部に洗浄液のマニホールドを有し、
この外槽内に設けられた内槽と、このマニホールドの表
面に対して鋭角方向に穿設された洗浄液の噴出孔と、こ
の外槽の側壁に貫通してこのマニホールドの底面に接続
されており洗浄液を供給する供給管とを具備するように
構成する。
〔作用〕
即ち本発明においては水洗式中間ステージに載せられる
ウエーハ1は、第1図に示すように先ずガイド3によっ
て中央に挿入され、供給管2bによりマニホールド2底面
に供給された液体ウエーハの面に対して小さな鋭角をも
った噴出孔2aから噴出するから、水流が矢印に図示する
ようにウエーハ1のパターン形成面に沿って流れるの
で、パターン形成面に付着している異物は全て洗い流さ
れて内槽4の縁からオーバーフローして外槽5内にこぼ
れ落ちて排水管7から排出され、背面研磨装置にロード
されるウエーハ1のパターン形成面には異物が存在しな
くなるので、パターン形成面が損傷を受けたり、ウエー
ハ1にマイクロクラックを生じさせることがなくなり、
良質の半導体ウエーハを得ることが可能となる。
〔実施例〕
以下第1図について本発明の一実施例を説明する。
第1図に示すように本発明の中間ステージは排出管7を
設けた外槽5の中に、周囲にガイド3を6個所に設けた
内槽4をスペーサ6を介して設置した構造を有してお
り、ウエーハ1の表面に水を吹きつける噴出孔2aが内槽
4の中心部に設けられているマニホールド2の表面に形
成されている。
水洗用の水は、図示のように外槽5を貫通する供給管2b
によって内槽4の中心部に設けたマニホールド2に供給
され、ウエーハ1の面に対して鋭い鋭角をもって穿孔加
工された噴出孔2aから噴出し、内槽4の縁からオーバー
フローして外槽5中にこぼれ落ち、排水管7から排出さ
れる。
なお、水の流れを安定させるために、内槽4の底に水ぬ
き孔4aを設けて水を少しづつ流している。
図示しないウエーハキャリアからこの中間ステージに供
給されるウエーハ1は、ガイド3に設けた入り勾配によ
って正しく中心部にガイドされて内槽4内の水面に載せ
られる。
このウエーハ1の面に噴出された水流によってウエーハ
1は回転させれると同時にウエーハ1の面に付着した異
物が洗い流される。
このように背面研磨装置にロードする前に、ウエーハ1
を位置決めすると同時に水流によって水洗するので、背
面研磨装置において研磨加工する際に、ウエーハ1表面
のパターンに損傷を与えたり、ウエーハ1にマイクロク
ラックを生じさせないようにすることが可能となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、極めて簡単な構造
の水洗式中間ステージを用いることにより、背面研磨加
工時にウエーハのパターン面が損傷を受けたり、ウエー
ハにマイクロクラックを生じさせることがなくなる等の
利点があり、著しい経済的及び、信頼性向上の効果が期
待でき工業的に極めて有用である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による一実施例を示す図、 第2図は従来の中間ステージを示す図、 である。 図において、 1はウエーハ、 2はマニホールド、2aは噴出孔、2bは供給管、 3はガイド、 4は内槽、 4aは水ぬき孔、 5は外槽、 6はスペーサ、 7は排水管、 を示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ウエーハプロセスが完了したウエーハを背
    面研磨装置にロードする際に用いる中間ステージであっ
    て、 排水管(7) を備えた外槽(5) と、 周囲にガイド(3) を備え、中心部に洗浄液のマニホール
    ド(2) を有し、前記外槽(5) 内に設けられた内槽(4)
    と、 前記マニホールド(2) の表面に対して鋭角方向に穿設さ
    れた洗浄液の噴出孔(2a)と、 前記外槽(5) の側壁を貫通して前記マニホールド(2) の
    底面に接続されており洗浄液を供給すの供給管(2b)と、 を具備することを特徴とする水洗式中間ステージ。
JP62011072A 1987-01-20 1987-01-20 水洗式中間ステ−ジ Expired - Lifetime JPH0624202B2 (ja)

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JPS63178531A JPS63178531A (ja) 1988-07-22
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US5517711A (en) * 1993-08-05 1996-05-21 Byong Duk Choi Toothbrush
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