JPH0623582A - リフローはんだ付け可能な導電性ペースト - Google Patents

リフローはんだ付け可能な導電性ペースト

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JPH0623582A
JPH0623582A JP18224592A JP18224592A JPH0623582A JP H0623582 A JPH0623582 A JP H0623582A JP 18224592 A JP18224592 A JP 18224592A JP 18224592 A JP18224592 A JP 18224592A JP H0623582 A JPH0623582 A JP H0623582A
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JP
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resin
paste
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weight
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JP18224592A
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English (en)
Inventor
Akinori Yokoyama
明典 横山
Akira Otani
章 大谷
Fumihiro Higashinakagaha
文博 東中川
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 はんだ付け性、特にリフローでのはんだ付け
可能な導電性ペーストに関するもので、はんだ付けのみ
ならず基材との優れた接着性を有するペーストである。
幅広い分野の電子部品への応用が可能である。 【構成】 一般式Agx Cu1-x (ただし、0.001
≦x≦0.4、原子比)で表され、表面の銀濃度が平均
の銀濃度の2.1倍より高く、かつ粒子内部より表面に
向かって銀濃度が増加する領域を有している銅合金粉末
100重量部少なくとも1種類以上のフェノール樹脂1
〜50重量部、フェノール樹脂100−重量部にたいし
てエポキシ樹脂0.5〜50部、トリエタノールアミン
0.001〜30部、ロジン0.001〜30部よりな
るリフローはんだ付けペースト。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、はんだ付け性が良く、
特にリフローでのはんだ付け可能な導電性ペースト及び
該ペーストを用いた成形体に関するものである。コンデ
ンサー外部電極、コンデンサー匡体の固着、太陽電池用
導電回路、ITOガラス電極、IOガラス電極、ネサガ
ラス電極、プリント回路のはんだ付け導通部、厚膜導体
回路、ジャンパー回路、ハイブリッドIC回路に応用で
きる。
【0002】
【従来の技術】樹脂をバインダーとした導電性ペースト
として、従来より銀、銅、銀パラジウム、金、白金、ニ
ッケル、カーボンペーストが公知であるが、はんだ付け
可能な導電性ペーストとしては銅、銀、銀メッキ銅、銀
−銅メカニカルアロイング粉を用いたものが良く知られ
ている。これら公知材料は、熱硬化、電線硬化、近ある
いは遠赤外線硬化で塗布膜を硬化させ、はんだ付けして
用いられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】公知はんだ付け可能導
電性ペーストの課題としては以下のとおりである。銅粉
を用いたものは、粒子表面の酸化性が高く、はんだ付け
の場合、付けムラが生じる。銀粉を用いたものは、導電
性は得られるが、はんだ食われが起こり易く、はんだと
の接着強度が得られない。また、導体として用いる場
合、銀のマイグレーションの問題がある。銀メッキ銅粉
を用いたものでは、少量の銀のメッキ粉でもやはり銀の
マイグレーションの問題がある。また、銀−銅のメカニ
カルアロイニング粉を用いた場合には、銅のはんだ付け
性を向上する、多量の銀を必要とするものであり、その
ために、マイグレーション性を悪くすることになる。
【0004】公知のはんだ付け方法としては、デイップ
法、リフロー法などあるがこれらの方法を用いても前記
の課題が存在する。特に、フラックスを硬化膜に塗布
し、その後はんだ付けするタイプの場合よりリフロータ
イプのはんだ付けではフラックスの塗布を行わない場合
が殆どで、はんだ付け性が公知導電性ペーストではさら
に困難になる。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、鋭意検討
した結果、一般式Agx Cu1-x (ただし、0.001
≦x≦0.4、原子比)で表され、且つ粒子表面の銀濃
度が平均の銀濃度の2.1倍より高く、銀濃度が表面に
向かって増加する領域を有する銅合金粉末100重量部
に対して、少なくとも1種類以上のフェノール樹脂を1
〜50重量部、ロジン0.001〜40部含有してなる
ペーストが導電性及びはんだ付け性、特にリフローはん
だ付け良好であることを見いだした。
【0006】本発明で用いる、表面の銀濃度が2.1倍
以上で、且つ銀濃度が内部より表面に向かって増加する
領域を有する銅合金粉末は、既に本発明者らにより出願
されているUSP5091114で開示されているが、
かかる組成の銅合金粉末を不活性のガスアトマイズによ
り作製するのが好ましい。本発明で用いることのできる
銅合金粉末の銀量xは0.001未満では充分なはんだ
付け性が得られず、0.4を越える場合には、ハンダ食
われが起こり易くなり、接着性が劣る。また、表面濃度
の銀濃度としては、平均の銀濃度の2.1倍以上である
が、2.1倍以上25倍以下が好ましく、3倍以上15
倍以下がさらに好ましい。表面の銀濃度とは、すでに開
示されているXPS(X線光電子分光分析装置:XSA
M800KRATOS社製)を用いて測定した。試料台
に導電性を有するカーボン両面接着テープをはりつけ、
かかる組成の試料粉末を変形させないように静かに両面
テープ上を完全に覆うように付着させた。以下の条件で
測定した。
【0007】測定条件;10-8torr アルゴン雰囲
気マグネシウムのKα線(電圧12kV、電流10m
A)を入射させ、光電子の取り出し角は試料面にたいし
て90度で行った。 エッチング条件;アルゴンガスを加速電圧3keV、ア
ルゴンイオンビームの試料面に対する入射角45度、室
内圧力10-7torr、10分間で行った。銀濃度の測
定は、測定とエッチングを5回繰り返し行い、最初の2
回の測定値の平均値を表面の銀濃度とした。平均の銀濃
度の測定は、濃硝酸中で溶解し、ICP(高周波誘導結
合型プラズマ発光分析計 セイコー電子製)を用いて測
定した値である。
【0008】本発明で用いる銅合金粉末に必要であれば
金属組成として、Ti、Zn、Sn、Pt、Au、P
d、Pb、Mn、Mg、Li、B、P、C、Si、I
n、Al、Sb、Cr、Ge、Co、Zr、W、Ta、
Tl、Bi、Ni、Feの元素よりなる化合物を添加し
ても構わない。本発明で用いる銅合金粉末の平均粒子径
としては、0.1〜100μmであり、0.1μm未満
であると粉末の酸化のためはんだ付け性が劣る。また、
100μmを越える場合には、塗布膜の厚みが厚くなり
すぎて導電性が悪くなる。好ましくは0.1〜50μ
m、さらに0.3〜20μmが好ましい。ここで用いる
平均粒子径は体積積算平均粒子径を意味する。測定はレ
ーザー回折型粒径測定装置を用いて行った。粒子形状
は、球状、薄片状及びそれらの混合物など公知の形状の
粉末を用いることができる。
【0009】薄片状粉の場合には、アスペクト比(円盤
状の最も長い径/厚み)が2以上である粉末が好まし
い。アスペクト比は2以上500以下が好ましい。本発
明で用いるフェノール樹脂としては、公知のフェノール
樹脂を用いることができるが、ノボラック型フェノール
樹脂、レゾール型フェノール樹脂、キシレン樹脂変性レ
ゾール型樹脂、ロジン変性フェノール樹脂が挙げられ
る。なかでも、レゾール型、および変性レゾール型樹脂
が好ましい。フェノール樹脂量は、1〜50重量部であ
るが、好ましくは1〜30重量部である。1未満の場合
には、接着性が不十分であり、50を越える場合にはは
んだ付け性が劣る。また、用途に応じて特に接着性を向
上するためにエポキシ樹脂を混合して用いるのが良い。
たとえば、エポキシ樹脂の混合割合は、フェノール樹脂
100重量部に対して0.5〜50重量部、好ましくは
1〜30重量部混合することができる。50部を越える
場合には、はんだ付け性が悪くなる。
【0010】本発明のリフローはんだ付け可能導電性ペ
ーストは、溶剤を用いることができる。これは、ペース
トに適当な粘度、チキソ性を与えるものであり、公知の
溶剤が使用できる。エポキシ樹脂を混合したものについ
ては、反応性希釈剤を用いることもできる。例えば、エ
チルセロソルブ、メチルセロソルブ、ブチルセロソル
ブ、ヘキシルセロソルブ及びそれらのアセテート、メチ
ルカルビトール、ブチルカルビトール及びそれらのアセ
テート、酢酸ブチル、トルエン、酢酸メチルなど公知の
溶剤で構わない。
【0011】フェノール性OH変性エポキシ樹脂、アク
リル樹脂、ウレタン樹脂、ポリエステル樹脂、アミノ樹
脂を混合して用いることもできる。硬化する方法として
は、公知の方法で構わない。特に、雰囲気としては、空
気中、窒素中あるいは還元雰囲気中で硬化することがで
きる。硬化温度としては、100℃〜180℃、好まし
くは、130℃〜180℃である。加熱、遠赤外線、近
赤外線、電子線などで硬化させることができる。
【0012】本発明のリフローはんだ付け可能導電性ペ
ーストは、銅合金粉末100重量部に対してトリエタノ
ールアミン0.001〜30重量部を含有しているが、
30重量部を越える場合には、接着性が劣る。また、
0.001重量部未満の場合には、耐環境性が劣る。好
ましくは、0.01〜10重量部であり、さらに、0.
1〜7部が好ましい。
【0013】本発明のリフローはんだ付け可能導電性ペ
ーストは、銅合金粉末100重量部に対してさらにロジ
ンを0.001〜30部含有しているが、ロジンとして
は、部分水添ロジン、完全水添ロジン、エステル化ロジ
ン、マレイン化ロジン、不均化ロジン、重合ロジンなど
の変性ロジンが挙げられる。30部を越える場合には、
ペーストのだれが生じ易くなり、接着性が不十分にな
る。0.001部未満の場合には、リフローでのはんだ
付け性が悪くなる。好ましくは、0.5〜20部であ
り、さらに、0.6〜10部が好ましい。本発明は、は
んだ浴にディップでのはんだ付け可能であるのみならず
リフローでのはんだ付け性を可能にするものである。リ
フローでのはんだ付けは、公知のリフロー炉を用いて行
うことができる。例えば赤外線加熱、熱風循環方式、気
化潜熱方式、ホットプレート、加熱ツール、光ビーム、
レーザー、エアヒーター方式などが使用できる。加熱温
度としては、使用はんだペーストの融点の10℃〜20
℃高めに最高温度を設定するのが好ましい。はんだ付け
雰囲気としては、空気中、窒素中、還元ガス雰囲気中い
ずれでも構わない。はんだ付けするはんだは、公知のは
んだを用いることができる。
【0014】本発明のリフローはんだ付け可能ペースト
に必要に応じて、チキソ剤、消泡剤、銅酸化物除去例、
カップリング剤を加えることもできる。銅酸化物除去剤
としては、高級脂肪酸及びその銅塩(リノール酸、ステ
アリン酸、リノレン酸、オレイン酸)、フェノール及び
フェノール化合物(例えばハイドロキノン、カテコー
ル、ピロカテコール、ピロガロールなど)などや、チキ
ソ剤としては水添ひまし油や、カップリング剤としては
シランカップリング剤、チタンカップリング剤を添加す
ることもできる。これらの添加剤は、銅合金粉末100
重量部に対して0.01〜50重量部が好ましく、さら
に、0.1〜30重量部が好ましい。
【0015】本発明のリフローはんだ付け可能導電性ペ
ーストを塗布あるいは印刷して用いる基材としては、1
つには有機基材がある。材料としては、ポリフェニレン
サルファイド樹脂、紙フェノール樹脂基板、ガラスエポ
キシ樹脂基板、ポリフェニレエーテル樹脂、ポリエーテ
ルケトン樹脂、ポリエステル樹脂、ポリスチレン樹脂、
ポリイミド樹脂、フェノール樹脂、エポキシ樹脂があげ
られる。これらの基材の形状は基板、匡体、異種基板
間、粒子など挙げられる。塗布方法は特に指定はなく公
知の方法で構わない。これらの基材を用いたものとして
は、例えば、アルミ電解コンデンサーの匡体の固着ある
いは電極部の接合、プリント回路のはんだ付け用導通
部、プリント回路の厚膜導体回路、プリント基板のジャ
ンパー回路部、フレキシブル基板プリント回路にもちい
ることができる。
【0016】また、セラミック基材としては、アルミナ
基板、ちっかアルミナ基板、ガラス基板、炭化ケイソ基
板などの上に塗布あるいは印刷してもちいる導電回路あ
るいは接点として、またはタンタルコンデンサーの外部
電極として用いることができる。また、導電性基材とし
ては、前記有機基材の導電性付与材料のみならず、導電
性ガラス電極、金属基材上に用いることができる。例え
ば、ITOあるいはIOガラス電極上の回路、接点、ま
たはネサガラス電極の回路、接点などや、液晶パネル内
部のガラス間の導電性接点、光導電素子のCdS部のリ
ード線接着用、回路補修用、ポテンショメーターのリー
ド線接着用、太陽電池用電極部として使用できる。金属
基材としては,プリント基板銅箔部、アルミ電解コンデ
ンサーの銅あるいはアルミ電極の接合部、太陽電池用電
極接点部、回路部、ホウロウ基板に用いることができ
る。
【0017】本発明は、はんだ付け性に優れ、特にリフ
ローでのはんだ付け性に優れた銅合金粉末からなる導電
性ペーストに関するものであり、以下に実施例により説
明する。
【0018】
【実施例】
【0019】
【実施例1】銅粒子(平均粒子径2mm、純度99.9
%以上)228.6g、銀粒子(平均粒子径3mm、純
度99.9%以上)43.2gを混合して黒鉛るつぼに
入れ、高周波誘導加熱装置を用いて窒素雰囲気中で17
00℃まで加熱溶解した。溶解後、るつぼ先端より窒素
雰囲気中へ噴出した。噴出と同時に、窒素ガス(純度9
9.99%以上)(30kg/cm2 G)を融液に対し
て噴出し、アトマイズした。得られた粉末は、平均粒子
径12μmの球状粉末であった。得られた粉末の表面の
銀濃度の測定をしたところ、表面より0.6、0.5
4、0.45、0.3、0.26であり、表面の銀濃度
は0.57、平均の銀濃度xは0.1であり、表面の銀
濃度は平均の銀濃度の5.7倍であった。得られた粉末
の中10μm以下の粉末10g、レゾール型フェノール
樹脂0.6g、トリエタノールアミン0.01g、ロジ
ン0.03g、ヘキシルセロソルブ0.3g、チタンカ
ップリング剤0.001g、チキソ剤0.0001gを
混合してペーストとした。
【0020】
【実施例2】実施例1で得られたペーストをポリフェニ
レンサルファイド樹脂で作製されたアルミ電解コンデン
サー匡体に塗布し、170℃15分間で加熱硬化した。
硬化膜にクリームはんだペーストを塗布し、150℃2
分間さらに、225℃20秒に設定されたリフロー炉で
はんだ付けした。はんだ付け性は100%であった。ま
た、同様にして、ガラスエポキシ樹脂基板上へ塗布し、
170℃15分間で加熱硬化した。硬化後、先ほどのク
リームはんだを塗布し、同様にしてリフロー炉ではんだ
付けした。はんだ付け性は100%であった。
【0021】
【実施例3】実施例1で得られたペーストを太陽電池用
パネルのITO導電性膜の上に200μm幅、30mm
長さで塗布した。塗布後、170℃20分間加熱硬化し
た。硬化後、クリームはんだペーストを塗布した。塗布
後、150℃2分、230℃20秒のリフロー炉ではん
だ付けした。はんだ付け性は良好であった。また、IT
Oとの接着性は、良好であった。導電性もはんだ付け前
で10-4Ω・cmと良好であった。
【0022】
【実施例4】実施例1で得られたペーストをポリエーテ
ルケトン樹脂基板1mm厚み上に200μm幅、30m
m長さのラインをスクリーン印刷で印刷した。170℃
15分加熱硬化した。硬化膜の上に、クリームはんだペ
ーストを印刷し、リフロー炉で230℃ではんだ付けし
た。はんだ付け性は100%であった。はんだ付け前の
導電性は、10-4Ω・cmであった。この基板にさら
に、パターンを印刷して導電回路として用いた。
【0023】
【実施例5】実施例1で得られたペーストをアルミナ基
板上へ回路を印刷した。170℃で遠赤外線を用いて硬
化した。硬化膜にさらに、はんだペーストを印刷して、
230℃リフロー炉ではんだ付けした。はんだ付け前の
導電性は、10-4Ω・cmであり、はんだ付け性は10
0%であった。
【0024】
【実施例6】実施例1で得られたペーストを紙フェノー
ル基板の銅箔を既にエッチングして作製された100μ
mの導体間(間隔1mm)にジャンパー回路としてスク
リーン印刷した。170℃で近赤外線を用いて加熱硬化
した。導電性は、10-4Ω・cmであった。さらに、ジ
ャンパー線の一部にはんだペーストを印刷し、230℃
リフロー炉ではんだ付けした。はんだ付け性は100%
であった。
【0025】
【実施例7】実施例1で得られたペーストを銅箔積層さ
れたポリフェニレンエーテル樹脂基板上に回路をスクリ
ーン印刷した。170℃20分間加熱硬化した。導電性
は10-4Ω・cmであった。さらに、はんだペーストを
回路の端子に印刷し、230℃リフロー炉ではんだ付け
した。はんだ付け性は100%であった。
【0026】
【実施例8】実施例1で得られたペーストをポリスチレ
ン樹脂匡体で作製された部品上に塗布した。160℃3
0分間加熱硬化した。さらに、はんだペーストを塗布
後、150℃2分間、230℃20秒間リフロー炉では
んだ付けした。はんだ付け性は100%であった。
【0027】
【実施例9】実施例1で得られたペーストをポリイミド
樹脂基板上へ回路をスクリーン印刷した。165℃で設
定された遠赤外線炉で加熱硬化した。導電性は、10-4
Ω・cmであった。さらに、はんだ浴230℃に5秒間
dipした。はんだ付け性は100%であった。
【0028】
【実施例10】銅粒子252.7g、銀粒子2.16g
を黒鉛るつぼに入れ、高周波誘導加熱装置を用いて窒素
雰囲気中で1700℃まで加熱溶解した。溶解後、るつ
ぼ先端より窒素雰囲気中へ融液を噴出した。噴出と同時
に、窒素ガス(純度99.99%以上、圧力40kg/
cm2 G)を融液に向かって噴出しアトマイズした。得
られた粉末は平均粒径11μmであった。表面の銀濃度
を測定したところ、表面より0.1、0.06、0.0
4、0.02、0.01であり、表面の銀濃度は0.0
8であった。平均の銀濃度xは0.005であり、表面
の銀濃度は平均の銀濃度の16倍であった。得られた粉
末の中10μm以下の粉末10g、レゾール型フェノー
ル樹脂2g、エポキシ樹脂0.1g、ロジン0.2g、
トリエタノールアミン0.2g、チキソ剤0.001
g、ブチルセロソルブ2g、消泡剤0.001gを充分
に混合してペーストとした。
【0029】
【実施例11】実施例10で得られたペーストを用いて
既に回路が形成されているちっかアルミニウム基板に2
mm角パットを印刷し、170℃20分間で硬化した。
さらに、はんだペーストをパット上に印刷し、230℃
に設定されたリフロー炉ではんだ付けした。はんだ付け
性は100%であった。このパットを導電回路の接点と
して使用した。
【0030】
【実施例12】実施例10で得られたペーストを用いて
液晶デスプレイの部品で使用するネサガラス上に電極接
点として印刷した。印刷後、170℃15分間で赤外線
炉を用いて硬化した。さらに、クリームはんだを硬化さ
れた膜上に印刷後、230℃に設定されたリフロー炉で
はんだ付けした。膜の厚み方向の導電性は充分であり、
はんだ付け性は100%であった。
【0031】
【実施例13】実施例10で得られたペーストを用い
て、すでにカーボンペーストが塗布、硬化されているタ
ンタルコンデンサーの外部電極にディップで全面に塗布
した。塗布後、160℃30分間加熱硬化した。硬化
後、さらに、はんだペーストを全面に塗布し、240℃
に設定されているリフロー炉ではんだ付けした。導電性
をさらに銀電極をつけて計ったところ、10-5Ω・cm
のオーダーの良好な導電性が得られた。はんだ付け性は
100%であった。
【0032】
【実施例14】実施例10で得られたペーストを用い
て、光導電素子のCdS部に塗布した。170℃15分
間加熱硬化した。さらに、はんだペーストを塗布して2
30℃15秒に設定されたリフロー炉ではんだ付けし
た。導電性と接着性は良好であった。はんだ付け部をリ
ード線取り出して用いた。
【0033】
【実施例15】実施例10で得られたペーストを用い
て、ポテンショメーターのリード線取付部に塗布した。
170℃20分間加熱硬化した。さらに、はんだペース
トを塗布し、230℃20秒に設定されたリフロー炉で
はんだ付けした。リード線を付けたところ、強度、はん
だ濡れ性共に良好であった。
【0034】
【実施例16】実施例10で得られたペーストを用い
て、アルミ電解コンデンサーのアルミ取り出し電極部に
印刷した。160℃30分間加熱硬化した。さらに、は
んだペーストを印刷し、片側の銅の接点に張り付け23
0℃20秒の設定のリウロー炉ではんだ付けした。接着
強度、導電性ともに良好であった。
【0035】
【実施例17】実施例10で得られたペーストを用い
て、ホウロウ基板に回路をスクリーン印刷で作製した。
180℃10分間で加熱硬化した。さらに、はんだペー
ストを印刷後、230℃15秒に設定されたリフロー炉
ではんだ付けした。はんだ付け性は100%であった。
基板との接着性も充分であった。
【0036】
【実施例18】銀粒子228.6g、銀粒子43.2g
を混合し、黒鉛るつぼに入れ、窒素雰囲気中で1750
まで高周波誘導加熱を用いて加熱溶解した。融解後、融
液を窒素雰囲気中(純度99.9%以上)にるつぼ先端
より噴出した。噴出と同時に、窒素ガス(20kg/c
2 G、純度99.99%以上)を融液に対して噴出
し、アトマイズした。得られた粉末は平均粒子径12μ
mの球状粉であった。表面の銀濃度の測定をしたとこ
ろ、表面より、0.7、0.6、0.55、0.45、
0.39であり、表面の銀濃度は0.65、さらに、平
均の銀濃度xは0.1であり、表面の銀濃度は平均の銀
濃度の6.5倍であった。
【0037】得られた粉末の中、10μm以下の粉末1
0g、キシレン樹脂変性レゾール型フェノール樹脂1.
0g、ノボラック型フェノール樹脂1.0g、ロジン変
性フェノール樹脂0.5g、レゾール型フェノール樹脂
1g、水添ロジン0.2g、マレイン化ロジン0.1
g、完全水添ロジン0.4g、不均化ロジン0.5g、
重合ロジン0.3g、トリエタノールアミン0.001
g、チキソ剤0.001g、チタンカップリング剤0.
001g、ヘキシルセロソルブ1g、ブチルカウビトー
ルアセテート1g、消泡剤0.001gを充分に混合し
てペーストとした。
【0038】
【実施例19】実施例18で得られた10μm以下の粉
末10gをソルベントザフサ50cc、表面活性剤0.
1g、2mmφのステンレスボール200個を用いて、
ステンレス容器中で振動ボールミルを用いて10分間鱗
片化した。得られた粉末をろ過、乾燥したところ、平均
粒子径25μm、厚さ1μm(アスペクト比25)の鱗
片が得られた。得られた燐片粉10gを用いて実施例1
8と同一配合組成のペーストを作製した。
【0039】
【実施例20】実施例19で得られたペーストをポリエ
ステルフレキシブルプリント基板のエッチング処理され
た銅箔部に印刷し、170℃20分間で加熱硬化した。
さらに、グランド取り出し部にはんだペーストを印刷
し、230℃20秒間でリフロー炉ではんだ付けした。
導通、接着性ともに良好であった。また、180度織り
曲げても接着性は良かった。
【0040】
【実施例21】実施例18で得られたペーストを用いて
ガラスで作製された電子部品の匡体に塗布した。170
℃に設定された遠赤外線炉で加熱硬化した。硬化膜の表
面にはんだペーストを塗布し、230℃リフロー炉では
んだ付けした。はんだ付け部からリード先の取り出しを
行った。はんだ付けぶの接着性、付着性ともに充分であ
った。
【0041】
【実施例22】銅粒子177.8g、銀粒子129.6
gを充分に混合し、黒鉛るつぼに入れ1650℃まで窒
素雰囲気中(純度99.99%以上)で高周波誘導加熱
を用いて融解した。融液をるつぼ先端より窒素雰囲気中
へ噴出し、同時に窒素ガス(45kg/cm2 G、純度
99.99%以上)を用いてアトマイズした。
【0042】得られた粉末は平均粒子径10μmの球状
粉であった。表面の銀濃度は表面より0.9、0.8、
0.7、0.6、0.5で表面の銀濃度は0.85であ
った。平均の銀濃度xは0.3であり、表面の銀濃度は
平均の銀濃度の2.83倍であった。得られた粉末の中
5μm以下の粉末10g、レゾール型フェノール樹脂
0.1g、エポキシ樹脂0.05g、ノボラック型フェ
ノール樹脂0.05g、完全水添ロジン0.0005
g、部分水添ロジン0.0005g、トリエタノールア
ミン1g、シランカップリング剤0.0001g、ステ
アリン酸0.0001g、フェノール0.002g、ピ
ロガロール0.001g、熱硬化性アクリル樹脂0.0
001g、エチルセロソルブアセテート2gを混合して
ペーストとした。
【0043】
【実施例23】実施例22で得られたペーストを既にガ
ラスエポキシプリント基板上に形成されている絶縁膜
(エポキシ樹脂)上にジャンパー線として印刷した。印
刷後、170℃遠赤外線炉で加熱硬化した。硬化膜上に
はんだペーストを印刷した。230℃のリフロー炉では
んだ付けしたところジャパン線の回路接続部へのはんだ
付け性は充分であった。また、接着性も充分であった。
【0044】
【比較例】
【0045】
【比較例1】市販銅粉末(純度99.9%以上、平均粒
子径2μm)10g、レゾール型フェノール樹脂1g、
エポキシ樹脂0.3g、部分水添ロジン0.1g、トリ
エタノールアミン0.01g、フェノール0.001
g、ステアリン酸0.001g、ブチルカルビトールア
セテート1g、チキソ剤0.001gを充分に混合して
ペーストとした。得られたペーストをガラスエポキシ樹
脂基板上に回路としてスクリーン印刷した。印刷後、1
70℃20分間加熱硬化した。導電性は10-3Ω・cm
と悪かった。さらに、はんだペーストを印刷して230
℃リフロー炉ではんだ付けしたところ、はんだ付け性は
50%しかなかった。
【0046】
【比較例2】市販銀粉末(純度99.9%以上、平均粒
子径1μm)10g、レゾール型フェノール樹脂1g、
エチルカルビトール1g、トリエタノールアミン0.0
1g、完全水添ロジン0.01gを混合してペーストと
した。プリント基板銅箔部にペーストを塗布した。さら
に、硬化膜上にはんだペーストを印刷し、230℃リフ
ロー炉ではんだ付けした。はんだは付いたが、はんだ食
われが著しく、接着強度がなかった。
【0047】
【比較例3】銅粒子101.6g、銀粒子259.2g
を黒鉛るつぼに入れ、窒素雰囲気中(純度99.99%
以上)で1750℃まで高周波誘導加熱を用いて溶解し
た。融液を窒素雰囲気中(純度99.99%以上)へ噴
出し、噴出と同時に、窒素ガス(純度99.99%以
上、圧力40kg/cm2 G)を融液に対して噴出し、
アトマイズした。得られた粉末は平均粒子径12μmの
球状粉末であった。表面の銀濃度は表面より0.8、
0.7、0.6、0.54、0.3であり、表面の銀濃
度は0.75であった。また、平均の銀濃度xは0.6
で表面の銀濃度は平均の銀濃度の1.25倍しかなかっ
た。
【0048】得られた粉末の中、10μm以下の粉末1
0g、レゾール型フェノール樹脂1g、トリエタノール
アミン0.2g、マレイン化ロジン0.01g、酢酸ブ
チル1gを充分に混合し、ペーストとした。得られたペ
ーストを紙フェノール樹脂プリント基板状へ印刷した。
170℃、10分間加熱硬化した。この時、マイグレー
ションテスト(water−dropテスト)(10D
CV、1mm間隔)をしたところ、著しいマイグレーシ
ョンが生じた。また、はんだペーストを印刷し、リフロ
ーでのはんだ付けを行ったところ、接着強度がはんだ食
われのため低下した。
【0049】
【比較例4】実施例1で作製された球状粉末(平均銀濃
度x=0.1)の中5μm以下の粉末10g、レゾール
型フェノール樹脂7g、トリエタノールアミン0.1
g、完全水添ロジン0.01g、リノール酸0.01
g、エポキシ樹脂0.1g、エチルセロソルブ2gを充
分に混合してペーストとした。
【0050】ペーストをITO透明電極上に印刷して1
70℃20分間で加熱硬化した。得られた硬化膜上には
んだペーストを印刷し、230℃20秒でリフローによ
るはんだ付けを行ったところ、はんだ付け性は3%と付
かなかった。
【0051】
【比較例5】実施例1で作製された球状粉末(平均銀濃
度x=0.1)の中5μm以下の粉末10g、レゾール
型フェノール樹脂1g、トリエタノールアミン5g、ロ
ジン0.01g、ブチルセロソルブ2g、チキソ剤0.
0001gを混合してペーストとした。得られたペース
トをガラスエポキシ樹脂基板上にスクリーン印刷した。
170℃15分間加熱硬化した。導電性は、10-2Ω・
cmと悪かった。さらに、はんだペーストをスクリーン
印刷して230℃20秒リフロー炉ではんだ付けした。
はんだ付け性は数%と悪かった。また、接着性が悪く、
基板より剥がれ易かった。
【0052】
【比較例6】実施例1で作製された球状粉末(平均銀濃
度x=0.1)の中5μm以下の粉末10g、レゾール
型フェノール樹脂1g、トリエタノールアミン0.1
g、完全水添ロジン7g、エチルセロソルブアセテート
2g、ピロガロール0.001g、シランカップリング
剤0.001gを充分に混合してペーストとした。得ら
れたペーストを紙フェノール樹脂基板上にスクリーン印
刷した。160℃30分間で加熱硬化した。硬化後、は
んだペーストをスクリーン印刷を用いて印刷し、230
℃20秒間でリフロー炉ではんだ付けした。はんだ付け
性は、はんだが粒状になって殆ど付かなかった。また、
基板との接着性が悪かった。
【0053】
【比較例7】実施例1で作製された球状粉末(平均銀濃
度x=0.1)の中10μm以下の粉末10g、レゾー
ル型フェノール樹脂1g、トリエタノールアミン0.0
0005g、水添ロジン0.00005g、ブチルセロ
ソルブ1gを充分に混合してペーストとした。得られた
ペーストを紙フェノール樹脂基板上にスクリーン印刷し
た。さらに、170℃30分間で加熱硬化した。はんだ
ペーストを塗布し、230℃20秒リフローではんだ付
けしたところ、付け性は30%と悪かった。
【0054】
【発明の効果】本発明は、一般式Agx Cu1-x (0.
001≦x≦0.4、原子比)で表され表面の銀濃度が
平均の銀濃度の2.1倍より高く、且つ内部より表面に
向かって銀濃度が増加する領域を有する銅合金粉末を用
いてなるはんだ付け性、特にリフローはんだ付け可能導
電性ペーストに関するが、表面に銀が濃縮しているため
はんだ付け性が良く、また、表面より内部に向かって銀
濃度が低下しているためはんだ食われの問題が起こらな
い利点を有している。また、かかる組成のフェノール樹
脂及びエポキシ樹脂との混合物バインダーを保有するこ
とで被接着基材との接着性を良好にするものである。ま
た、添加物としてかかる組成のロジン、トリエタノール
アミンを添加することでさらに、リフローでのはんだ付
け性を良好にするものである。用途して、前記用途に使
用できる。

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一般式Agx Cu1-x (ただし、0.0
    01≦x≦0.4、原子比)で表され、粒子表面の銀濃
    度が平均の銀濃度の2.1倍より高く、且つ粒子表面に
    向かって銀濃度が増加する領域を有する銅合金粉末10
    0重量部に対して、有機バインダーとして少なくとも1
    種類以上のフェノール樹脂1〜50重量部、及び添加剤
    としてロジン0.001〜30部を含有することを特徴
    とするはんだ付け可能導電性ペースト。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の導電性ペーストにさらに
    銅合金粉末100重量部に対してトリエタノールアミン
    0.001〜30部添加してなるはんだ付け可能導電性
    ペースト。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の有機バインダー
    としてフェノール樹脂100重量部に対して0.1〜5
    0重量部のエポキシ樹脂を含有することを特徴とするは
    んだ付け可能導電性ペースト。
  4. 【請求項4】 請求項1〜3に記載のリフローはんだ付
    け可能ペースト。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4に記載のペーストを用いて
    有機基材上に硬化してなる成形体。
  6. 【請求項6】 請求項1〜4に記載のペーストを用いて
    セラミックス基材上に硬化してなる成形体。
  7. 【請求項7】 請求項5記載の有機基材がポリフェニレ
    ンサルファイド樹脂、紙フェノール樹脂基板、ガラスエ
    ポキシ基板、ポリフェニレンエーテル樹脂、ポリイミド
    樹脂、ポリエステル樹脂、ポリエーテルケトン樹脂、フ
    ェノール樹脂、エポキシ樹脂、ポリスチレン樹脂より選
    ばれた1種以上であることを特徴とする成形体。
  8. 【請求項8】 請求項1〜4のいずれかに記載のペース
    トを導電性ガラス、金属基板上に硬化してなる成形体。
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